日立发布全新纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800

2019年3月5日,日立高新技术科学公司在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”,该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”,通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务,与此同时,凭借不断创新积累的三维测量性能,实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。VS1800 在半导体、汽车、食品、医药品等产业领域的材料研究和开发方面,为了提高产品的性能与功能,对产品表面的粗糙度、凸凹不平、翘曲等表面形状的评估变得尤其重要。以往,表面形态的测量方法,一般是采用触针式粗糙度测量仪等进行二维测量(线+高差),但近年来,伴随着材料的薄膜化和微细构造化的加速,需要获取更多的信息,因此,采用扫描型白光干涉显微镜*2和激光显微镜*3等进行三维测量(面+高差)便得到了灵活应用。 此外,2010年制定了有关三维表面形态评估的国际标准ISO 25178......阅读全文

用于纳米测量的超敏感自适应干涉仪

  远东分院自动化与控制过程研究所成立于1971年,现有员工270人,其中科研人员133名,院士2名,通讯院士3名,科学博士28名,科学副博士84名。现任所长为Кульчин Юрий Николаевич 院士。主要科研方向包括力学、能源与控制过程问题;激光物理、凝聚态介质和物体研究的光学方法;信

通过我们的核心技术来加强分析业务以解决社会问题

  2025年3月31日,东京 – Hitachi High-Tech Corporation(日立高新技术集团)正在通过整合和联合运营Hitachi High-Tech Analytical Science Ltd. (日立分析仪器)和Hitachi High-Tech Science Corpo

日立高新与ZS合作开发商业化第三代基因测序技术

  分析测试百科网讯 日立高科技美国公司(HTA)今天表示将与ZS Genetics合作,将ZS的单分子DNA测序平台商业化,双方通过合作的价值没有披露。  公司表示,ZS Genetics专有的“第三代”技术是基于高分辨率电子显微镜(EM),将允许用户首次对读长进行高质量测序(50,000个或更多

透射电镜厂商大揭秘(三):-无所不能的HITACHI——日立

  今天主要来谈一下三家主要的透射电镜供应商的最后一家——日立HITACHI。如果说JEOL和FEI算是比较专一型的企业的话,那么Hitachi就是比较博爱了。  HITACHI  日立是日本的一家超级大国企,可以说它本身就是一个完整的工业体系,涉及的产业从核电站,铁路,军工,到家电,医疗,物流,通

利用劈尖的等厚干涉条纹如何测量角度

θ=sinθ=λ/2nl=589.3x10-6/1.52x5=3.88x10-5=8

专家用户春日共庆-日立科学仪器乔迁新址

  2023年3月28日,日立科学仪器(北京)有限公司乔迁典礼在京隆重举行。与日立科学仪器多年合作的数十位专家学者、学会领导受邀出席与日立来自各地的员工欢聚一堂,共同庆祝日立科学仪器迁址新地。日立科学仪器(北京)有限公司乔迁典礼日立科学仪器电镜市场部部长高敞主持乔迁典礼  乔迁典礼由日立科学仪器电镜

第二届全国质谱会闭幕-岛津和日立高新赞助46个获奖者

  分析测试百科网讯 2015年10月19日上午,为期两天半的中国化学会第二届全国质谱分析学术报告会圆满闭幕。会议颁奖典礼暨闭幕式在浙江大学紫金港校区蒙民伟楼举行。闭幕式同时颁发了岛津杯优秀青年报告奖和日立高新杯优秀墙报奖。  岛津杯优秀青年报告奖获奖名单:  岳磊 闵乾昊 张莹 杨洪梅 刘心昱 李

日立收购牛津仪器工业分析部后首次亮相BCEIA

   分析测试百科网讯 2017年7月日立高新技术(HHT)成功收购牛津仪器工业分析部,成立日立分析仪器(HHA)(相关报道:牛津仪器工业分析部成为日立新技术分析科学)。2017 BCEIA展会上,两家公司以全新的形象首次亮相。来自日立分析仪器亚太区销售与服务副总裁 Adrian Smith先生,日

日立分析发布新款高分辨率探测器SDD款XRF镀层测厚仪

  2018年6月19日,英国牛津:日立分析仪器公司(日立分析仪器),是日立高新技术公司(TSE:8036)旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日,日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能,添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。  日立分析仪器XR

