X荧光光谱仪如何做定性与定量分析
定性与定量分析 （一）、定性分析定性分析是X荧光光谱分析的基础，因为只有从仪器获得的谱图中辨认峰谱，才能知道待测试样中还有那些元素，并且分析待测元素的主要谱线，以及常见的干扰谱线，以便选择合适的测量谱线，用于定量分析方法，确定谱线的重叠校正方法，选择校正元素，终达到准确测试样品的效果。定性分析的方法：1、 判断仪器的能量刻度是否正确，可以用已知元素的样品进行测试，观察是否能够正确识别样品中的元素。如果不正确，需要重新建立能量刻度。2、 首先判断X光管靶材的特征峰位。其峰位处的峰谱，可能不是样品所含有的元素。3、 分辨元素峰谱的K线和L线，一般情况下，52＃（Te，碲）元素以前的元素，大多测试其K线，但35＃～52#之间的元素，其L线也可以被检测出......阅读全文
X荧光光谱仪如何做定性与定量分析
定性与定量分析 （一）、定性分析定性分析是X荧光光谱分析的基础，因为只有从仪器获得的谱图中辨认峰谱，才能知道待测试样中还有那些元素，并且分析待测元素的主要谱线，以及常见的干扰谱线，以便选择合适的测量谱线，用于定量分析方法，确定谱线的重叠校正方法，选择校正元素，终达到准确测试
X射线荧光光谱分析定性与定量分析
1.定性分析: 不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。 如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结论。 但是如果元素含
X射线荧光光谱定性定量分析方法
样品制备 进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也不同；成份不均匀的金属试样要重熔，快速冷却后车成圆片；对表面不平的样品要打磨抛光；对于粉末样品，要
X荧光光谱仪的定量分析和定性分析的介绍
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。 事实上，X荧光光谱仪在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存
X射线荧光光谱仪定量分析方法简介
X射线荧光光谱法是一种相对分析方法，光谱仪只提供X射线荧光的强度，要找到荧光强度与样品浓度的关系，需要一套高质量的标准样品，根据元素的浓度和已测的该元素的特征谱线的强度按一定关系进行拟合绘制工作曲线，以该工作曲线为基础测试同类型样品元素的组成和含量。
免疫荧光如何做定量分析
和免疫组化一样，只能通过软件分析得出一个“数值”，可以当一个“半定量”的指标，但我认为准确性差，如果是要分析蛋白的表达情况，建议用western比较好些。统计荧光强度的软件没有用过，以前只用过免疫组化的光密度分析软件，影响结果的因素太多了
免疫荧光如何做定量分析
和免疫组化一样，只能通过软件分析得出一个“数值”，可以当一个“半定量”的指标，但我认为准确性差，如果是要分析蛋白的表达情况，建议用western比较好些。统计荧光强度的软件没有用过，以前只用过免疫组化的光密度分析软件，影响结果的因素太多了
免疫荧光如何做定量分析
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免疫荧光如何做定量分析
和免疫组化一样，只能通过软件分析得出一个“数值”，可以当一个“半定量”的指标，但我认为准确性差，如果是要分析蛋白的表达情况，建议用western比较好些。统计荧光强度的软件没有用过，以前只用过免疫组化的光密度分析软件，影响结果的因素太多了
影响X荧光光谱仪的定量分析的因素
1、待测元素的浓度； 2、仪器校正因子； 3、测得的待测元素X射线荧光强度，经过背景、谱线和死时间校正后，获得的纯强度； 4、基体效应及校正。
X荧光光谱仪原理与优点
X荧光光谱仪价格主要由激发源X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的
能谱和x射线荧光技术进行元素定性定量分析的区别
激发源不一样，能谱的激发源是电子束，X射线荧光自然是X射线，所以两者的检测深度不一样，能谱一般只能检测样品表面，而XRF可以穿透样品。测试环境不一样，能谱是配在电镜上的，所以只能在真空环境下测试，而XRF则真空和大气条件都可以。测量元素范围不同，能谱可以测试Be~U,XRF能测到Na就不错了(能量色
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器，而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
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X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
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X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别
X射线衍射仪（XRD）是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪（XRF）是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的，可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同，XRD要复杂，XRF通常比较小。
火花直读光谱仪与X荧光光谱仪的区别？
一、分析原理的区别： 直读火花光谱仪工作原理则是用电弧（火花）的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过通过出射狭缝，射入各自的光电倍增管，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
x射线荧光光谱仪用途与安全事项
一、应用领域 x射线荧光光谱仪具有广泛的应用，包括 火成岩，沉积岩和变质岩学研究 土壤调查 采矿（例如，测量矿石品位） 水泥生产 陶瓷和玻璃制造 冶金（例如质量控制） 环境研究（例如，对空气过滤器上的颗粒物进行分析） 石油工业（例如，原油和石油产品的硫含量） 地质和环境研究中
X射线荧光光谱仪的维护与保养
X射线荧光光谱仪属于大型分析测试仪器，对周围环境要求比较高。实验室内要保证恒温、恒湿，避免酸性气体存在；要保持清洁，避免震动；要保证电源稳定，并配有独立的地线。定期对X射线荧光光谱仪各组成部分，如高压X射线光管、检测晶体、探测器、真空系统等进行检查、维护和保养，保证仪器处于最佳的运行状态。
定性与定量分析的区别
定性与定量分析的区别：定性分析用非量化的手段对其进行分析，定量分析是由量化手段分析。定性分析是指通过非量化的手段来探究事物的本质。其概念与定量相对应。定性的手段可以包括观测、实验和分析等，以此来考察研究对象是否具有这种或那种属性或特征以及它们之间是否有关系。定量研究的结果通常是由大量的数据来表示的，
关于荧光X射线的定性分析
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干
X荧光光谱仪原理
X荧光光谱仪原理当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为10-12～10-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁.当较
X荧光光谱仪特点
X荧光光谱仪特点： 1、无损检测，可对电子电气设备，玩具指令中的有害物质进行定性定量分析。 2、测量时间短，客户可选择测试时间：60-300秒。 3、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计，更好地保障操作员的人身安全。流水线型外观，美观大方。 4、配备X Y轴可移动平台，方便样品点选