一种新型的扫描探针显微镜SPM和扫描电子显微镜SEM简介
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'} p.p2 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'; min-height: 15.0px}LiteScope™是一种独特的扫描探针显微镜（SPM）。 它设计用于轻松集成到各种扫描电子显微镜（SEM）中。 组合互补的SPM和SEM技术使其能够利用两者的优势。使用LiteScope™及其可更换探针系列，可以轻松进行复杂的样品分析，包括表面形貌，机械性能，电性能，化学成分，磁性能等的表征。相关探针和电子显微镜™（CPEM）结合了SPM和SEM技术。 CPEM可以同时在同一协调系统中同时获取同一区域的SPM和SEM图......阅读全文
简要说明sem的二次电子像的成像原理
你说的是SEM电镜吧，这主要是它的成像原理导致的其可以反映样品表面或者断面的形貌信息。SEM的工作原理为：从电子枪阴极发出的直径20(m～30(m的电子束，受到阴阳极之间加速电压的作用，射向镜筒，经过聚光镜及物镜的会聚作用，缩小成直径约几毫微米的电子探针。在物镜上部的扫描线圈的作用下，电子探针在样品
sem的二次电子像的成像原理
你说的是SEM电镜吧，这主要是它的成像原理导致的其可以反映样品表面或者断面的形貌信息。SEM的工作原理为：从电子枪阴极发出的直径20(m～30(m的电子束，受到阴阳极之间加速电压的作用，射向镜筒，经过聚光镜及物镜的会聚作用，缩小成直径约几毫微米的电子探针。在物镜上部的扫描线圈的作用下，电子探针在样品
sem的二次电子像的成像原理
你说的是SEM电镜吧，这主要是它的成像原理导致的其可以反映样品表面或者断面的形貌信息。SEM的工作原理为：从电子枪阴极发出的直径20(m～30(m的电子束，受到阴阳极之间加速电压的作用，射向镜筒，经过聚光镜及物镜的会聚作用，缩小成直径约几毫微米的电子探针。在物镜上部的扫描线圈的作用下，电子探针在样品
三种常见电子显微镜透射电镜－、扫描电镜、反射电镜介绍
常见的类型主要有3种：透射电镜 TEM、扫描电镜SEM以及反射电镜REM。一、透射电子显微镜 TEM透射电子显微镜是电子显微镜的原始类型，它的主要原理是将高压电子束引导至样品以照亮样品并产生样品的放大图像。由于透射电镜具有原位观察、高分辨显像等功能，适宜观察光学显微镜观察不到的细微结构。比如：细胞、
原子力显微镜工作模式
原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。接触模式从概念上来理解，接触模式是AFM最直接的成像模式。AFM 在整个扫描
原子力显微镜的工作模式有哪些
原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。接触模式，从概念上来理解，接触模式是AFM很直接的成像模式。AFM 在整个扫
原子力显微镜原理:接触式,非接触式,轻敲式有何区别
由于STM侷限于试片的导电性质，使得应用范围大大的减少，为了能有更广泛的应用科用，故改用力场作回馈而发展出原子显微仪（atomic force microscope, AFM），而因为对导体及绝缘体均有三维空间的显影能力，所以成为运用最广泛的扫描探针显微仪。图4-1为原子力显微镜的简单示意图。 图4
扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用
扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动 （声子）、电子振荡 （等离子体）。原则上讲，利
原子力显微镜探针的优缺点
AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备。探针针尖半径一般为10到几十nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。 利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了
原子力显微镜的探针的分类
1、非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针：最常用的产品，分辨率高，使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损，分辨率很容易下降。主要应用于表面形貌观察。 2、导电探针：通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt（以及别的提高镀层结合力的金属，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。 导电探针应用于EFM，K
武汉大学高分辨质谱7光谱仪等采购项目中标公告
公告信息：采购项目名称武汉大学企业信息高分辨质谱、低温磁光测试系统、多功能扫描探针显微镜SPM平台、变温PL光谱仪采购项目品目货物/通用设备/仪器仪表/分析仪器/质谱仪,货物/通用设备/仪器仪表/光学仪器/物理光学仪器,货物/通用设备/仪器仪表/光学仪器/显微镜,货物/通用设备/仪器仪表/分析仪器/
超快太赫兹扫描隧道显微镜
导读 原子级上电流的超快控制对纳米电子未来的创新至关重要。之前相关研究表明，将皮秒级太赫兹脉冲耦合到金属纳米结构可以实现纳米尺度上极度局部的瞬态电场。 正文 近期，加拿大阿尔伯塔大学(University of Alberta)Frank A. Hegmann教授研究组在
超快太赫兹扫描隧道显微镜（THzSTM）
导读 原子级上电流的超快控制对纳米电子未来的创新至关重要。之前相关研究表明，将皮秒级太赫兹脉冲耦合到金属纳米结构可以实现纳米尺度上极度局部的瞬态电场。 正文 近期，加拿大阿尔伯塔大学(University of Alberta)Frank A. Hegmann教授研究组在美国
国仪量子推出世界上分辨率最高的钨灯丝扫描电镜
