俄歇电子产额与原子序数的关系
对于K层空穴Z<19，发射俄歇电子的几率在90％以上；随Z的增加，X射线荧光产额增加，而俄歇电子产额下降。Z<33时，俄歇发射占优势。......阅读全文
俄歇电子产额与原子序数的关系
对于K层空穴Z
俄歇跃迁几率及荧光几率与原子序数的关系
对于Z≤14的元素，采用KLL俄歇电子分析；14
SEM衬－度
衬 度衬度包括：表面形貌衬度和原子序数衬度。表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线，对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大，图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大；所以只有—些特殊的高
X射线能谱分析中谱线重叠问题
扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较
人工热核聚变造出116号元素钅立
一个由日本理化学研究所、中国科学院兰州近代物理研究所及德国重离子核科学研究所等组成的国际研究小组，日前利用重离子直线加速器（RILAC），以原子序数20号的钙（48Ca）射束和96号的锔（248Cm）标靶进行热核聚变反应，成功合成了原子序数116号的（钅立）同位素292Lv和293Lv。这一成果
灰分仪的应用
测量原理：快速煤质分析仪技术原理：该方法的原理为：煤炭中碳、氢、硫等组成的有机物以及碳都是可燃烧性物质，在煤炭中这些物质的元素含量虽然不同，但是大体上原子序数都比较低，平均值为6左右。煤灰中硅、铝、钙、铁的氧化物以及盐类物质是代表着不可燃烧的物质，即灰分，这些元素的原子序数都比较大，灰分的平均原子序
如何正确选购手持式X射线荧光光谱仪
（1）气氛 X射线荧光光谱仪能够分析元素周期表中的大部分元素，具体而言，从钠元素（原子序数Z=11）到铀元素（原子序数Z=92）都可以利用这种技术进行检测分析。但是对于原子序数较低的元素（钛元素Ti，Z=22以下），空气会对检测结果产生较大影响；由低原子序数元素产生的荧光值通常更低，并且样品基体
扫描电镜SEM/能谱仪EDS/WDS之定量分析ZAF修正
所有固体样品定量分析的方法都是利用一个已知成分的标样，在多数情况下，（尤其金属）纯元素是适用的。无论是样品还是标样，都是在相同的试验条件下检测的。测出的相对强度比k，必需很精确，否则任何定量分析方法均会造成相同的误差。假设k已经精确获得。由于存在几种效应，必需对他们进行修正，1、原子序
能谱分析出来元素比例多的就是相吗
不是能谱仪可以检测元素周期表中原子序号大于3的元素，即除氢（H）、氦（He）、锂（Li）三种元素外，其他元素都可以通过能谱分析检测。但是对于原子序数小于11的轻元素，其能量谱峰非常靠近，且经常和原子序数大于11的重元素的谱峰重叠，其定量分析会因受到干扰，检测结果的可靠性下降。因此，对于原子序数小于1
如何正确选购手持式X射线荧光光谱仪？
X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。下面我们通过主要组件看看那选购时需要注意什么。（1）气氛X射线荧光光谱仪能够分析元素周期表中的大部分元素，具体而言，从钠元素（原子序数Z=11）到铀元素（原子序数Z=92）都可以利用这种技术进行检测分
电子探针X射线显微分析仪背散射电子及背散射电子像
背散射电子是指入射电子与样品相互作用(弹性和非 弹性散射)之后，再次逸出样品表面的高能电子，其能量接近于入射电子能量(E。)。背散射电子能量大于50eV，小于等于入射电子能量。背射电子的产额随样品的原子序数增大而增加，所以背散射电子信号的强度与样品的化学组成有关，即与组成样品的各元素平均原子序
X射线荧光光谱分析法有没有缺点？
(1）难于作分析,故定量分析需要标样。 (2）原子序数低的元素，其检出限及测定误差都比原子序数高的元素差。
扫描电镜分析样品表面的深度是多少
扫描电镜是利用聚焦电子束进行微区样品表面形貌和成分分析，电子从发射源（灯丝）经光路系统最终到达样品表面，电子束直径可到 10 nm 以下，场发射电镜的聚集电子束直径会更小。聚焦电子束到达样品表面会激发出多种物理信号，包括二次电子（SE），背散射电子（BSE），俄歇电子（AE）、特征 X 射线（X-r
俄歇电子能谱学（Auger－electron－spectroscopy），简称AES
俄歇电子能谱基本原理：入射电子束和物质作用，可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量，可能以X光的形式放出，即产生特征X射线，也可能又使核外另一电子激发成为自由电子，这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射：特征X射线或俄歇电子。原子序
分析基体效应产生的原因
一、吸收-增强效应 为了叙述方便，假设样品中存在待测元素A，相邻元素B、C和轻元素。B元素的原子序数比A元素的原子序数大一些，B元素能被放射源放出的射线所激发，产生B元素的特征X射线BK,BKX射线又能激发A元素；C元素的原子序数小于待测元素A的原子序数，且能被A元素特征X射线所激发产生C元素
微量元素的非生物体
岩石中微量元素基于地球化学行为可分为： 稀土元素（REE）：原子序数57-71的镧系元素以及与镧系相关密切的钪和钇共17种元素在地球化学上又称之为稀土元素，包括：La，Ce，Pr，Nd，Pm，Sm，Eu，Gd，Tb，Dy，Ho，Er，Tm，Yb，Lu，Sc，Y。 铂族元素（PGE，原子序数从
