X射线能谱研究板状碘溴化银微晶中的碘离子的空间分布
本文制备了一系列不同碘含量的板状碘溴化银微晶(微晶大小约为3微米)。运用扫描透射电镜和X射线能谱仪(EDS)对单个微晶进行了分析和研究,半定量地测定了碘离子在板状微晶中的面分布;运用扫描俄歇微区棵针(SAM)和二次电子像、离子溅射剥层技术对微晶进行了表面及其纵深的碘离子的点分析,根据EDS和SAM的结果,可以得到板状碘溴化银微晶中的碘离子的空间分布。实验结果表明在板状缺溴化银微晶中,在其中心部位的碘含量最高;越靠近横向边缘的位置,碘含量越低。且在制备碘溴化银微晶时,如果pAg值较高,将会使在制备早期加入的碘离子通过不断的重结晶向微晶表面扩散,得到的微晶不是夹心结构的碘溴化银微晶。 ......阅读全文
X射线光电子能谱仪的仪器类别
03030707 /仪器仪表 /成份分析仪器指标信息： 主真空室：1×10-10 Torr XPS：0.5eV, AES: 分辨率：0.4%, 电子枪束斑：75nm , 灵敏度：1Mcps信噪比：大于70:1 角分辨：5°～90°. A1/Mg双阳极靶 能量分辨率：0.5eV ,灵敏度：255KCP
X射线能谱仪在薄膜器件刻蚀中的应用
锫钛酸铅[Pb（Ti,Zr）O3,简称 PZT]是一种新型的铁电薄膜材料,具有独特的电学,光学性能,有很广泛的应用价值。PZT 薄膜与器件的制造,均采用集成电路制造工艺。使用扫描电镜与 X 射线能谱仪对其进行工艺监控,可以得到比较满意的结果。
单光子入射方法测量超快硬X射线能谱
利用单光子入射方法测量了高强度超短脉冲激光 (1 3 0fs,1 0 16 W cm2 ,744nm)与固体等离子体相互作用产生的超快 (ps)硬X射线 (>3 0keV)能量连续谱。采用铅屏蔽、激光脉冲和线性门同步符合技术将HPGeX射线谱仪的本底计数率降低到 1 0 -4 炮 ,满足了单光子计数
关于x射线光电子能谱的应用概述
一、x射线光电子能谱的应用概述： 对固体样品的元素成分进行定性、定量或半定量及价态分析。 固体样品表面的组成、化学状态分析，广泛应用于元素分析、多相研究、化合物结构鉴定、富集法微量元素分析、元素价态鉴定。此外在对氧化、腐蚀、摩擦、润滑、燃烧、粘接、催化、包覆等微观机理研究；污染化学、尘埃粒子研
X射线光电子能谱的的技术特点
(1)可以分析除H和He以外的所有元素,对所有元素的灵敏度具有相同的数量级。(2)相邻元素的同种能级的谱线相隔较远,相互干扰较少,元素定性的标识性强。(3)能够观测化学位移。化学位移同原子氧化态、原子电荷和官能团有关。化学位移信息是XPS用作结构分析和化学键研究的基础。(4)可作定量分析。既可测定元
一种新的X射线能谱背景扣除方法
阐述了小波级数和多分辨率分析的基本思想 ,并将之应用于X射线能谱定量分析中的背景扣除 ,取得了良好的效果。实验结果表明 ,该扣除背景的方法不仅计算速度快 ,而且和其它的背景扣除方法相比 ,对含量低的元素的定量分析结果也更加理想
X射线能谱岩芯扫描分析技术的研究开发
XRF(X射线荧光光谱分析)岩芯扫描方法,是一种非破坏性的、高效的岩芯元素组成分布的XRF分析测试方法。我们研制的国内第一台XRF岩芯扫描仪将传统的点数据改为线扫描面积型数据,使数据对样品元素组成的变化趋势描述的更加准确,清晰,结合计算机数据分析,可以提供可靠的趋势数据。
HL2A装置SDD软X射线能谱测量结果
用两道独立的硅漂移探测器(SDD)测量了HL-2A等离子体在电子回旋加热(ECRH)期间的软X射线能谱,给出了电子温度。SDD软X射线能谱测量系统所测量的结果与电子回旋辐射(ECE)所测量的电子温度分布能较好地相互吻合。SDD软X射线能谱测量结果表明:在轴ECRH期间,等离子体芯部(z=0)得到加热
