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原子力显微镜（AFM）虽然名字里有“显微镜”三个字，但它并不像光学显微镜和电子显微镜那样能“看”微观下的物体，而是通过一根小小的探针来间接地感知物体表面的结构，得到样品表面的三维形貌图象，并可对三维形貌图象进行粗糙度计算、厚度、步宽、方框图或颗粒度分析。 AFM主要由带针尖的微悬臂、微悬臂运动检测装置、监控其运动的反馈回路、使样品进行扫描的压电陶瓷扫描器件、计算机控制的图像采集、显示及处理系统组成。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法、干涉法等光学方法检测，当针尖与样品充分接近相互之间存在短程相互斥力时，检测该斥力可获得表面原子级分辨图像。 AFM广泛应用于材料科学中，是一种非常重要的表面表征技术。除了进行形貌观察，AFM还可以用来测量物质和材料表面原子间的作用力，表面弹性、塑性、硬度、粘着力、摩擦......阅读全文
扫描隧道显微镜只能测量导电的样品，原子力显微镜对样品是否导电没有特殊要求，但是无法测量样品导电性。在实际应用中，更多的研究对象是导电质与非导电质的混合物。特别是近年来人们感兴趣的金属有机复合材料、纳米颗粒镶嵌材料、纳米电子学等方面，都涉及到局域导电性及非导电性
电子显微镜 电子显微镜是根据电子光学原理，用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 电子显微镜的分辨能力以它所能分辨的相邻两点的最小间距来表示。20世纪70年代，透射式电子显微镜的分辨率约为0.3纳米(人眼的分辨本领约为0.1毫米)。现在电子显微
①机械探针式测量方法： 探针式轮廓仪测量范围大，测量精度高，但它是一种点扫描测量，测量费时。机械探针式测量方法是开发较早、研究最充分的一种表面轮廓测量方法。它利用机械探针接触被测表面，当探针沿被测表面移动时，被测表面的微观凹凸不平使探针上下移动，其移动量由与探针组合在一起
①机械探针式测量方法： 探针式轮廓仪测量范围大，测量精度高，但它是一种点扫描测量，测量费时。机械探针式测量方法是开发较早、研究zui充分的一种表面轮廓测量方法。它利用机械探针接触被测表面，当探针沿被测表面移动时，被测表面的微观凹凸不平使探针上下移动，其移动量由与探针组合在一
晶体材料由于具有有序结构而表现出许多独特的性质，成为特定的功能材料，制成器件广泛应用于微电子、自动控制、计算通讯、生物医疗等领域。功能晶体材料的的微观结构决定其性能，因此对其微观结构的解析一直是科学研究的热点之一。 研究晶体结构通常的方法是 X-射线单晶衍射技术(SXR
扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子，以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时，也可产生电子-空穴对、晶格振动 （声子）、电子
X荧光光谱仪可以应用于水泥、钢铁、建材、石化、有色、硅酸盐、煤炭、高岭土、耐火材料、科研、环保等行业，是一种中型、经济、高性能的光谱仪。采用固定通道，减少测量时间；固定通道尤其适用于荧光产额较低的轻元素和微量元素的测定，以提高分析精度和灵敏度。X荧光光谱仪采用操作方便，用户习惯的智能化软件，提供全自
扫描电子显微镜 (scanning electron microscopy，SEM)扫描电子显微镜是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子
人类对于微观世界的认知有着漫长的历史。自300年前第一台显微镜问世以来，人们便开启了探索微观世界的大门。随着科学技术的发展，光学显微镜、透射电子显微镜和扫描电镜逐渐作为工具被人们熟知，并且，应科学发展的需求，各项技术均在不断的创新与发展。如今，作为材料分析的重要工具，电镜技术已广泛应用于材料、化工、
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方
扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的主要用于细胞生物学研究电子显微镜，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子。 二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起
原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定，另一端的微小针尖接近样品，这时
