用于诊断磁约束等离子体的软X射线能谱仪
文章描述HT-6M托卡马克装置上的软X射线能谱仪的组成。给出HT-6 M弦积分的软X射线连续谱的解析表达式,计算其强度并据以进行真空准直系统的物理设计。首批实验结果表明物理设计合理,谱仪性能良好。 ......阅读全文
用于诊断磁约束等离子体的软X射线能谱仪
文章描述HT-6M托卡马克装置上的软X射线能谱仪的组成。给出HT-6 M弦积分的软X射线连续谱的解析表达式,计算其强度并据以进行真空准直系统的物理设计。首批实验结果表明物理设计合理,谱仪性能良好。
软X射线能谱仪
本文描述了一个用于托卡马克杂质谱线精细测量的高分辨软X射线谱仪。谱仪采用Johann型弯晶衍射结构,以多丝正比室作探测器件。其测量范围为2—8keV(1—6),能量分辨为4.1eV(在6.4keV处)。多丝正比室采用阳极丝逐丝读出法,位置读出精度2mm。谱仪配有自动数据记录系统。
高计数率软X射线能谱仪诊断高温等离子体
本文给出了在ＨＴ－６Ｍ托卡马克装置上做ＥＣＲＨ实验时，用软Ｘ射线诊断等离子体电子温度的数据及处理结果。还尝试了能够提供每次放电数据的方法。如果在实验中要求温度的时间分布，本方法能够及时提供每次放电的电子温度及其随时间变化的情况。
用于激光等离子体诊断的亚千X射线能谱仪
本文简介了由滤片-X射线二极管阵列组成的具有亚纳秒时间分辨的亚千X射线能谱仪。在0．1到1．5keV能区能量分辨约为200eV。着重介绍了谱仪的结构和应用，数据处理及误差。并就激光-金平面靶相互作用实验中，在激光强度约10^14w／cm^2条件下获得的部份数据进行了简化处理，给出了激光等离子体亚千X
用于激光等离子体诊断的亚千X射线能谱仪
本文简介了由滤片-X射线二极管阵列组成的具有亚纳秒时间分辨的亚千X射线能谱仪。在0.1到1.5keV能区能量分辨约为200eV。着重介绍了谱仪的结构和应用,数据处理及误差。并就激光—金平面靶相互作用实验中,在激光强度约1014W/cm2条件下获得的部份数据进行了简化处理,给出了激光等离子体亚千X射线
软X射线能谱仪数据采集系统
在 线 存 储 软X射线能谱仪的结构框图见图1。不同能量的软X射线被Johann弯晶衍射分光,分光后的能量分布转化成在探测器上对应的位置分布。位置灵敏、时间分辨好的MWPC和MCP都可做为这种探测器。软X射线区适用的MWPC采用逐丝阳极读出法以允许高计数率,同时也是为了满足将可测能区延伸到更低能区时
多层镜软X射线能谱仪的研制
软X射线能谱测量是ICF实验中的重要内容,测量意义重大。软X射线能诊断通过光谱分析,可以得到X射线总的通量,辐射温度,转换效率以及反照率。这些都是间接驱动黑腔热力学的重要参数。作为黑体腔特征诊断系统,软X射线能诊断系统测量黑体腔中发射出的X射线,可得出黑腔中辐射温度的时间变化图。针对目前常用的谱仪往
EAST上软X射线能谱诊断系统的研制
采用多元硅漂移探测器(Silicon Drift Detector,SDD)阵列和快速处理电子学系统在EAST托卡马克上构建了一套性能优异的软X射线能谱诊断系统,用于测量等离子体内在软X射线能段(1-30 keV)的辐射能谱。本系统观测范围覆盖了EAST等离子体的下半空间,可在EAST上各种放电条件
软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量
本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Ｚ箍缩Ｘ射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲Ｘ射线能量进行了测量并讨论了其结果。
HT7电子加热实验的软X射线能谱诊断
介绍了HT-7装置上软X射线能谱诊断系统,用软X射线能谱对HT-7托卡马克上电子温度进行了测量。在离子伯恩斯坦波和低杂波协同实验中,观察到了对等离子体的较好的加热效果。
软X射线能谱仪与透射光栅谱仪测量结果的对比
对软 X射线谱仪和透射光栅谱仪的测量结果进行了对比。它们的回推谱形大致符合 ,只是透射光栅谱仪的复原谱的 N带相对于 O带太小。其原因可能是 X射线 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,对 N带吸收较多。经过对透射光栅谱进行吸收补偿后 ,两种谱仪的复原谱基本一致。
分时高速Si(Li)软X射线能谱仪测量高温等离子体电子温度
本文叙述了用三探头Si(Li)漂移探测器测量HL—1M托卡马克等离子体辐射的软X射线能谱,得到等离子体温度以及重金属杂质水平随时间变化,自制4096道快速分时多道分析器,其时间分辨可达50ms,每次放电可测16个谱,每个谱256道,探测系统的能量测量范围1．25～25keV之间。
Z箍缩软X射线连续能谱测量
诊断Z箍缩等离子体不同时刻的空间分布及状态是认识等离子体运动规律进而控制其箍缩过程以便加以利用的必经环节。在箍缩过程中,离子、电子和光子发生强烈的相互作用,探测出射的X光可不破坏等离子体原有状态而获取三者运动信息。通过测量X光能谱可以探知辐射场温度、离子密度、辐射冲击过程等等。受现有装置驱动能力的限
软X射线能谱定量测量技术研究
采用每毫米 10 0 0线的自支撑透射光栅配上背照射软X射线CCD(charge coupleddevice)组成了透射光栅谱仪 ,利用北京同步辐射装置 (BSRF) 3W1B光束线软X射线实验站上X射线源分别对透射光栅的衍射效率和软X射线CCD的响应灵敏度进行了准确的实验标定 ,获得了 15 0e
