如何选择X荧光光谱仪(XRF)

应选择历史悠久,技术过硬,故障率低,日常运行成本低,使用年限长,性价比高,品牌过硬的仪器。Niton公司成立超过20年,其便携式光谱仪在世界上处于ling先地位,在世界各地已安装超过12000台,可快捷测试元素周期表中从22号元素钛(Ti)至83号元素铋(Bi)中的23个标准合金成分元素,辅助氦(He)测试环境,可测定Al、Si、Mg、P等轻金属非金属元素。Niton便携式X荧光光谱仪创造了以下几个“*”:*台环境适应性手持式XRF:采用世界先进的具有自动恒温装置的半导体制冷检测器,被测样品的环境温度可由-60℃到600℃*台手持式XRF使用小型X光管做光源:新型的微型X光管具有低功率率的特点,提高测试准确度*台可测试轻金属的手持式XRF:选配充氦装置后,可准确测试Mg, Al, Si,P等轻金属元素*台具有小点测试能力的手持式XRF:可聚焦测试小元件,焊点等小目标 ......阅读全文

清华大学仪器共享平台Thermo-Fisher-X射线荧光光谱仪(XRF)

仪器名称:X射线荧光光谱仪(XRF)仪器编号:16041170产地:中国生产厂家:Thermo Fisher型号:ARL PERFORM X出厂日期:201601购置日期:201612所属单位:材料学院>材料中心 >逸夫楼部分>电子探针、X射线荧光分室放置地点:逸夫楼A302固定电话:固定手机:固定

原子荧光光谱仪应当如何选择

  近年来原子荧光光谱仪越来越受客户们喜爱,在应用之中,我们需要掌握相应的操作事项,按照仪器说明书的要求仔细的进行处置,才能够发挥其功能。   原子荧光光谱仪选择注意事项:   1、注意应用之前对设备进行调试和检查   众所周知市场评价高的原子荧光光谱仪生产厂家为了保证这种设备的具体功效,会在

X射线荧光光谱分析(-XRF)

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 的X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量(单位:千电子伏特,keV)和波长(单位:nm)描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自

X射线荧光(XRF)仪的结构组成介绍

  一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。  然后,仪器

XRF-能量色散型-X射线荧光光谱仪对人辐射大吗

日本岛津的EDX-GP是有一个上海环境保护局发出的关于其辐射豁免的正式文件,其他仪器型号你可问一下仪器厂商是否有关于这方面的证明。X荧光射线算射线中辐射危害量较小的,射线的辐射危害最大的是γ射线,若将γ射线比喻成黄蜂,那X荧光射线就相当于蜜蜂。所以单个对人体的危害不是很大,但是你们那个15平方的小房

如何提高X荧光光谱仪的分辨率

 光谱分辨率为探测光谱辐射能量的小波长间隔,而确切的讲,为光谱探测能力。它是仪器对于紧密相邻的峰可以分辨的小波长差值,表示仪器实际分开相邻峰的能力,即ν/△ν或(λ/△λ),ν为两峰中任一峰的波数,△ν为两峰波数之差。光谱仪分辨率又称波段宽度,它是指探测器在波长方向上的记录宽度,又称波段宽度(ban

教你如何识别X射线荧光光谱仪缩略术语

 X射线X射线(Xray)是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现,故又称伦琴射线。其特性通常用能量(keV)或波长(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射,其波长很短约介于0.001~2

X荧光光度计(XRF)的工作原理

受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

XRF收购Coltide的X射线荧光漂移监测业务

  总部位于墨尔本的XRF公司将收购Coltide 的x射线荧光漂移监测业务。  Coltide是阿德莱德的一家X射线荧光漂移监测仪器制造商和供应商,X射线荧光漂移监测仪器由矿业公司和研究机构进行元素精确校准。Coltide由Keith Norrish博士创立,他是将波长色散X射线荧光光谱法用于矿物

微-X-射线荧光-(µXRF)的基本信息介绍

  微 X 射线荧光 (µXRF) 是一种元素分析技术,它允许检测非常小的样品区域。与传统的 XRF 仪器一样,微 X 射线荧光通过使用直接 X 射线激发来诱导来自样品的特性 X 射线荧光发射,以用于元素分析。与传统 XRF 不同(其典型空间分辨率的直径范围从几百微米到几毫米),µXRF 使用 X

X荧光光谱仪原理

X荧光光谱仪原理当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较

x荧光光谱仪原理

荧光,顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自

X荧光光谱仪原理

  当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程   称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层

X荧光光谱仪特点

 X荧光光谱仪特点:   1、无损检测,可对电子电气设备,玩具指令中的有害物质进行定性定量分析。   2、测量时间短,客户可选择测试时间:60-300秒。   3、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计,更好地保障操作员的人身安全。流水线型外观,美观大方。   4、配备X Y轴可移动平台,方便样品点选

X-射线荧光光谱仪

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。图

奥林巴斯X荧光光谱仪常见问题解答

X荧光光谱仪在科学技术、勘探、工业、环境、医药、安全等众多领域有着广泛的应用。奥林巴斯在工业领域主要从事XRF荧光光谱分析仪器的研发和生产,在收购伊诺斯系统有限公司后,巩固了技术的地位。企业在购买奥林巴斯X荧光光谱仪时,会有以下常见问题待解,下面我们就针对这些问题予以解答。什么是XRF?XRF代表X

如何选择X射线荧光分析仪的探测器?

