原子力显微镜与扫描力显微术斥力模式

原子力显微镜与扫描力显微术斥力模式

斥力模式原子力显微镜（AFM）      微悬臂是原子力显微镜（AFM）关键组成部分之一，通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像，探针尖连续（接触模式）或间断（轻敲模式）与样品接

原子力显微术功能化探测模式

原子力显微术功能化探测模式传统AFM的基本工作模式主要包括接触模式(contact mode)、振幅调制模式(又称轻敲模式，amplitude modulation 或tapping mode)、频率调制模式(又称非接触模式，frequency modulation 或noncontact mode

原子力显微镜与扫描力显微术摩擦力

      摩擦力显微镜（LFM）是在原子力显微镜（AFM）表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来，而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。图1 摩擦力显微镜扫描及力检测示意图

质谱仪的扫描模式

质谱仪的扫描模式有全扫描、选择离子扫描、子离子扫描、母离子扫描、中性碎片丢失扫描和多反应扫描等。一、全扫描（Full Scan）：扫描的质量范围覆盖被测化合物的分子离子和碎片离子的质量，得到的是化合物的全谱，可以进行谱库检索。一般用于未知化合物定性分析。二、选择离子扫描（SIM）：不是连续扫描某一质

质谱仪的扫描模式

        质谱仪的扫描模式有全扫描、选择离子扫描、子离子扫描、母离子扫描、中性碎片丢失扫描和多反应扫描等。一、全扫描（Full Scan）：        扫描的质量范围覆盖被测化合物的分子离子和碎片离子的质量，得到的是化合物的全谱，可以进行谱库检索。        一般用于未知化合物定性分析

质谱仪的扫描模式

质谱仪的扫描模式有全扫描、选择离子扫描、子离子扫描、母离子扫描、中性碎片丢失扫描和多反应扫描等。一、全扫描（Full Scan）：扫描的质量范围覆盖被测化合物的分子离子和碎片离子的质量，得到的是化合物的全谱，可以进行谱库检索。一般用于未知化合物定性分析。二、选择离子扫描（SIM）：不是连续扫描某一质

微影操控术

微影操控术(Nanolithography and Nanomanipulation)Lithography(微影) 及 manipulation(操控术)是目前相当热门的研究题目。多年以来 Lithography 应用力量及电流方式，已可在材料表面刻出或长出不同尺寸纳 米图案。目前研究上是针对(1

AFM的峰值力模式

AFM的侧向力模式

侧向力模式　　横向力显微镜（LFM）工作原理与接触模式的原子力显微镜相似。当微悬臂在样品上方扫描时，由于针尖与样品表面的相互作用，导致悬臂摆动，其形变的方向大致有两个：垂直与水平方向。一般来说，激光位置探测器所探测到的垂直方向的变化，反映的是样品表面的形态，而在水平方向上所探测到的信号的变化，由于物

扫描探针的显微术

       自从1933年德国Ruska和Knoll等人在柏林制成第一台电子显微镜后，几十年来，有许多用于表面结构分析的现代仪器先后问世。如透射电子显微镜（TEM）、扫描电子显微镜（SEM）、场电子显微镜（FEM ）、场离子显微镜（FIM）、低能电子衍射（LEED）、俄歇谱仪（AES）、光电子能谱

扫描开尔文探针显微术

在动态非接触模式下，最具发展潜力的电学测量模式是扫描开尔文探针显微术(scanning Kelvin probe microcopy，SKPM)，其工作原理是当导电针尖接近样品表面时，由于两者功函数的不同，针尖—样品间会产生静电相互作用，即接触电势差(contact potential differ

AFM微影操控术

微影操控术(Nanolithography and Nanoma nipulation)Lithography(微影) 及ma nipulation (操控术)是目前相当热门的研究题目。多年以来Lithography 应用力量及电流方式，已可在材料表面刻出或长出不同尺寸纳米图案。目前研究上是针对(1

原子力显微镜使用分析

实验概要了解原子力显微镜的基本结构和原理。掌握原子力显微镜对固体和粉末样品的要求及制作方法。掌握原子力显微镜使用方法。实验原理原子力显微镜的优点是：有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；试样制备简单。1. 仪器结

原子力显微镜使用分析

实验概要了解原子力显微镜的基本结构和原理。掌握原子力显微镜对固体和粉末样品的要求及制作方法。掌握原子力显微镜使用方法。实验原理原子力显微镜的优点是：有较高的放大倍数，20-20万倍之间连续可调；有很大的景深，视野大，成像富有立体感，可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构；试样制备简单。1. 仪器结

扫描电镜透射模式（STEM）

扫描电子显微镜已成为表征物质微观结构不可或缺的仪器。在扫描电镜中，电子束与试样的物质发生相互作用，可产生二次电子、特征X射线、背散射电子等多种的信号，通过采集二次电子、背散射电子得到有关物质表面微观形貌的信息，背散射电子衍射花样得到晶体结构信息，特征X-射线得到物质化学成分的信息，这些得到的都是接近

常见质谱扫描模式归纳

    质谱仪作为目前较常用的对纯物质鉴定的工具，在生产生活中具有着重要的地位。一般常见的质谱仪具有全扫描、单离子监测、选择离子扫描、中性碎片丢失扫描等。以下收集了一些质谱扫描模式相关信息，以便更具体了解质谱： 　　1.全扫描 Full Scan 　　全扫描是指在进行质谱采集时，扫描一段自己来设定的

