名词解释汇总：微量X射线断层扫描相关监测指标（三）
插值 插值或内插（interpolation）是采用数学方法在一抑制函数的两端数值，估计该函数在两端之间任一值的方法。CT扫描采集的数据是离散的、不连续的，需要从两个相邻的离散值求得其间的函数值。内插的方法有很多种，例如线性内插、率过内插和优化采样扫描等 重建 原始扫描数据经过计算机采用特定的算法处理，得到能够用于诊断的图像，这种处理方法或过程称为重建（reconstruction）。图像重建速度是衡量CT机性能的一个重要指 重建函数核 重建函数核（kernel）又称重建滤波器、滤波函数。CT扫描通常会包含一些必要的参数，如球管的电压、电流、层厚等，重建函数核是其中一个重要内容。它是一种算......阅读全文
名词解释汇总：微量－X射线断层扫描相关监测指标（三）
插值 插值或内插（interpolation）是采用数学方法在一抑制函数的两端数值，估计该函数在两端之间任一值的方法。CT扫描采集的数据是离散的、不连续的，需要从两个相邻的离散值求得其间的函数值。内插的方法有很多种，例如线性内插、率过内插和优化采样扫描等
名词解释汇总：微量－X射线断层扫描相关监测指标（一）
CT值 CT值（CT number）是以水的CT值为零，而相对于其他物质X线的衰减值。例如，空气的CT值为 -1000，而骨密质的CT值为 +1000，人体除骨密质和肺以外，CT值基本在 -100～+100之间。CT值的标准单位是 HU（Hounsfield）。组织密
名词解释汇总：微量－X射线断层扫描相关监测指标（二）
HU HU（Hounsfield Units）是CT值的单位，以 CT 的发明人Godfrey Newbold Hounsfield 的名字命名，念作“胡”。 IPL
名词解释汇总：微量－X射线断层扫描相关监测指标（五）
算法 算法（algorithm）是针对特定输入和输出的一组规则。算法的主要特征是不能有任何模糊的定义，算法规则描述的步骤必须是简单、易操作并且概念明确，而且能够有计算机实现。 提取
名词解释汇总：微量－X射线断层扫描相关监测指标（四）
辐射剂量 CT等成像设备使用过程中，操作人员和受检动物都需要注意射线防护。目前，通行的辐射剂量度量方法有以下几种： l 照射量（exposure），指直接度量X射线对空气电离能力的量，表示辐射场强度，从电荷量的角度来反映射线强度。单位是库仑?千克－1（C?kg
工业x射线断层扫描原理
工业CT是工业计算机层析成像技术的缩写。它可以以二维断层图像或三维图像的形式清晰，准确，直接地显示被检对象的内部结构和组成，而不会损坏被检对象。 材料和缺陷被称为较好的无损检测技术。 X射线工业CT设备的三个主要组件是X射线源，旋转控制台和检测器。 从X射线源到检测器的距离以及从X射线源到
X射线与γ射线的相关介绍
X射线是带电粒子与物质交互作用产生的高能光量子。 X射线与γ射线有许多类似的特性，但它们起源不同。 X射线由原子外部引起，而γ射线由原子内部引起。X射线比γ射线能量低，因此穿透力小于γ射线。成千上万台X射线机在日常中被运用于医学和工业上。X射线也被用于癌症治疗中破坏癌变细胞，由于它的广泛运用
X射线应力仪的技术指标
4.1 X射线管：Cr靶，V靶； 4.2射线管最大功率300W； 4.3 加速电压：30KV； 4.4 加速电流：10mA； 4.5 2θ角：140°～170°； 4.6 ψ角范围为 0°～45°； 4.7 ψ角摇摆范围为0°～7°； 4.8 仪器测量精度：无应力铁粉测量精度±10MPa； 4.
