XRF荧光光谱仪样品的制备方法
无论采用哪种方法，都只能用均质样品获得物理和化学分析方法（尤其是X射线荧光（XRF）分析）中的高精度。满足该要求的一种简单方法是将样品溶解在溶剂中，通用且快速的技术是将其与碱性硼酸盐融合。在XRF分析中，硼酸盐熔融特别有利，因为获得的结果是固体玻璃。在其他物理化学方法（AA和ICP分析）中，硼酸盐熔融与酸消解技术竞争，通常是制备液体溶液的一种更容易，更简单的方法。本文的主要目的是向分析人员展示当今制作玻璃盘和解决方案有多么简单和容易，以及他或她如何选择合适的参数来使融合变得短而有效。如果遵循一些简单规则，那么为XRF制作玻璃盘现在是简单的事情。另一个目的是为仍然犹豫不决的人们澄清这种情况，因为人们认为融合的复杂性和局限性是样品制备的一种方法。聚变是对固体样品进行各种化学处理的通用名称，这些化学处理将其转变为更易于分析的新化合物。这些化合物是原始样品和将用于分析的最终溶液之间的中间步骤。最终溶液可以是常规的液体溶液，也......阅读全文
XRF荧光光谱仪样品的制备方法
无论采用哪种方法，都只能用均质样品获得物理和化学分析方法（尤其是X射线荧光（XRF）分析）中的高精度。满足该要求的一种简单方法是将样品溶解在溶剂中，通用且快速的技术是将其与碱性硼酸盐融合。在XRF分析中，硼酸盐熔融特别有利，因为获得的结果是固体玻璃。在其他物理化学方法（AA和ICP分析）中，硼酸盐
XRF能量色散光谱仪生物样品制备方法
气灰尘污染的低要求是要有一个干净的工作区域来处理样品。这可以通过层流清洁空气工作台或至少通过清洁手套箱来提供。 层流净化台永远都不能关闭）。应使用非金属工具和实验室用具材料。试剂从容器壁浸出的元素可能是另一种来源中给出了一些示例。应采取特殊预防措施避免由于水分流失而导致平均样本组成发生变化。这经常是
XRF分析有哪些样品制备方法
a车削、切割、磨铣和抛光金属试样及分布均匀的合金样品等，可用一般的机加工方法制成一定直径的金属圆片样品。如车床车制、飞轮切割等。如表面比较粗糙，通常再进行研磨抛光。但必须指出，抛光条纹会引起所谓的“屏蔽效应”，尤其对长波辐射线与磨痕垂直时，强度降低严重。为此，测量时应采取试样自转方式，消除试样取向影
XRF能量色散光谱仪水泥样品制备方法介绍
一、样品（简称标样）的配制X射线荧光分析与化学分析不同，荧光分析仪是一种相对测量仪器，它是通过测量一定数量已知结果的标准样品，建立相应的正确的数学模型后，才能得到准确的测量。也就是说：要达到好的测量效果，一组好标样与一台好仪器同样重要。好仪器由我公司提供，好标样得由用户化验室提供。好标样的标准是：有
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm 4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，请提前说明
X射线荧光光谱仪（XRF）的样品要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干；2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm；3.检测单元表面尽量平整，且长宽不超过45mm4.粉末样品可能会使用硼酸压片，如有特殊要求，需提前说明。
ICP光谱仪的样品制备方法
样品制备 样品所采用的试剂一般为纯度不低于优级纯的酸类，如硝酸、盐酸、高氯酸、过氧化氢、氢氟酸、硫酸、王水等。一般首选酸为硝酸，因为硝酸引起的干扰最小。试剂用水为去离子水（电导率＜0.056μS/cm）。 固体样品需要采用合适的方法进行消解。常用的消解方法有湿法消解、干法消解、微波消解等。 液
样品制备影响XRF定量精度的介绍
XRF样品制备简单，但并非无需样品处理，XRF对样品中元素分布均匀性、样品颗粒度、样品表面光滑度、表面粉尘、矿物效应等有要求，这些方面都会不同程度影响分析精度，使用者可以通过相关的样品制备方法消除或者改善这些影响，譬如：研磨、压片、抛光、熔片等方法是XRF通常采用的样品制备方法。
