X射线荧光的产生相关介绍

当一束粒子如X射线光子与一种物质的原子相互作用时,在其能量大于原子某一轨道电子的结合能时,就可从中逐出一个轨道电子而出现一个“空穴”,层中的这个“空穴”可称作空位。原子要恢复到原来的稳定状态,这时处于较高能级的电子将依据一定的规则跃迁而填补该“空穴”,这一过程将使整个原子的能量降低,因此可以自发进行。这种跃迁将导致如下几种情况产生: (1)两个壳层之间的能量差以X射线光子的形式发射出原子,该X射线光子的波长与原子的原子序数有关,且其波长大于入射X射线波长,称作X射线荧光。 (2)所产生的X射线荧光没有发射出原子,而是将原子中另一电子逐出原子,形成具有双空穴的原子,这一电子称作俄歇电子。 早期人们在用X射线在轰击阳极靶而产生X射线的时候,就发现,有几个高强度X射线,并没有随着加速电子的高压变化而变化,而是在使用不同的靶材之时,其X射线能量会发生变化,后称之为特征X射线,每种元素都有他特有的特征X射线。以W原子为例,核外电......阅读全文

X射线荧光的产生相关介绍

  当一束粒子如X射线光子与一种物质的原子相互作用时,在其能量大于原子某一轨道电子的结合能时,就可从中逐出一个轨道电子而出现一个“空穴”,层中的这个“空穴”可称作空位。原子要恢复到原来的稳定状态,这时处于较高能级的电子将依据一定的规则跃迁而填补该“空穴”,这一过程将使整个原子的能量降低,因此可以自发

产生x射线荧光的原理

处于激发态的原子,要通过电子跃迁向较低的能态转化,同时辐射出被照物质的特征X射线,这种由入射X射线激发出的特征X射线,称为荧光X射线,此种辐射又称为荧光辐射。当紫外光或波长较短的可见光照射到某些物质时,这些物质会发射出各种颜色和不同强度的可见光,而当光源停止照射时,这种光线随之消失。这种在激发光诱导

关于X射线的产生相关介绍

  高速电子轰击靶时,与靶物质的相互作用过程是很复杂的。一些高速电子进入到靶物质原子核附近,在原子核的强电场作用下,速度的量值和方向都发生变化,一部分动能转化为X光子的能量(hv)辐射出去。这种辐射称为轫致辐射( bremsstrahlung)。一些高速电子进入靶物质原子内部,如果与某个原子的内层电

X射线荧光分析的相关介绍

  确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。它用外界辐射激发待分析样品中的原子,使原子发出标识X射线(荧光),通过测量这些标识X射线的能量和强度来确定物质中微量元素的种类和含量。根据激发源的不同,可分成带电粒子激发X荧光分析,电磁辐射激发X荧光分析和电子激发X荧光分析。

X射线荧光仪的相关介绍

  X射线荧光仪一般是采用,激发样品中的目标元素,使之产生特征X射线,通过测量特征X射线的照射量率来确定目标元素及其含量的仪器。  仪器分为室内分析、野外便携式和X射线荧光测井仪三种类型。各种类型的仪器均由探测器和操作台两部分组成。由于目前使用的探测器(正比计数管及闪烁计数器)能量分辨率不高,不能区

简述产生x射线荧光的原理

处于激发态的原子,要通过电子跃迁向较低的能态转化,同时辐射出被照物质的特征X射线,这种由入射X射线激发出的特征X射线,称为荧光X射线,此种辐射又称为荧光辐射。当紫外光或波长较短的可见光照射到某些物质时,这些物质会发射出各种颜色和不同强度的可见光,而当光源停止照射时,这种光线随之消失。这种在激发光诱导

X射线荧光分析技术相关介绍

  X光荧光分析又称X射线荧光分析(XRF)技术,即是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测样品中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学形态研究的方法。  X射线是一种电磁辐射,按传统的说法,其波长介于紫外线和γ射线之间,但随着高能电子加速器的发展,电子轫致辐射所产生的X射线的

概述X射线荧光光谱仪X射线的产生

  根据经典电磁理论,运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的:利用被高压加速的电子轰击金属靶,电子被金属靶所减速,便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线,也包括了特征谱线。  1、连续谱线  连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受

X射线荧光分析技术的相关介绍

  X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法。  X射线荧光分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S

X射线荧光法的相关介绍

  X射线荧光法是用,照射待测样品,使受激元素产生二次特征X射线(即荧光),使用X射线荧光仪测量并记录样品中待测元素的特征X射线照射量率,从而确定样品的成分和目标元素含量的方法。  方法的特点是操作简单,速度快,可以进行原位测量,在现场获得目标元素的含量;划分矿与非矿的界限,代替或部分代替刻槽取样。

X射线荧光的简介和相关仪器介绍

  通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫做X射线荧光(X-Ray Fluorescence),而把用来照射的X射线称为原级X射线,所以X射线荧光光谱仪仍然属于X射线范畴。一台典型的X射线荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管主要负责产生入射X射线(一次X射线),随后该射线

特征x射线与荧光x射线的产生机理有何异同

产生的机理不同,特征X射线是由电子撞击金属靶,使金属原子中的K层L层M层等等层的核外电子被激发形成空位,外层电子跃入该空位,多余的能量产生X射线,荧光X射线则是由X射线或其他电磁波照射原子使原子核外电子激发形成空位,外层电子跃入空位产生X射线,二者都可以表示元素种类,但是产生一个是由电子引起,一个是

