用原子力显微镜表征DNA纯化效果的实验

实验概要运用原子力显微镜(AFM)表征3种DNA纯化试剂盒对DNA的纯化效果。方法:PCR扩增K562/A02细胞mdr1基因DNA,分别以3种不同的DNA纯化试剂盒对PCR产物进行纯化后,按终浓度为10 ng・μl-1固定在用1 ng・μl-1 L型多聚赖氨酸预先处理过的新剥离的云母片上,用AFM获取DNA扫描图像,分析评价3种DNA试剂盒对DNA的纯化效果。实验原理原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)是具有原子级分辨率的新一代显微镜,因其能够对DNA、蛋白质、磷脂生物膜、多糖等生物大分子以及有机化合物的形态及功能进行观察研究而引起了人们的广泛关注。近十几年,运用AFM在固相载体表面研究DNA分子技术取得的巨大进步,大大地增进了人们在分子层面上对DNA分子的了解。AFM在样本制备上相对较容易,但用于DNA研究时,要想得到质量较高的DNA图像对DNA样品的纯度要求较高。我......阅读全文

原子力显微镜的功能

1、表面形貌的表征  通过检测探针一样品作用力可表征样品表面的三维形貌,这是AFM最基本的功能。由于表面的高低起伏状态能够准确地以数值的形式获取,对表面整体图像进行分析可得到样品表面的粗糙度(Roughness)、颗粒度(Granularity)、平均梯度(Step Height)、孔结构和孔径分布

原子力显微镜的应用

随着科学技术的发展,生命科学开始向定量科学方向发展。大部分实验的研究重点已经变成生物大分子,特别是核酸和蛋白质的结构及其相关功能的关系。因为AFM的工作范围很宽,可以在自然状态(空气或者液体)下对生物医学样品直接进行成像,分辨率也很高。因此,AFM已成为研究生物医学样品和生物大分子的重要工具之一。A

原子力显微镜概述

  原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比

相原子力显微镜

液相原子力显微镜(liquid cell Force Microscope )对生物分子研究而言,对DNA 基本结构及功能的了解一直是科学家追求目标,早在1953 年 DNA 双螺旋结构的发现后,使人了解遗传讯息如何在这当中传送,并且也将生物研究推展到分子生物的领域,为了解个别分子的功能,许多解析分

原子力显微镜概述

原子力显微镜(AFM)概述最早扫描式显微技术(STM)使我们能观察表面原子级影像,但是STM 的样品基本上要求为导体,同时表面必须非常平整, 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各种扫描式探针显微技术中,以原子力显微镜(AFM)应用是最为广泛,AFM 是以针尖与样品之间的属于原子级力场作用力,所

原子力显微镜简介

  原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比

原子力显微镜特点

原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的

原子力显微镜简介

  原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比

原子力显微镜原理

概括  原子力显微镜(atomic force microscope,简称AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力,从而达到检测的目的,具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体,也可以观察非导体,从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研

原子力显微镜原理

 原子力显微镜是显微镜中的一种类型,应用范围十分广泛。原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器,很多人对原子力显微镜原理不太了解,下面小编就为大家介绍一下原子力显微镜原理、工作模式及应用领域。       原子力显微镜原理       将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固

DNA纯化实验——DNA凝胶回收试剂盒纯化法

DNA纯化可用于:(1)获得高纯度的DNA;(2)浓缩DNA;(3)测序、遗传信息分析等分子生物学应用。实验方法原理本试剂盒适合从各种琼脂糖凝胶中提取多至 8 μg DNA(70 bp-10 Kb),回收率为 60-85%。琼脂糖凝胶在温和的缓冲液(DE-A 溶液)中溶解,其中的保护剂能防止线状 D

DNA纯化去杂质实验

这周我们来讨论一项常用的技术,即使常用但仍引起部分人核酸分离焦虑症。那就是基因组DNA的纯化去杂质。场景是这样的:你有一份采自南太平洋中部一个偏僻小岛上首次发现的古老兰花品种根际土壤样品。你使用了非PowerSoil Kit法提取其中的微生物DNA。最终DNA含有太多杂质,无法PCR扩增。因此需要去

实验室检验检测设备原子力显微镜

原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描,从而提供高放大倍率观察的一系列显微镜的总称。原子力显微镜扫描能提供各种类型样品的表面状态信息。与常规显微镜比较,

