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俄歇电子能谱(AES)是目前用于固体最表层原子元素标识的一种方法,对于许多先进电子设备的研发至关重要,而且也广泛应用于从气相化学到纳米结构表征等多个领域。现有AES硬件仍存在着笨重、昂贵、速度慢等问题,而且需要超高真空环境来实现分析功能。英国约克大学研制的分析仪可在一秒钟内捕捉到全部俄歇光谱。......阅读全文
本文尝试了以CHF3、CH4／CHF3和C2H2／CHF3为源气体，利用微波ECR等离子体源离子注入技术和等离子增强化学气相沉积技术来制备氟化类金刚石膜的方法，并对DLC薄膜和FDLC薄膜的结构和性能进行了分析和比较。 研究了源气体的种类及流量比、微波功率、高压脉冲宽度、工作时间、工作温度、沉积偏压
铅锌硫硫化矿的分离一直是选矿界研究的热点,其难点在于这些矿物性质相似,可浮性相近,矿物彼此间相互活化和相互影响的现象比较严重,硫化矿电位调控浮选技术的出现较成功地解决了这个难题。本论文以广西大厂矿区的锡石型铅锑锌铁多金属硫化矿为研究对象,全面详细地考察了磁黄铁矿、脆硫锑铅矿、铁闪锌矿的无捕收剂浮选(
通过卷积法和最小二乘法,处理Ga-Mo／HZSM-5催化剂上形成碳的XAES数据。同时,建立了光滑XAES数据点的数学模型。由碳的KVV俄歇光谱数据一阶(dN／dE)和二阶(d2N／dE2)导数结果表明,二阶导数光谱的特征峰能与碳的理论态密度关联,获得相关碳的精细结构信息与催化剂的性能相符。
GaN基半导体作为光电子材料领域极为重要的材料,其异质结构在器件开发领域得到十分广泛的应用,目前,影响其未来发展的有几大关键性难题,本质上都与应力场有关,深受大家关注且亟待解决。本论文通过实验研究和计算模拟,全面深入地考察了GaN基半导体异质结构中应力场的相关效应,分析其复杂性质、阐明其物理机制,进
1 引 言 金属镀层在电子设备产品中的应用已经越来越普遍和重要【1】， 在电子设备的电路板中， 镀有稀有金属的连接触头是各种模块互连的关键部件， 如PCB金手指就是内存处理单元的所有数据流、电子流与内存插槽的连接点。因此， 其镀层的化学成分及镀层元素的纵向深度剖面分布与电路板的耐蚀
1 引 言 金属镀层在电子设备产品中的应用已经越来越普遍和重要【1】， 在电子设备的电路板中， 镀有稀有金属的连接触头是各种模块互连的关键部件， 如PCB金手指就是内存处理单元的所有数据流、电子流与内存插槽的连接点。因此， 其镀层的化学成分及镀层元素的纵向深度剖面分布与电路板的耐蚀
虽然贵金属的物理化学性能都很稳定,但在日常复杂的佩戴、收藏环境,依旧会受到腐蚀和磨损,使其表面变得暗淡,粗糙。本文在离子注入相关理论的分析基础上,制定了在银基体的首饰表面进行离子注入钛碳的方案。利用离子注入技术在银表面注入钛碳形成表面改性层,并对改性层的形貌、注入元素的分布和相结构分别进行显微照相、
现用自偏压辅助的射频磁控溅射在硅基片上生长氮化硼薄膜,用傅里叶变换红外光谱和俄歇电子能谱测定薄膜中立方结构的含量以及氮硼的组分比。分别研究了工作气体中氮气的含量、基片的温度和基片的偏压对立方结构生长的影响。实验结果显示:薄膜组分是否达到氮硼比为1的化学配比条件是立方结构能否生长的关键;通过选择工作气
利用三维视频显微镜、扫描电镜、X射线荧光光谱、俄歇电子能谱等实验手段,分析了重庆大足千手观音造像多层金箔的成分。实验结果发现,千手观音曾历代贴金,而历代保留下来的金箔含金量是不同的。
