能谱分析
激发而发射出来（这些自由电子带有样品表面信息），然后测量这些电子的产额（强度）对其能量的分布，从中获得有关信息的一类分析方法，广泛应用于材料表面分析技术。......阅读全文
eds能谱分析报告元素的比例
eds能谱分析报告元素的比例：2：1。EDS主要检测无机成分在固体微观区域分布状态，定量研究无机元素分布均匀程度。 一般使用无标样定量分析，主元素的定量精度较高，相对误差±2%范围内，微量及痕量元素相对误差很大。地下金属探测器采用声音报警及仪表显示，探测深度跟被探金属的面积、形状、重量都有很大的关系
eds能谱分析报告元素的比例
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俄歇电子能谱分析的特点
1）分析层薄，0～3nm。AES的采样深度为1～2nm，比XPS（对无机物约2nm，对高聚物≤10nm）还要浅，更适合于表面元素定性和定量分析。（2）分析元素广，除H和He外的所有元素，对轻元素敏感。（3）分析区域小，≤50nm区域内成分变化的分析。由于电子束束斑非常小，AES具有很高的空间分辨率，
eds能谱分析报告元素的比例
eds能谱分析报告元素的比例：2：1。EDS主要检测无机成分在固体微观区域分布状态，定量研究无机元素分布均匀程度。 一般使用无标样定量分析，主元素的定量精度较高，相对误差±2%范围内，微量及痕量元素相对误差很大。地下金属探测器采用声音报警及仪表显示，探测深度跟被探金属的面积、形状、重量都有很大的关系
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黑色墨水的x射线能谱分析
本文用 KYKY—2000型扫描电镜和SERIES—Ⅱ型 X 射线能谱分析仪,检测了16种黑色墨水样品的无机组成,并考查了纸张及墨迹量的影响。当同种纸上字迹笔划处的墨迹量接近时,可达到比对检验的目的。
EDX能谱分析：X射线如何工作
与BSE，SE和TE不同，X射线是电磁辐射，就像光一样，由光子组成。为了检测它们，zui新的系统使用了硅漂移探测器（SDD）。由于其具有更高的计数率、更好的分辨率和更快的分析能力，都优于传统的Si（Li）探测器。这些探测器被置于一个特定角度，非常接近样品，并且有能力测量X射线的光子能量。探测器与样品
俄歇电子能谱分析的用途
元素的定性和半定量分析（相对精度30%）；元素的深度分布分析（Ar离子束进行样品表面剥离）；元素的化学价态分析；界面分析
俄歇电子能谱分析的特点
横向分辨率取决于入射束斑大小；俄歇电子来自浅层表面(电子平均自由程决定)，其信息深度为1.0-3.0nm；检测极限可达10-3单原子层（可以有效的用来研究固体表面的化学吸附和化学反应）；并且其能谱的能量位置固定，容易分析；适用于轻元素的分析
俄歇电子能谱分析的原理
俄歇电子能谱分析是通过检测试样表面受电子或X射线激发后射出的俄歇电子的能量分布来进行表面分析的方法，写作AES。是电子能谱分析技术之一。其原理是：用具有一定能量的电子束或X射线激发试样，使表面原子内层能级产生空穴，原子外层电子向内层跃迁过程中释放的能量又使该原子核外的另一电子受激成为自由电子，该电子
eds能谱分析报告元素的比例
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EDS和EDX能谱分析的区别
EDS是对能量散射x射线谱的国际标准称谓，而EDX则是谱学，实际上都是X光谱，都是Energy dispersive X-ray Spectroscopy的缩写，看你如何取字头了。有人认为EDX多用于English，而EDS常见于American
浅谈Kevex－SIGMATMX射线能谱仪中的能谱分析技术
采用质子激发的X射线能谱分析 (PIXE)方法对磁过滤阴极真空弧沉积 (FVAPD)装置在Al板上合成Ti膜相对厚度进行了测量 ,给出了沉积靶室中不同位置大面积合成薄膜的均匀性 .通过同背散射分析 (RBS)测量结果的比较表明 :利用在轻衬底上合成重元素薄膜的PIXE分析可以快速、无损和精确地测量F
X射线光电子能谱分析
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待
能谱分析与xrd分析有何异同
能谱主要是用来做材料微小区域的成分组成和占比，所采用的是使用高速电子轰击材料，使内壳电子产生跃迁，外层电子填充空位时释放特征X射线，然后通过分析得出元素及其含量。能谱是基于扫描电镜的，其作用较单一。XRD是X射线穿过晶体是发生衍射，然后测量衍射线强度来确定晶体结构。XRD可以进行物相分析，取向分析，
质谱分析法术语电离能
电离能（ionization energyionization potential）亦称电离电位（ionization potential）。当原子获得足够大的能量，其一个或某些外层电子脱离该原子核的作用力范围，成为自由电子，这时原子由于失去电子成为离子，这种现象称为电离。为使原子发生电离所需的能量
动物毛皮纤维的X射线能谱分析
文章为鉴别南貉、北貉、北极狐、红狐和银黑狐五种近种属毛皮纤维,利用X射线能谱仪(EDS)对五种动物毛皮背部针毛和绒毛分别进行了鳞片层表面元素分析。结果表明:五种动物背部针毛纤维表面元素组成存在显著差异,可用于毛皮纤维的鉴定;而绒毛纤维表面元素组成差异较小,用于毛皮纤维的鉴别存在一定难度。
X射线能谱分析的新进展
伴随着计算机技术的迅速发展,在近15年中X射线能谱仪及其分析方法突飞猛进。从1984年开始第三代的能谱仪问世,虽然它不仅可从事微区元素分析,而且可以进行图像处理和图象分析,成为发展最快使用最广的微区分析仪器。但是在超轻元素的分析、对谱线重叠的元素的定性分析、图像处理和图像分析的功能和速度方面还存在一
扫描电镜之EDX能谱分析介绍
使用EDX，研究人员可以快速得到有关样品化学成分的信息，包括元素构成、分布及浓度。但是EDX到底是如何工作的利用扫描电子显微镜，各种信号可以提供给定样品的不同信息。例如背散射电子生成衬度图像，显示出原子序数差异。而二次电子则提供样品的表面形貌信息。当扫描电子显微镜与EDX探测器结合使用时，X射线也可
植物细胞X射线能谱分析方法的研究
X射线微区分析在我国的植物学研究中应用较少.快速冷冻、冷冻干燥、真空渗透、塑料包埋的薄切片生物制备新技术被证明很适用于对植物细胞中可溶性离子进行X射线微区分析.这对于植物学,诸如矿质营养、生理及抗性等理论问题的研究有着很重要的意义.本文通过实验证明此法除了在冷冻干燥过程中可能会造成某些植物细胞中的液
俄歇电子能谱分析被测样品要求
导体或半导体材料，表面清洁
牙本质透明层的X射线能谱分析
探讨牙本质透明层矿化物的变化。方法 应用eXL型电镜数据处理系统 (EDS)和扫描电镜 ,对 6个样品的牙本质透明层和正常牙本质的无机物成分进行分析。结果 牙本质透明层的Ca/P(重量比 )比值明显高于正常牙本质 (P =0 .0 0 2 )。结论 牙本质透明层的矿化程度高于正常牙本质
X射线能谱分析中谱线重叠问题
扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较
X射线能谱分析中应注意的问题
针对X射线能谱分析中谱线的重叠干扰比较普遍这一现象,为使读者特别是新接触能谱分析的读者正确地使用能谱仪进行定性和定量分析,本文介绍了辨认和处理干扰或重叠谱线时应注意的一些问题。