放射性元素的主要类型划分
根据放射性元素释放或吸收的粒子或射线，可将放射性衰变划分为以下几个类型：（1）α衰变：放射性元素自发地释放出α粒子的衰变过程叫α 衰变。α粒子质量数为4，由2个质子和2个中子组成，是原子序数为2的高速运动的氦原子。高速运动着的α 粒子流就是α 射线。经过α衰变形成的放射性元素与其母体相比质量数减4，
放射性元素的衰变类型介绍
根据放射性元素释放或吸收的粒子或射线，可将放射性衰变划分为以下几个类型：（1）α衰变：放射性元素自发地释放出α粒子的衰变过程叫α 衰变。α粒子质量数为4，由2个质子和2个中子组成，是原子序数为2的高速运动的氦原子。高速运动着的α 粒子流就是α 射线。经过α衰变形成的放射性元素与其母体相比质量数减4，
影响扫描电镜（SEM）的几大要素
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。图片来源于网络扫描电镜的优点①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样制备简单。影响扫描
扫描电镜SEM分辨率的影响因素
扫描电镜的优点①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样制备简单。影响扫描电镜（SEM）的几大要素 分辨率 影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有：A. 入射电子束束斑直径：为扫描电镜分辨本领的极限。一般，热
影响扫描电镜（SEM）的几大要素
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。图片来源于网络 扫描电镜的优点： ①有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调； ②有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；③试样
X射线荧光光谱仪的基本构成你知道吗？
(1)气氛 X射线荧光光谱仪能够分析元素周期表中的大部分元素，具体而言，从钠元素(原子序数Z=11)到铀元素(原子序数Z=92)都可以利用这种技术进行检测分析。但是对于原子序数较低的元素(钛元素Ti，Z=22以下)，空气会对检测结果产生较大影响；由低原子序数元素产生的荧光值通常更低，并且样品基体中
放射性同位素的衰变类型的介绍
（1）α衰变：放射性元素自发地释放出α粒子的衰变过程叫α 衰变。α粒子质量数为4，由2个质子和2个中子组成，是原子序数为2的高速运动的氦原子。高速运动着的α 粒子流就是α 射线。经过α衰变形成的放射性元素与其母体相比质量数减4，原子序数降低2位。其衰变过程如下： 例如，铀-238经α衰变后生成
有机化合物的取代基次序规则
在有机化学中为了对不对称化合物的立体化学关系能有一个合理和简便的表达方式，R.S.英果德、R.C.凯恩和 V.普瑞鲁格等人提出将取代基团按原子序数排列，原子序数最高的放在最前面，最低的放在最后面。其方法称为原子或原子团的优先规则，或称次序规则或顺序规则。在决定原子或基团的优先性时，制定了一定的规定，
PX1－手持式背散射成像仪
背散射成像技术利用康普顿散射理论，X射线遇到不同物质发生不同的散射，X射线遇到低原子序数物质时，散射较强；X射线遇到高原子序数物质时，散射相对较弱。而且， 散射概率与被检物的电子密度成正比，电子密度有与质量密度有关，散射信号随质量密度增大二增强，但高原子序数物质的散射被光电效应抑制。所以，如果被
能量公式
对于原子序数为Z的原子,俄歇电子的能量可以用下面经验公式计算：EWXY(Z)=EW(Z)-EX(Z)-EY(Z+ Δ)-Φ式中， EWXY(Z)：原子序数为Z的原子，W空穴被X电子填充得到的俄歇电子Y的能量。EW(Z)-EX(Z)：X电子填充W空穴时释放的能量。EY(Z+Δ)：Y电子电离所需的能量。
扫描电镜中STEM像的特点
透射像的衬度透射电子像的形成主要是入射电子束与样品发生相互作用，当电子束穿过样品逸出下表面时，电子束的强度发生了变化，从而投影到荧光屏上的强度是不均匀的，这种强度不均匀就形成了透射像。通常以衬度（Contrast，C）来描述透射电子所成的像，衬度指样品电子像上相邻区域的电子束强度差，即图像的对比度，
扫描电镜中STEM像的特点
透射电子像的形成主要是入射电子束与样品发生相互作用，当电子束穿过样品逸出下表面时，电子束的强度发生了变化，从而投影到荧光屏上的强度是不均匀的，这种强度不均匀就形成了透射像。通常以衬度（Contrast，C）来描述透射电子所成的像，衬度指样品电子像上相邻区域的电子束强度差，即图像的对比度，可以下式表示
什么是放射性元素？
放射性是指元素从不稳定的原子核自发地放出射线，（如α射线、β射线、γ射线等）而衰变形成稳定的元素而停止放射（衰变产物），这种现象称为放射性。衰变时放出的能量称为衰变能量。原子序数在83（铋）或以上的元素都具有放射性，但某些原子序数小于83的元素（如锝）也具有放射性。
放射性检测仪简介
放射性是指元素从不稳定的原子核自发地放出射线，（如α射线、β射线、γ射线等）而衰变形成稳定的元素而停止放射（衰变产物），这种现象称为放射性。衰变时放出的能量称为衰变能量。原子序数在83（铋）或以上的元素都具有放射性，但某些原子序数小于83的元素（如锝）也具有放射性。