ELECTRONMICROSCOPY
E.M. PROCESSING SCHEDULE - EPOXY RESINFix tissue in 2.5% glutaraldehyde in 0.1M sodium cacodylate buffer at 4oC, for a minimum of 4 hours. Tissue should be cut into approx. 1mm cubes for fixing. This may be done in a drop of fix on a sheet of dental wax, using a razor blade. Place in glass processing vials and close with plastic caps. (Tissue may be stored at this stage.)Wash in 0.1M buffer - 1 hour x 2. (Or overnigh......阅读全文
Use－of－SemiThin－Cryosections－for－Light－Microscopy.
Use of Semi-Thin Cryosections for Light Microscopy.Semi-thin sections can be obtained from frozen blocks of cryoprotected biological material by secti
直播预告|华威大学、新加坡国立大学等三位专家报告
直播时间：2024年5月28日（周二）20:00-22:00直播平台：科学网APPhttps://weibo.com/l/wblive/p/show/1022:2321325039041400668190（科学网微博直播间链接）科学网微博科学网视频号北京时间5月28日晚八点，iCANX Youth
Cellular－－Molecular－Pathology－Branch
VisionTo provide scientific collaboration of excellence to National Toxicology Program (NTP) (http://ntp.niehs.nih.gov/) interdisciplinary research pr
张祺屿等－过氧化物酶建立标记阐明神经突触连接模式
由于突触连接的构成部分非常小（约数十纳米），通常借助电子显微镜来阐释神经元之间的突触连接模式（synaptic connectivity）。现有的大规模神经系统电镜重建数据（large-scale EM reconstruction of the nervous system）虽然可以用于构建无
SCI论文中怎样描述TEM结果？TEM结果描述样品尺寸分布情况
实例一：A particle count taken from many such images, obtained from different regions of the sample, confirmed the presence of essentially monodispersed A
如何通过透射电子显微镜（TEM）初步确定待测样品
束1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围最小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差的限制。现在前沿的技术是纳米电子微区衍射(Nanobea
扫描电子显微镜(Scanningelectron－microscopy,－SEM)
扫描电镜分析可以提供从数纳米到毫米范围内的形貌像，观察视野大，其分辩率一般为6纳米，对于场发射扫描电子显微镜，其空间分辩率可以达到0.5纳米量级。其提供的信息主要有材料的几何形貌，粉体的分散状态，纳米颗粒大小及分布以及特定形貌区域的元素组成和物相结构。扫描电镜对样品的要求比较低，无论是粉体样品还是大
原子力显微镜(Atomic－Force－Microscopy－，简称AFM)
原子力显微镜的工作原理就是将探针装在一弹性微悬臂的一端，微悬臂的另一端固定，当探针在样品表面扫描时，探针与样品表面原子间的排斥力会使得微悬臂轻微变形，这样，微悬臂的轻微变形就可以作为探针和样品间排斥力的直接量度。一束激光经微悬臂的背面反射到光电检测器，可以精确测量微悬臂的微小变形，这样就实现了通过检
透射电子显微镜是如何确定待测样品属于某种物质的？
在透射电子显微镜下，可以通过以下几种方式综合判断样品：1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围zui小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差
俄歇电子能谱学（Auger－electron－spectroscopy），简称AES
俄歇电子能谱基本原理：入射电子束和物质作用，可以激发出原子的内层电子。外层电子向内层跃迁过程中所释放的能量，可能以X光的形式放出，即产生特征X射线，也可能又使核外另一电子激发成为自由电子，这种自由电子就是俄歇电子。对于一个原子来说,激发态原子在释放能量时只能进行一种发射：特征X射线或俄歇电子。原子序
电子捕获检测器(electron－capture－detector,ECD)原理
