光电直读光谱仪分析时对被检测样品的要求
光电直读光谱仪分析时对被检测样品有什么要求?应该如何制样? 为了获得准确的分析结果，要求样品： 1、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷； 2、样品表面必须平整，可以完全盖住激发孔隙； 3、样品表面必须清洁、不得污染，不能带有其他物质，也不能用手摸； 制样要求：一般情况下，铝、铜等有色金属基体的试样需要车或铣，铁、镍等黑色金属基体的试样可以磨制铸态试样需要先切割。要求磨制后的样品表面平整洁净、纹路清晰、温度适宜。另外，不同基体的样品尽量不要在同一砂纸制样。 其中铸铁必须白口化后才能分析，白口化时应注意以下几点： 1、一般多用样模浇铸，样模尽量取直径35-40mm，厚6-8mm，这样试样冷却快，白口好，待铁水浇后30秒左右取出，开水浇再冷水冷。 2、不要浇铸过快，避免偏析； 3、尽量选取砂模，减少缩孔和夹杂。 标签:光电直读光谱仪 ......阅读全文
光电直读光谱仪分析时对被检测样品的要求
光电直读光谱仪分析时对被检测样品有什么要求?应该如何制样? 为了获得准确的分析结果，要求样品： 1、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷； 2、样品表面必须平整，可以完全盖住激发孔隙； 3、样品表面必须清洁、不得污染，不能带有其他物质，也不能用手摸； 制样要求：一般情况下，
光电直读光谱仪对被检测样品的要求
光电直读光谱仪对被检测样品的要求 1、样品表面必须清洁、不得污染，不能带有其他物质，也不能用手摸； 2、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷； 3、样品表面必须平整，可以完全盖住激发孔隙； 制样要求：一般情况下，铝、铜等有色金属基体的试样需要车或铣，铁、镍等黑色金属基体的试样可以磨制（铸态试样需要先
光电直读光谱仪对被检测样品的要求
1、样品表面必须清洁、不得污染，不能带有其他物质，也不能用手摸； 2、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷； 3、样品表面必须平整，可以完全盖住激发孔隙； 制样要求：一般情况下，铝、铜等有色金属基体的试样需要车或铣，铁、镍等黑色金属基体的试样可以磨制（铸态试样需要先切割）。要求磨制后的样品表面平整洁
光电直读光谱仪对被检测样品的要求
1、样品表面必须清洁、不得污染，不能带有其他物质，也不能用手摸； 2、不能有沙眼、小孔、偏析等缺陷； 3、样品表面必须平整，可以完全盖住激发孔隙； 制样要求：一般情况下，铝、铜等有色金属基体的试样需要车或铣，铁、镍等黑色金属基体的试样可以磨制（铸态试样需要先切割）。要求磨制后的样品表面平整洁净
光电直读光谱仪对于测试样品的要求
光电直读光谱仪对于测试样品的要求是怎样的？ 主要是用于铁基、铜基、铝基材料的分析。具体要求是只要测试精确度与传统分析实验室方法相当就可以了。 对测试样品的要求:块状,导电
光电直读光谱仪的选购要求
光电直读光谱仪一般是由制造厂家根据用户的分析任务在出厂前调整好的。仪器上的通道数量、分析元素的含量范围、分析线和内标线的选择等，调整好以后，都是固定的。选择仪器应注意以下事项：(1)光源发生器的选择为进行多种样品和元素的分析，需要各种发生器。同时测定多种元素时，根据测定范围选一种激发方法。火花光源比
光电直读光谱仪的选购要求
光电直读光谱仪一般是由制造厂家根据用户的分析任务在出厂前调整好的。仪器上的通道数量、分析元素的含量范围、分析线和内标线的选择等，调整好以后，都是固定的。选择仪器应注意以下事项：(1)光源发生器的选择为进行多种样品和元素的分析，需要各种发生器。同时测定多种元素时，根据测定范围选一种激发方法。火花光源比
光电直读光谱仪对于测试样品的要求是怎样的？