原子力显微镜成像模式

    原子力显微镜是显微镜中的一种类型，应用范围十分广泛。是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。原子力显微镜三种成像模式　　当原子力显微镜成像模式的针尖与样品表面原子相互作用时，通常有几种力同时作用于微悬臂，其中最主要的是范德瓦尔斯力。当针尖与样品表面原子相互靠近时，它们先互

原子力显微镜（AFM）分类

　　在原子力显微镜（AFM）成像模式中，根据针尖与样品间作用力的不同性质可分为：接触模式，非接触模式，轻敲模式。　　（1）接触成像模式：针尖在扫描过程中始终同样品表面接触。　　针尖和样品间的相互作用力为接触原子间电子的库仑排斥力（其力大小为10-8~10-6N）。优点为图像稳定，分辨率高，缺点为由于

低温扫描电子显微术

制备样品低温扫描电子显微术是20世纪80年代迅速发展和广泛应用的方法。它包括生物样品的冷冻固定、冷冻干燥、冷冻割断和冷冻含水样品的扫描电子显微术等。冷冻固定将生物材料投入低温的致冷剂中，如液氦、液氮、液体氟利昂及丙烷等。快速冷冻可使生物组织细胞的结构和化学组成接近于生活状态。被冷冻固定的生物样品，可

扫描电子显微术－SEM

分析原理：用电子技术检测高能电子束与样品作用时产生二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线等并放大成象 谱图的表示方法：背散射象、二次电子象、吸收电流象、元素的线分布和面分布等 提供的信息：断口形貌、表面显微结构、薄膜内部的显微结构、微区元素分析与定量元素分析等

原子力显微镜的工作模式有哪些

原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。接触模式，从概念上来理解，接触模式是AFM很直接的成像模式。AFM 在整个扫

原子力显微镜工作模式

原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式（contact mode) ，非接触模式（ non - contact mode) 和敲击模式( tapping mode）。接触模式从概念上来理解，接触模式是AFM最直接的成像模式。AFM 在整个扫描

原子力显微镜的基本工作原理

原子力显微镜系统主要由以下几部分组成：(1)带针尖的力敏感元件;(2)力敏感元件运动检测装置;(3)监控力敏感元件运动的反馈回路;(4)扫描系统(一般使用压电陶瓷)，其作用是使样品进行扫描运动;(5)图象采集及显示;(6)图象处理系统。其中关键的是前两部分。  原子力显微镜的工作原理如图2所示。将一

原子力显微镜工作模式

 原子力显微镜工作模式       原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的。主要有以下3种操作模式：接触模式、非接触模式和敲击模式。       1、接触模式从概念上来理解，接触模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那样，AFM在整个扫描成像过程之中，探针针尖始终与样

原子力显微镜成像模式

　　原子力显微镜的主要工作模式有静态模式和动态模式两种。在静态模式中，悬臂从样品表面划过，从悬臂的偏转可以直接得知表面的高度图。在动态模式中，悬臂在其基频或谐波或附近振动，而其振幅、相位和共振与探针和样品间的作用力相关，这些参数相对外部参考的振动的改变可得出样品的性质。　　接触模式　　在静态模式中，

扫描电镜STEM模式的应用

扫描电镜STEM模式的应用透射电镜的加速电压较高(一般为120-200kV)，对于有机高分子、生物等软材料样品的穿透能力强，形成的透射像衬度低，而扫描电镜的加速电压较低(一般用10-30kV)，因此应用其STEM模式成透射像，可大大提高像的衬度。图3所示为有机太阳能电池用的高分子/富勒烯薄膜（有机固

扫描电镜STEM模式的应用

透射电镜的加速电压较高(一般为120-200kV)，对于有机高分子、生物等软材料样品的穿透能力强，形成的透射像衬度低，而扫描电镜的加速电压较低(一般用10-30kV)，因此应用其STEM模式成透射像，可大大提高像的衬度。图3所示为有机太阳能电池用的高分子/富勒烯薄膜（有机固体实验室样品）的透射电子像

原子力显微镜(Atomic－Force－Microscopy－，简称AFM)

原子力显微镜的工作原理就是将探针装在一弹性微悬臂的一端，微悬臂的另一端固定，当探针在样品表面扫描时，探针与样品表面原子间的排斥力会使得微悬臂轻微变形，这样，微悬臂的轻微变形就可以作为探针和样品间排斥力的直接量度。一束激光经微悬臂的背面反射到光电检测器，可以精确测量微悬臂的微小变形，这样就实现了通过检

原子力显微镜原理概述

　　AFM 是在STM 基础上发展起来的，是通过测量样品表面分子(原子)与AFM 微悬臂探针之间的相互作用力，来观测样品表面的形貌。AFM 与STM 的主要区别是以1 个一端固定而另一端装在弹性微悬臂上的尖锐针尖代替隧道探针，以探测微悬臂受力产生的微小形变代替探测微小的隧道电流。　　其工作原理：将一

原子力显微镜原理概述

原子力显微镜原理概述AFM 是在STM 基础上发展起来的，是通过测量样品表面分子(原子)与AFM 微悬臂探针之间的相互作用力，来观测样品表面的形貌。AFM 与STM 的主要区别是以1 个一端固定而另一端装在弹性微悬臂上的尖锐针尖代替隧道探针，以探测微悬臂受力产生的微小形变代替探测微小的隧道电流。其工