扫描俄歇微探针（SAM）
扫描俄歇微探针（SAM）； 基本功能： （1）可进行样品表面的微区选点分析（包括点分析，线分析和面分析）； （2）可进行深度分析； （3）化学价态研究 用途： 纳米薄膜材料，微电子材料的表 面和界面研究及摩擦化学研究。 ......阅读全文
俄歇电子能谱（1）
俄歇电子能谱（Auger electron spectroscopy，简称AES），是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发的原子的外层电子跳至低能阶所放出的能量被其他外层电子吸收而使后者逃脱离开原子，这一连串事件称为俄歇效应，而逃脱出
俄歇效应发现过程
奥地利科学家Lise Meitner在1920年首先观察到俄歇过程。1925年，Pierre Victor Auger在Wilson云室实验中采用高能X射线来电离气体，并观察到了光电子。对电子的测量分析表明其轨迹与入射光子的频率无关，这表明电子电离的机制是原子内部能量交换或无辐射跃迁；运用基本量子力
俄歇电子能谱（3）
俄歇跃迁对于自由原子来说,围绕原子核运转的电子处于一些不连续的"轨道 ”上,这些 “ 轨道 ” 又组成K、L、M、N 等电子壳层。 我们用“ 能级 ”的概念来代表某一轨道上电子能量的大小。由于入射电子的激发，内层 电子被 电离， 留下一个空穴。 此时原子处于激发态， 不稳定。 较高能级上的一
俄歇效应的相关介绍
俄歇效应是原子发射的一个电子导致另一个或多个电子（俄歇电子）被发射出来而非辐射X射线（不能用光电效应解释），使原子、分子成为高阶离子的物理现象，是伴随一个电子能量降低的同时，另一个（或多个）电子能量增高的跃迁过程。以法国人Pierre Victor Auger的名字命名。 当X射线或γ射线辐射
基于扫描探针表面原子识别的前期实验研究
如今扫描隧道显微镜（STM）已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段，用于对固体表面形貌的测量和费米面附近电子态的探测，但是它无法直接识别表面原子的种类。本文介绍了将扫描探针与电子能谱技术相结合以便在微区表面识别原子的预研究工作，包括两个相关实验：超快电压脉冲阈值实验和扫描探针俄歇谱仪（Scan
高分辨场发射俄歇电子探针研究纳米锗硅量子点结构
纳米结构单体组分分布的研究对基础研究及应用探索具有非常重要的意义。应用高分辨场发射俄歇电子能谱和扫描电子束对在550℃和640℃生长温度下分别沉积在硅单晶衬底上的纳米锗硅量子点结构的形貌和表面组分分布进行观察,结果表明:表层分布元素不是纯锗、硅或均匀单一的锗硅合金,而是不均匀分布的锗硅混合物。纳米结
关于电子探针X射线显微分析仪的俄歇电子介绍
入射电子与样品相互作用后，元素原子内层轨道的电子轰击出来成为自由电子或二次电子，而留下空位，从而原子不稳定。则外层高能电子填充空位，释放出能量，释放的能量一方 面以辐射特征X射线的方式释放，另一方面释放的能量被该原子吸收，从而从另一轨道上轰击出电子，该电子为俄歇电子。俄歇电子发生的几率随原子序
平行俄歇电子分析仪
俄歇电子能谱(AES)是目前用于固体最表层原子元素标识的一种方法,对于许多先进电子设备的研发至关重要,而且也广泛应用于从气相化学到纳米结构表征等多个领域。现有AES硬件仍存在着笨重、昂贵、速度慢等问题,而且需要超高真空环境来实现分析功能。英国约克大学研制的分析仪可在一秒钟内捕捉到全部俄歇光谱。
平行俄歇电子分析仪
俄歇电子能谱法(AES)是一种了解固体原子层面特性的方法,这一方法对开发许多最先进的电子设备至关重要,已经成功应用于从气相化学到纳米结构特性的广泛领域。
俄歇电子像的功能介绍
中文名称俄歇电子像英文名称Auger electron image定 义在扫描电子显微镜中，用俄歇电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
俄歇电子像的功能介绍
中文名称俄歇电子像英文名称Auger electron image定 义在扫描电子显微镜中，用俄歇电子所成的像。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），电子光学仪器-电子光学仪器一般名词（三级学科）
俄歇电子能谱的原理
向样品照射电子束后，电子和物质之间产生剧烈的相互作用，如下图（上)所示，各种电子和电磁波被释放出来。由于其中俄歇电子具备各个元素特有的能量，所以如对能谱进行解析，可以鉴定物质表面所存在的元素(定性分析)通过峰强度对比则可以定量测定元素(定量分析)。另外，俄歇电子在物质中非弹性散射情况下前进的距离（平
俄歇电子能谱仪简介
俄歇电子能谱仪（AugerElectronSpectroscopy，AES），作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析
俄歇电子能谱法（AES）
AES可以用于研究固体表面的能带结构、表面物理化学性质的变化（如表面吸附、脱附以及表面化学反应）；用于材料组分的确定、纯度的检测、材料尤其是薄膜材料的生长等。俄歇电子能谱（Auger Electron Spectrometry，简称AES）是用具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应，通过检
