基于光谱能量分析的介质厚度测量方法
摘要: 介绍了一种对厚度很小的平行玻璃平板厚度的高精度测量方法。通过激光束垂直照射被测物,用光谱仪接受并分析反射光各波长的能量。以此数据分析出介质对不同波长光线的反射率,找出反射率极大的波长。使用这些具有反射极大的波长进行计算,就得到介质的厚度值。该测量方案结构简单,测量精度较高。点击这里进入下载页面：进入下载页面......阅读全文
能量色散型x射线光谱仪的介绍
现代应用X射线荧光光谱分析技术目前已在地质、冶金、材料、环境等无机分析领域得到了广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析最重要的技术手段之一，各种与X射线荧光光谱相关的分析技术，如同步辐射XRF、全反射XRF光谱技术等，在痕量和超痕量分析中发挥着重要的作用。
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
天瑞X荧光光谱仪能量色散
目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的准确测量。射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-200
能量色散X射线荧光光谱仪介绍
能量色散X射线荧光光谱仪是根据元素辐射x射线荧光光子能量不同，经探测器接收后用脉冲高度分析器区别，进行元素鉴定，根据分析线脉冲高度分布的积分强度进行元素定量的分析方法。能量色散X射线荧光光谱仪主要用于固体、粉末或液体物质的元素分析，被广泛用于许多部门和领域,已成为理化检测、野外现场分析和过程控制分析
能量色散X荧光光谱仪性能特点
超薄窗X光管,指标达到先进水平采用数字多道技术,可以达到超高计数率,提高测试效率和精度SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率、峰背比和能谱特性低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证仪器工作的一致性高信噪比的电子线
天瑞X荧光光谱仪能量色散
目前本产品可用于稻米、小麦、谷物、烟草等作物中的重金元素镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限低可达0.03ppm。其2-3分钟能进行快速筛查，测试小于15分钟对样品的准确测量。射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》
微型光纤光谱仪的行业应用
1．颜色测量–色度仪,色度计一般来说，物体和浓稠液体的颜色测量可以使用不同的实验布局，比如使用反射型光纤探头或积分球。在该测量中，可以使用波长范围在380到780nm，分辨率（FWHM）为5nm的光谱仪；此外，还需要白光连续光源和白色反射瓦。对于测量纺织品、纸张、水果、葡萄酒、鸟类羽毛颜色等不同的应
实验室检验检测设备分光仪
光谱仪,又称分光仪,广泛为认知的为直读光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。其构造由一个入射狭缝,一个色散系统,一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域,并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两
为何要利用叶片厚度计测量叶片厚度？
不管是从事农业的专业人员还是在城市中生活的普通百姓，我们接触植物的机会都很多，而叶片是植物身上最多的部分，因此我们对于叶片也是十分了解的。一般来说，除了一些多肉植物之外，大部分的植物叶片都是薄薄的，那么这么薄的叶片，为什么还要利用叶片厚度计来测量叶片厚度呢？叶片厚度的测量意义又是什么？通
近红外光谱仪系统便携箱配置可实现极高的光学测量质量
