原子力显微镜（AFM）之测试技巧

原子力显微镜（AFM）之测试技巧

样品的预处理：在显微镜下看样品表面是否干净，平整，如果有污染或不平整，务必重新制样。虽然针尖能测试的有效高度为6微米，水平范围100微米。但事实上，水平和高度方面任接近何一个极限，所测得的图象效果将很差，且针尖很容易破坏和磨损。下针：在选好模式下针前，务必找到样品表面，调好焦距。扫描范围先设置为0，

原子力显微镜（AFM）之测试技巧

      样品的预处理：在显微镜下看样品表面是否干净，平整，如果有污染或不平整，务必重新制样。虽然针尖能测试的有效高度为6微米，水平范围100微米。但事实上，水平和高度方面任接近何一个极限，所测得的图象效果将很差，且针尖很容易破坏和磨损。     下针：在选好模式下针前，务必找到样品表面，调好焦距

AFM力曲线测试

力曲线测试 AFM除了形貌测量之外，还能测量力对探针-样品间距离的关系曲线Zt（Zs）。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。这个技术可以用来测量探针尖和样品表面间的排斥力或长程吸引力，揭示定域的化学和机械性质，像粘附力和弹力，甚至吸附分子层的厚度。如果将探针用特定分子或基团修饰，利用

AFM的测试机巧

下针：在选好模式下针前，务必找到样品表面，调好焦距。扫描范围先设置为0，当针尖接触到样品表面后，再扩大扫描范围，保护下针时破坏针尖。扫图：为了得到好的图象，须调好trace和retrace，一般来说调电压效果会好一些。探针在多次使用后或样品表面比较粗糙，扫描范围太小时，trace和retrace重合

AFM的电学性能测试

      静电力EFM是从轻敲模式AFM发展而来的细分成像模式，可以对样品表面的电场分布进行扫描。它采用两次扫描的方法，第一次扫描（主扫描， Main Scan）采用轻敲模式获得表面形貌，第二次扫描（Interleave扫描，Interleave Scan）将探针抬起一定高度，并给探针施加一个偏压

石墨烯AFM测试详解

单层石墨烯的厚度为０.335ｎｍ，在垂直方向上有约１ｎｍ的起伏，且不同工艺制备的石墨烯在形貌上差异较大，层数和结构也有所不同，但无论通过哪种方法得到的最终产物都或多或少混有多层石墨烯片，这会对单层石墨烯的识别产生干扰，如何有效地鉴定石墨烯的层数和结构是获得高质量石墨烯的关键步骤之一。本文材料+小编将

AFM的电学性能测试

静电力EFM是从轻敲模式AFM发展而来的细分成像模式，可以对样品表面的电场分布进行扫描。它采用两次扫描的方法，第一次扫描（主扫描， Main Scan）采用轻敲模式获得表面形貌，第二次扫描（Interleave扫描，Interleave Scan）将探针抬起一定高度，并给探针施加一个偏压，利用第一次

AFM测试对样品的要求

原子力显微镜测试AFM主要测试什么？对样品有什么要求

AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是应用范围广，可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。在飞秒检测做AFM

土壤养分测试仪的选用技巧

在长期的农耕中人们总结出一套耕作的经验，在化肥施用盛行的今天，经验施肥的存在是十 分普遍的。但是经验施肥也导致了养分的不平衡，这不仅降低了肥效，也降低了农田产量，更是会导致环境的污染，所以，平衡施肥，测土施肥都成为了国家要的农 业技术。测土施肥需要依靠上壤养分分析,多年的实践经验表明,能否选择好土壤

微机继电保护测试仪使用技巧

　　微机继电保护测试仪使用技巧可方便对备自投装置和微机差动保护装置进行试验、针对性各类继电器校验程序，强大的功能测试软件更能提供多种校验和搜索方式的成套微机保护和自动装置的自动试验程序：线路保护、差动保护、阻抗保护、低周、同期、备自投等。各类故障模拟程序，能真实模拟和回放现场实际的各类故障、暂态过程

微机继电保护测试仪使用技巧

　　微机继电保护测试仪使用技巧可方便对备自投装置和微机差动保护装置进行试验、针对性各类继电器校验程序，强大的功能测试软件更能提供多种校验和搜索方式的成套微机保护和自动装置的自动试验程序：线路保护、差动保护、阻抗保护、低周、同期、备自投等。各类故障模拟程序，能真实模拟和回放现场实际的各类故障、暂态过程

变压器综合特性测试仪测试方法和技巧

变压器综合特性测试仪可测量所有的变压器（包括Y/D、D/Y、YY、DD、V-V、Z型、斯科特、逆斯科特、整流及单相变压器等）的变比、组别、直流电阻、空载电流、空载损耗、阻抗电压、负载损耗、容量及绕组变形等，电压互感器（含电容式电压互感器）的变比变压器综合特性测试仪。1.变压器综合特性测试仪. 触摸式

变压器综合特性测试仪测试方法和技巧？

变压器综合特性测试仪可测量所有的变压器（包括Y/D、D/Y、YY、DD、V-V、Z型、斯科特、逆斯科特、整流及单相变压器等）的变比、组别、直流电阻、空载电流、空载损耗、阻抗电压、负载损耗、容量及绕组变形等，电压互感器（含电容式电压互感器）的变比变压器综合特性测试仪。1.触摸式屏幕在使用过程中如需调整

