中国散裂中子源完成首批港澳地区用户实验

喜讯|中国散裂中子源微小角中子散射谱仪成功出束

　　记者从中国科学院高能物理研究所东莞研究部获悉，1月4日下午，中国散裂中子源（CSNS）微小角中子散射谱仪成功出束，开始带束调试。首次出束测试获得的小角模式样品处中子飞行时间谱、微小角模式VSANS探测器处中子强度分布等结果表明谱仪光路与设计相符，标志着谱仪多狭缝技术方案有效实现，机械设备研制与安

MnNiGa中取向磁性biskyrmion态的小角中子散射研究

　　近年来，量子材料的研究已经成为凝聚态物理领域的新热点。量子材料通常具有非平凡的拓扑特性。磁性斯格明子（skyrmion）材料是一类具有纳米尺度的拓扑自旋涡旋结构的量子材料。因其具有拓扑及超低电流密度驱动等特性，在基础理论研究及器件化商业应用研究等领域得到了广泛关注。磁性双斯格明子（biskyrm

小角X射线散射仪简介

　　小角X射线散射仪是一种用于物理学、化学领域的分析仪器，于2013年1月12日启用。　　技术指标　　最大功率：40kV、50mA；小角测量范围（q）：0.07°～5°；大角测量范围（q）：0.07°～40°。　　主要功能　　1)分散体系中粒子的形貌、尺寸、孔结构以及尺寸分布等；　　2)高分子聚合物

中国散裂中子源小角散射谱仪主探测器完成安装

　　8月25日，中国散裂中子源（CSNS）最后一台大型精密设备——小角散射谱仪（SANS）主探测器完成安装。　　主探测器是小角散射谱仪的关键设备，其采用120根8mm位置灵敏型3He管组成阵列，有效探测面积为1m×1m，探测效率大于60%(2Å)，位置分辨率好于8mm*8mm(FWHM)，自重约80

中国散裂中子源小角散射谱仪完成束线钢屏蔽体出厂验收

　　12月9日，中国散裂中子源（CSNS）小角散射谱仪（SANS）束线钢屏蔽体在合肥科烨电物理设备制造有限公司完成了验收。　　SANS束线钢屏蔽体是小角散射谱仪的重要组成部分，它能有效屏蔽高能粒子辐射，同时为其它部件提供支撑与安装空间。SANS束线钢屏蔽体材料为Q235B，包括入射准直屏蔽体和回收站

中国散裂中子源小角散射谱仪样品前准直结构完成安装

　　8月12日，中国散裂中子源（CSNS）小角散射谱仪（SANS）样品前准直结构完成现场安装。　　样品前准直结构是小角散射谱仪入射光路的核心部件，它位于靶站外和样品室之间，作为入射束准直的中间段，将靶站慢化器产生的中子引出至样品室，并约束和准直成束。样品前准直结构由两段准直器组成，中间真空连通，总重

中国散裂中子源完成首批港澳地区用户实验

　　中国散裂中子源（CSNS）自2018年下半年正式运行以来，全面推进大科学装置的开放共享，吸引了国内外大量的科研与工业用户开展中子散射实验研究，助推粤港澳大湾区国际科技创新中心建设。利用装置毗邻港澳的独特地理位置，CSNS大力加强与港澳地区研究机构的合作。2019年1月，来自香港大学、香港城市大学

小角激光散射仪的详细使用方法

　　小角激光散射仪由光源、偏振系统、样品台和记录系统组成。单色激光照射到样品时发生散射现象，散射光投射到屏幕上并被拍摄下来，得到样品的散射条纹图。　　当起偏片与检偏片的偏振方向正交时，得到的光散射图样叫做Hv散射；当起偏片与检偏片的偏振方向均为垂直方向时，得到的光散射图样叫做Vv散射。从这些散射图形