原子吸收光谱仪的样品制备方法
一、制样要求 样品制备总的原则： A.尽可能多地使待测组分不受损失，也不能带进待测组分进入； B.尽可能多地排除干扰； C.尽可能得到浓度，调整称样量和溶液体积，这都直接关系到被测元素的浓度； D.尽可能多地保证费用省，根据实际情况，在结果精密度、测试方法、时耗、物
X射线荧光光谱仪(XRF)
原理：用一束X射线或低能光线照射样品材料，致使样品发射二次特征X射线，也叫X射线荧光。这些X射线荧光的能量或波长是特征的，样品中元素的浓度直接决定射线的强度。从而根据特征能量线鉴别元素的种类，根据谱线强度来进行定量分析。XRF有波长散射型(WDXRF)和能量散射型(EDXRF)两种，前者测量精密度好
X射线荧光光谱仪（XRF）
自1895年伦琴发现X射线以来，X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中，1910年特征X射线光谱的发现，为X射线光谱学的建立奠定了基础；20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世，使得X射线光谱学技术进入了实用阶段；60年代能量色散型X射线光谱仪的出现，促进了X射线光谱学仪器的迅
X荧光光谱仪XRF的概述
是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线。是用X射线直接照射样品发射X荧光，分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X-射线波长和强度，从而测定各种元素的含量；而光谱仪是通过滤光片得到背景相对较低的X射线，照射样品发射X荧光，X荧光借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分
DNA荧光染色的样品制备
试剂、试剂盒 PBS仪器、耗材 DNA荧光染料 流式细胞仪实验步骤 DNA是细胞内含量比较恒定的参量，随着细胞增殖周期的各时相而发生变化。荧光染料（如PI）可选择性地定量嵌入核酸（DNA/RNA）的双螺旋碱基之间，与细胞特异性结合，DNA含量与荧光染料的结合量成正比，因此通过测定荧光强度可获知细胞的
X荧光光谱仪器XRF筛选方法若干问题
1．取样 1.1对于非破坏方式：操作者应该将样品放在仪器合适的位置上，即要保证待测试部分位置准确，又要保证其它非测试部分不会被检测。操作者必须保证待测试部分和仪器之间距离和几何位置的可重现性。操作者必须考虑待测试部分尽可能具有规则外形，如面积、表面粗糙度、已知的物理结构等。如果需要从大的物体中获
压片法相对粉末样品直接测试用于XRF荧光光谱仪的优势？
X射线荧光光谱法（XRF）对样品材料的制备高度敏感。压片的水泥样品显示出较高的信噪比，与松散粉末形式相比，这可以检测最轻的元素。当定量元素组成时，在预期值和散粉样品之间观察到明显的差异。当使用同一批水泥来制备压制颗粒时，这些差异会消失。XRF光谱分析信号由两个部分组成：在特征波长处的X射线发射峰与所
X荧光光谱仪XRF的优势介绍
1、采用独特的激发X光源，样品激发结构和探测系统，大大提高仪器元素的检测灵敏度（降低检出限）； 2、具有现代化的外观，结构和色彩，上盖电动控制开关，更人性化； 3、准直器，滤光片自动切换，可适应不同的样品测试要求； 4、大容量的样品腔和高清摄像头，样品测量更灵活方便； 5、配备功能齐全的
X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
X荧光光谱仪XRF的性能特点
专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。 超薄窗大面积的进口SDD探测器。 内置信噪比25倍。 抽真空样品腔，有利于低含量轻元素的分析 针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。 任意多个可选择的分析和识别模型 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程