分别介绍了用于镀锌板钝化膜层形貌、厚度测试的扫描电镜显微测试技术、原子力显微测试技术、椭圆偏振光谱测试技术,以及用于成分分析测试的X射线光电子能谱测试技术、能谱和俄歇电子能谱测试技术、红外光谱测试技术的特点和应用情况,揭示了镀锌板钝化剂未来研究发展方向。
介绍了电镀锡薄钢板氧化膜和钝化膜的分析检测方法,包括传统的化学分析方法、电化学分析方法和现代表面分析技术,如X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)、辉光放电光谱(GDS)以及电子探针微区分析(EPMA)等。
Ti-4Al-2V和Ti-2Al-2.5Zr合金是近年我国开发的两种新型α钛合金,具有低强度、高塑性、耐腐蚀、抗氧化、易焊接以及高低温性能好等特点,主要以管材形式用作航空、舰船以及核反应堆等领域热交换器中的管路系统。由于工作介质为高温、高压、水蒸汽,并且要求能长时间安全运行,详细而系统地研究地这两种
采用磁控溅射制备Co（200nm）/6H-SiC异质结,在500-1000℃下退火,通过X-射线衍射（XRD）、俄歇电子能谱散射（AES）、拉曼光谱散射（Raman）研究接触界面的化学反应。研究表明高温下反应易生成稳定的化合物Co2Si,反应生成的C单质经扩散会富集于界面的最表面,并呈现晶态石墨和无
PHI的700Xi扫描俄歇电子能谱仪(AES) 提供高性能的扫描俄歇电子(AES) 频谱分析，俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括：纳米材料，催化剂，金属和电子设备。维持基于PHI CMA的核心俄歇仪器性能，和响应了用户所要求以提高二次电子（SE）成像性能和高能量分辨率光谱。PHI的同轴镜
采用俄歇电子能谱 ( AES)和傅里叶红外光谱 ( FTIR)分析低温 PECVD法形成纳米级 Si Ox Ny 介质膜的微观组分结构及其与制膜工艺间关系 ,通过椭圆偏振技术测试该薄膜的物理光学性能。研究结果表明 :该介质膜中氮、氧等元素均匀分布 ,界面处元素含量变化激烈 ;高、低反应气压变化对膜内
尊敬的客户，您好! 随着科学技术的日新月异，分子光谱技术有着很多突飞猛进的发展。赛黙飞世尔科技作为分析仪器行业的领导者，分子光谱产品不断推出了新的技术与应用。最新推出的Thermo Scientific DXR显微拉曼光谱仪，突破了传统拉曼光谱仪对使用人员专业程度要求的瓶颈，是专门
尊敬的老师，您好! 随着科学技术的飞速发展，分析仪器智能化不断升级，拉曼光谱仪在各种分析中有着越来越广泛的应用。为了更好的服务于广大的客户，使客户了解拉曼的最新技术及应用，赛黙飞世尔科技将举办一场拉曼技术专场交流会，热忱欢迎广大分析工作者光临! 时间：2011年3月18日(星期五)
采用金属有机化学气相沉积法在Si（111）衬底上生长了AlN外延层。高分辨透射电子显微镜显示在AlN/Si界面处存在非晶层,俄歇电子能谱测试表明Si有很强的扩散,拉曼光谱测试表明存在Si-N键,另外光电子能谱分析表明非晶层中存在Si3N4。研究认为MOCVD高温生长造成Si的大量扩散是非晶层存在的主
用金属有机化学气相沉积法在Si（111）衬底上生长了AlN外延层。高分辨透射电子显微镜显示在AlN/Si界面处存在非晶层,俄歇电子能谱测试表明Si有很强的扩散,拉曼光谱测试表明存在Si-N键,另外光电子能谱分析表明非晶层中存在Si3N4。研究认为MOCVD高温生长造成Si的大量扩散是非晶层存在的主要
