高功率射频及微波无源器件中的考虑和限制（二）
适配器和终端 由于每个适配器和终端都会引入不必要的插入损耗和反射，因此仔细选择正确的组件可以防止不必要的信号降级并可能对敏感电子设备造 适配器和终端有多种形式，通常是同轴或波导，用于高功率应用。另外，适配器可能更复杂，因为适配器任一端的尺寸和类型可能不同。此外，适配器本身可能引入转弯或弯曲。 必须仔细检查适配器的功率和频率范围，特别是如果适配器是波导到同轴转换。波导自然只能使频带范围的带宽以高信号保真度传输，其中同轴技术仅具有截止频率。然而，不同的同轴连接器类型也具有不同的功率和频率容量。如果适配器是两种不同同轴连接器类型之间的过渡，则频率，功率处理，PIM，插入损耗和其他参数将受到影响。 现代模拟器现在包括EM和热模拟，用于预测滤波器或其他无源元件器件中的热行为和应力。 终端首当其冲地耗尽设备内潜在的极端RF能量。通常，用于高功率应用的终......阅读全文
高功率射频及微波无源器件中的考虑和限制－（二）
适配器和终端 由于每个适配器和终端都会引入不必要的插入损耗和反射，因此仔细选择正确的组件可以防止不必要的信号降级并可能对敏感电子设备造 适配器和终端有多种形式，通常是同轴或波导，用于高功率应用。另外，适配器可能更复杂，因为适配器任一端的尺寸和类型可能不同。此外，适配器本身可
高功率射频及微波无源器件中的考虑和限制－（一）
RF和微波无源元件承受许多设计约束和性能指标的负担。根据应用的功率要求，对材料和设计性能的要求可以显着提高。例如，在高功率电信和军用雷达/干扰应用中，需要高性能水平以及极高功率水平。许多材料和技术无法承受这些应用所需的功率水平，因此必须使用专门的组件，材料和技术来满足这些极端的应用要求。
光无源器件的功率计
功率计探测器的材料大致决定了功率计的整体性能，一般有Ge、Si、InGaAs等材料的探测器，除此之外还有一种低偏振反映度(PDR)探测器，这种探测器是在InGaAs探测器的基础上添加一些材料使得其对PDL非常不敏感，所以很适合用于PDL的测试。 除了材料之外，探测器面积是决定其用途的重要参数，
射频无源器件自动测试系统NSAT1000
1. 系统优势>>改进传统测试工序复杂、测试合格率不稳定的问题>>一键完成各类测试，自动生成各类测试报告>>提高测试效率50倍2. 系统概述>>系统控制测试终端——矢量网络分析仪。>>系统可自动测量射频无源器件包括射频连接器、射频线缆、滤波器、功分器、天线、放大器、衰减器、混频器、耦合器、屏蔽材料等
使用微型模块SIP中的集成无源器件（二）
分立元件的局限性过去，无源元件是分立的，这意味着它们是分别制造的，并且在电路中通过印刷电路板（PCB）上的导线或电源轨相连。随着时间的推移，它们沿着三条路径发展演变：更小的尺寸、更低的成本和更高的性能。这些发展现在已经很成熟并经过了优化，但是占位尺寸和高度尺寸意味着分立无源元件总是限制了缩小整体解决
基于ADS的射频微波元器件模型库构建（二）
3.3.1 线性模型提取对于线性模型，通常可以使用n端口散射矩阵（S参数）来进行描述。S参数使用入射电压波和反射电压波的方式定义网络的输入、输出关系，从而表征整个网络的特性。S参数采用Touchstone文件格式，也被称作SnP文件。使用矢量网络分析仪，可以直接生成SnP文件。大多数无源器件都可以使
应用于射频的集成无源器件硅基转接板技术
摘要 展示了一种应用于射频微系统领域的可以集成射频无源器件的硅基转接板结构。该结构将电感、电容、电阻、传输线和 TSV 等集成在适用于微波应用的高阻硅衬底上，可实现芯片级的CMOS 、 MMIC 及 MEMS 多种不同材料器件集成。采用这种方法制备的传输线损耗在 40 GH
光无源器件简介
光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分，也是其它光纤应用领域不可缺少的元器件。具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性、稳定性、机械耐磨性和抗腐蚀性、易于操作等特点，广泛应用于长距离通信、区域网络及光纤到户、视频传输、光纤感测等等。
光无源器件激励源相关介绍