检测室内的放射源放出β-射线粒子(初级电子)，与通过检测室的载气碰撞产生次级电子和正离子，在电场作用下，分别向与自己极性相反的电极运动，形成检测室本底电流，当具有负电性的组分(即能捕获电子的组分)进入检测室后，捕获了检测室内的电子，变成带负电荷的离子，由于电子被组分捕获，使得检测室本底电流减少，
电子捕获检测器(electron－capture－detector,ECD)结构
检测室内有正负电极与β-射线源，目前所使用的最佳的放射源是Ni63，在衰变中没有γ辐射，产生的β射线能量低，半衰期长，可用到400℃。
实验室试剂电子显微镜用试剂的定义
电子显微镜用(For electron microscopy)试剂是在生物学、医学等领域利用电子显微镜进行研究工作时所用的固定剂、包埋剂、染色剂等的试剂。
电子显微镜用试剂的用途
电子显微镜用(For electron microscopy)试剂是在生物学、医学等领域利用电子显微镜进行研究工作时所用的固定剂、包埋剂、染色剂等的试剂。
透射电子显微镜是如何确定待测样品属于某种物质的？
在透射电子显微镜下，可以通过以下几种方式综合判断样品：1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围zui小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差
透射电子显微镜是如何确定待测样品属于某种物质的？
在透射电子显微镜下，可以通过以下几种方式综合判断样品：1. 选区电子衍射（selected area electron diffraction）： 判断样品的晶体结构，晶格常数，点阵应变等。通常需要结合X射线衍射来综合判断。但选区电子衍射的选区范围zui小只能达到~200 nm。这主要是来自物镜像差
常用实验仪器名称中英文对照表（一）
仪器中文名称 仪器英文名称(缩写) 原子发射光谱仪 Atomic Emission Spectrometer(AES) 电感偶合等离子体发射光谱仪 Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer(ICP) 直流等离子体发射光谱仪 Dir
细胞的超微结构介绍
超微结构（electron microscopy;ultrastructural;ultrastructure;ultrastructure of）又称为亚显微结构，指在普通光学显微镜下观察不能分辨清楚的细胞内各种微细结构，在电子显微镜下显示组织和细胞的微细结构，以及不同功能状态与分化发育中的变化。
超微结构的组成概念
超微结构（electron microscopy;ultrastructural;ultrastructure;ultrastructure of）又称为亚显微结构，指在普通光学显微镜下观察不能分辨清楚的细胞内各种微细结构，在电子显微镜下显示组织和细胞的微细结构，以及不同功能状态与分化发育中的变化。
详细谈谈：赛默飞电镜的前世今生
Apero2的设计特点 1. T1探测器的设计 如何避免非导电样品的荷电效应一直是高分辨成像的难题，高分子和生物类样品，还容易受到电子束的损伤。常规喷金手段所使用的黄金和白金靶材，其颗粒都会掩盖纳米颗粒的细节。利用背散射探测器可以抑制荷电效应，但传统的半导体探测器有能量阈值的限制，在小于2k
Isolation－of－kidney－glomeruli－from－mice
Isolation of mice glomeruli1. Mice were anesthetized by an intraperitoneal injection of Avertin (2,2,2-tribromoethyl and tertiary amyl alcohol; 17
电子探针仪与扫描电镜有何异同？
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形
扫描透射电子显微镜的技术特点
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
扫描透射电子显微镜的功能介绍
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
扫描透射电子显微镜简介
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
stem是什么仪器？
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy，STEM)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。STEM用电子束在样品的表面扫描，通过电子穿透样品成像。STEM技术要求较高，要非常高的真空度，并且电子学系统比TEM和SEM都要复杂。
2015值得期待：超越诺奖的新技术
在刚刚过去的2014年里，美国科学家Eric Betzig、William Moerner 和德国科学家Stefan Hell，因为对超高分辨率显微镜所做出的贡献，获得了诺贝尔化学奖。这一技术的意义在于突破了几个世纪以来光学显微镜的“衍射极限”。这些科学家们从不同途径“突破”了这一极限
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。 电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变