主要是用于铁基、铜基、铝基材料的分析。具体要求是只要测试精确度与传统分析实验室方法相当就可以了。 对测试样品的要求:块状,导电
光电直读光谱仪接地安装要求
1、接地电阻要小于2Ω。接地电阻的大小可以定义接地电流的大小，接地电阻值越小，接地装置的接地电压值也就越小。这就是说接地电阻值的大小，标志着设备接地性能的好与坏。2、接地电阻的测量接地电阻一般可用电流表—电压表、电桥法、接地电阻测量仪等来测量，目前都采用接地电阻测量仪来进行测量，此方法即简单又方便。
光电直读光谱仪标准样品选用原则
1、组成标样的各元素的含量要准确，化学定值结果要准确可靠。 2、标样中的各组成分要分布均匀。化学成分的均匀性和光谱均匀性要好。 3、标样和分析试样的组成要基本一致。这是考虑到分析工作中第三元素存在的影响，然而第三元素可以在一定范围内变化，但不一定影响分析结果，这个范围要通过实验来确定。
光电直读光谱仪分析的误差分析
在计算机、光电技术等的推动和支持下，光电直读光谱仪分析凭借其操作简单、准确度高、分析面广、速度较快等优势逐渐成为分析材料化学成分的主要方法。可是在具体实践中，其易受仪器、环境、人为等干扰致使测量结果与材料实际成分不一致，或者多次测量结果不一致，因此研究其分析误差并予以有效解决，以提高分析结果的准确性
光电直读光谱仪分析的缺陷
光电直读光谱仪分析的缺陷有以下几点。(1)由于使用出射狭缝，因此不能利用波长相近的谱线。(2)由于使用出射狭缝，PMT接收谱线的同时，还接收背景(采用BKG 175．7nm背景通道，可扣除背景的影响)。(3)出射狭缝的位置固定，分析的元素受到限制，对分析任务的变化需更改通道，选择另外的出射狭缝。(4
光电直读光谱仪分析的方法
1、内标法 直读光谱仪定量分析，一般都用内标法。但在光电直读光谱仪分析时，要安装许多内标元素通道是很困难的，因此采用同一内标线。分析时常以样品中的基体作为内标元素。所以内标线即为基体元素的一条谱线。当激发光源有波动时，组成分析线对的两条谱线的强度虽然有变化，但强度比或相对强度能保持不变。如
光电直读光谱仪对于样件有什么要求
1、要求样件是要导电的。2、样件要是块状的，非粉末，且内部组织不能为蔬松多孔。 3、试样下表面要比较光滑，且能很好的盖住激发孔。 4、有些光谱仪是封闭式的，对试样的大小有要求。
光电直读光谱仪和火花直读光谱仪
其实说的是同一类仪器，只是命名出发点不同。1. 光电的意思就是通过光电转换的原理采集每个元素所发出的不同谱线，根据强度及波长确定含量的元素性质。2. 火花的意思是从对激发来考虑的，要分析各个元素的谱线，那么谱线哪里产生呢，就是通过电火花对金属表面进行激发才产生，因为能量跃迁的原理，每个元素才会发出相
直读光谱仪分析样品时，控样发挥了什么作用？
遇到的问题 使用斯派克LAB直读光谱仪控制高镍奥氏体铸造生产过程时，遇到了这样的问题，现场技术人员反映，用同一批原材料，同一个配料单，光谱仪测出的Mn元素含量却突高突低，有时候今天不加Mn，光谱仪测出的Mn含量很高，明天Mn一直在增加，光谱仪测出的Mn含量却很低。 探讨原因
直读光谱仪分析样品时，控样发挥了什么作用？
遇到的问题 使用斯派克LAB直读光谱仪控制高镍奥氏体铸造生产过程时，遇到了这样的问题，现场技术人员反映，用同一批原材料，同一个配料单，光谱仪测出的Mn元素含量却突高突低，有时候今天不加Mn，光谱仪测出的Mn含量很高，明天Mn一直在增加，光谱仪测出的Mn含量却很低。 探讨原因
光电直读光谱仪有哪些分析方法？
直读光谱仪定量分析，一般都用内标法。但在光电直读光谱仪分析时，要安装许多内标元素通道是很困难的，因此采用同一内标线。分析时常以样品中的基体作为内标元素。所以内标线即为基体元素的一条谱线。当激发光源有波动时，组成分析线对的两条谱线的强度虽然有变化，但强度比或相对强度能保持不变。如以R表示强度比，即：
光电直读光谱仪的工作原理分析如下
