Antpedia LOGO WIKI资讯

吉林大学采购真空转移原子力显微镜与扫描电镜联用系统

分析测试百科网讯 近日,真空转移原子力显微镜与扫描电镜联用系统(项目编号:JLU-ZC19131)进行公开招标, 配备如下功能模式:接触式原子力显微镜(AFM);轻敲式原子力显微镜(DFM); 开尔文力显微镜(KFM);压电响应显微镜(PRM)等;预算金额:444.6万。详情如下: 项目联系人:林老师 电话:0431-85167310 开标时间:2019年11月21日 08:30 开标地点:吉林省长春市前卫路10号吉林大学前卫校区商贸楼(北门外)四楼(致远街与前卫路交汇,315路公交调度站旁)吉林大学招标与采购管理中心会议室 1.采购项目的名称、数量、简要规格描述或项目基本概况介绍:原子力显微镜配置功能要求:4英寸马达台的全自动型原子力显微镜,可自动安装、更换探针,自动激光调整,并可实现测量参数自动优化。通过SEM-AFM共享坐标样品台,轻松实现扫描电镜和原子力显微镜同视野观察和分析。原子力显微镜与扫描电镜所获得的数......阅读全文

AFM与扫描电镜的区别

与扫描电镜的区别可能有的人会问了,既然是测试材料表面的结构与形貌,SEM也是可以的,但是这二者的区别又在哪呢?不同于SEM只能提供二维图像,AFM提供真正的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳,这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。其次,SEM需要运行在高真空条件下,AFM在

扫描原子力显微镜(AFM)

扫描原子力显微镜(AFM)可以对纳米薄膜进行形貌分析,分辨率可以达到几十纳米,比STM差,但适合导体和非导体样品,不适合纳米粉体的形貌分析。

原子力显微镜(AFM)分类

  在原子力显微镜(AFM)成像模式中,根据针尖与样品间作用力的不同性质可分为:接触模式,非接触模式,轻敲模式。  (1)接触成像模式:针尖在扫描过程中始终同样品表面接触。  针尖和样品间的相互作用力为接触原子间电子的库仑排斥力(其力大小为10-8~10-6N)。优点为图像稳定,分辨率高,缺点为由于

原子力显微镜(AFM)概述

原子力显微镜(AFM)概述最早扫描式显微技术(STM)使我们能观察表面原子级影像,但是STM 的样品基本上要求为导体,同时表面必须非常平整, 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各种扫描式探针显微技术中,以原子力显微镜(AFM)应用是最为广泛,AFM 是以针尖与样品之间的属于原子级力场作用力,所

原子力显微镜(AFM)综述

原子力显微镜(AFM)综述最早扫描式显微技术(STM)使我们能观察表面原子级影像,但是 STM 的样品基本上要求为导体,同时表面必须非常平整, 而使 STM 使用受到很大的限制。而目前的各种扫描式探针显微技术中,以原子力显微镜(AFM)应用是最为广泛,AFM 是以针尖与样品之间的属于原子级力场作用力

如何激光检测原子力显微镜/AFM/AFM探针工作

二极管激光器发出的激光束经过光学系统聚焦在微悬臂(Cantilever)背面,并从微悬臂背面反射到由光电二极管构成的光斑位置检测器(Detector)。在样品扫描时,由于样品表面的原子与微悬臂探针尖端的原子间的相互作用力,微悬臂将随样品表面形貌而弯曲起伏,反射光束也将随之偏移,因而,通过光电二极管检

SEM 和AFM 相似之处

AFM 的最大特点是可以将不导电的样品表面在液体池中扫描出高分辨的图像。通常AFM 扫描含水的试样是把它和扫描探针放在液体中进行的,因为AFM 不是以导电性为基础,所以图像和扫描模件在液体中都不会受干扰。AFM 最常见的应用是在生物材料、晶体生长、作用力的研究等方面。虽然SEM 和AFM 的表现形式

原子力显微镜(AFM)的原理

原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样

原子力显微镜(AFM)的原理

原子力显微镜/AFM的基本原理原子力显微镜/AFM的基本原理是:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定,另一端有一微小的针尖,针尖与样品表面轻轻接触,由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力,通过在扫描时控制这种力的恒定,带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样

什么是原子力显微镜(AFM)?

p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}原子力显微镜(Atomic Force Microscope ,AFM),一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构