Antpedia LOGO WIKI资讯

新型高功函数异质结X射线硅漂移探测器研究获进展

近日,中国科学院微电子研究所高频高压中心研究员贾锐团队,在中国工程院院士欧阳晓平指导下,创新性地将高功函数钝化接触异质结技术应用到硅漂移探测器(SDD)中,成功研制出新型SDD核心元器件。目前,该团队在硅异质结漂移探测器的器件设计、工作机理和工艺制备等方面形成了核心竞争力,并具有完全自主知识产权。 硅漂移探测器是高能粒子探测领域能量分辨率最高的探测器之一,主要用于探测高能粒子和X射线,具有灵敏度高、能量分辨率高和计数率高等优点,在天文观测、医疗和安检等关键领域有着重要应用。由于传统SDD器件制备需要完全依赖微电子工艺和设备,难度大、成本高,该器件及其高端探测设备的相关技术和市场长期被发达国家所垄断,且只能制备面积小于等于100 mm2的器件。 为加快实现SDD器件的国产化,贾锐团队开展了SDD探测芯片的核心技术攻关,通过采用异质结及其平面工艺来制备SDD,极大降低了暗态漏电流(nA级别),在降低制备成本的同时提升了器件的......阅读全文

X射线荧光光谱仪(XRF)

  自1895年伦琴发现X射线以来,X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中,1910年特征X射线光谱的发现,为X射线光谱学的建立奠定了基础;20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世,使得X射线光谱学技术进入了实用阶段;60年代能量色散型X射线光谱仪的出现,促进了X射线光谱学仪器的迅

中华“慧眼”观测能力有多强?

  ——解读硬X射线调制望远镜卫星  硬X射线调制望远镜卫星结构示意图  茫茫天宇间,在轨运行的航天器“中国方阵”中,除了天舟一号货运飞船、天宫二号空间实验室等之外,还有一颗近日发射升空的新卫星——硬X射线调制望远镜卫星(HXMT)。与其他航天器相比,这颗重约2.5吨,在距地面550公里的轨道上运行

X荧光光谱仪的工作原理(一)

X荧光光谱仪(XRF)是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信

X射线谱仪

X射线谱仪简介编辑X射线谱仪设计有20路探测器,是此次载荷中探测器路数最多的系统,为有效预防多路探测器之间相互干扰,在硬/软件设计中还专门设计了“隔离”探测器单元功能及对太阳监测器计数率的调阈指令,以提高探测器在轨长期工作的可靠性 [1]  。X射线谱仪指向月面,由16

X荧光光谱仪工作原理

X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。  受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能

X射线在仪器仪表中的应用

  用X光能否鉴定人体内的石状物体真的是钻石?先要了解什么是X光。  X射线的本质和光一样,是一种电磁辐射,它覆盖了从0.01nm到10nm的波段范围,对应的能量范围从125eV到125keV。通常我们把波长在0.001nm~0.1nm之间,能量较高的X射线称为硬X射线,;波长在0.1nm以上,能量

X 射线荧光光谱仪

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。图

XRF是什么

XRF是什么??XRF测试及XRF原理,本内容深入探讨了XRF的相关内容,并做了整体的讲解分析。1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线

X荧光光谱仪的原理

    X射线是一种电磁波,波长比紫外线还要短,为0.001- 10nm左右。X射线照射到物质上面以后,从物质上主要可以观测到以下三种X射线。荧光X射线、散射X射线、透过X射线,Atomray CX-5500产品使用的是通过对第一种荧光X射线的测定,从物质中获取元素信息

基于MARS系统的X射线能谱CT研究

X射线是19世纪末物理学的三大发现(X射线1895年、放射性1896年、电子1897年)之一,这一发现标志着现代物理学的诞生。由于X射线是波长介于紫外线和γ射线之间的电磁辐射,因而它具有很高的穿透本领,能穿透许多对可见光不透明的物质,基于此,可用来帮助人们进行医学诊断和治疗,或者用于工业等领域的非破

关于X射线荧光分析技术应用的误区

  X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程,在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展,基本上是在近25 年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初,一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进,大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业,另一方面,随着钙铁 分析

医用X射线诊断卫生防护标准

  1 范围    本标准规定了医用诊断X射线机(不包括C形臂X射线机)防护性能、X射线机机房防护设施和医用X射线诊断防护安全操作的技术要求。    本标准适用于医用诊断x射线机的生产和使用。本标准不适用于介入放射学、血管造影等特殊检查和X射线CT检查。   2 规范性引用文件    下列文

X射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量中的技巧

  随着国内黄金交易市场的全面开放,无损验货接踵而来。本文从贵金属首饰无损检测应用x荧光分析技术的角度,提出一些避免误区的观点。   一、x射线荧光分析基本原理   所谓荧光,就是在光的照射下发出的光。x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,