  真正评估一款分析仪是否合适,是了解它可以为您想要检测的元素提供怎样的分析结果。首先要从探测器上进行选择:  X射线荧光分析仪的探测器类型:PIN还是SDD  手持式XRF分析仪有两种类型的探测器:PIN和SDD。PIN探测器是一种较为落后的技术,与SDD(硅漂移探测器)相比,价格更便宜,不过,其

XRF荧光光谱仪样品的制备方法

 无论采用哪种方法,都只能用均质样品获得物理和化学分析方法(尤其是X射线荧光(XRF)分析)中的高精度。满足该要求的一种简单方法是将样品溶解在溶剂中,通用且快速的技术是将其与碱性硼酸盐融合。在XRF分析中,硼酸盐熔融特别有利,因为获得的结果是固体玻璃。在其他物理化学方法(AA和ICP分析)中,硼酸盐

天瑞仪器SUPER系列登陆XRF市场

  2011年4月25日,天瑞仪器年度新品SUPER XRF2400现身“中国国际科学仪器及实验室装备展览会”(CISILE)。作为天瑞SUPER XRF系列的新品,SUPER 2400首次亮相便引来众多目光。“与普通XRF产品相比,SUPER系列有哪些特别之处?”、“SUPER系列的稳定性如何?”

如何选择流式荧光

这个问题有点不好说,每个荧光都有自己在某个波长的最大吸收峰,原则上最大吸收峰差的越远补偿越小,FITC PE APC 最常用的三个荧光,一般一管染三种抗体就选这三个颜色,便宜,而且好染。如果再加的话可以选PE-cy7或APC-cy7,个人觉得可以,一管不宜染太多种抗体,到时候很难分析,补偿也大,结果

如何正确选购手持式X射线荧光光谱仪?

X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术,既可用于材料的组成成分分析,又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。下面我们通过主要组件看看那选购时需要注意什么。(1)气氛X射线荧光光谱仪能够分析元素周期表中的大部分元素,具体而言,从钠元素(原子序数Z=11)到铀元素(原子序数Z=92)都可以利用这种技术进行检测分

如何正确选购手持式X射线荧光光谱仪

(1)气氛   X射线荧光光谱仪能够分析元素周期表中的大部分元素,具体而言,从钠元素(原子序数Z=11)到铀元素(原子序数Z=92)都可以利用这种技术进行检测分析。但是对于原子序数较低的元素(钛元素Ti,Z=22以下),空气会对检测结果产生较大影响;由低原子序数元素产生的荧光值通常更低,并且样品基体

X射线荧光光谱法XRF样品的要求

  1.粉末样品需提供3-5g,样品要200目以下,完全烘干;  2.轻合金(铝镁合金)厚度不低于5mm,其他合金不小于1mm,其他材料厚度需满足3-5mm;  3.检测单元表面尽量平整,且尺寸为4-4.5cm。

X荧光光度计(XRF)的主要特点

主要特点:(1)快速,测试一个样品只需2min-3min;(2)无损,测试过程中无需损坏样品,直接测试;(3)含量范围广;

能量色散-X-射线荧光-(ED-XRF)的相关介绍

  能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中,样品中的所有元素都被同时激发,而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合,用于同时收集从样品发射的荧光辐射,然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决

X荧光光谱仪分类及比较

   一、X-射线荧光光谱仪(XRF) 简介   X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。  波长色散型X射线荧光光谱仪(

X射线荧光光谱仪简介

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水

X荧光光谱仪的保养

X荧光光谱仪工作的外部环境   1、周围强磁场干扰   设备合理的工作环境,要求在没有电机、振动、电磁、高压或有高频率电焊器等电磁干扰的地方安装,否则会干扰设备的谱形或造成设备不能正常工作。   2、环境温度,湿度的影响   应保持室温20~25℃为宜,气温过高或过低都会影响设备的正常运作,所以配有

X荧光光谱仪技术原理

X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集

X荧光光谱仪的优点

X荧光光谱仪是一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12~92的所有元素,选择性高,分析微量组分时受基体的影响小,在地质、采矿和冶金等部门应用很广。X荧光光谱仪的原理:元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,