测试光源是测试系统的激励源，由于用于测试而非用于传输，一般来说不需要功率太高，激光光源0dBm，宽谱源-10dBm/nm足以满足测试要求。同样因为是用于测试，光源的功率稳定度相当重要，除此之外还有一个相干长度的问题。其实任何激光光源都有相干长度的问题，一般FP或DFB激光光源的相干长度为1，00
Q开关的类型
声光Q开关最常见的Q开关类型就是声光调制器。只要声波关闭，晶体或者玻璃片产生的透射损耗就非常小，但是声波打开后，会产生很强的布拉格反射，每次通过产生的损耗在50%左右，在线性激光谐振腔中通过两次会产生75%的损耗。为了产生声波，电子学驱动器需要功率在1W的射频功率（或者在大孔径器件中需要几个瓦特）和
Q开关的类型
声光Q开关最常见的Q开关类型就是声光调制器。只要声波关闭，晶体或者玻璃片产生的透射损耗就非常小，但是声波打开后，会产生很强的布拉格反射，每次通过产生的损耗在50%左右，在线性激光谐振腔中通过两次会产生75%的损耗。为了产生声波，电子学驱动器需要功率在1W的射频功率（或者在大孔径器件中需要几个瓦特）和
使用微型模块SIP中的集成无源器件（三）
使用ADI的集成无源器件（iPassives）如前所述，高质量的无源器件一直是ADI多年来众多产品所实现的电路性能的核心。在此期间，无源器件的范围不断扩大并且质量不断提高，集成无源器件产品组合现在包含大量元件。集成无源器件采用模块化工艺，这意味着只有在需要特定元件时才需要执行生产某种类型无源器件所需
使用微型模块SIP中的集成无源器件（一）
简介集成无源器件在我们的行业中并不是什么新事物——它们由来已久且众所周知。实际上，ADI公司过去曾为市场生产过这类元件。当芯片组将独立的分立无源器件或者是集成无源网络作为其一部分包含在内时，需要对走线寄生效应、器件兼容性和电路板组装等考虑因素进行仔细的设计管理。虽然集成无源器件继续在业界占据重要地位
光无源器件测试方法简介
光无源器件测试是光无源器件生产工艺的重要组成部分，无论是测试设备的选型还是测试平台的搭建其实都反映了器件厂商的测试理念，或者说是器件厂商对精密仪器以及精密测试的认识。不同测试设备、不同测试系统搭建方法都会对测试的精度、可靠性和可操作性产生影响。本文简要介绍光无源器件的测试，并讨论不同测试系统对精
简述光无源器件的工作原理
光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分。它是一种光学元器件，其工艺原理遵守光学的基本规律及光线理论和电磁波理论、各项技术指标、多种计算公式和各种测试方法，与纤维光学、集成光学息息相关；因此它与电无源器件有本质的区别。在光纤有线电视中，其起着连接、分配、隔离、滤波等作用。实际上光无源器件有很多种，
简介光无源器件光源的选择
除了相干长度，激光光源信噪比是另一个关键参数，激光光源的信号与源自发辐射噪声的比值(S/SSE)是限制测试动态范围的关键因素。如果S/SSE只有60dB，那么当测试65dB的滤光片时由于滤光片不能滤去自发辐射噪声，所以测试只能显示60dB，导致测试失败。一般而言，可调谐激光光源的S/SSE有75
光无源器件的跳线相关介绍
将一根光纤的两头都装上插头，称为跳线。连接器插头是跳线的特殊情况，即只在光纤的一头装有插头。在工程及仪表应用中，大量使用着各种型号、规格的跳线，跳线中光纤两头的插头可以是同一型号，也可以是不同的型号。跳线可以是单芯的，也可以是多芯的。跳线的价格主要由接头的质量决定。因而价格也相差较大。在选用跳线
光无源器件光开光的分类
根据其工作原理，光开关可分为机械式和非机械式两大类。机械式光开关靠光纤或光学元件移动使光路发生改变，目前市场上的光开关一般为机械式，其优点是插入损耗低，一般小于1.5dB；隔离度高，一般大于45dB，不受偏振和波长的影响。非机械式光开关则依靠电光效应、磁光效应、声光效应以及热光效应来改变波导折射
基于微波光子技术的构架和路线探讨－（六）
3.4 微波光子相控阵的研究技术路线 前已述及，从面向工程应用角度考虑，一个性能更强大和使微波光子技术更接近实际应用的技术手段应当是光电混合集成。通过集成，长光纤引起的环境因素相关的系统不稳定性被显著消除；平台载荷受限的压力得到显著缓解；同时，通过集成实现批量生产，才可显著降低光学器件的成
基于ADS的射频微波元器件模型库构建（一）