小角X射线散射的简介

　　小角X射线散射（SAXS）是指当X射线透过试样时，在靠近原光束2°～5°的小角度范围内发生的散射现象。早在1930年，Krishnamurti就观察到炭粉、炭黑和各种亚微观大小的微粒在X射线透射光附近出现连续散射现象。　　小角X射线散射被越来越多地应用于材料微观结构研究，其研究趋势逐年增长。小角

关于小角X射线散射的简介

　　小角X射线散射是一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，相应的散射角2θ小（5 ～7 ），即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体

简述小角X射线散射基本理论

　　小角X 射线散射效益来自于物质内部1～100nm 量级范围内电子密度的起伏。对于完全均匀的物质，其散射强度为零。当出现第二相或不均匀区时才会发生散射，且散射角度随着散射体尺寸的增大而减小。　　小角X射线散射强度受粒子尺寸、形状、分散情况、取向及电子密度分布等的影响。对于稀疏分散、随机取向、大小和

关于小角X射线散射的性质介绍

　　一种区别于X射线大角（2θ从5 ～165 ）衍射的结构分析方法。利用X射线照射样品，相应的散射角2θ小（5 ～7 ），即为X射线小角散射。用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子（或固体物质中的超细空穴）的大小、形状及分布。对于高分子材料，可测量高分子粒子或空隙大小

高能非弹性中子散射谱仪在东莞揭牌

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关于小角X射线散射的重要性

　　小角X射线散射技术是研究材料亚微观内部结构的重要方法，由于其独特的优点，可以用来进行金属和非金属纳米粉末、胶体溶液、生物大分子以及各种材料中所形成的纳米级微孔、GP区和沉淀析出相尺寸分布的测定以及非晶合金加热过程的晶化和相分离等研究。小角X射线散射技术在提高和改进材料性能方面起着重要作用，必将成

中子散射：微观世界研究利器

1932年，查德威克发现了中子，人们认识到原子核由带正电的质子和不带电的中子构成。中子的发现及应用是20世纪最重要的科技成就之一。当中子入射到样品上时，与它的原子核或磁矩发生相互作用，产生散射。通过测量散射的中子能量和动量的变化，可以研究在原子、分子尺度上各种物质的微观结构和运动规律，告诉人们原子和

小角X射线散射技术测定离聚体的介绍

　　离聚体是指共聚物中含有少量离子的聚合物。由于高分子链存在着离子化的侧基，可形成离子聚合体，从而使此类聚合物具有独特的结构和性能。小角X射线散射技术还可用于嵌段共聚物、胶体高分子溶液以及生物大分子等研究领域，用来测量分子量、粒子旋转半径以及形变和取向等。

生物大分子X射线小角散射实验指南

    导读：基于同步辐射的X射线小角散射实验可以实现高通量以及更高的分辨率和信噪比。本文简单介绍了生物大分子小角散射（BioSAXS）的数据收集策略以及样品准备要求，看完这篇就可以准备样品直接去BL19U2收集小角数据了！BioSAXS的目标    生物分子的小角X射线散射（以下简称生物小角，Bi

小角X射线散射技术测定纳米颗粒的介绍

　　小角X射线散射技术被广泛用来测定纳米粉末的粒度分布，其粒度分析结果所反映的既非晶粒亦非团粒，而是一次颗粒的尺寸。在测定中参与散射的颗粒数一般高达数亿个，因此，在统计上有充分的代表性。　　通过对Guinier曲线低角区域线性部分的拟合，得到试样中氧化铝颗粒的旋转半径约为6nm，表明在无机纳米杂化薄

使用小角激光散射仪前不妨先来看看这篇文章

　　小角激光散射仪与SAXS和SANS的装置相比，检测范围更广。利用偏光板的Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价，解析结晶性胶片的球晶半径，Vv散射测量可以进行聚合物混合的相关距离的分析。　　散射光直接折射到摄像头的 CCD 芯片上，散射角保持不变，无需做进一步校正；本产品还可与流变仪软件完美集成

