我国学者成功研制高灵敏度和低检测极限的X射线探测器

X射线高灵敏检测在医疗、安全和工业检测等领域应用十分广泛,如应用在X光胸透、CT成像以及机场的X光安全检查等。X射线通常的探测方法是先利用闪烁体将X光转化为可见光,再通过常规的硅基可见光探测器探测,这种间接探测的方式一方面效率不够高,另一方面发光的闪烁体很厚,其成像分辨率受到光学串扰的限制。 在国家重点研发计划“纳米科技”重点专项的支持下,浙江大学杨旸课题组报道了一种具有类似钙钛矿结构的半导体材料(NH4)3Bi2I9,这种类钙钛矿材料具有很高的X光吸收效率和载流子收集效率,其特有的各向异性层状结构,有助于实现载流子在信号收集方向上的高效迁移和收集,同时抑制横向扩散,从而使得成像阵列中的横向扩散电流被压制,降低信号间的电学串扰,实现更高分辨率的成像。这些特殊性在以往的X射线探测器中鲜有报道。基于此材料,课题组制作了具有高灵敏度和低检测极限的X射线探测器,其探测灵敏度和最低检测极限大大超过了目前接近商用化的非晶硒直接型X射......阅读全文

玻璃容器X射线检测系统

玻璃应用梅特勒-托利多的玻璃容器X射线检测系统受到全球范围内食品、饮料与药品生产商的青睐,以确保产品安全性与完整性。 X射线检测系统是检测玻璃瓶罐内污染物的理想之选,适用于多种罐装食品,如:调料与酱料、鱼类与海产品、水果与蔬菜、婴儿喂养食品、方便食品、肉类、家禽与乳制品以及饮料与药品。高速检

散装食品X射线检测系统

散装食品应用梅特勒-托利多散装食品X射线检测系统适用于肉类、鱼类与海产品、水果与蔬菜、休闲食品、糖果与宠物食品等行业。 可在对散装(松散)食品包装(或者向成品添加原料)之前使用这些设备对其进行检测,以更好地进行质量控制,常规用途包括:坚果、谷类与豆类、膨化食品、干果、粮食、蔬菜、冷冻海鲜品、

x射线测厚仪的X射线发射源及接收检测头介绍

  采用X射线管和高压电源。X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却,高压等级根据所造型号不同有所区别,加上传感器具有的温度自动保护与报警功能,提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。  检测头采用电离室和电子前置放大器

X射线投射检测技术的检测方法

  X射线检测的方法很多,以下简要介绍三种:  X射线小角散射  当X射线照射到试样上时,如果试样内部存在纳米尺寸的密度不均匀区,则会在入射束周围的小角度区域内出现散射X射线,这种现象称为X射线小角散射或小角X射线散射。根据电磁波散射的反比定律,相对于波长来说,散射体的有效尺寸越大则散射角越小。因此

CdZnTe半导体探测器X射线能谱响应特性分析

CdZnTe是一种性能优异的高能射线探测材料,在空间科学、核安全以及核医学等众多领域有广泛的应用前景.本文选取了3枚不同等级的CdZnTe探测器,在详细阐述了CdZnTe探测器工作原理的基础上,对比分析了他们的能谱响应曲线和载流子输运特性的关系.重点分析了CdZnTe探测器能量分辨率、电荷收集效率和

二维X射线探测器的研制项目通过验收

  6月7日,中国科学院计划财务局组织专家对高能物理研究所承担的院重大科研装备研制项目“二维X射线探测器的研制”进行了现场验收。  二维X射线探测设备采用200mm×200mm气体电子倍增器膜(GEM)为主要探测部件,项目组经过多年潜心研究,开发了相关探测器的制作工艺,解决

X射线能谱Si(Li)探测器污染问题的研讨

通常X射线能谱Si(Li)探测器经使用后,不可避免地会受到污染,污染可分为两类:探测器外部——Be窗口污染;探测器内部——Si(Li)晶体和场效应管的污染。前者主要是探测器在有油真空中使用,探测器的低温使油蒸气不断凝结在Be窗口上,形成一层油膜,形成探测器外部的污染。后者主要是探测器真空容器密封不完

硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断

采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1~20keV)辐射的能谱,获得电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小、计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷却的特点,并采用高速ADC和海量缓