仿真是早期验证最重要、最直观的手段，也是研发过程中发现问题和优化设计的重要途径。本文针对不同类型器件，提出了基于原理图模型、行为级模型以及测试模型，建立射频微波模型库。其中，使用基于测试结果的X参数能够成功对放大模块、检波器、混频器等非线性器件进行有效建模。统一的射频元器件模型平台将使现有的元器件参
基于HFSS的射频微波系统设计仿真平台介绍
一、概述：射频/微波电路是雷达、导航、测控、制导、通信和电子对抗系统的重要组成部分，对系统的性能和可靠性有重要影响。随着小型化要求和系统指标包括发射功率、接收灵敏度、工作带宽、通道一致性的不断提高，对射频微波有源和无源电路提出了更高的要求，进一步加大了设计难度，主要体现在：1)、技术指标高，设计调试
3D打印毫米波太赫兹无源器件（二）
2. History of the 3D Printing TechnologyGenerally, the 3D printing technologies could be categorized as binding and depositing in terms of process
光无源器件测试系统相关介绍
所谓测试系统主要是指两个以上测试表或模块联合工作，形成组合之后新的操作界面，并完成自动测试的测试设备。传统系统搭建是通过一台计算机，用GPIB口控制几台光测试仪表进行，这里着重介绍通过模块组装系统的方法。其主要思路是，测试主机本身就是一台标准电脑，测试主机带有5个插槽，可以插入测试模块，组成简单
光无源器件的相关测试方法简介
由于测试光先通过回损仪再通过偏振控制器，所以光源输出端与偏振控制器输入端之间的光偏振状态不会发生大的变化，也就是说系统可测得较准确的DUT PDL值。然而问题还没有解决，PDL是可以了，但回波损耗测试却受到影响。我们知道，测试DUT回波损耗需要先测出测试系统本身的回光功率，然后测出系统与DUT共
关于光无源器件光纤的相关介绍
光纤活动连接器，俗称活接头，国际电信联盟（ITU）建议将其定义为“用以稳定地，但并不是永久地连接两根或多根光纤的无源组件”（CCITT第VI研究组1992年3月于 日内瓦通过）。是用于光纤与光纤之间进行可拆卸（活动）连接的器件.它是把光纤的两个端面精密对接起来，以使发射光纤输出的光能量能最大限度
光无源器件光开光的相关介绍
光开关是一种光路控制器件，起着切换光路的作用，在光纤传输网络和各种光交换系统中，可由微机控制实现分光交换，实现各终端之间、终端与中心之间信息的分配与交换智能化；在普通的光传输系统中，可用于主备用光路的切换，也可用于光纤、光器件的测试及光纤传感网络中，使光纤传输系统，测量仪表或传感系统工作稳定可靠
高功率固态功率源及其标准化通过现场测试
原文地址：http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/9/508518.shtm 加速器驱动嬗变研究装置（简称“CiADS”）是中国科学院近代物理研究所承担建设的国家重大科技基础设施，将建成全球首个兆瓦级加速器驱动次临界系统（ADS）研究装置。大型加速器的工业
常见的功率半导体器件有哪些？（二）
5、PEBB（PowerElectricBuildingBlock）电力电子积木PEBB（PowerElectricBuildingBlock）是在IPEM的基础上发展起来的可处理电能集成的器件或模块。PEBB并不是一种特定的半导体器件，它是依照最优的电路结构和系统结构设计的不同器件和技术的
石墨烯薄膜可冷却高功率电子器件
随着设备和组件变得越来越小，在未来超高效电子系统的开发中，电子和光电子的散热是一个严重问题。现在，瑞典查尔姆斯理工大学的研究人员开发出一种通过功能化石墨烯纳米薄片高效冷却电子器件的技术，或可为解决这一问题铺平道路。相关研究成果发表在最新一期的《自然·通讯》杂志上。 在实验中，科学家研究了被固
石墨烯薄膜可冷却高功率电子器件
随着设备和组件变得越来越小，在未来超高效电子系统的开发中，电子和光电子的散热是一个严重问题。现在，瑞典查尔姆斯理工大学的研究人员开发出一种通过功能化石墨烯纳米薄片高效冷却电子器件的技术，或可为解决这一问题铺平道路。相关研究成果发表在最新一期的《自然·通讯》杂志上。 在实验中，科学家研究了被固定