近年来国内外对于材料表面问题的研究非常活跃。材料表面深度剖面分析方法不仅能像均质材料的分析方法那样获得表面元素含量的信息,而且能够用来表征从表面到基体各元素成份的纵深分布情况。为了解当前材料表面深度剖面分析技术及发展状况,文章从各类高能粒子入射样品表面的分析机理入手,介绍了二次离子质谱法、俄歇电子能
集成电路器件特征尺寸急剧缩小对源漏材料与衬底的接触势垒提出了新的挑战。各种新型的低势垒材料和新型硅化物制备方式不断涌现。其中具有较低金属功函数的稀土金属（如Er、Yb等）已经被证明在N型衬底硅上可以形成非常低势垒的硅化物,是目前国内外关注较多下一代硅化物的备选材料。同时,随着High-k技术以及肖特
为进一步提高高校优质仪器设备资源的利用率，帮助中小企业开展科研人才队伍建设、提升科研人才的大型贵重仪器理论知识水平和实际操作技能，提高仪器企业的科技创新能力和核心竞争力，北京科学仪器装备协作服务中心委托首都科技条件平台北京大学研发实验服务基地，组织技术专家和学术专家，面向企业用户开展大型仪器设备
据物理学家组织网近日报道，美国麻省理工学院(MIT)的研究人员开发出一种可用于测定系外行星质量的新技术，只使用恰逢其经过恒星之前“蘸”着光的信号，即可揭示出该行星的质量。该研究成果刊登在近日出版的《科学》杂志上。 迄今为止，科学家已经证实太阳系外存在900多个行星。为了确定这些遥远的星球是
各有关单位： 为了交流拉曼光谱仪的应用技术，提高拉曼光谱仪的应用水平，促进拉曼光谱法在食用油品鉴定及其他领域中的应用发展，积极推动科学仪器的研究、发展和应用。北京市理化分析测试中心与北京赛伯乐仪器有限公司、北京理化分析测试学会拟定于2014年3月21日在北科大厦共同举办“拉曼光谱在食用油品
各有关单位： “第三届中国食品与农产品质量安全检测技术国际论坛暨展览会(简称 CFAS 2014)”筹备工作已就绪，在学界与业界的院士、专家、学者、企业家的大力支持下，将有60场高水平的学术报告及壁报交流，同时将有约100家国内外知名企业参展，大会将于2014年5月6日-8日在北京国际
各有关单位： “第十届中国在线分析仪器应用及发展国际论坛暨展览会（简称 CIOAE 2017）”筹备工作已就绪，在学界与业界的院士、专家、学者、企业家的大力支持下，将有70场高水平的学术报告及壁报交流，同时将有约100家国内外知名企业参展，大会将于2017年11月7日-8日在国家会议中心召开。
各有关单位： “第九届中国在线分析仪器应用及发展国际论坛暨展览会（简称 CIOAE 2016）”筹备工作已就绪，在学界与业界的院士、专家、学者、企业家的大力支持下，将有70场高水平的学术报告及壁报交流，同时将有约100家国内外知名企业参展，大会将于2016年11月22日-23日在国家会议中心召
第二十三届“全国光谱仪器学术研讨会”将于2019年11月21~23日在上海召开，会议由上海理工大学与中国仪器仪表学会分析仪器分会光谱仪器学术专家组联合主办，由庄松林院士、田中群院士担任大会主席，张大伟教授担任执行主席。本次大会将邀请国内外光谱领域著名专家学者出席，交流在光谱研究和仪器技术方面取得
各有关单位： “第四届中国食品与农产品质量安全检测技术国际论坛暨展览会（简称 CFAS 2015）”筹备工作已就绪，在学界与业界的院士、专家、学者、企业家的大力支持下，将有70场高水平的学术报告及壁报交流，同时将有约100家国内外知 名企业参展
尊敬的先生/女士： 作为全球科学服务领域的领导者，赛默飞世尔科技以卓越的产品性能、创新的分析技术和优秀的售后服务得到了广大用户的不断认可。全国各地有越来越多的用户使用我们的各类仪器，行业客户对赛默飞世尔科技的一流技术与可靠服务青睐有加。 为了与更多的业界人士分享分析测试技术的杰出成果，共