11月24日，国仪量子召开电子显微镜新品发布会，基于我国制造业转型升级的长期发展战略，推出了世界上首台分辨率达到2.5纳米的钨灯丝扫描电子显微镜，突破了这一技术长期以来的技术瓶颈。国仪量子董事长贺羽致辞国仪量子副总裁曹峰介绍新产品 电子显微镜利用电子和物质的相互作用，可以获取被测样品本身的各种
牛津仪器Omicron－NanoScience应用技术研讨会在京成功举办
会议现场 2014年7月1日，牛津仪器在北京中科院物理所召开了Omicron NanoScience应用技术研讨会。牛津仪器Omicron NanoScience中国区总经理李俊云博士、牛津仪器产品营销总监John Burgoyne 博士、国际销售经理Till Hagedorn博士以及各
纳米材料粒度测试仪器和方法大全
纳米材料是指三维空间尺寸中至少有一维处于纳米数量级（1~100 nm），或由纳米结构单元组成的具有特殊性质的材料，被誉为“21世纪最重要的战略性高技术材料之一”。当材料的粒度大小达到纳米尺度时，将具有传统微米级尺度材料所不具备的小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应等诸多特性，这些特异效
纳米材料粒度测试仪器和方法大全
纳米材料是指三维空间尺寸中至少有一维处于纳米数量级（1~100 nm），或由纳米结构单元组成的具有特殊性质的材料，被誉为“21世纪最重要的战略性高技术材料之一”。当材料的粒度大小达到纳米尺度时，将具有传统微米级尺度材料所不具备的小尺寸效应、量子尺寸效应、表面效应等诸多特性，这些特异效应将为新材料
扫描电子显微镜在材料科学研究中都有哪些应用
它主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像，
岛津石墨烯研究表征解决方案
石墨烯是碳的同位素异形体大家族成员之一，作为由单层碳原子构成的蜂窝状二维原子晶体材料，石墨烯拥有优异的特性，理论上讲，它是目前已知导电性和导热性最好的材料，也是理想的轻质高强材料，其可能会创造一个全新的产业，自2004年被发现以来，石墨烯已经成为基础科学研究的热点材料。结构决定性质，石墨烯结构和物性
扫描探针电子能谱仪控制系统的研制
报道了自行搭建的扫描探针电子能谱仪(SPEES)控制系统的硬件及软件实现。该系统包括探针三维扫描控制、谱仪通过能电压扫描控制及样品电流反馈控制,在针尖控制上能够实现x、yz、三个方向上的定位以及恒高模式与恒流模式的扫描,在电子能谱测量上能够实现能量定点模式和能量扫描模式。对石墨表面Ag岛及石墨表面
美研发出双扫描隧道显微和微波频率探针
美国加州大学洛杉矶分校17日表示，该校纳米系统科学主任保罗・维斯领导的研究小组开发出了研究纳米级材料相互作用的工具――双扫描隧道显微和微波频率探针，可用于测量单个分子和接触基片表面的相互作用。 过去50年中，电子工业界努力遵循着摩尔定律：每两年集成电路上晶体管的尺寸将缩小大约50%。随着电
电子探针仪与扫描电镜有何异同
透射电子显微镜 (transmission electron microscopy﹐简写为TEM)。 构造原理 ： 电子显微镜的构造原理与光学显微镜相似﹐主要由照明系统和成像系统构成(图1 光学显微镜与电子显微镜的对比 )。照明系统包括电子枪和聚光镜。钨丝在真空中加热并在电场的作用下发射出电
SEM－vs－TEM：操作上的差异
SEM vs TEM：操作上的差异 这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5
SEM－vs－TEM：操作上的差异
SEM vs TEM：操作上的差异 这两种电子显微镜系统在操作方式上也有所不同。 扫描电镜（SEM）通常使用15kV以上的加速电压，而透射电镜（TEM）可以将其设置在60-300kV的范围内。 与扫描电镜（SEM）相比，透射电镜（TEM）提供的放大倍数也相当高：透射电镜（TEM）可以将样品放大5
激光扫描共聚焦显微镜
激光扫描共聚焦显微镜(Laser scanning ConfocalMicroscopy，简称LSCM)，在荧光显微镜成象的基础上加装激光扫描装置，使用紫外光或可见光激发荧光，利用计算机进行图象处理，从而得到细胞或组织内部微细结构的荧光图象，捕捉到微弱的信号或追踪高效的进程以及在亚细胞水平上观察诸如
激光共聚焦扫描显微镜
对比激光共聚焦扫描显微镜与传统光学显微镜在高放大倍率下的成像效果。结果显示，激光共聚焦扫描显微镜在高放大倍率下，其成像景深大的优点对于获取高质量的图像有很大的帮助。同时通过激光共聚焦扫描显微镜的激光光源实现单色光成像，可以清晰观察到溅镀了消影层的ITO玻璃。
激光扫描荧光显微镜
探测装置比较典型。方法是将杂交后的芯片经处理后固定在计算机控制的二维传动平台上，并将一物镜置于其上方，由氩离子激光器产生激发光经滤波后通过物镜聚焦到芯片表面，激发荧光标记物产生荧光，光斑半径约为5－10μm。同时通过同一物镜收集荧光信号经另一滤波片滤波后，由冷却的光电倍增管探测，经模数转换板转换为数
扫描显微镜的相关简介
扫描显微镜是成像光束能相对于物面作扫描运动的显微镜 。在扫描显微镜中依靠缩小视场来保证物镜达到最高的分辨率，同时用光学或机械扫描的方法，使成像光束相对于物面在较大视场范围内进行扫描，并用信息处理技术来获得合成的大面积图像信息。这类显微镜适用于需要高分辨率的大视场图像的观测。粗准焦螺旋：大范围上下
扫描隧道显微镜（STM）
扫描隧道显微镜（STM）的基本原理是利用量子理论中的隧道效应。将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极，当样品与针尖的距离非常接近时（通常小于1nm），在外加电场的作用下，电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。这种现象即是隧道效应。
扫描电子显微镜
扫描电子显微镜的电子束不穿过样品，仅以电子束尽量聚焦在样本的一小块地方，然后一行一行地扫描样本。入射的电子导致样本表面被激发出次级电子。显微镜观察的是这些每个点散射出来的电子，放在样品旁的闪烁晶体接收这些次级电子，通过放大后调制显像管的电子束强度，从而改变显像管荧光屏上的亮度。图像为立体形象，反映了