近红外光谱仪系统便携箱配置为提高生产过程的经济效益提供了无数的可能性，体现在从原材料的实时检测到zui终产品的质量控制的生产全过程。过程分析无可比拟的优势在于对整个生产过程的自动实时控制。除了可以确保产品的质量稳定性，还可以对生产工艺过程实现全程监测并进行优化。 过程分析是一种高质量、经济
近红外光谱仪系统便携箱配置可实现极高的光学测量质量
近红外光谱仪系统便携箱配置为提高生产过程的经济效益提供了无数的可能性，体现在从原材料的实时检测到最终产品的质量控制的生产全过程。过程分析无可比拟的优势在于对整个生产过程的自动实时控制。除了可以确保产品的质量稳定性，还可以对生产工艺过程实现全程监测并进行优化。 过程分析是一种高质量、经济有效且便
能量色散荧光光谱仪应用于古董考古分析测试介绍
古陶瓷、古青铜器、古金器等金属文物和是古代文明的瑰宝，对世界文化和现代文明都具有重要的影响。现行的古器鉴定工作中,如何精确探究文物所藏成为最有待解决的问题。断源与断代是古陶瓷科学技术研究中的两个重要方面，其中必定要使用到对古陶瓷标本的化学组成以及记录其年代信息的载体进行测定的科学方法。测定古陶瓷标本
手持式矿物光谱仪准确检测分析
手持式矿物光谱仪经常会在户外使用，主要是有些金属材料的价格比较昂贵，在采购时都是以克或千克为单位来进行计算，这类的造假仅凭肉眼观察，即使是经验丰富的老师傅也很难判断，只有使用专业的质检设备手持式光谱仪来进行科学检测。赢洲科技工作人员告诉您矿物光谱仪在使用中有哪些特点。 矿物分析光谱仪的优势特点都有
傅里叶变换红外光谱仪谷类检测分析
近年来，少数造假者频频在陈旧大米中涂抹掺加植物油、矿物油，增加其亮度和光泽，冒充优质新鲜大米销售，严重危害消费者身心健康。张耀武等利用红外光谱对涂有和掺有矿物油的大米进行定性鉴别。将分离出含有矿物油的试样进行红外光谱测试，未出现 1745 cm-1脂 C=O 的伸缩振动吸收和1000~1300
X射线荧光光谱仪检测分析原理
X射线荧光光谱分析仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。 X射线荧光光谱分析仪物理原理 当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生
拉曼光谱仪检测分析常见问题
一、测试了一些样品，得到的是Ramanshift，但是文献是wavenumber，不知道它们之间的转换公式是怎么样的？激光波长632.8nm。waveshift 拉曼位移；wavenumber 波数，波长的倒数，用cm－1表示。在拉曼谱图中，横坐标表示的是拉曼位移，单位为波数。比如说硅的一阶峰其拉曼
光纤光谱仪在珠宝鉴定中的应用与发展
前言：对珠宝饰品的鉴定，主要是针对各类的宝石和玉石，在这些珠宝当中能够将光纤光谱仪的应用价值得到最大程度的体现。光纤光谱仪是在传统的光谱仪基础上进行的技术改造，经过这种改造的光纤光谱仪，在性能上较之传统的光谱仪有非常大的提升。而且其造价又比传统类型的低了很多，只有传统光谱仪的十分之一，因此被人们称为
傅立叶变换显微红外光谱仪的构成
红外光谱仪以棱镜或光栅作为色散元件，由于采用了狭缝，使这类仪器的能量受到严格的限制，扫描时间慢，灵敏度、分辨率和准确度都较低。傅里叶变换红外光谱仪没有色散元件，主要由光源、迈克尔逊干涉仪、检测器、计算机和记录仪组成。 从红外光谱发出的红外光，经迈克尔逊干涉仪干涉调频后入射至样品，透过或反射后到
傅立叶变换显微红外光谱仪(FTIR）仪器构成
红外光谱仪以棱镜或光栅作为色散元件，由于采用了狭缝，使这类仪器的能量受到严格的限制，扫描时间慢，灵敏度、分辨率和准确度都较低。傅里叶变换红外光谱仪没有色散元件，主要由光源、迈克尔逊干涉仪、检测器、计算机和记录仪组成。 从红外光谱发出的红外光，经迈克尔逊干涉仪干涉调频后入射至样品，透过或反射后到
圆二色光谱仪的原理与应用
圆二色光谱仪中的每个恒电位仪与外部电流扩展器通道连接，可以在10μs 内从电位控制快速切换到电流控制，它是电化学测试的完美选择。通过PC的USB接口或以太网连接来控制，以太通讯允许VMP3在局域网内安装，以便众多用户进行远程访问。 圆二色光谱仪温度效应，可获得分子振动或转动能级数变化等方