中国散裂中子源二期工程可行性研究报告获批

记者11日从中国科学院高能物理研究所(中科院高能所)获悉，该所建于广东东莞、被誉为“超级显微镜”的大科学装置——中国散裂中子源(CSNS)，其备受关注的二期工程可行性研究报告，近日已获得国家发展和改革委员会批复。 中科院高能所表示，可行性研究报告获批，标志着中国散裂中子源二期工程项目前期立项工作

中国散裂中子源二期工程可行性研究报告获批

记者11日从中国科学院高能物理研究所(中科院高能所)获悉，该所建于广东东莞、被誉为“超级显微镜”的大科学装置——中国散裂中子源(CSNS)，其备受关注的二期工程可行性研究报告，近日已获得国家发展和改革委员会批复。 中科院高能所表示，可行性研究报告获批，标志着中国散裂中子源二期工程项目前期立项工作

我国首台高能非弹性中子散射谱仪交付使用

11月16日，我国首台高能直接几何非弹性中子散射飞行时间谱仪（以下简称“高能非弹谱仪”）在中国散裂中子源完成验收并交付使用。作为重要的物质动力学性质研究平台，高能非弹谱仪将为物理、化学、材料、力学和交叉学科研究提供实验条件。如果把常规的科学仪器比作人眼，那么高能非弹谱仪就是一台具备“超能力”的超级相

小角X射线散射技术测定非晶合金的介绍

　　非晶合金也称金属玻璃，它是急冷得到的亚稳定合金，在加热过程中会产生一系列的转变，逐渐由亚稳态转变到稳定态。在这个过程中会发生相分离以及晶化过程。已有许多学者利用小角X射线散射技术来研究非晶合金中的这些转变。　　用原位小角X 射线散射研究了块体非晶合金Zr55Cu30Al10Ni5的退火行为。研究

小角X射线散射（SAXS）检测时对样品的要求

　　1、粉末样品：须充分研磨，需0.2克左右；　　2、片状样品：样品表面平整，可折叠制样，最佳厚度为1mm；　　3、液体样品：浓度极低的稀溶液，大约需要50μL，1*20 mm2；　　4、纤维样品：一束梳理整齐的纤维，长度5 cm, 纤维束直径2mm；　　不符合以上送样要求，不能保证数据的准确性。　

使用小角激光散射仪前不妨先来看看这篇文章吧

　小角激光散射仪与SAXS和SANS的装置相比，检测范围更广。利用偏光板的Hv散射测量可以进行光学各向异性的评价，解析结晶性胶片的球晶半径，Vv散射测量可以进行聚合物混合的相关距离的分析。　　散射光直接折射到摄像头的 CCD 芯片上，散射角保持不变，无需做进一步校正；本产品还可与流变仪软件完美集成，

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小角X射线散射技术测定金属的缺陷的介绍

　　金属经辐照或从较高温度淬火产生空位聚集，会引起相当强的小角散射。由于粒子体系和孔洞体系是互补体系，二者产生的散射是相同的。在306～319℃退火空洞会被部分地退火消除，旋转半径迅速增大；而在306℃之前，空洞则非常稳定。

小角X射线散射技术测定合金中的析出相介绍

　　早在1938年，Guinier就已经用小角X射线散射技术研究合金中的非均匀区（现称作GP区），揭示了一些亚稳分解产物。如今小角X射线散射技术被越来越多地用于合金时效过程的研究，从而进行相变动力学研究等。　　在形核阶段，析出相半径变化很小；在长大过程中，析出相基本满足抛物线长大规律；在粗化阶段，析

《小角X射线散射（SAXS）技术介绍》讲座进行中

国内首台中子全散射谱仪关键技术指标实现突破

8月12日，中国散裂中子源“多物理谱仪关键技术与应用”项目科技成果鉴定会在广东东莞召开。记者从会上了解到，多物理谱仪关键技术指标，如样品处单位功率中子通量处于国际同类型谱仪的领先水平，谱仪衍射分辨率和实空间分辨率达到国际同类型谱仪的最好水平。同时，在多物理谱仪研发过程中，首次成功研制出国产位置灵敏型