追求操作性的原子力显微镜100系列-惊艳上市

  株式会社日立高新技术(社长:饭泉 孝/以下称:日立高新技术)将于近期开始销售小型探针显微镜AFM100系列,该系列追求操作性并提高了处理量,可用于科学研究开发以及质量管理,包括原子力显微镜(AFM:Atomic Force Microscope / 以下称:AFM)高性能AFM100 Plus及

日立分析推出一系列手持式LIBS新产品Vulcan+-保持市场领先

  分析测试百科网讯 近日,日立高新技术公司(东京证券交易所代码:8036)全资子公司日立分析仪器公司(Hitachi High-Tech Analytical Science)推出了先进的手持式激光诱导击穿光谱(LIBS)分析仪系列——Vulcan +。该系列是对现有Smart和Expert型号的

干涉显微镜的干涉原理

干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。干涉显微镜是根据光波干涉原理设计制造出来的。图1中(a)为其光学系统示意图。由光源1发出的光线经聚光镜2、滤色片3、光阑4及透镜5后成平

干涉显微镜的干涉原理

干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。干涉显微镜是根据光波干涉原理设计制造出来的。图1中(a)为其光学系统示意图。由光源1发出的光线经聚光镜2、滤色片3、光阑4及透镜5后成平

干涉显微镜的干涉原理

干涉显微镜是利用光波的干涉原理精确测量试样表面高度微小差别的计量仪器。按其原理可以分为多束干涉显微镜和双光束干涉显微镜两类。这里仅就基于双光束干涉的显微镜进行论述。干涉显微镜是根据光波干涉原理设计制造出来的。图1中(a)为其光学系统示意图。由光源1发出的光线经聚光镜2、滤色片3、光阑4及透镜5后成平

双光束干涉仪波长的测量和检验光学元件

  波长的测量  任何一个以波长为单位测量标准米尺的方法也就是以标准米尺为单位来测量波长的方法。以国际米为标准,利用干涉仪可精确测定光波波长。法布里-珀罗干涉仪(标准具)曾被用来确定波长的初级标准(镉红谱线波长)和几个次级波长标准,从而通过比较法确定其他光谱线的波长。  检验光学元件  泰曼干涉仪被

双光束干涉仪的长度测量和折射率测定

  长度测量  在双光束干涉仪中,若介质折射率均匀且保持恒定,则干涉条纹的移动是由两相干光几何路程之差发生变化所造成,根据条纹的移动数可进行长度的精确比较或绝对测量。迈克耳孙干涉仪和法布里-珀罗干涉仪曾被用来以镉红谱线的波长表示国际米。  折射率测定  两光束的几何路程保持不变,介质折射率变化也可导

日立场发射扫描电镜荣获“IEEE里程碑”奖

  日前,为表彰1972年由日立制作所开发出的场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)的实用化功绩,电气和电子工程师协会(IEEE)授予其场发射扫描电子显微镜“IEEE里程碑(IEEE Milestones)”奖。据悉,该奖由日立制作所与其旗下从事电子显微镜制造、销售业务的日立高新技术(Hitachi

工业显微镜应用3D测量显微镜汇聚共聚焦与干涉测量技术

工业显微镜应用-3D 测量显微镜汇聚共聚焦与干涉测量技术

马赫曾德干涉仪干涉原理简介

  马赫—曾德干涉仪由于不带有纤端反射镜,需要增加一个3dB分路器,如下图。光源发出的相干光经3dB分路器分为光强1:1的两束光分别进入信号臂光纤和参考臂光纤,两束光经第二个3dB分路器汇合相干形成干涉条纹。M—Z干涉仪的优点是不带纤端反射镜,克服了迈克耳逊干涉仪回波干扰的缺点,因而在光纤传感技术领

雷尼绍激光干涉仪回转轴精度的测量方法

其测量过程可以概述为以下5步:将WR50安装于回转轴中心,调整位置使偏心量尽可能小于0.1mm;按图2所示安装好角度反射镜,调节激光激光干涉仪位置。编写机床程序,设置回转轴测量的目标点和暂停时间,在激光干涉仪软件中做好相应设置。调整WR50置于零位,激光干涉仪读数置零。