X射线荧光分析技术无损检测贵金属首饰含量中的技巧

  随着国内黄金交易市场的全面开放,无损验货接踵而来。本文从贵金属首饰无损检测应用x荧光分析技术的角度,提出一些避免误区的观点。   一、x射线荧光分析基本原理   所谓荧光,就是在光的照射下发出的光。x射线荧光就是被分析样品在x射线照射下发出的x射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,

盘点丨问鼎诺贝尔奖的10大检测技术

  诺贝尔奖是以瑞典著名的化学家 阿尔弗雷德·贝恩哈德·诺贝尔的部分遗产(3100万瑞典克朗)作为基金在1900年创立的。该奖项授予世界上在物理、化学、生理学或医学、文学、和平和经济学六个领域对人类做出重大贡献的人,于1901年首次颁发,截止2016年共授予了881位个人和23个团体。今天我们将盘点

XRF原理-天瑞EDX 2800

1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)   人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。   一台典型的X射线荧光(XRF)仪器由激发源(

SEM知识—元素分析的基础

元素分析的基础 X射线的产生当电子射入物质后,从物质表面会发射出各种电子、光子及X射线等电磁波。如图49所示,由于入射电子的作用,内层电子处于激发态,外层电子向内跃迁填补有空位的轨道时,会产生等同于能量差的X射线,这就是特征X射线。 由于X射线具有元素特有的能量(波长),通过对X

HXMT硬X射线调制望远镜卫星科学观测(二)

特点:能量覆盖面积广仪器几何面积大望远镜视场宽张双南老师具体解释说,首先,这个X射线的仪器覆盖的范围是比较广的,覆盖从1kev到300kev左右,有基本上300倍的能量覆盖的范围,如果再加上对伽马射线暴的探测能力,到3000个kev,覆盖的范围就有3000倍,很少有这样一个卫星能有这样宽的光子覆盖范

材料成分分析仪器大全

  【成分分析简介】  成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析,通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么,帮助您对样品进行定性定量分析,鉴别、橡胶等高分子材料的材质、原材料、助剂、特定成分及含量、异物等。  【成分分析分类】  按照对象和要求:微量样品分析 和 痕量成分分

X射线荧光分析中的相关技术研究

X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析,本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X射线荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台X射线荧光分析仪,至60

X荧光光谱仪的工作原理(二)

3、检测记录系统X射线荧光光谱仪用的检测器有流气正比计数器和闪烁计数器。上图是流气正比计数器结构示意图。它主要由金属圆筒负极和芯线正极组成,筒内充氩(90%)和甲烷(10%)的混合气体,X射线射入管内,使Ar原子电离,生成的Ar+在向阴极运动时,又引起其它Ar原子电离,雪崩式电离的结果,产生一脉冲信

世界上第一台x射线激光诞生于

  1 X 射线光源与自由电子激光  光源是推动人类文明发展的利器,光源的每一次进步都极大地增强了人们认识和改变未知世界的能力并有力地推动了科学和技术的发展。X射线光源是人们观测物体内部结构、在分子与原子尺度上探测与认识物质内部微观构造与动态过程的不可替代的尖端装备。17 世纪初人类发明了望远镜和显

扫描电子显微镜能谱仪(EDS)原理

  能谱仪结构及工作原理  X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一直被广泛使用。  1。特征X射线的产生  特征X射线的产生是入射电子使内层电子

扫描电子显微镜能谱仪(EDS)原理

  能谱仪结构及工作原理  X射线能量色散谱分析方法是电子显微技术最基本和一直使用的,具有成分分析功能的方法,通常称为X射线能谱分析法,简称EDS或EDX方法。它是分析电子显微方法中最基本,最可靠,最重要的分析方法,所以一直被广泛使用。  1。特征X射线的产生  特征X射线的产生是入射电子使内层电子

X射线显微镜的成像与构造

  X 射线显微镜的成像原理与光学显微镜基本上是一样的,遵从几何光学原理,其关键部件是成像和放大作用的光学元件,在光学显微镜中为透镜。由于X 射线的波长很短,在玻璃和一般物质界面上的折射率均接近1,故其成像放大元件不能用玻璃透镜,一般用波带片。  此外,它们同样利用吸收衬度和位相衬度成像,同样要求有

X荧光光谱仪原理

  当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程   称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层

波散XRF与能散XRF的区别

  一.X射线荧光分析仪简介  X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶

什么是XRF?

XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)    人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光(X—Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。&nb

X荧光光谱仪分类及比较

   一、X-射线荧光光谱仪(XRF) 简介   X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。  波长色散型X射线荧光光谱仪(

基于FPGA的X射线能谱测量数据采集系统设计与实现

X射线管产生的X射线不是单一能量X射线,而是包含了多种不同能量的连续谱X射线,从物理学角度分析可知,能量不同的X射线对于各种物质吸收特性不尽相同,因而物质与不同能量X射线相互作用会呈现不同的物理性质。在X射线CT中,利用连续谱的X射线照射被检对象后,由于各种能量X射线的吸收特性不同,可能出现射线束硬