粉末试样的制样技术是X荧光光谱仪分析中的重要一部分
作为一种比较成熟的成分分析手段，X荧光光谱仪分析在冶金、地质、环境、化工、材料等领域中应用非常广泛。X荧光光谱仪分析的对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，如各种矿石，由于直接分析技术目前还不成熟，往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有时将液体转变为固体，一些预分离、富集的结果也常是粉末，因此，粉末试样的制样技术是X荧光光谱仪分析中的重要一部分。 X荧光光谱仪分析粉末样品主要有两种方法： ①、熔融法。熔融法是应用较多的一种制样方法，它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点：因样品被熔剂稀释和吸收，使轻元素的测量强度减小；制样复杂，要花费大量时间；成本也较高。 ②、粉末压片法 ......阅读全文
概述X荧光光谱仪的优缺点
优点: a)分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 b)X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等
实验室分析仪器红外光谱法试样制样实验技术
1、固体试样(1)KBr压片法将1-2mg试样与200mg纯KBr共同在玛瑙研钵中研细混匀,置于模具中经油压机压成一定直径和厚度的透明薄片,即可置于光路中进行测定。纯KBr在中红外区无吸收,因此可获得试样的全波段红外光谱图。KBr极易吸水,故需进行干燥处理,该法是测定固体试样经常采用的一种方法。 (
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。XRF的应用 a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。XRF的应用 a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。XRF的应用 a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。XRF的应用 a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。XRF的应用 a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。XRF的应用 a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元
EDS与EDX有什么区别
EDX指的是能量散射型X射线荧光光谱仪，也有人叫EDXRF。EDS是能谱仪。XRF是比EDS更准确的定量。XRF的应用 a) X射线用于元素分析，是一种新的分析技术，但在经过二十多年的探索以后，现在已完全成熟，已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。 b) 每个元
X射线荧光光谱仪X射线防护系统的故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合
X荧光光谱仪的优势及在RoHS检测上的应用
X荧光光谱仪的优势 1、 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。 2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可
X射线荧光光谱仪原理分析
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
X射线荧光光谱仪的分析原理概括
X射线荧光光谱仪的分析原理概括X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪分析误差的来源
X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1． 采样误差：非均质材料样品的代表性2． 样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3． 不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4． 仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5． 不适当的
分析X射线荧光光谱仪的产品特点
X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X 射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要
扫描电镜制样怎样使粉末样品分散的更好
一般来说粉末样品分为导电样品和不导电样品两种。导电样品：在样品台上贴上一小块导电胶，取少量粉末撒到导电胶上，再用洗耳球吹吹，将没有沾牢的样品去掉，便可直接装样观察了。不导电样品：只需要多一道喷金的工艺就可以了。
制样筛（60目）在土壤制样中的优势
在我国对于土壤的标准物质的研制起步是比较晚的，到了80年代中期才开始有2批 土壤标准物质研制出来，我们从1991年起历时数年研制出适用于全国主要土壤类型、定值项目较多使用较广的6个土壤有效态成分标准物质,并已经国家技术监督局审定批准为国家一级标准物质。土壤的制样粒度对研制的结果很有影响，制样筛（60
X荧光光谱技术在石油产品硫分析中的应用
选择标准曲线定量,在能量色散X荧光光谱仪上建立原油、重油、柴油、汽油、润滑油基础油中硫分析方法,方法重复性、再现性符合国家标准要求,分析效率高。
X射线荧光光谱仪使用中因样品引起测量误差的原因
X射线荧光光谱仪是利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）。具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有
波长色散X射线荧光光谱仪迎来繁荣景象
波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）。从而进行物质成分分析的仪器。波长色散X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪，有色散型和非色散型两种。波长色散X射线荧光光谱仪的优点是不破坏样品，分析速度快，波长色散X射线荧光光谱仪适用于测定原子序数4以
金属材料实验室常用仪器优劣势简析
常见的分析仪器有，原子吸收分光光度计、原子荧光光谱仪、电感藕合等离子体发射光谱仪(简称ICP)、火花直读光谱仪(简称光谱仪)、X射线荧光光谱仪、能谱仪等。此外，还有些专属性分析仪器，如碳硫分析仪、氧氮氢三元素连测仪等。这些仪器有生产过程中扮演着不同的角色。下面谈一下各种仪器在金属材料中扮演的不同角色
水体样品化学富集薄试样X射线荧光光谱现场分析
本工作的主要内容是研究适合便携式x射线荧光光谱分析环境水体中重金属元素的富集和制样技术。建立EDXRF现场分析方法,以期达到两个目标：(1)扩充车载EDXRF实验室的现场样品分析范围,实现资源环境调查综合支撑能力；(2)使手持式XRF分析仪能够应用于水体重金属元素分析,为支撑环境水体样品调查和监测提
X射线荧光光谱分析的样品说明
X射线荧光光谱分析基本上是一种相对分析方法，需要有相应的标准样品作为测量基准。因此，制样方法的好坏是X射线荧光光谱分析仪应用的关键，标准样品与待测试样应经过同样的制样处理，制成物理性质和化学组成相似的、表面平整均匀、有足够代表性的形式。使用X射线荧光光谱分析的样品一般有固体样品、粉末样品和液体样
土壤中重金属的X荧光分析
X荧光光谱仪被越来越广泛地应用于分析土壤中有害重金属元素，为快速全面检测土壤中有害重金属污染提供了一种可能。 土壤污染具有隐蔽性、潜伏性和长期性，特别是重金属污染基本上是一个不可逆过程，由于重金属污染物以可溶性与不溶性颗粒存在，因此残留率很高，如镉、铜、锌、铅等可达85%~95%，有些元素
金相制样技术
图1 手/自动切割机Discotom-6。 近年来，各种新型材料不断涌现，也推动了金相技术的飞速发展，本文介绍了固体材料材相研究和检测中的金相制样技术进展。 自上世纪初以来，随着科学技术和现代化建设的迅猛发展，金相技术获得前所未有的进展。各种新型材料不断涌现，光学显微镜的功能不断
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
X荧光光谱仪是依据什么原理进行工作的
X荧光光谱仪因其自身分析速度快、精度高的优势被广泛应用。x荧光光谱仪是一种常用的分析仪器，主要由激发源和探测系统构成。 X荧光光谱仪的原理就是：X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二