X射线投射检测技术的介绍
X射线检测技术是无损检测技术的一种。 X射线透射检查法可提供铸件检测部位有无缺陷及缺陷尺寸的照片。X射线透照法主要应用在铸件和机器部件中出现的诸如裂纹、孔洞和夹杂等缺陷的辨识和评价。 X射线不能直接测量，在测量前必须把它转化为可测量的量，有照相法和电信号法两种X射线检测技术。照相法是把X射线的方位和强度转换成照片面积上相应位置的黑度，然后进行直接测量，或辅以测微光度等仪器对低频进行测量。这种方法是最早使用的检测、记录X射线的方法，现在还是一种常用的基本手段。电信号法也是通过适当的检测器或技术，把X射线转换成电信号，然后通过一套电子学系统进行自动测量记录。这类检测技术包括两个方面：检测器(或技术)及与之配套使用的电子学讯号分析、测量记录系统。 闪烁计数器：是利用X射线激发某些固体物质，发射可见荧光并通过光电倍增管放大的计数器。闪烁计数管基本上由三部分组成：闪烁体、光电倍增管和前置放大器。四圆单晶衍射仪和多晶衍射仪都用这样......阅读全文
X射线投射检测技术的介绍
X射线检测技术是无损检测技术的一种。 X射线透射检查法可提供铸件检测部位有无缺陷及缺陷尺寸的照片。X射线透照法主要应用在铸件和机器部件中出现的诸如裂纹、孔洞和夹杂等缺陷的辨识和评价。 X射线不能直接测量，在测量前必须把它转化为可测量的量，有照相法和电信号法两种X射线检测技术。照相法是把X射线
X射线投射检测技术的原理
在X-Ray检测的过程中， X-Ray穿过待检样品，然后在图像探测器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由分辨率及对比度决定。 成像系统的分辨率(清晰度) 决定于X射线源焦斑的大小、X光路的几何放大率和探测器像素大小。微焦点X光管的焦斑可小到几个微米。X
X射线投射检测技术的检测方法
X射线检测的方法很多，以下简要介绍三种： X射线小角散射 当X射线照射到试样上时，如果试样内部存在纳米尺寸的密度不均匀区，则会在入射束周围的小角度区域内出现散射X射线，这种现象称为X射线小角散射或小角X射线散射。根据电磁波散射的反比定律，相对于波长来说，散射体的有效尺寸越大则散射角越小。因此
X射线投射检测技术的原理及检测方法
原理 在X-Ray检测的过程中， X-Ray穿过待检样品，然后在图像探测器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由分辨率及对比度决定。 成像系统的分辨率(清晰度) 决定于X射线源焦斑的大小、X光路的几何放大率和探测器像素大小。微焦点X光管的焦斑可小到几个
X射线荧光分析技术介绍
X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段，开始于20世纪50年代初，经历了50多年的不断发展，现在已成为物质组成分析的必备方法之一。 在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中，X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径；与其
x射线测厚仪的X射线发射源及接收检测头介绍
采用X射线管和高压电源。X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却，高压等级根据所造型号不同有所区别，加上传感器具有的温度自动保护与报警功能，提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。 检测头采用电离室和电子前置放大器
X射线荧光分析技术相关介绍
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
X射线显微分析技术介绍
中文名称X射线显微分析英文名称X-ray microanalysis定 义应用X射线显微分析器探测细胞或组织的微小区域内元素成分的技术。应用学科细胞生物学（一级学科），细胞生物学技术（二级学科）
X射线荧光仪器的技术优点介绍
利用XRF，元素周期表中绝大部分元素均可测量。作为一种分析手段，XRF具有其优越的地方：分析速度快、非破坏分析、分析精密度高、制样简单等。波长色散和能量色散XRF光谱仪对元素的检测范围为10-5%~100%，对水样的分析可达10-9数量级；全反射XRF的检测限已达到10-9~10-12g。同时也
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S
X射线荧光分析技术的特点介绍
1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓度范围宽
X射线荧光分析技术的应用介绍
随着仪器技术和理论方法的发展，X射线荧光分析法的应用范同越来越广。在物质的成分分析上，在冶金、地质、化工、机械、石油、建筑材料等工业部门，农业和医药卫生，以及物理、化学、生物、地学、环境、天文及考古等研究部门都得到了广泛的应用：有效地用于测定薄膜的厚度和组成．如冶金镀层或金属薄片的厚度，金属腐蚀
X－射线衍射技术的主要应用介绍
X 射线衍射技术已经成为最基本、最重要的一种结构测试手段，其主要应用主要有以下几个方面：物相分析物相分析是X射线衍射在金属中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。
有关X射线食物异物检测的介绍
由于X射线的物理特性，当用X射线照射要检查的产品时，该物质的密度和原子序数越大，该物质对X射线的吸收率就越大，并且该物质的吸收率也越高。食物（钙）和玻璃（二氧化硅），金属，头发和其他成分中的蛋白质，碳水化合物，脂肪，水分和骨骼对X射线的吸收率不同，因此将呈现具有不同灰度的X射线照片。然后，X射线