X射线投射检测技术的原理

  在X-Ray检测的过程中, X-Ray穿过待检样品,然后在图像探测器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由分辨率及对比度决定。  成像系统的分辨率(清晰度) 决定于X射线源焦斑的大小、X光路的几何放大率和探测器像素大小。微焦点X光管的焦斑可小到几个微米。X

X射线投射检测技术的介绍

  X射线检测技术是无损检测技术的一种。  X射线透射检查法可提供铸件检测部位有无缺陷及缺陷尺寸的照片。X射线透照法主要应用在铸件和机器部件中出现的诸如裂纹、孔洞和夹杂等缺陷的辨识和评价。  X射线不能直接测量,在测量前必须把它转化为可测量的量,有照相法和电信号法两种X射线检测技术。照相法是把X射线

Finefocus-X射线检测系统共享

仪器名称:X射线检测系统仪器编号:11027004产地:德国生产厂家:Finefocus型号:Finefocus_Cougar出厂日期:201107购置日期:201112所属单位:集成电路学院>微纳加工平台>封装工艺放置地点:微电子所新所一层微纳平台固定电话:固定手机:固定email:联系人:郑瑶(

自动X射线检测仪概述

  X射线具有很强的穿透性,是最早用于各种检测场合的一种仪器。X射线透视图可显示焊点厚度、形状及质量的密度分布。这些指标能充分地反映出SMT贴片加工生产焊点的焊接质量,包括开路、短路、孔洞、内部气泡以及锡量不足,并能做到定量分析。  X射线由一个微焦点X射线管产生,穿过管壳内的一个铍窗,投射到试验样

X射线异物检测仪简介

  X射线(X-ray)检测机是在下使用低能量X 光,快速检测出被检物品的内部质量和其中的异物,并通过计算机显示被检物品图像的测试手段。  当待检品经X射线照射后,物质的密度和原子序数越大,物质吸收X射线的比率也会越大。而食品中的蛋白质、碳水化合物、脂肪、水分以及骨头(钙质)、玻璃(硅质)、金属和毛

X射线无损检测解决方案

  目前,在相当多的重要工业部门和国防单位,无损检测技术已融入国家总体经济发展目标,正在为解决国家急需解决的大型工程项目的安全和涉及安全、民生的重大项目服务。无损检测技术是电子、机械工业的重要支柱,是一项典型的具有低投入、高产出的工程应用技术,也是实现经济可持续发展和绿色制造的重要保障。   解决

X射线工业CT无损检测系统

  X射线工业CT无损检测系统是一种用于材料科学领域的分析仪器,于2014年12月26日启用。  技术指标  最大管电压:600kV,最大功率:1500kW;穿透能力: Al (密度2.7):≥ 250 mm;Fe(密度7.8):≥ 90 mm SiC 陶瓷(密度3.2 g/cm3):≥ 180 m

x射线无损检测的实用领域

  x射线无损检测作为新兴的无损检测技术已经进入工业产品检测的实用领域。90年代以来,我国焊接气瓶、焊接钢管(直缝管和螺旋焊缝管)、汽车铝合金轮毂制造业中已越来越多地应用x射线实时成像检测技术;甚至一些钢管厂在项目投标时已经遇到因为不具备x射线实时成像检测设备条件而失去参加投标资格的局面,因而也都在

罐头食品X射线检测系统

罐装应用梅特勒-托利多的罐装食品X射线检测系统能够出色检测采用多种金属罐包装的食品、饮料与宠物食品中的污染物。 各种检测解决方案可用于所有形状和大小的食品罐,以及各种罐头应用。 常见应用有婴儿食品、方便肉类、鱼和海产品、肉类、水果和蔬菜、宠物食品和饮料。在线质量检验梅特勒-托利多的X射线罐装食品检测

X射线荧光(XRF):理解特征X射线

  什么是XRF?   X射线荧光定义:由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级(或荧光)X射线。这种现象广泛应用于元素分析。  XRF如何工作?   当高能光子(X射线或伽马射线)被原子吸收,内层电子被激发出来,变成“光电子”,形成空穴,原子处于激发态。外层电子向内层跃迁,发射出能量等于两级能