材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段，也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析，从认识材料的分析仪器着手。 成分分析简介 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量
说到扫描电镜，很多人可能是听说过的，这是一种非常普遍的设备，市场上扫描电镜品牌和厂商也非常的多，应用的范围很广泛。扫描电镜本身是一种多功能的设备、其有很多优越的性能、特别是在鉴定分析中其是使用广泛的一种设备。一般来讲，我们使用它对被观测物体的外观形貌进行观测或分析，另外在观
说到扫描电镜，很多人可能听说过，这是一种常见的设备，市场上扫描电镜品牌和厂商也有很多，应用的范围很广泛。其有很多优越的性能、特别是在5G原材料鉴定分析中其是使用广泛的一种设备。一般来讲，我们使用它对被观测物体的形貌
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形
二者最主要的不同是其工作肌理不同。电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变
二者最主要的不同是其工作肌理不同。 电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表
近场光学显微镜（英文名：SNOM）是根据非辐射场的探测与成像原理，能够突破普通光学显微镜所受到的衍射极限，采用亚波长尺度的探针在距离样品表面几个纳米的近场范围进行扫描成像的技术，在近场观测范围内，在样品上进行扫描而同时得到分辨率高于衍射极限的形貌像和光学像的显
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几种
目前，已经成功研制出的扫描电镜包括了：典型的扫描电镜、扫描透射电镜（STEM）､场发射扫描电镜（FESEM）、冷冻扫描电镜（Cryo-SEM），低压扫描电镜( LVSEM)、环境扫描电镜( ESEM）、扫描隧道显微镜（STM )、扫描探针显微镜( SPM )，原子力显微镜（AFM）等，以下介绍几
扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时，被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope，TEM)具有很高的分辨率和放大倍数高，广泛应用于材料科学、地球科学、医学和生命科学等领域。透射电子显微镜结合不同的附件(X射线能谱分析(EDS)、电子能量损失谱(EELS))，可以同时提供形貌、成分、结构信息，它可以揭
利用原子力显微镜对微米级碳纤维表面进行形貌观察和粗糙度分析的方法。实验介绍了一种样品转移制备的方法，采用直接定位单根碳纤维方法，采用轻敲模式，进行扫描测量。结果表明，此种方法操作简单，高效实用，能够得到质量较高的碳纤维的表面形貌并分析其粗糙度。
半导体显微镜是鉴定成品材料质量必不可少的仪器。半导体显微镜主要通过材料显微组织的定性，定量晶界组织等表征识别来对材料工艺流程，物理特性，失效成因等综合因素做出科学的判断，并对金属细微结构以及非金属夹杂物的分布形貌等进行科学研究。 伴随着全球经济进入新常态，国内材料行业必定在供给侧改革的大趋势下迎
⑴生物：种子、花粉、细菌…… ⑵医学：血球、病毒…… ⑶动物：大肠、绒毛、细胞、纤维…… ⑷材料 [1] ：陶瓷、高分子、粉末、金属、金属夹杂物、环氧树脂…… ⑸化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌） 、机械、电机及导电性样品，如半导体(IC、线宽量测、断面、结构观察……）电子材料等
【导语】2014年10月31日，第九期原子光谱沙龙在第十八届全国分子光谱学学术会议的分会场举行。原子光谱沙龙活动由清华大学分析中心邢志老师发起并组织，分析测试百科网协助组织。沙龙以专题报告和讨论为主，在轻松的氛围中开始，热烈讨论中进行，吸引了原子光谱领域的专家学者、
半导体大厂英特尔（Intel）创始人之一戈登?摩尔（Gordon Moore）在1965年发表了一篇文章，提出了集成电路上可容纳的晶体管数量，将以每24个月增加一倍的规律发展，这个理论经过数次演变，成为半导体产业界奉为圭臬的“摩尔定律”（Moore’s Law）。为了使微处理器芯片更有效率地
分析测试百科网讯 2018年7月22日，第十次华北五省市电子显微学研讨会及2018年全国实验室协作服务交流会在山东省烟台市举行。本次会议由华北五省电子显微镜学会主办，北京理化分析测试技术学会协办。此次会议旨在推动华北五省市电子显微分析技术的发展，促进电子显微分析工作者的学术交流，加强实验室资源共