一文了解校准曲线测量错误的原因

理想的校正曲线应该是重现性好,通过原点的直线(在一定浓度范围内)(图1的曲线1)。这种校正曲线说明:在校正曲线范围内,被测物质含量与吸光度值的关系符合光吸收定律,空白溶液选择和配制适当,显色反应完全,包泽稳定,仪器工作情况良好等等。但在实际工作中由于仪器、试剂、试样组成、操作方法等因素的影响,得到的校正曲线可能不成直线或不通过原点,下面简单作一讨论: 1、校正曲线不成直线的原因 影响校正曲线不成直线的原因是多方面的,主要为: (1)单色光不够纯,使测得的吸光度有负误差,溶液浓度越高,测定的负误差越大,造成校正曲线上端向下弯曲(如图1中曲线2)。 (2)在标准系列中,加入试剂的量不变而被测离子浓度不断提高时,显色剂过量的程度相对地减少,导致形成不同维成的络合物,引起颜色强度的改变,校正曲线发生弯曲。 (3)由于显色产物是胶体溶液或被测离子的浓度高于一定限度时,因发生聚沉或缔舍、离介等其他化学变化,使吸光度不随浓度变化......阅读全文

检定涂层测厚仪校准要求和校准方法

 1、 外观  要求:厚度片两表面应无划痕、凹凸点等缺陷,校准方法:目测观察。 2、有效面积  ①要求:不均匀表面应标注半径大于5mm的圆面积,均匀表面厚度片面积应不小于20mm×20mm。校准方法:钢直尺测量。 3、数的平均值。 校准方法:用三等量块和立式光学计,用直接法或比较法测量标准厚度片的厚

电子天平校准方法分为内校准和外校准两种

电子天平校准方法分为内校准和外校准两种:关于电子天平的校准:(使用前一定要仔细阅读说明书) 在检定(测试)中我们发现,对天平进行计量测试时误差较大,究其原因,相当一部分仪器,在较长的时间间隔内未进行校准,而且认为天平显示零位便可直接称量。(需要指出的是,电子天平开机显示零点,不能说明天平称量

极化曲线和lsv曲线有什么不同

两者所测得的都是电流随电位的变化曲线, 本质上是没有什么区别的, 只是电流跟电位之间的表达方式不同而已.

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如何用LSV曲线做出塔菲尔曲线

将电流取绝对值,然后取对数和电位作图就可以了

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ABS外部校准分析天平校准操作步骤

用户需要定期使用E2级砝码对天平进行外部校准;德国科恩ABJ-NM为内部校准天平,天平会在连续开机的情况下每4个小时,或温度变化大于2度的情况下,进行自动内部校准。(为了内部校准的准确性,建议用户定期对天平内置砝码进行外部校准检测,同样需要使用E2级砝码)(校准操作如下:)德国科恩ABS-N系列:开

电子天平的内校准与外校准

电子天平内校: 一、天平应预热,时间大概在2-3个小时之间。  二、天平应该呈水平状,否则就要调整好。 三、天平称盘没有称量物品时,应稳定的显示为零位。 四、按“CAL"键,启动天平的内部的校准功能,稍后电子天平显示“C",表示正在进行内部校准。 五、当电子天平显示器显示为零位时,说明电子天平应已经

水分测定仪是否需要校准如何校准?

新到的水分测定仪使用前先校准一下,后期如果使用频发经常就需要校准,如果是偶尔的使用,在使用前还是要校准,冠亚水分测定仪自动校准功能一体化。

PH电极校准方法和校准注意事项

 PH电极应用领域广泛,种类繁多,所以在测量时应按说明书规定的时间周期对仪器进行校准,其校准方法均采用两点校准法。   首先选择两种标准缓冲液:一种是pH7标准缓冲液,第二种是pH9标准缓冲液或pH4标准缓冲液。   先用pH7标准缓冲液对电计进行定位,再根据待测溶液的酸碱性选择第二种标准缓冲液。如

标准厚度片的校准条件及校准方法

  标准厚度片是用于检定涂层测厚仪示值误差和示值变动性或校准涂层测厚仪的厚度标准器。标准厚度片厚度范围一般在5~1200μm内大小不等。一、标准厚度片的校准条件检测室内温度: 20℃±2℃,厚度片与量块温度平衡时间: 2h;检测室内湿度:≤65%,立式光学计预热时间:不少于15min仪器所用电源:2

KERN分析天平的校准及校准服务

KERN分析天平的校准KERN分析天平作为一种精密电子仪器,被广泛应用于实验室等科研领域。分析天平虽然比其他称重衡器精度更高,但是对于实验室人士来说,微小的误差都可能导致实验的失败,因此实验室经常要对分析天平的误差进行计算并加以分析。( 1) e≠d时, 示值误差计算公式应为E= I- L(E:天平

滴定曲线实验

仪器、耗材等电聚焦凝胶实验步骤按 “载体两性电解质 pH 梯度等电聚焦” 所述的方法配制 T=5%,C=3% 的等电聚焦凝胶,并进行等电聚焦。为使在第二向电泳时,样品分子有强的电荷,以便在短时间内完成第二向电泳,保证滴定曲线的精确性以及为使样品有完整的滴定曲线,一般应选择宽 pH 范围(pH 3.5

滴定曲线实验

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AFM曲线测量

曲线测量SFM除了形貌测量之外,还能测量力对探针-Zt(Zs)。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近,然后离开样品表面时,微悬臂和样品间产生了相对移动。而在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面,然后脱离,此时原子力显微镜/AFM测量并记录了探