X射线的产生

  电子的韧制辐射,用高能电子轰击金属,电子在打进金属的过程中急剧减速,按照电磁学,有加速的带电粒子会辐射电磁波,如果电子能量很大,比如上万电子伏,就可以产生x射线,这是目前实验室和工厂,医院等地方用的产生x射线的方法。  原子的内层电子跃迁也可以产生x射线,量子力学的理论,电子从高能级往低能级跃迁

X射线的产生

X射线的产生 在X射线方面,情况完全不同:越高的加速电压越有利于X射线的产生。X射线可以由能谱仪(EDS)捕获和处理,从而对样品的成分进行分析。 入射电子束中的电子与样品中的原子相互作用,迫使目标样品中的电子被打出。这样样品中就会有空穴生成,它由一个来自于同一原子的外层能量较高电子填充。这个过程要求

X射线荧光光谱仪的理论基础X射线的产生

  高速运动的电子与物体碰撞时,发生能量转换,电子的运动受阻失去动能,其中一小部分(1%左右)能量转变为X射线,而绝大部分(99%左右)能量转变成热能使物体温度升高。  产生X射线源有同位素放射源、X射线管、激光等离子体、同步辐射和X射线激光等。

X射线管中X射线的产生原理

实验室中X射线由X射线管产生,X射线管是具有阴极和阳极的真空管,阴极用钨丝制成,通电后可发射热电子,阳极(就称靶极)用高熔点金属制成(一般用钨,用于晶体结构分析的X射线管还可用铁、铜、镍等材料).用几万伏至几十万伏的高压加速电子,电子束轰击靶极,X射线从靶极发出.

X射线与γ射线的相关介绍

  X射线是带电粒子与物质交互作用产生的高能光量子。  X射线与γ射线有许多类似的特性,但它们起源不同。  X射线由原子外部引起,而γ射线由原子内部引起。X射线比γ射线能量低,因此穿透力小于γ射线。成千上万台X射线机在日常中被运用于医学和工业上。X射线也被用于癌症治疗中破坏癌变细胞,由于它的广泛运用

X射线荧光分析的介绍

  X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。  1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir

X射线的产生原理

产生X射线的原理是用加速后的电子撞击金属靶,撞击过程中电子突然减速,其损失的动能(以光子形式放出,形成X光光谱连续部分。通过加大加速电压,电子携带的能量增大将金属原子的内层电子撞出。于是内层形成空穴,外层电子跃迁回内层填补空穴,同时放出波长在0.1纳米左右的光子。X射线的产生途径是电子的韧制辐射,用

X射线荧光光谱仪荧光光谱的相关介绍

  能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的 半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁

X射线荧光光谱仪相关知识介绍

X射线荧光光谱仪是一种常用的光谱仪产品,可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱仪具有灵明度强、度高、检测范围广、自动快速等特点,广泛应用于地质、冶金、有色金属加工、建材、考古等领域,在主、次量和痕量元素分析中发挥的作用日趋重要

X射线荧光光谱仪分类的相关介绍

  按照色散方式的不同,X射线荧光光谱仪可以分为2类:波长色散型X射线荧光光谱仪(WDXRF)和能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)。  能量色散型x射线光谱仪  现代应用X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用,是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手

实验室X射线荧光光谱的相关介绍

  X射线荧光光谱分析仪(XFR)是一种精密分析仪器,在20世纪80年代初就已经是一种成熟的分析方法,但仪器价格昂贵。作为一种重要的多元素分析手段,仪器工作分析原理是用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线强

能量色散-X-射线荧光-(ED-XRF)的相关介绍

  能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光技术之一。在 EDXRF 光谱仪中,样品中的所有元素都被同时激发,而能量色散检测仪与多通道分析仪相结合,用于同时收集从样品发射的荧光辐射,然后区分来自各个样品元素的特性辐射的不同能量。EDXRF 系统的分辨率取决

X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍

  当X射线穿过物质时,一方面受散射作用偏离原来的传播方向,另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收,散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。  当一单色X射线穿过均匀物体时,其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix,X射线的衰减符合指数衰减定律:  式中,μ为质量衰减系数;ρ为样

X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍

  相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关,可用于研究物质的结构。  其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品,测量衍射线的角度与强度,从而推断样品的结构,这就是X射线衍射结构分析(XRD)。  另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体

X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍

  除光电吸收外,入射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。散射作用分为两种,即相干散射和非相干散射。  相干散射:当X射线照射到样品上时,X射线便与样品中的原子相互作用,带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多,原子核的振动可忽略不计,主要是原

X射线荧光分析技术介绍

   X射线荧光分析技术(XRF)作为常规、快速的分析手段,开始于20世纪50年代初,经历了50多年的不断发展,现在已成为物质组成分析的必备方法之一。  在我国的相关生产企业的检测、筛选和控制有害元素含量中,X射线荧光分析技术的应用气相液相色谱仪提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的有效途径;与其

波长色散X射线荧光光谱仪相关介绍

X射线荧光光谱仪根据分光方式不同,可分为波长色散和能量色散X射线荧光光谱仪两大类;根据激发方式又可细分为偏振光、同位素源、同步辐射和粒子激发X射线荧光光谱仪;根据X射线的出射、入角还可有全反射、掠出入射X射线荧光光谱仪等。波长色散XRF光谱仪利用分光晶体的衍射来分离样品中的多色辐射,能量色散光谱仪则

X射线荧光的物理原理介绍

  X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量(单位:千电子伏特,keV)和波长(单位:nm)描述。  X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