扫描探针电子能谱仪控制系统的研制
报道了自行搭建的扫描探针电子能谱仪(SPEES)控制系统的硬件及软件实现。该系统包括探针三维扫描控制、谱仪通过能电压扫描控制及样品电流反馈控制,在针尖控制上能够实现x、yz、三个方向上的定位以及恒高模式与恒流模式的扫描,在电子能谱测量上能够实现能量定点模式和能量扫描模式。对石墨表面Ag岛及石墨表面Au纳米结构的SPEES实验验证了该系统可靠性与稳定性。......阅读全文
扫描探针电子能谱仪控制系统的研制
报道了自行搭建的扫描探针电子能谱仪(SPEES)控制系统的硬件及软件实现。该系统包括探针三维扫描控制、谱仪通过能电压扫描控制及样品电流反馈控制,在针尖控制上能够实现x、yz、三个方向上的定位以及恒高模式与恒流模式的扫描,在电子能谱测量上能够实现能量定点模式和能量扫描模式。对石墨表面Ag岛及石墨表面A
扫描探针电子能谱仪的数据获取系统的研制
报道了我们自行搭建的扫描探针电子能谱仪的数据获取系统的物理实现.该系统包括二维位置灵敏电信号的编码、读出以及后续的在线数据采集和离线数据处理.对惰性气体Ar的初步测量充分验证了该系统的可靠性与稳定性.
扫描探针电子能谱仪的研制及相关实验研究
随着表面科学的蓬勃发展和表面分析技术的快速进步,人们不再满足于一种分析技术获得一种表面信息的状况,更加希望能够用一种多功能分析系统较为完备地表征固体表面。将扫描隧道显微镜(STM)和电子能谱技术的结合组建的扫描探针电子能谱仪(Scanning Probe electron energy spectr
基于扫描探针电子能谱仪的表面谱学成像研究
电子能谱技术广泛用于固体表面元素分析、化学环境分析及形貌测量等,在表面物理研究中发挥着重要的作用。近年来,对单个纳米粒子的等离激元激发和单个生物大分子的激发能谱等研究均需要具有一定空间分辨能力的表面电子能谱测量(或表面谱学成像)技术。虽然现阶段快速发展的扫描透射电子显微镜(Scanning Tran
基于环形电子能量分析器的扫描探针电子能谱仪的性能
表面科学中,扫描隧道显微镜(STM)己成为一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量和费米面附近电子态的探测。但是它无法直接识别表面原子的种类。结合扫描探针技术与电子能谱测量技术是实现表面原子识别的一种方案,该方案中,STM针尖作为场发射源激发表面原子,通过探测次级电子的能谱而实现表面原子
基于LabVIEW的扫描探针电子能谱仪离线数据处理系统
报道了自行搭建的扫描探针电子能谱仪(SPEES)的离线数据处理系统。该系统是由国家仪器公司(National Instrument,NI)开发的图形化语言LabVIEW(Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench)来实现的,能够根据我们SP
俄歇电子能谱仪AES（PHI700Xi）扫描俄歇纳米探针
PHI的700Xi扫描俄歇电子能谱仪(AES) 提供高性能的扫描俄歇电子(AES) 频谱分析，俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括：纳米材料，催化剂，金属和电子设备。维持基于PHI CMA的核心俄歇仪器性能，和响应了用户所要求以提高二次电子（SE）成像性能和高能量分辨率光谱。PHI的同轴镜分析仪（C
扫描电子显微镜及电子能谱仪
扫描电子显微镜及电子能谱仪是一种用于材料科学、矿山工程技术、冶金工程技术领域的分析仪器，于2015年5月8日启用。 技术指标 扫描电镜设备主要技术参数：1、分辨率：二次电子（SE）像分辨率在高真空时：30kV时优于3.0nm，3kV时优于10.0nm；背散射电子(BSE)像分辨率（VPwit
扫描电子显微镜能谱仪
扫描电子显微镜-能谱仪是一种用于物理学、化学、生物学、冶金工程技术领域的分析仪器，于2009年8月31日启用。 技术指标 二次电子像分辨率：1.0nm(15kv)；1.4nm(1kv,减速模式)；2.0nm (1kV)普通模式；加速电压：0.5 ~ 30kV；放大倍率：×20 ~ ×800,
电子探针谱仪概述
原理：利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线，得到X射线谱。根据特征X射线的波长（或能量）进行元素定性分析；根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。 适合分析材料:金属及合金，高分子材料、陶瓷、混
电子探针能谱仪分析结果受哪些因素
X射线衍射仪是利用衍射原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域. X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，广泛应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。它是当今国内
电子探针分析的X射线能谱法
本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学
俄歇电子能谱仪的研制和Ar的快电子碰撞研究
本论文介绍了作者在攻读硕士学位期间的研究工作,主要包括:俄歇电子能谱仪的设计和研制情况;用电子能量损失谱方法对氩原子的内壳层2p激发进行研究,结合Cowan code的计算,得到了各个跃迁的能级和自然宽度。在第一章中,主要介绍了俄歇电子能谱仪的建立目的。首先介绍了俄歇过程的基础知识,包括俄歇效应的概
俄歇电子能谱仪的研制和Ar的快电子碰撞研究