X射线应力仪的技术指标
X射线应力仪是一种用于交通运输工程、航空、航天科学技术、材料科学领域的分析仪器，于2008年11月1日启用。 技术指标 1、X射线管：Cr靶，V靶； 2、射线管最大功率300W； 3、加速电压：30KV； 4、加速电流：10mA； 5、2θ角：140°～170°； 6、ψ角范围为
X射线荧光光谱仪指标信息
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平
乳腺X射线摄影系统的技术指标
产品由高压发生器及控制系统，ｘ射线球管，ｘ射线球管悬吊及定位系统，准直器，立式胸片架系统，摄影平床，数字平板探测器，数字影像采集、处理、传输及浏览工作站，附件组成。附件包括压迫带、患者把手、横向暗盒架、附件架。标称电功率：65KW（100KV，630mA，0.1s)，80KW（100KV，800
X射线荧光分析的相关介绍
确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子，使原子发出标识X射线（荧光），通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同，可分成带电粒子激发X荧光分析，电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。
X射线荧光分析技术相关介绍
X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术，即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。 X射线是一种电磁辐射，按传统的说法，其波长介于紫外线和γ射线之间，但随着高能电子加速器的发展，电子轫致辐射所产生的X射线的
x射线衍射仪的相关简介
特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。 X射线衍射仪的英文名称是
X射线的物理效应相关介绍
（1）穿透作用。X射线因其波长短，能量大，照在物质上时，仅一部分被物质所吸收，大部分经由原子间隙而透过，表现出很强的穿透能力。X射线穿透物质的能力与X射线光子的能量有关，X射线的波长越短，光子的能量越大，穿透力越强。X射线的穿透力也与物质密度有关，利用差别吸收这种性质可以把密度不同的物质区分开来
X射线荧光仪的相关介绍
X射线荧光仪一般是采用，激发样品中的目标元素，使之产生特征X射线，通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。 仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器（正比计数管及闪烁计数器）能量分辨率不高，不能区
X射线衍射仪相关知识了解
X射线衍射仪技术(XRD)通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法，X射线衍射仪已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。X射线衍射仪的原理：当一
X射线计算机断层扫描技术在水泥基材料中的应用
水泥基材料的物理力学性能，渗透性及耐久性与硬化水泥浆体的微观结构密切相关。对微观结构的合理表征可以有助于对水泥基材料性能的正确理解。传统的微观结构表征方法。如背散射电子图像法可以对微观结构进行二维可视化表征，氮气吸附法或压汞法则可以对孔结构进行统计性表征。但是这些方法无法表征水泥基材料的三维结构特
X射线Xray检测仪的相关概述
是在不损坏被检物品的前提下使用低能量X 光，快速检测出被检物 品的内部质量和其中的异物，并通过计算机显示被检物品图像的测试手段。 当待检品经X射线照射后，物质的密度和原子序数越大，物质吸收X射线的比率也会越大。而食品中的蛋白质、碳水化合物、脂肪、水分以及骨头（钙质）、玻璃（硅质）、金属和毛发等
x射线荧光光谱仪的指标信息
1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW 2.仪器在真空条件下工作，真空度
X射线衍射光谱仪的技术指标
初级准直器：3位以上程序控制, 适合重轻元素。 晶体选择：≥5块晶体, 必须含有2块弯晶及人工多层膜晶体。 多道分析器：总道数≥500道 从光管阳极到样品的距离≤16mm，以充分利用光管的X射线发射强度，保证测量灵敏度。 位置面罩转换器，适合做不同尺寸的样品，电脑控制自动转换。 充氦液体测量系统
X射线应力仪的技术指标及功能
技术指标 4.1 X射线管：Cr靶，V靶； 4.2射线管最大功率300W； 4.3 加速电压：30KV； 4.4 加速电流：10mA； 4.5 2θ角：140°～170°； 4.6 ψ角范围为 0°～45°； 4.7 ψ角摇摆范围为0°～7°； 4.8 仪器测量精度：无应力铁粉测量精度±10M
X射线荧光测厚仪的原理和技术指标
原理 当原子受到原级X射线或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层空位，并同时放出次级X射线，即X射线荧光。X射线荧光的波长对不同元素是特征的，因此可以根据元素X射线荧光特征波长对元素做定性分析，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如
X射线异物检出机的性能指标
射线特性 能穿透物体 为不可见光 於电磁波光谱内 波长范围广 直线散射 光速进行 能使萤光物质发光 能使底片感光 会造成散射线 当X-ray进入物体时，会有三种情形发生: 被物体吸收 （Absorption) 产生散射现（Scatter） 穿透（Penetration） 影响图像效果
X射线检查的相关细节有哪些
为了弥补普通 X 射线检查器官之间缺乏天然对比，用人工的方法将造影剂引入需要检查的器官内或其周围组织内 ，以增强其对比而使器官清晰显影以利观察，这种方法为造影检查。口服造影剂多用硫酸钡制剂，注射用造影剂为有机碘的水溶液(三碘苯甲酸衍生物)，非离子型造影剂由于其亲水性好，毒性低，反应小，适合用于心
放射型X射线源的相关介绍
放射型X射线源通常较为简便、体积较小，成本较低；但是，这种放射源不能被关闭，并且会对环境、使用者等造成一定的危害，因此，对于这种类型的X射线源的使用需要进行注册登记，同时对其运输和处理都具有一定的限制，此外，人们还需要对这种放射源进行定期测试。
X射线荧光分析技术的相关介绍
X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。 X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S
关于X射线的产生相关介绍
高速电子轰击靶时，与靶物质的相互作用过程是很复杂的。一些高速电子进入到靶物质原子核附近，在原子核的强电场作用下，速度的量值和方向都发生变化，一部分动能转化为X光子的能量(hv)辐射出去。这种辐射称为轫致辐射( bremsstrahlung)。一些高速电子进入靶物质原子内部，如果与某个原子的内层电
X射线荧光法的相关介绍
X射线荧光法是用，照射待测样品，使受激元素产生二次特征X射线（即荧光），使用X射线荧光仪测量并记录样品中待测元素的特征X射线照射量率，从而确定样品的成分和目标元素含量的方法。 方法的特点是操作简单，速度快，可以进行原位测量，在现场获得目标元素的含量；划分矿与非矿的界限，代替或部分代替刻槽取样。
X射线荧光的产生相关介绍
当一束粒子如X射线光子与一种物质的原子相互作用时，在其能量大于原子某一轨道电子的结合能时，就可从中逐出一个轨道电子而出现一个“空穴”，层中的这个“空穴”可称作空位。原子要恢复到原来的稳定状态，这时处于较高能级的电子将依据一定的规则跃迁而填补该“空穴”，这一过程将使整个原子的能量降低，因此可以自发