如何选择X荧光光谱仪（XRF）
应选择历史悠久，技术过硬，故障率低，日常运行成本低，使用年限长，性价比高，品牌过硬的仪器。Niton公司成立超过20年，其便携式光谱仪在世界上处于ling先地位，在世界各地已安装超过12000台，可快捷测试元素周期表中从22号元素钛(Ti)至83号元素铋(Bi)中的23个标准合金成分元素，辅助氦
LSCM荧光样品的制备要求
荧光样品的制备要求荧光标记反应的特异性强、荧光定位准确保持样品应有的结构形态完整性荧光信号的响应准确、灵敏、具有可重复性荧光强度适宜荧光稳定性好样品的荧光分布均匀两种及两种以上的荧光信号之间荧光光谱交叉可以消除图象背景干净、干扰杂质少
DNA荧光染色的样品制备实验
试剂、试剂盒PBS仪器、耗材DNA荧光染料流式细胞仪实验步骤DNA是细胞内含量比较恒定的参量，随着细胞增殖周期的各时相而发生变化。荧光染料（如PI）可选择性地定量嵌入核酸（DNA/RNA）的双螺旋碱基之间，与细胞特异性结合，DNA含量与荧光染料的结合量成正比，因此通过测定荧光强度可获知细胞的增殖情况
DNA荧光染色的样品制备实验
试剂、试剂盒 PBS 仪器、耗材 DNA荧光染料 流式细胞仪 实验步骤
DNA荧光染色的样品制备实验
试剂、试剂盒 PBS 仪器、耗材 DNA荧光染料 流式细胞仪 实验步骤
XRF分析仪样品制备化学富集法的介绍
1）沉淀法 螯合物沉淀法（DDTC法）是使溶液中的各金属阳离子与螯合物试剂反应后沉淀过滤，鳌合物沉淀剂常用的有DDTC（铜试剂）、PAN（1-（2-吡啶偶氮）-2-萘酚），8-羟基喹啉，其特点是均可与近20种元素产生螯合物沉淀。 沉淀法是加入适合于溶液中各元素的沉淀剂和共沉淀剂使之反应，然
荧光酶免疫分析筛选方法所用样品制备过程
一、仪器①微量孔板的洗孔器或移液器 有12个管可以洗整个的板。②微量移液器 能够吸移5～200μL 液体。③水浴 能够于100℃恒温,亦可用调至100℃的高压灭菌器代替作为流动蒸汽发生器。④荧光计 用于 FS 检测。测量微量孔内容物的相对荧光量(MicroFLUOR Reader Dynat
X射线荧光光谱法XRF样品的要求
1.粉末样品需提供3-5g，样品要200目以下，完全烘干； 2.轻合金（铝镁合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需满足3-5mm； 3.检测单元表面尽量平整，且尺寸为4-4.5cm。
波长色散X射线荧光光谱仪的新进展
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法，是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射线荧光光谱仪（XRF）是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）,从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有波长色散型和能量色散型
简述X射线荧光光谱仪（XRF）的应用
可以进行固体、粉末、薄膜、液体样品及不规则样品的无标样元素的定性定量分析。主要用于金属、无机非金属等材料中化学元素的成分分析，X射线荧光光谱法XRF测试的元素范围包含有效的元素测量范围为1号元素 （Na）到92号元素（U）
XRF荧光光谱仪的优劣势说明
XRF荧光光谱仪根据其分光原理不同分成波长色散型X荧光光谱仪（波谱仪，WDXRF）和能量色散型X荧光光谱仪（能谱仪，EDXRF）。我们通常所说的X荧光光谱仪就是指波长色散的仪器。 1、XRF荧光光谱仪的优势 （1）制样简单。通常情况下是物理制样。试样经过简单的破碎、研磨成粉末压片或熔
X射线荧光光谱仪（XRF）基本结构
现代X射线荧光光谱分析仪由以下几部分组成;X射线发生器(X射线管、高压电源及稳定稳流装置)、分光检测系统（分析晶体、准直器与检测器)、记数记录系统（脉冲辐射分析器、定标计、计时器、积分器、记录器)。