雷尼绍激光干涉仪回转轴精度的测量方法

  雷尼绍激光干涉仪测量回转轴精度时,需要转台附件(XR20-W)配合使用,此外还需要使用角度干涉镜。如果你使用的是有线转台附件(RX10),则还需要使用角度反射镜。  测量回转轴精度时,  第一步,需要将转台附件的中心,与回转轴中心对齐(偏差在1mm之内)。  第二步,搭好光路。  第三步,可以运

新品-|-为NEXTA-DSC系列推出Real-View®偏光显微样品观察装置,可进行高精度结构分析

2024年3月6日,日立高新技术集团旗下的日立分析仪器有限公司(以下简称为“日立分析仪器”)推出了可在NEXTA DSC系列热分析仪上使用的偏光显微镜配件。NEXTA DSC被用于不同的热分析领域,包括聚合物、制药、电子、化学、学术研究、石油和天然气、食品和金属等,以对热流进行测量从而获得材料特性。

日立高新技术推出FOUNDRYMASTER-Smart-2,提升固定式直读光谱仪的性能与价值

  日立高新技术集团(以下简称为“日立高新技术”,隶属日立制造所产业互联事业部门)推出升级型固定式直读光谱仪(OES)FOUNDRY-MASTER Smart 2,旨在以紧凑耐用的设计,实现质量保证/质量控制(QA/QC)和黑色金属及有色金属分析领域的实验室级分析精度。该系列仪器由日立分析仪器德国公

日立高新技术推出FOUNDRYMASTER-Smart-2,提升固定式直读光谱仪的性能与价值

  助力制造业将高精度分析仪器转化为数字化资产,推动基于Lumada的数字化服务  −兼顾价值、易用性与长期可靠性,同时保持令用户信赖的性能  −全新科学级CMOS传感器与超稳定火花光源能够在用户现场实现科学实验室级的分析精度  −升级后的外壳设计能够提升设备耐用性与可维护性FOUNDRY-MAST

RNA干涉实验

化学合成siRNA分子实验 体外转录合成siRNA分子实验 采用RNA聚合酶Ⅲ启动子表达siRNA分子 采用RNaseⅢ制备siRNA分子实验             实验方法

RNA干涉实验

实验方法原理 当确定了靶基因上的 siRNA 分子作用位点以后,根据靶位点的序列可以很方便地推导得到相应的 siRNA 分子的正义与反义 RNA 链序列。它们包含 19 bp 的互补双链区和两侧的不配对区(每侧为 2 个 U 成 2 个 T ),在合成时用 T 替代 U 可以降低成本并可以提

RNA干涉实验

RNA 干涉(RNA1) 是指在真核细胞中引入双链 RNA ( doubt-stranded RNA,dsRNA ) 分子从而导致具有序列同源性的基因产生特异件基内沉默(gene silencing ) 的现象。本实验来源「RNA 实验指导手册」主编:郑晓飞。实验方法原理当确定了靶基因上的 siRN

关于马赫曾德干涉仪干涉原理简述

  托马斯·杨用红光照射双孔,观察通过双孔后的光在屏幕上形成的光带。他遮住一个针孔时,屏上只有一个红的光强均匀的光点;当两个孔均不遮掩时,屏上两个光点重合区出现了红黑交替的光带,红带相当明亮,其宽度相等,同时,各黑带的宽度也相等,并且等于红带的宽度。  根据各种实验比较,组成极端红光的波长,在空气中

日立本土化加速-国产钨灯丝扫描电镜苏州落地

日立高新技术集团隶属世界500强企业日立制作所,在精密制造领域始终以前沿的技术和信赖的品质闻名于世。自1964年开启中国事业以来,日立高新在60年间始终积极服务于中国客户,秉持着In China , For China的战略理念,目前已经在国内设立了三大工厂,即苏州、大连和上海工厂,负责科学仪器和医

冷场发射扫描电镜应用技术研讨会在京召开

  分析测试百科网讯 2016年9月22日,“冷场发射扫描电镜最新应用技术研讨会”在北京文津酒店召开。此次会议由天美(控股)有限公司、日立高新技术公司主办,布鲁克科技有限公司协办,国家纳米科学中心支持。本次会议有50余名国内外专家学者齐聚一堂,相互交流。冷场发射扫描电镜最新应用技术研讨会现场日立高新