光电直读光谱仪又被称为火花源原子发射光谱仪，所采用的原理是用火花的高温使样品中各元素从固态直接气化并被激发而发射出各元素的特征波长，用光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，照射在对应的光电倍增管光阴极上，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模
直读光谱仪是怎样分析样品的？
直读光谱仪分析样品是怎么样的 在直读光谱分析仪分析时，就是一个激发样品，然后分析光谱的过程。接下来为大家带来的是样品元素中分析是怎么样的。 分析元素的谱线是由原子或离子发射而产生的，而原子是由分子离解产生的，而分子离解成原子最好离解完全。 以xy表示分子，能否由xy中离解为原子xy诀定于：
光电直读光谱仪的选取
光电直读光谱仪一般是由制造厂家根据用户的分析任务在出厂前调整好的。仪器上的通道数量、分析元素的含量范围、分析线和内标线的选择等，调整好以后，都是固定的。选择仪器应注意以下事项：(1)光源发生器的选择为进行多种样品和元素的分析，需要各种发生器。同时测定多种元素时，根据测定范围选一种激发方法。火花光源比
光电直读光谱仪的组成
1．光源发生器光电光谱分析使用的光源发生器有火花发生器、电弧发生器和低压电容放电发生器等。 2．光源的电极架部分用于装载块状试样、棒状试样和对电极。块状电极架一般能装直径20mm以上的平面试样，有的使用各种样品夹具能兼用于装棒状试样、小型试样和薄板试样。在真空光电光谱仪中，光源电极架具有使用氩气气氛
光电直读光谱仪的发展
火花源光电直读原子发射光谱仪，通常简称为光电直读光谱仪，主要由激发光源、分光系统、信号测量转换系统等三大部分组成。世界上第一台商品化光电直读光谱仪于1946年问世，我国于1965年引进第一台光电直读光谱仪用于钢铁分析。如今，光电直读光谱分析已成为一项成熟的分析技术，具有样品处理简单、分析速度快、分析
火花直读光谱仪基本模块和控制样品的使用控制样品要求
火花直读光谱仪主要通过测量样品被激发时发出代表各元素的特征光谱光（发射光谱）的强度而对样品进行定量分析的仪器。 火花直读光谱仪基本可按照功能分为4个模块，即： 1、激发系统：任务是通过各种方式使固态样品充分原子化，并放出各元素的发射光谱光。 2、光学系统：对激发系统产生
火花直读光谱仪基本模块和控制样品的使用控制样品要求
火花直读光谱仪主要通过测量样品被激发时发出代表各元素的特征光谱光（发射光谱）的强度而对样品进行定量分析的仪器。 火花直读光谱仪基本可按照功能分为4个模块，即： 1、激发系统：任务是通过各种方式使固态样品充分原子化，并放出各元素的发射光谱光。 2、光学系统：对激发系统产生
火花直读光谱仪基本模块和控制样品的使用控制样品要求
火花直读光谱仪主要通过测量样品被激发时发出代表各元素的特征光谱光（发射光谱）的强度而对样品进行定量分析的仪器。 火花直读光谱仪基本可按照功能分为4个模块，即： 1、激发系统：任务是通过各种方式使固态样品充分原子化，并放出各元素的发射光谱光。 2、光学系统：对激发系统产生
X射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一
X射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一
X射线荧光光谱仪测试时对样品是否有要求
材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。你的交错规律排列指的什么?如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一
如何缩小光电直读光谱仪分析的误差？
一、实践证明，为了保证分析结果的准确，在日常工作中，应选择最佳的分析条件。 1、选择最佳的室内温度条件、湿度条件和最好的氩气纯度。 2、选择予冲洗、予燃、积分时间。 3、选择光源的放电参数。 4、辅助电极的加工和清理。5、日常的标准化工作。标准样品工作。 6、最后的测光精度。二、误差主要原因：1、氩