电子探针仪与扫描电镜有何异同？
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形貌像，这是其中的一个工作方式，还有针尖位置不变，电压变化的工作方式等。另外STM发展的非常蓬勃，衍生出很多其他类似的分支电镜，如AFM等。 扫描电子显微镜（scanning electron microscopy,SEM),是通过电子束对样品表面进行反复的扫射，通过探头收集反射回来的二次电子和背散射电子来进行成像。 二者相同的地方则是主要用作测样品表面形貌的仪器......阅读全文
电子探针仪与扫描电镜有何异同？
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形
电子探针仪与扫描电镜有何异同
二者最主要的不同是其工作原理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪与扫描电镜有何异同
透射电子显微镜 (transmission electron microscopy﹐简写为TEM)。 构造原理 ： 电子显微镜的构造原理与光学显微镜相似﹐主要由照明系统和成像系统构成(图1 光学显微镜与电子显微镜的对比 )。照明系统包括电子枪和聚光镜。钨丝在真空中加热并在电场的作用下发射出电
扫描电镜与电子探针的区别
扫描电镜和电子探针的根本区别在于电子束流:电子探针的束流(指打在样品表面的电流)要比扫描电镜大几个数量级.由此造成:电子探针的空间分辨率差,二次电子和背散射电子分辨率差.如果要求不高, 电子探针可以当作扫描来用.
扫描电镜与电子探针的区别
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形貌像
扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结
一、EPMA相对于SEM，(平台方面)：1.可以大束流，计数率与束流成正比；2.束流控制和稳定性更好；3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS，(EPMA标配WDS，SEM选配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级；2.EPMA的灵敏度优于EDS，测试微量元素时
扫描电镜SEM与电子探针EPMA对比总结
一、EPMA相对于SEM，(平台方面)：1.可以大束流，计数率与束流成正比；2.束流控制和稳定性更好；3.EPMA有光学显微镜控制样品高度。二、EPMA(WDS)与EDS，(EPMA标配WDS，SEM选配EDS)：1.EPMA分辨率比EDS高一个数量级；2.EPMA的灵敏度优于EDS，测试微量元素时
电子探针谱仪概述
原理：利用聚焦电子束（电子探测针）照射试样表面待测的微小区域，从而激发试样中元素产生不同波长（或能量）的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线，得到X射线谱。根据特征X射线的波长（或能量）进行元素定性分析；根据特征X射线的强度进行元素的定量分析。 适合分析材料:金属及合金，高分子材料、陶瓷、混
电子探针和扫描电镜能拍什么样的照片
电子探针和扫描电镜到底能拍啥子样的照片，这些照片能看出样品的物相组成吗？回答是电子探针可拍摄SEM（二次电子照片）、BSE-COMPO（背散射成份像）、BSE-TOPO（背散射凹凸像）、X-ray（特征X射线像）。另外，就是不能够通过这些照片看出物相组成，虽然这些照片（特别是BSE-COMPO）对鉴
电子探针的结构特点
电子探针X射线显微分析仪（简称电子探针）利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功
电子探针的结构特点
电子探针X射线显微分析仪（简称电子探针）利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方面的功
电子探针仪的相关介绍
电子探针仪是一种用于物理学、材料科学领域的分析仪器，于2017年06月05日启用。 技术指标 1. 二次电子像分辨率：5nm，背散射电子像分辨率：20nm（拓扑像、成分像）； 2. 加速电压：0 ～ 30kV；束流范围：10-5～ 10-12A；图像放大倍数：×40～×300,000；
电子探针显微分析的原理
用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征x射线。 分析特征x射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)。 分析x射线的强度，则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分析)。 电子探针仪镜筒部分的构造大体上和扫描电子显微镜相同，只是在检测器部分使用的是x射线谱仪，
关于电子探针X射线显微分析仪的结构特点介绍
电子探针X射线显微分析仪(简称电子探针)利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方
电子探针射线显微分析和场发射扫描电镜有什么不同？
简单说说，可能不规范。所谓的场发射扫描电镜是指，相较于传统的钨灯丝光源而言，其采用更了为先进的肖脱基场发射光源。采用场发射光源后电子束能量更强，二次电子相（也就是我们平时所说的扫描照片）更加清晰，放大倍数在理想的情况下可以达到10万倍以上。同时，在进行EBSD的测试中也具有相当的优势。电子探针，即E
关于“X射线能谱定量分析通则”国家标准制订的几个问题