本论文介绍了作者在攻读硕士学位期间的研究工作,主要包括:俄歇电子能谱仪的设计和研制情况;用电子能量损失谱方法对氩原子的内壳层2p激发进行研究,结合Cowan code的计算,得到了各个跃迁的能级和自然宽度。在第一章中,主要介绍了俄歇电子能谱仪的建立目的。首先介绍了俄歇过程的基础知识,包括俄歇效应的概
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
电子探针X射线微区分析能谱仪分析特点
具有以下优点（与波谱仪相比） 能谱仪探测X射线的效率高。 在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动），不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。
电子能谱仪概述
电子能谱仪：对固体表面进行微区成份分析及元素分布。可应用于半导体材料、冶金、地质等部门。X光光电子能谱仪：对固体进行化学结构测定、元素分析、价态分析。可应用于催化、高分子、腐蚀冶金、半导体材料等部门。 电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器
扫描电子显微镜能谱仪(EDS)原理
能谱仪结构及工作原理 X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的，具有成分分析功能的方法，通常称为X射线能谱分析法，简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本，最可靠，最重要的分析方法，所以一直被广泛使用。 1。特征X射线的产生 特征X射线的产生是入射电子使内层电子
扫描电子显微镜能谱仪(EDS)原理
能谱仪结构及工作原理 X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的，具有成分分析功能的方法，通常称为X射线能谱分析法，简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本，最可靠，最重要的分析方法，所以一直被广泛使用。 1。特征X射线的产生 特征X射线的产生是入射电子使内层电子
电子能谱仪的简介
电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器。电子能谱仪可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素，还可研究原子的状态、原子周围的状况及分子结构，在表面化学分析、分子结构、催化剂、新材料等研究领域中已得到应用。
电子能谱仪的构成
一台电子能谱仪的基本组成由所研究的试样、一个初级激发源和电子能量分析器组成。它们安装在超高真空(UHV)下工作。实际上，经常再备有一个UHV室安装各种试样制备装置，和可能的辅助分析装置。此外还有数据采集与处理系统。 (1)真空系统。电子能谱分析技术本身的表面灵敏度要求必须维持超高真空。现代电子能谱仪
电子能谱仪的分类
电子能谱仪的类型有许多种，它们对样品表面浅层元素的组成能做出比较精确的分析，有时还能进行在线测量如膜形成成长过程中成分的分布、变化的探测等，使监测制备高质量的薄膜器件成为可能。光电子能谱仪光电子谱仪分析样品成分的基本方法，就是用已知光子照射样品，然后检测从样品上发射的电子所带有关于样品成分的信息。试
扫描电镜与能谱仪
扫描电镜利用精细聚焦电子束照射在样品表面,该电子束可以是静止或在样品表面作光栅扫描。在这个过程中,电子束与样品相互作用产生各种信号,其中包括二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线和不同能量的光子等,这些信号来自样品中的特定区域,分别利用探测器接收,可以提供样品的各种信息,用于研究材料的微观形貌、
氧化物薄膜研制中的电子能谱技术
随着科学技术的不断发展,人们正在寻求更新的实用材料.金属氧化物,包括金属氧化物薄膜的各种实用材料,在工业界、信息产业界和能源开发等方面的应用前景,早已引起国内外学者的极大关注.例如,由于氧化物具有各种特殊的介电和光学性质,研究和开发基于氧化物薄膜的气敏材料非常热门.如何制备出有实用价值的各种薄膜材料
多功能电子能谱仪
多功能电子能谱仪是一种用于材料科学领域的分析仪器，于2007年10月31日启用。 技术指标 X射线光电子能谱（XPS），可使用单色化Al靶X射线源及双阳极Al/Mg靶X射线源，包括大面积XPS（0.8×2 mm），微区XPS（最小选区15 μm）、深度剖析XPS及XPS成像，空间分辨率＜3
俄歇电子能谱仪
俄歇电子能谱仪（Auger Electron Spectroscopy，AES），作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析
电子能谱仪的构成介绍
一台电子能谱仪的基本组成由所研究的试样、一个初级激发源和电子能量分析器组成。它们安装在超高真空(UHV)下工作。实际上，经常再备有一个UHV室安装各种试样制备装置，和可能的辅助分析装置。此外还有数据采集与处理系统。 (1)真空系统。电子能谱分析技术本身的表面灵敏度要求必须维持超高真空。现代电子
关于电子能谱仪的简介
电子能谱仪是利用光电效应测出光电子的动能及其数量的关系，由此来判断样品表面各种元素含量的仪器。电子能谱仪可分析固、液、气样品中除氢以外的一切元素，还可研究原子的状态、原子周围的状况及分子结构，在表面化学分析、分子结构、催化剂、新材料等研究领域中已得到应用。