光纤光谱仪在显微光谱分析中的应用
显微光谱分析又称微区光谱分析，是通过光学显微镜等辅助光学设备，采集微小区域的光信号进行样品光谱分析的一种方法。 显微光谱分析是对比普通光谱分析而言。通常普通光谱分析是指普通光纤光谱仪通过光纤将光信号导入光谱之中。但是由于光纤收集的是发散光(一般光谱光纤数值孔径为0.22)，因此普通光纤光谱仪仅能采集
光纤光谱仪在显微光谱分析中的应用
显微光谱分析又称微区光谱分析，是通过光学显微镜等辅助光学设备，采集微小区域的光信号进行样品光谱分析的一种方法。 显微光谱分析是对比普通光谱分析而言。通常普通光谱分析是指普通光纤光谱仪通过光纤将光信号导入光谱之中。但是由于光纤收集的是发散光(一般光谱光纤数值孔径为0.22)，因此普通光纤
光纤光谱仪在显微光谱分析中的应用
显微光谱分析又称微区光谱分析，是通过光学显微镜等辅助光学设备，采集微小区域的光信号进行样品光谱分析的一种方法。 显微光谱分析是对比普通光谱分析而言。通常普通光谱分析是指普通光纤光谱仪通过光纤将光信号导入光谱之中。但是由于光纤收集的是发散光(一般光谱光纤数值孔径为0.22)，因此普通光纤光谱仪仅
光纤光谱仪在显微光谱分析中的应用
显微光谱分析又称微区光谱分析，是通过光学显微镜等辅助光学设备，采集微小区域的光信号进行样品光谱分析的一种方法。 显微光谱分析是对比普通光谱分析而言。通常普通光谱分析是指普通光纤光谱仪通过光纤将光信号导入光谱之中。但是由于光纤收集的是发散光(一般光谱光纤数值孔径为0.22)，因此普通光纤光
光学薄膜检测和测水质的光纤光谱仪科谱介绍
在薄膜的实际生产过程中，由于各方面因素的影响，薄膜表面会出现诸如孔洞、蚊虫、黑点、晶点、划伤、斑点等瑕疵，严重影响了薄膜的质量，给生产商带来了不必要的损失。人眼往往不能及时准确的判断出瑕疵，而薄膜表面瑕疵缺陷检测系统能在线对生产过程中产生的表面缺陷瑕疵进行高速、精确的检测，显示和识别薄膜表面上的
可测量覆层的厚度
利用永久磁铁测头与导磁钢材之间的吸力大小与处于两者之间的距离成一定比例关系可测量覆层的厚度，这个距离就是覆层的厚度，所以只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可以进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成形，所以磁性测厚仪应用zui广。测量仪基本结构是磁钢，拉簧，标尺及自停机构。当磁钢与
蛋壳厚度测量仪
蛋壳厚度测量仪日本FHK广泛应用于各个动物营养、畜牧院校、食品院校以及科研单位使用，非常适合类似蛋壳表面等球面物体的厚度测定，测定精度为1/100mm.操作简单,只需将蛋壳夹在测定接点和测定子之间便可迅速,准确得出测定结果。 技术参数： 1.测量精度为：1/100mm； 2.尺寸/重量：9
如何测量湿膜厚度
涂装规格书中会规定漆膜厚度的zui小值和zui大允许值。所以因此必须在对漆膜厚度进行有效地控制。湿膜厚度（WFT）可以在施工后立即进行检查。通常这一点应该由施工者自己在施工中定期间隔进行检查，不作为必须的涂层质量检测要求。所使用的湿膜测厚仪有梳齿状（英国易高Elcometer112/ Elcomet
透过涂层测量金属厚度
应用： 精确测量金属管道、压力容器、横梁、船体以及其他带油漆层或类似涂层构造物的剩余壁厚。 背景： 在许多工业和石化产品维护情况中，对那些经常遭受到腐蚀穿透一层或多层油漆层的金属测量其剩余厚度是非常需要的。采用常规的超声测厚仪，漆层或类似涂层的存在会产生测量错误，典型地，由
斯派克光谱仪测量原理相关
PMT的测量原理是光电效应，CCD是电荷耦合；CCD不受通道数量的限制因为它是全谱检测器，这一点PMT不行，因为PMT是一个对应一个波长，这是CCD 的最大优势，基于此可以将光谱仪小型化；但是CCD只能检测一级光谱而PMT可以检测更高级次的光谱；作为商品仪器CCD的价格要比CPM型仪器便宜。