X射线光电子能谱仪(XPS)的发展
X射线光电子能谱（XPS）也被称作化学分析电子能谱（ESCA）。该方法首先是在六十年代由瑞典科学家K.Siebabn 教授发展起来的。这种能谱最初是被用来进行化学元素的定性分析，现在已发展为表面元素定性、半定量分析及元素化学价态分析的重要手段。此外，配合离子束剥离技术和变角XPS技术，还可以进行
微量金属物证的扫描电镜/X射线能谱检验
金属物证是常见物证,在各类案件中都可能碰到,尤以盗窃案中为最多.作案使用的工具例如改锥、钳子、钢锯、以及配制钥匙等都会在现场造成微量金属的转移.传统的检验方法是用肉眼或光学显微镜进行痕迹比对.但扫描电镜具有光学显微镜所无法相比的优势,尤其对于粗糙样品,扫描电镜的数值孔径α一般在10-2～10-3,其
软骨钙化的X射线能谱半定量分析
软骨的钙化过程实质上是钙盐在软骨内沉积的积累过程。尽管人们一直关注这个问题,但并未完全清楚。本文利用透射电镜观察了钙盐在软骨细胞内外沉积的部位和形态,利用 X 射线能谱仪对沉积钙盐的 Ca- P 强度、浓度和摩尔数进行了半定量分析。
X射线光电子能谱的起源和发展
1887年,海因里希·鲁道夫·赫兹发现了光电效应,1905年,爱因斯坦解释了该现象(并为此获得了1921年的诺贝尔物理学奖)。两年后的1907年,P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球(电子能量分析仪)和照像平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系,他的实验事实上记录了人类第一条X
应用扫描电镜和X射线能谱仪研究钛酸钡
该文使用发射扫描电子显微镜和X射线能谱仪对钛酸钡进行表征。针对钛酸钡的材料特性和工作目标,采用了多种测试工作条件,通过其结果对比,找到了对钛酸钡进行形貌观察的最佳条件,并分析了其成分。
关于x射线光电子能谱的发展简史
1887年，海因里希·鲁道夫·赫兹发现了光电效应，1905年，爱因斯坦解释了该现象（并为此获得了1921年的诺贝尔物理学奖）。两年后的1907年，P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁场半球（电子能量分析仪）和照像平版做实验来记录宽带发射电子和速度的函数关系，他的实验事实上记录了人类第一
X射线能谱探头表面污染层的附加吸收校正
在无标样能谱定量分析过程中，若用来分析的元素间的谱线能量差较大，则对污染层的附加吸收校正是必需的．由于污染层的碳氢比例不确定，厚度又是个变量，因此，校正因子也是不确定的．本人认为可采用以下两种方法加以校正．
高能闪光照相X射线能谱的理论研究
用 Ｍ ｏｎｔｅ Ｃａｒｌｏ 方法模拟球对称客体系统的闪光照相中 Ｘ 光光子的输运过程。分别在单客体情况和全系统情况下，给出了记录平面上各种光子谱及其在记录平面上的空间分布。结果表明：记录区边缘的谱形与源光子谱形很相似；深穿透区各点之间的谱形差别不大，谱平均光子能量近似相同，并且位于使高 Ｚ材料的光
X射线光电子能谱的原理和应用
一 X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理：一定能量的X光照射到样品表面，和待测物质发生作用，可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示：hn=Ek+Eb+Er；其中：hn：X光子的能量；Ek：光电子的能量；Eb：电子的结合能；Er：原子的反冲能量。其中Er
EAST上软X射线能谱诊断系统的研制