Si(Li)探测器类的 X 射线能谱仪已广泛地应用于电子探针和扫描电镜的分析领域,据不完全统计, 我国大约有500多台 X 射线能谱仪与电子探针或扫描电镜(包括透视电子显微镜)联用,已成为最为主要的微区元素分析的工具,发挥了重要的作用。但也存在着分析结果上的明显缺陷,严重地影响定量分析的质量,并导致
金相组织和成份分布检测任务能否通过电子探针来完成
电子探针的照片不能直接用于鉴定金相组织和成分分布测试，下面细说。小编不是冶金材料专业，这儿搜了一个关于金相组织的概念。金相组织是指，金属组织中化学成分、晶体结构和物理性能相同的组成，其中包括固溶体、金属化合物及纯物质。这个概念说明同一金相组织包括三层含义：化学成份相同，晶体结构相同和物理性能相同。物
电子探针射线显微分析和场发射扫描电镜的不同区别
所谓的场发射扫描电镜是指，相较于传统的钨灯丝光源而言，其采用更了为先进的肖脱基场发射光源。采用场发射光源后电子束能量更强，二次电子相（也就是我们平时所说的扫描照片）更加清晰，放大倍数在理想的情况下可以达到10万倍以上。同时，在进行EBSD的测试中也具有相当的优势。 电子探针，即EPMA, 是一
什么是电子探针显微分析仪
电子探针显微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全称：电子探针x射线显微分析，是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。适用于分析试样中微小区域的化学成分，是研究材料组织结构和元素分布状态的有效方法。 电子探针显微分析是利用聚焦电子束（电子探测针）照
简述扫描电子显微镜的功能特性
可以通过电子学方法有效地控制和改善图像质量, 如亮度及反差自动保持, 试样倾斜角度校正, 图象旋转, 或通过Y调制改善图象反差的宽容度, 以及图象各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图象选择器, 可在荧光屏上同时观察放大倍数不同的图象。 可进行综合分析。装上波长色散X射线谱仪(WDX) 或能
电子光学系统的结构及功能特点
该系统为电子探针分析提供具有足够高的入射能量，足够大的束流和在样品表面轰击殿处束斑直径近可能小的电子束，作为X射线的激发源。为此，一般也采用钨丝热发射电子枪和2-3个聚光镜的结构。 为了提高X射线的信号强度，电子探针必须采用较扫描电镜更高的入射电子束流（在10-9-10-7A范围），常用的加速电压为
扫描电镜的主要类型
20世纪70年代以来，扫描电镜的发展主要在：不断提高分辨率，以求观察更精细的物质结构及微小的实体以至分子、原子;研制超高压电镜和特殊环境的样品室，以研究物体在自然状态下的形貌及动态性质;研制能对样品进行综合分析(包括形态、结构和化学成分等)的设备。 截止到目前，科学界已成功研制出的设备有典型
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
电子探针的主要用途
电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。分析元素从原子序数3（锂）至92（铀）。绝对感量可
电子探针的主要用途
电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表面微区进行定性及定量化学分析。主要用来分析固体物质表面的细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm左右。分析元素从原子序数3（锂）至92（铀）。绝对感量可
扫描电子显微镜的产品特点
扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀，但由于其本身具有许多独特的优点，发展速度是很快的。 1 仪器分辨率较高，通过二次电子像能够观察试样表面6nm左右的细节，采用LaB6电子枪，可以进一步提高到3nm。2 仪器放大倍数变化范围大，且能连续可调。因此可以根据需要选择大小不同的视场进行观察，同时在高放大
关于扫描电镜的特点介绍
扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀, 但由于其本身具有许多独特的优点, 发展速度是很快的。 1 仪器分辨率较高, 通过二次电子像能够观察试样表面6nm左右的细节, 采用LaB6电子枪, 可以进一步提高到3nm。 2 仪器放大倍数变化范围大, 且能连续可调。因此可以根据需要选择大小不同的视场
扫描电子显微镜的技术特点
扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀，但由于其本身具有许多独特的优点，发展速度是很快的。1 仪器分辨率较高，通过二次电子像能够观察试样表面6nm左右的细节，采用LaB6电子枪，可以进一步提高到3nm。2 仪器放大倍数变化范围大，且能连续可调。因此可以根据需要选择大小不同的视场进行观察，同时在高放大倍
扫描电子显微镜成象特点
扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀，但由于其本身具有许多独特的优点，发展速度是很快的。 仪器分辨率较高，通过二次电子象能够观察试样表面6nm左右的细节，采用LaB6电子枪，可以进一步提高到3nm。 仪器放大倍数变化范围大，且能连续可调。因此可以根据需要选择大小不同的视场进行观察，同时在高放
关于扫描电子显微镜的特点介绍
扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀，但由于其本身具有许多独特的优点，发展速度是很快的。 1、仪器分辨率较高，通过二次电子像能够观察试样表面6nm左右的细节，采用LaB6电子枪，可以进一步提高到3nm。 2、仪器放大倍数变化范围大，且能连续可调。因此可以根据需要选择大小不同的视场进行观察，同