关于俄歇效应的作用介绍
俄歇效应作用是研究核子过程（如捕捉过程与内转换过程）的重要手段。同时从俄歇电子的能量与强度，可以求出原子或分子中的过渡几率。反之，由已知能量的俄歇 光谱线，可以校准转换电子的能量。按照这一效应，已制成俄歇电子谱仪，在表面物理、 化学反应动力学、冶金、电子等的领域内进行着高灵敏度的检测与快速分析。
俄歇电子能谱的特点
①俄歇电子的能量是靶物质所特有的，与入射电子束的能量无关。右图是一些主要的俄歇电子能量。可见对于Z=3-14的元素，最突出的俄歇效应是由KLL跃迁形成的，对Z=14-40的元素是LMM跃迁，对Z=40-79的元素是MNN跃迁。大多数元素和一些化合物的俄歇电子能量可以从手册中查到。②俄歇电子只能从20
俄歇电子能谱仪器构造
俄歇能谱仪包括电子光学系统、电子能量分析器、样品安放系统、离子枪、超高真空系统。以下分别进行介绍。电子光学系统电子光学系统主要由电子激发源（热阴极电子枪）、电子束聚焦（电磁透镜）和偏转系统（偏转线圈）组成。电子光学系统的主要指标是入射电子束能量，束流强度和束直径三个指标。其中AES分析的最小区域基本
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
基于扫描探针电子能谱学的表面等离子体激元研究
扫描隧道显微镜(STM)已经成为表面科学中一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量以及费米面附近电子态的探测。然而STM在能谱测量方面的不足限制了它在固体表面微区元素分析及能谱谱学成像方面的应用,将STM与电子能谱技术相结合组建扫描探针电子能谱仪(SPEES)是解决这个问题的一种方案。本
能谱仪的主要用途及策略原理
能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。能谱仪的主要用途：1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;
微纳尺度俄歇电子能谱新技术开发及其应用进展
：随着纳米结构材料的广泛应用,新型微纳尺度表征技术成为纳米科学技术发展的重要途径。本文基于局域电子信息全面性的思想,从俄歇电子能谱的原理出发,理论推导出俄歇价电子能谱的简明表述方式,确定俄歇价电子能谱与微观电子结构信息的内在联系和物理意义,建立了俄歇电子能谱探测微区一系列宏观参量的新技术。其中应力测
能谱分析
主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。随着微电子技
材料能谱分析
主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。随着
SPEES针尖参数对样品表面电子出射影响的模拟研究
报道了对扫描探针电子能谱仪(SPEES)中俄歇电子出射的理论模拟研究。通过对俄歇电子在针尖电场作用下运动轨迹的模拟以及综合考虑从针尖场发射电子到俄歇电子出射全过程中各种因素的影响,系统研究了针尖形状、针尖偏压和针尖-样品距离对俄歇电子出射效率的影响,以及出射俄歇电子束流密度在针尖电场区边缘处的分布
基于环形电子能量分析器的扫描探针电子能谱仪的性能
表面科学中,扫描隧道显微镜(STM)己成为一种极其重要的测量分析手段,用于对固体表面形貌的测量和费米面附近电子态的探测。但是它无法直接识别表面原子的种类。结合扫描探针技术与电子能谱测量技术是实现表面原子识别的一种方案,该方案中,STM针尖作为场发射源激发表面原子,通过探测次级电子的能谱而实现表面原子
昆明理工首次导入带有俄歇功能的聚焦扫描式微区XPS
滨州创元设备机械制造有限公司代理的日美纳米表面分析仪器公司(U-P)的带有俄歇电子能谱功能的多功能平台聚焦扫描式微区X射线光电子能谱仪PHI5000VersaProbe在昆明理工招标会上以技术领先取胜中标.最近完成技术和商务签约。预计明年2月安装运行。 该校独具慧眼，及时导入带有俄歇电子能
俄歇电子能谱分析的依据
俄歇电子的激发方式虽然有多种（如X射线、电子束等），但通常主要采用一次电子激发。因为电子便于产生高束流，容易聚焦和偏转。分析依据：俄歇电子的能量具有特征值，其能量特征主要由原子的种类确定，只依赖于原子的能级结构和俄歇电子发射前它所处的能级位置, 和入射电子的能量无关。测试俄歇电子的能量，可以进行定性
俄歇电子能谱法的简介
中文名称俄歇电子能谱法英文名称Auger electron spectroscopy定 义测量和分析试样产生的俄歇电子的能谱的电子能谱法。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器分析原理（三级学科）
通过俄歇电子谱研究化学组态
（1）原子“化学环境”指原子的价态或在形成化合物时，与该(元素)原子相结合的其它(元素)原子的电负性等情况如：原子发生电荷转移(如价态变化)引起内层能级变化，从而改变俄歇跃迁能量，导致俄歇峰位移；（2）原子“化学环境”变化，不仅可能引起俄歇峰的位移(称化学位移)，也可能引起其强度的变化，这两种变化的