采用多元硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)阵列和快速处理电子学系统在EAST托卡马克上构建了一套性能优异的软X射线能谱诊断系统,用于测量等离子体内在软X射线能段(1-30 keV)的辐射能谱。本系统观测范围覆盖了EAST等离子体的下半空间,可在EAST上各种放电条件
关于X射线光电子能谱仪的简介
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合
硫化物X射线能谱定量分析探讨
７１１－Ｆ型能谱仪对常见硫化物（黄铁矿、磁黄铁矿、方铅矿、闪锌矿等）元素定量分析的条件试验结果表明，一定要选择好仪器的最佳试验条件；保证分析样品的质量，排除影响元素定量分析精度的因素。经反复条件试验，获得硫化物的最佳试验测试参数：电压２５ｋＶ、束流６４μＡ、束斑０．１２５μｍ、计数率２３００ｃ／ｓ、
关于x射线光电子能谱的特点介绍
x射线光电子能谱作为一种现代分析方法，具有如下特点： （1）可以分析除H和He以外的所有元素，对所有元素的灵敏度具有相同的数量级。 （2）相邻元素的同种能级的谱线相隔较远，相互干扰较少，元素定性的标识性强。 （3）能够观测化学位移。化学位移同原子氧化态、原子电荷和官能团有关。化学位移信息是
x射线粉晶衍射仪的工作原理
x射线粉晶衍射仪主要应用在晶体材料的物相（包括元素、化合物、固溶体）分析，材料的晶格计算，残余应力等方面。主要原理是依据布拉格方程，利用已知波长的X射线照射在样品表面，获得图谱，从而得到所要信息。样品可以是块状也可以是粉末状
粉晶X射线衍射定性相分析
11.3.2.1 粉晶X射线定性相分析的基本原理和方法粉晶X射线定性相分析(物相鉴定)是指用X射线粉晶衍射数据对样品中存在的物相(而不是化学成分)进行鉴别。其理论根据是：任何一种结晶物质都具有特定的晶体结构，在一定波长的X射线照射下，每种晶体物质都有自己特有的衍射花样，即衍射谱线，不可能存在衍射花样
X射线能谱分析和金相分析确定仿银合金的成分
两种仿银合金经x射线能谱分析其组分均为银锡合金,经半定量计算,两种合金的银,锡相对比均为28.6:71.4。用金相显微镜观察,合金(1)的组织为先凝固的固溶体∑相和(∑+Sn)共晶体的铸态组织。合金(2)的金相组织为加工态组织。
软X射线能谱仪与透射光栅谱仪测量结果的对比
对软 X射线谱仪和透射光栅谱仪的测量结果进行了对比。它们的回推谱形大致符合 ,只是透射光栅谱仪的复原谱的 N带相对于 O带太小。其原因可能是 X射线 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,对 N带吸收较多。经过对透射光栅谱进行吸收补偿后 ,两种谱仪的复原谱基本一致。
X射线能谱分析原理
X射线能谱分析原理 X射线能谱定性分析的理论基础是Moseley定律，即各元素的特征X射线频率ν的平方根与原子序数Z成线性关系。同种元素，不论其所处的物理状态或化学状态如何，所发射的 特征X射线均应具有相同的能量。 X射线能谱定性分析是以测量特征X射线的强度作为分析基础，可分为有标样
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。
1650万，－南京大学采购色质联用、X射线能谱仪、X射线衍射仪等
高等学校具有学科和人才方面的优势，因而积聚着科学技术的巨大潜力，是发展科学技术的重要基地。它不仅提供了大量的科研成果，还直接影响着科研与开发的质量，对国家的政治、经济、文化和教育各个方面起着保证和平衡的作用，在科学研究事业中占有极为重要的地位。 近日，南京大学就“南京大学苏州校区科研仪器共享中
HL1装置硬X射线能谱及长脉冲放电与硬X射线的发射关系
在HL-1装置上初步测硬(?)射线能谱,能量达5MeV。实验观测到长脉冲放电与硬(?)射线的关系,并得到逃逸电子的径向扩散。