纯化DNA实验_纯化质粒(碱裂解法)

实验材料大肠杆菌试剂、试剂盒LB葡萄糖缓冲液乙酸钾仪器、耗材离心管实验步骤1. 单个大肠杆菌克隆接种到 2 ml 含适当抗生素的 LB 中。37℃ 剧烈振荡孵育 5~8 小时。或者可以培养过夜使饱和。2. 倒 1.5 ml 培养液到已作标记的微量离心管中。把剩下的培养液存放在 4℃。3. 在微量离心

关于原子力显微镜的力检测部分介绍

  在原子力显微镜(AFM)的系统中,所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂(cantilever)来检测原子之间力的变化量。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖,用来检测样品-针尖间的相互作用

研究人员用原子力显微镜在原子水平“看”键的断裂和形成

  化学键的打开和形成是发生化学反应的必经过程,科学家们也向往能够直接“看到”这些过程。  最近,以苏黎世IBM研究中心科学家Leo Gross为首的研究团队使用扫描隧道显微镜(scanning tunneling microscopy,STM)触发一个单分子反应,并用原子力显微镜(atomic f

用扫描隧道显微镜表征测试

     用扫描隧道显微镜(STM)测试。之所以打算使用STM ,是因为STM具有更高的分辨率(0.01~0.1nm),可在纳米水平上直接观察纤维的超微结构-基原纤丝。改性纤维素在吸附过程中,用STM测试的话,STM 具有实时观测表面扩散等动态过程的性能,可直接观察表面吸附体的形态和位置,以及由吸附

原子力显微镜(AFM)的原理

原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动.利用光学

原子力显微镜的结构组成

主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测,当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时,检测该斥力可获得表面原子级分辨图像,一

原子力显微镜的硬件架构

在原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)的系统中,可分成三个部分:力检测部分、位置检测部分、反馈系统。

原子力显微镜(AFM)的原理

原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样

原子力显微镜(AFM)的原理

原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样

原子力显微镜的薄弱处

许多技术都是有利有弊,原子力显微镜也不例外。原子力显微镜一个很大的弊端在于,由于测量是通过探针与物体表面的近乎直接接触来实现的,探针的质量会直接影响到测量的准确程度。例如有的情况下针尖会被所测量的材料所玷污,有的时候针尖会划伤所测量的表面,还有的时候针尖会折断,即便不发生这些意外情况,针尖也会逐渐磨

原子力显微镜结构的分析

在原子力显微镜(AFM)的系统中,所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂(cantilever)来检测原子之间力的变化量。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖,用来检测样品-针尖间的相互作用力。

原子力显微镜(AFM)的原理

原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样

原子力显微镜的样品制备

粉末样品的制备:粉末样品的制备常用的是胶纸法,先把两面胶纸粘贴在样品座上,然后把粉末撒到胶纸上,吹去为粘贴在胶纸上的多余粉末即可。块状样品的制备:玻璃、陶瓷及晶体等固体样品需要抛光,注意固体样品表面的粗糙度。液体样品的制备:液体样品的浓度不能太高,否则粒子团聚会损伤针尖。(纳米颗粒:纳米粉末分散到溶

原子力显微镜的原理简介

  原子力显微镜(AFM)通过机械探针“触摸”样品表面表征其形貌并记录力学性质。它的工作原理类似人类用手指触摸物品表面,当探针靠近样品表面时,探针与样品表面间会产生一个相互作用力,此作用力会导致悬臂发生偏折。  激光二极管产生的激光束通过透镜聚焦到悬臂背面,然后再反射到光电二极管上形成反馈。  在扫

原子力显微镜(AFM)的原理

原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样

原子力显微镜的敲击模式

  在环境条件下,大多数样品形成液体弯月层。因此,保持探针尖端足够靠近样品,以使短程力变得可检测,同时防止尖端粘附到表面,这对于环境条件下的接触模式来说是一个主要问题。动态接触模式(也称为间歇接触、交流模式或分接模式)被开发来绕过这个问题。[6] 如今,在环境条件或液体中操作时,分流模式是最常用的原

原子力显微镜(AFM)的原理

原子力显微镜(AFM)的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。选择原