X－射线荧光仪检测晶体的介绍
分光晶体是具有把 X 射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的晶体。 晶体应该具备的条件：衍射强度大；应该适用于所测量的分析线；分辨率高；峰背比高；不产生附加发射和异常反射；热膨胀系数小、温度效应低；经受 X 射线长期照射，稳定性好；机械强度良好；容易加工等等。
X射线的介绍
X射线（X-ray，伦琴射线）是由于原子中的电子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的粒子流，是一种电磁波，由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现[1]。 X射线具有很高的穿透性，被用于医学成像诊断。2017年10月27日，世界卫生组织国际癌症研究机构将X射线放置在致癌物清单中。
X射线检测原理
X射线检测是利用X射线技术观察、研究和检验材料微观结构、化学组成、表面或内部结构缺陷的实验技术。如X射线粉末衍射术、X射线荧光谱法、X射线照相术、X射线形貌术等。(1)x射线的特性 X射线是一种波长很短的电磁波，是一种光子，波长为10~10cm x射线有下列特点： ①穿透性 x射线能穿透一般可见
X射线与γ射线的相关介绍
X射线是带电粒子与物质交互作用产生的高能光量子。 X射线与γ射线有许多类似的特性，但它们起源不同。 X射线由原子外部引起，而γ射线由原子内部引起。X射线比γ射线能量低，因此穿透力小于γ射线。成千上万台X射线机在日常中被运用于医学和工业上。X射线也被用于癌症治疗中破坏癌变细胞，由于它的广泛运用
x射线探伤仪的检测原理介绍
对工件进行透照、拍片，X射线通过胶片显示出加工成的零件和焊接的内部缺陷，以此评定制品的质量。 可检测出焊缝和零件的裂纹、发纹、白点、折叠、夹杂物等缺陷，具有很高的检测灵敏度，且能直观的显示出缺陷的位置、形状、大小和严重程度。 探伤机应用领域： 无损检测公司、压力容器制造厂、造船厂、航空航天、石油
X射线光谱技术(XRF)
X射线光谱技术因其是一种环保型、非破坏性、分析精度高的分析技术[33], 特别是在贵金属产品、饰品无损检测方面有其独特的优势。用XRFA互标法无损检测黄金饰品,对金饰品[w(Au)>96%]的测定绝对误差
X射线衍射技术简介
物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但是X射线衍射是最有效的、应用最广泛的手段，而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手
X射线的原理介绍
产生X射线的最简单方法是用加速后的电子撞击金属靶。撞击过程中，电子突然减速，其损失的动能会以光子形式放出，形成X光光谱的连续部分，称之为轫致辐射。通过加大加速电压，电子携带的能量增大，则有可能将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴，外层电子跃迁回内层填补空穴，同时放出波长在0.1nm左右的光
X射线的特点介绍
X射线与可见光相比，除了具有波粒二象性的共同性质之外，还因其波长短、能量大而显示其特性： 1、穿透能力强； 2、折射率几乎等于1； 3、透过晶体时发生衍射。
食品的X射线检测方法
X射线不仅可以出色地检测产品中的金属，玻璃，石头，骨头以及高密度塑料等物理污染物，还可同时进行多项在线质量检测，如计件、识别缺失或破损、监测罐装量、检测密封完整性等。越来越多的食品生产商选择使用X射线检测系统来确保产品的安全性和质量。X射线波长可使其穿透在可见光下不透明的材料(取决于产品的密度)，这
EagleX射线检测
Eagle 提供的世界级 x 射线检测系统适用于食品和制药行业内带包装、无包装和散装产品的各种质量检测。我们的 x 射线设备可以确保制造商符合危险分析和关键控制点 (HACCP) 准则的要求。通过针对客户具体产品检测/应用要求量身定制的自定义解决方案，我们的 x 射线系统可提供避免产品召回和客户投诉
管道X射线检测系统
管道应用梅特勒-托利多管道X射线检测解决方案专用于检测最终加工和包装之前任何阶段的泵送产品（通常为肉类和禽类），如浆状物、半固体和流体。 应用范围通常包括：酱料、果酱、肉馅、全瘦肉、巧克力与奶油以及无法筛处理的产品，例如：有纹理的果糊与大果粒酸奶。出色的产品安全性管道X射线检测通过在生产早期阶段对玻
常用的X－射线荧光仪检测晶体的介绍
常用晶体有 LiF、PET（用于检测 Si、Al）、Ge（用于检测P）、NaCl 、TAP （用于检测 Mg 、Na 、F），其中 TAP、PET、NaCl 等都是耐潮能力差的晶体，容易损坏，特别是 NaCl 容易潮解。TAP、PET的使用寿命一般为 5~6 年，因为太硬，容易出现裂纹，一般不
小角X射线散射技术测定离聚体的介绍
离聚体是指共聚物中含有少量离子的聚合物。由于高分子链存在着离子化的侧基，可形成离子聚合体，从而使此类聚合物具有独特的结构和性能。小角X射线散射技术还可用于嵌段共聚物、胶体高分子溶液以及生物大分子等研究领域，用来测量分子量、粒子旋转半径以及形变和取向等。
小角X射线散射技术测定纳米颗粒的介绍
小角X射线散射技术被广泛用来测定纳米粉末的粒度分布，其粒度分析结果所反映的既非晶粒亦非团粒，而是一次颗粒的尺寸。在测定中参与散射的颗粒数一般高达数亿个，因此，在统计上有充分的代表性。 通过对Guinier曲线低角区域线性部分的拟合，得到试样中氧化铝颗粒的旋转半径约为6nm，表明在无机纳米杂化薄
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样