变压器综合特性测试仪测试方法和技巧

1.触摸式屏幕在使用过程中如需调整对比度，可在仪器开机前用手指按住屏幕左边，开机后出现对比度调节菜单，可根据需求调节对比度，初始值为25。完成操作后关机。2.使用仪器时请按本说明书接线和操作。3. 测试菜单项目选择和实际测试项目及接线要一致。单相测试，电流回路为A相采样，电压回路为Ua、Ub采样。4

变压器综合特性测试仪测试方法和技巧

变压器综合特性测试仪可测量所有的变压器（包括Y/D、D/Y、YY、DD、V-V、Z型、斯科特、逆斯科特、整流及单相变压器等）的变比、组别、直流电阻、空载电流、空载损耗、阻抗电压、负载损耗、容量及绕组变形等，电压互感器（含电容式电压互感器）的变比变压器综合特性测试仪。1.触摸式屏幕在使用过程中如需调整

AFM曲线测量

曲线测量SFM除了形貌测量之外，还能测量力对探针-Zt（Zs）。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近，然后离开样品表面时，微悬臂和样品间产生了相对移动。而在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面，然后脱离，此时原子力显微镜/AFM测量并记录了探

AFM应用实例

应用实例1．应用于纸张质量检验。 2．应用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．评定材料纳米尺度表面形貌特征陶瓷膜表面形貌的三维图象

AFM力学测量

力学测量在纳米材料和器件的诸多性质中，力学性质不仅面广而且也是评价纳米材料和器件的主要指标，是纳米材料和器件得以真正应用的关键。目前关于AFM的微纳米力学研究，已在纳米材料力学性质、纳米摩擦等领域取得了较大进展。在AFM接触模式下，研究样品材料微纳尺度内的形貌和力学性质(包括杨氏模量、硬度、粘弹性、

AFM应用实例

应用实例   1．应用于纸张质量检验。 2．应用于陶瓷膜表面形貌分析。 3．评定材料纳米尺度表面形貌特征  原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。以原子力显微镜为代表的扫描探针显微镜是利用一种小探针在样品表面上扫描，从而

AFM相移模式

相移模式(相位移模式)作为轻敲模式的一项重要的扩展技术，相移模式(相位移模式)是通过检测驱动微悬臂探针振动的信号源的相位角与微悬臂探针实际振动的相位角之差（即两者的相移）的变化来成像。引起该相移的因素很多，如样品的组分、硬度、粘弹性质等。因此利用相移模式(相位移模式)，可以在纳米尺度上获得样品表面局

AFM形态结构

形态结构　　作为新兴的形态结构成像技术，AFM实现了对接近自然生理条件下生物样品的观察。这主要由于它具备以下几个特点:　　1).与扫描电镜和透射电镜这些高分辨的观测技术相比，样品制备过程简便，可以不需染色、包埋、电镀、电子束的照射等处理过程;　　2).除对大气中干燥固定后样品的观察外，还能对液体中样

AFM应用举例

 AFM应用举例由于原子力显微镜对所分析样品的导电性无要求，因此使其在诸多材料领域中得到了广泛应用。透明导电的ITO薄膜，随着成膜方法、膜厚、基底温度等成膜条件变化，而表面形貌不同。将膜厚120nm（左）与450nm（右）的ITO薄膜进行比较时，随着膜厚的增加，每个结晶颗粒明显地长大。另外，明显地观

AFM位置检测

位置检测部分主要是由激光和激光检测系统组成。而反馈系统中主要包含一系列的压电陶瓷管。压电陶瓷是一种性能奇特的材料，当在压电陶瓷对称的两个端面加上电压时，压电陶瓷会按特定的方向伸长或缩短。而伸长或缩短的尺寸与所加的电压的大小成线性关系。即可以通过改变电压来控制压电陶瓷的微小伸缩。通常把三个分别代表X，

AFM电学测量

电学测量如果微悬臂是用导电材料制成或外层镀有导电金属层，则探针可作为一个移动电极来施加电压和探测电流，从而来研究材料的微区电学性质，该技术通常称为导电原子力显微术(conductive-AFM，C-AFM)。利用导电原子力显微术可以探测样品的表面电荷、表面电势、表面电阻、微区导电性、微区介电特性、非

AFM工作原理

AFM工作原理         将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一个微小的针尖，其尖端原子与样品表面原子间存在及极微弱的排斥力，利用光学检测法或隧道电流检测法，通过测量针尖与样品表面原子间的作用力获得样品表面形貌的三维信息。图1 AFM 工作原理示意图 下面，我们以激光检测原子力显微镜

AFM的介绍

AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现

什么是AFM

明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微

快速AFM－技术

快速AFM 技术通常的AFM扫描速度较慢，不能满足许多动态现象的研究需求，快速AFM 技术(high speed AFM，HS-AFM)的核心限制因素是微悬臂探针的自然带宽，其在真空、大气及液体环境下分别是几赫兹，几千赫兹和几万赫兹。因此，在液体环境下更容易实现HS-AFM，但还需要具有高带宽(兆赫

什么是AFM

明。AFM 是一種類似於STM 的顯微技術，它的許多元件和STM是共同的，如用於三 維掃描的電壓陶瓷系統以及反饋控制器等。它和STM 最大的不同是用一個對微弱作用 力極其敏感的微懸臂針尖代替了STM 的隧道針尖，並以探測原子間的微小作用力(Van der Walls’ Force)代替了STM 的微