腔靶软X射线能谱结构的实验研究
叙述了利用双狭缝透射光栅谱仪,在高功率激光物理联合实验室神光装置上,对腔靶不同位置的能谱进行诊断,给出了腔靶源区能谱的空间分布和爆区的能谱结构,为腔靶辐射场的研究提供了重要信息。
HT7基于软X射线能谱诊断的电子加热实验研究
HT-7上软X射线能谱诊断所使用的硅漂移探测器(SDD)采用peltier效应制冷,体积紧凑,在短的成形时间下具有高的能量分辨率,非常适合用于托卡马克的空间多道温度测量。在HT-7所开展的兆瓦(MW)加热功率实验下,作为不可或缺的重要诊断,利用它对欧姆加热、低杂波(LHW)加热以及离子伯恩斯坦波(I
X射线能谱仪简介
能谱仪是利用X射线能谱分析法来对材料微区成分元素种类与含量分析的仪器，常常配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。
软X射线能谱测试Ross滤片对设计
为获得“阳”加速器上Z箍缩等离子体软X射线辐射谱,设计了一套6通道的软X射线能谱仪,谱仪范围0.1keV-1.5keV,采用Ross滤片差分法。文中介绍了测量箍缩软X射线能谱的Ross滤片对的设计,并从理论上计算了对应“阳”加速器上等离子温度为20eV的黑体辐射谱时,PIN探头的输出电流,从计算结果
喷气式Z箍缩等离子体辐射软X射线能谱的研究
研制了一台五通道ROSS-FILTER-PIN软X射线能谱仪,能谱范围为0·28—1·56keV.它由5个连续能段组成,每个能段的起止边由罗斯滤片对(ROSS-FILTERS)的L或K吸收边确定.罗斯滤片对的厚度通过优化计算得到,为了使每个通道的灵敏区外响应(即所测能段外响应)与通道总响应之比最小,
激光等离子体X射线能谱的测量
分别用K边滤波和滤波-荧光法测量了激光等离子体发射的1.5—100keV的X射线连续谱。文中叙述了激光等离子体X射线能谱的测量方法和多道X射线能谱仪,介绍了激光聚变实验结果。
X－射线能谱
X 射线能谱（ Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS）是微区成分分析最为常用的一种方法，其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时，会在内层电子处产生一个空缺，原子处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补
HT7上基于软X射线能谱诊断的电子加热实验研究
HT-7上软X射线能谱诊断所使用的硅漂移探测器(SDD)采用peltier效应制冷,体积紧凑,在短的成形时间下具有高的能量分辨率,非常适合在托卡马克上布置空间多道诊断。软X射线能谱不仅是测量温度的常规诊断,在HT-7所开展的兆瓦(MW)加热功率实验下,它同样是不可或缺的重要诊断,利用它对欧姆加热、低
用于高能X射线能谱测量的MLS法
为满足高能X射线能谱测量的需要,提出采用MLS法进行能谱测量的方案。MLS法克服了其他测量方法散射不易控制、光场不均匀性影响较大的缺点,还具有对不同角度能谱进行测量的优势。对MLS法的测量原理以及测量过程中的注意事项进行了明确,并利用蒙特卡罗方法针对一特定的X射线能谱设计了两种不同介质的测量装置,并
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
X射线能谱仪应用范围
1、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，
HL2A装置SDD软X射线能谱测量结果
用两道独立的硅漂移探测器(SDD)测量了HL-2A等离子体在电子回旋加热(ECRH)期间的软X射线能谱,给出了电子温度。SDD软X射线能谱测量系统所测量的结果与电子回旋辐射(ECE)所测量的电子温度分布能较好地相互吻合。SDD软X射线能谱测量结果表明:在轴ECRH期间,等离子体芯部(z=0)得到加热
用于电子显微镜中的X射线能谱仪
本文扼要介绍了目前国内外用于电子显微镜中的X射线能谱仪的发展概况、应用情况以及达到的测量水平,并分别叙述了硬件和软件两方面现状、水平及近期改进的展望。 CAJ下载PDF下
X射线能谱仪的原理介绍
在许多材料的研究与应用中，需要用到一些特殊的仪器来对各种材料从成分和结构等方面进行分析研究。 其中，X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器之一。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法
HL1装置等离子体的软X射线能谱分析
本文分析了HL-1托卡马克等离子体的软X射线能谱,包括杂质谱线CrK_a,NiK_a,MoK_a辐射强度与孔拦半径a_L,环电流及充气压强P_H之间的关系。讨论了放电初始段、终了段及逃逸电子流较强的放电的软X射线能谱的特点。
双示踪元素X射线能谱诊断激光等离子体电子温度
在“星光Ⅱ”激光装置上对Mg/Al混合材料平面靶和Mg/Al示踪层金盘靶进行三倍频激光打靶实验 ,用平面晶体谱仪测量靶材料发射的X射线能谱 ,获取了示踪离子谱线实验数据 .采用多组态Dirac Fock方法计算所需原子参数 ,并在局域热动平衡条件下建立了双示踪离子谱线强度比随电子温度变化关系 .在此