合肥研究院在钙钛矿X射线探测及成像研究方面取得进展

近日,中国科学院合肥物质科学研究院固体物理研究所在钙钛矿X射线探测及成像研究方面取得进展。研究人员提出名为“异相铰连策略”的新思路,将异相CsPb2Br5钙钛矿掺入CsPbBr3体相之中,构建电子(空穴)快速通道,实现了体相载流子的高速率传输,与薄膜晶体管(TFT)板集成可实现X射线成像。与传统的α

X荧光光谱仪三种X射线探测器的比较及应用

 X荧光光谱仪是测定材料发光性能的基本设备。主要包括光源、激发单色器、样品池、荧光单色器及探测器等主要部件。而探测器是很重要的一环,它的重要作用是接受和分辨信号,由于探测器性能的不同,在选用探测器时,就需要综合考虑多种因素。    好的探测器不仅需要具有高分辨率和高计数率,还需要有较宽的元素分析范围

无损检测中X射线和伽码射线的区别

  γ射线是一种强电磁波,它的波长比X射线还要短,一般波长<0.001纳米。γ射线的能量大,其波长非常短,频率高,因此具有非常大的能量。γ射线的穿透本领也极强。能穿透一米多厚的水泥墙,一个能量为1MeV的γ射线就足以穿透人体。而X射线相较于γ射线,则放射能量要小得多,穿透本领也弱很多。因此,对于选用

无损检测中X射线和伽码射线的区别

γ射线是一种强电磁波,它的波长比X射线还要短,一般波长<0.001纳米。γ射线的能量大,其波长非常短,频率高,因此具有非常大的能量。γ射线的穿透本领也极强。能穿透一米多厚的水泥墙,一个能量为1MeV的γ射线就足以穿透人体。而X射线相较于γ射线,则放射能量要小得多,穿透本领也弱很多。因此,对于选用X射

SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用

   硅漂移探测器(SiliconDriftDetector,简称SDD)是半导体探测器的一种;    用来探测X射线,广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)或者X射线能谱仪(EDS)上。    XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后,分析速度快速的提高2倍,使得分析数据的稳定性

SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用

   硅漂移探测器(SiliconDriftDetector,简称SDD)是半导体探测器的一种;    用来探测X射线,广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)或者X射线能谱仪(EDS)上。    XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后,分析速度快速的提高2倍,使得分析数据的稳定性

X射线荧光分析中,如何调整探测器显示的能量范围

你看一下半导体探测器上面有没有能量范围旋钮,有的话就可以直接在上面调节。没有就要调节软件,打开分析软件,找到energy range或energy region,调节至0——100Kev即可。

揭示宇宙演化和时空结构:X射线和探测器将发射

原文地址:http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/9/507950.shtm XRISM艺术图。图片来源:欧洲空间局  科技日报北京9月5日电 (记者刘霞)据物理学家组织网4日报道,X射线成像和光谱任务(XRISM)探测器将于9月7日发射,以观测宇宙中

X射线荧光光谱仪的探测器应该如何选择

X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术,既可用于材料的组成成分分析,又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。对于不同的应用用途,X射线荧光光谱仪体系中探测器的选择也不尽相同。对于定性分析往往需要用到硅漂移探测器。硅漂移探测器(SDDs)能够提高低能量敏感度,使得X射线荧光光谱技术可以对一些低原子序数元素进行

SDD探测器在X射线荧光光谱仪的应用

   硅漂移探测器(SiliconDriftDetector,简称SDD)是半导体探测器的一种;    用来探测X射线,广泛应用在能量色散型X射线荧光光谱仪(XRF)或者X射线能谱仪(EDS)上。    XRF合金分析仪使用了大面积的SDD探测器之后,分析速度快速的提高2倍,使得分析数据的稳定性

新型光动力疗法:低X射线剂量下,高效消灭肿瘤

“光动力疗法是一种利用特定波长的光,照射肿瘤部位的光敏剂,在光的作用下,光敏剂会把能量传递给肿瘤组织周围的基态氧分子,生成活性氧,继而与肿瘤细胞发生氧化反应,最终杀死肿瘤细胞或者病变组织的方法。”论文的共同通讯作者安众福告诉科技日报记者。  “光动力疗法可以通过激光靶向癌细胞进行治疗,不易产生耐药性

软X射线源上X射线能谱与X射线能量的测量

本文介绍了国内首次利用针孔透射光栅谱仪对金属等离子体Z箍缩X射线源能谱的测量结果及数据处理方法。同时用量热计对该源的单脉冲X射线能量进行了测量并讨论了其结果。