日本理学X射线荧光光谱仪对风化堆积岩的元素分析方法
矿石开采及矿石判定需要的准确的进行分析测定广州仪德科学代理的日本理学X射线荧光光谱仪可以轻松解决，下面通过实际案例分享测定方法，为矿产行业提供宝贵经验。 为对局部变色堆积岩的变色原因进行无损检查，使用X射线荧光分析仪作CCD定点分析及元素分布分析。CCD定点分析和元素分布分析是根据仪器内置的CCD相机和样品台驱动装置的组合，任意位置进行测试的方法。就此分析而言，这是一种非常有效的测试方法。 这次以分析面积为0.5mm?的小分析直径进行元素分布分析。即使是小直径分析，也可得到很高的精度，在短时间内得到满意的结果。 实验操作部分 一、样品处理及设备 1、日本理学波长色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱仪 2、样品不做处理。 二、测试条件 三、测试结果 样品表面的放大图象和根据分析面积1mm?的定性分析结果如图-1所示。从定性图表上可见深色区域（变......阅读全文
日本理学X射线荧光光谱仪对风化堆积岩的元素分析方法
矿石开采及矿石判定需要的准确的进行分析测定广州仪德科学代理的日本理学X射线荧光光谱仪可以轻松解决，下面通过实际案例分享测定方法，为矿产行业提供宝贵经验。 为对局部变色堆积岩的变色原因进行无损检查，使用X射线荧光分析仪作CCD定点分析及元素分布分析。CCD定点分析和元素分布分析是根据仪器
日本理学X射线荧光光谱仪对风化堆积岩的元素分析方法
矿石开采及矿石判定需要的准确的进行分析测定广州仪德科学代理的日本理学X射线荧光光谱仪可以轻松解决，下面通过实际案例分享测定方法，为矿产行业提供宝贵经验。 为对局部变色堆积岩的变色原因进行无损检查，使用X射线荧光分析仪作CCD定点分析及元素分布分析。CCD定点分析和元素分布分析是根据仪器
新型X射线荧光光谱仪对微量元素的分析研究
X射线荧光光谱法适用于对物质成分分析,可直接对固体(块状或粉末状)和液体样品中主量元素、微量元素进行多元素同时分析。当结合薄样技术时,具有高灵敏度,用样量少等优点。随着分析技术的发展和科研水平的提高,分析领域愈发关注待测成分复杂和含量低等特点课题,对仪器本身提出更高要求。本课题组由田宇纮教授带领下在
新型X射线荧光光谱仪对微量元素的分析研究
X射线荧光光谱法适用于对物质成分分析,可直接对固体(块状或粉末状)和液体样品中主量元素、微量元素进行多元素同时分析。当结合薄样技术时,具有高灵敏度,用样量少等优点。随着分析技术的发展和科研水平的提高,分析领域愈发关注待测成分复杂和含量低等特点课题,对仪器本身提出更高要求。本课题组由田宇纮教授带领下在
实验应用波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析
X射线荧光光谱仪对矿石领域的金属元素分析有着丰富的经验及完整的配套方案，下面分享通过日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析。 俗称御影石的花岗岩属于酸性深成岩，是由石英，斜长石，云母，角闪石等构成的矿物质。在此介绍如何使用ZSX新功能---CCD相机和样品台驱动装置组合，对花岗岩进
实验应用波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析
X射线荧光光谱仪对矿石领域的金属元素分析有着丰富的经验及完整的配套方案，下面分享通过日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析。 俗称御影石的花岗岩属于酸性深成岩，是由石英，斜长石，云母，角闪石等构成的矿物质。在此介绍如何使用ZSX新功能---CCD相机和样品台驱动装置组合，对花岗
新型X射线荧光光谱仪对微量元素的分析研究
X射线荧光光谱法适用于对物质成分分析,可直接对固体(块状或粉末状)和液体样品中主量元素、微量元素进行多元素同时分析。当结合薄样技术时,具有高灵敏度,用样量少等优点。随着分析技术的发展和科研水平的提高,分析领域愈发关注待测成分复杂和含量低等特点课题,对仪器本身提出更高要求。本课题组由田宇纮教授带领下在
实验应用波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析
X射线荧光光谱仪对矿石领域的金属元素分析有着丰富的经验及完整的配套方案，下面分享通过日本理学波长色散X射线荧光光谱仪对花岗岩的元素分析。 俗称御影石的花岗岩属于酸性深成岩，是由石英，斜长石，云母，角闪石等构成的矿物质。在此介绍如何使用ZSX新功能---CCD相机和样品台驱动装置组合，对花岗
理学推出全反射X射线荧光光谱仪－镉元素检测有优势
近日，日本理学宣布推出新一代理学NANOHUNTER II台式全反射X射线荧光（TXRF）光谱仪，液体或固体表面高灵敏度痕量元素分析达到ppb水平。全反射X射线荧光光谱通过一种途径使X射线入射光束刚好擦过样品，来实现低背景噪音、高灵敏度的超微量元素测量。NANOHUNTER II台式全反射X射线
X射线荧光光谱仪测量元素范围
X射线荧光光谱仪可以对各种样品的元素组成进行定量分析，包括压片、融珠、粉末液体、甚至是庞大的样品。它使用一种高功率X射线管达到了检测限低和测量时间短的效果。轻元素的zui佳检测也通过优激发、检测和真空模式的结合而实现所以成本低。 X射线荧光分析仪测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（
波长色散X射线荧光光谱仪快速定量元素分析
低原子序数性能、Mapping分析和多点分析 提供的性能和灵活性用来分析复杂样品，结合了较为先进的Mapping分析包来检测均质性和夹杂物，ZSX Primus中具有一个30μm的X射线管（工业中薄端窗的X射线管），用于特殊轻元素（低原子序数）检出限。ZSX Primus简单地提供了其他分析方法无法
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪的分析方法介绍
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点，分为波长色散、能量色散、非色散X荧光、全反射X荧光。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。X射线荧光光谱法有如下特点： 分析的元素范围广，从4Be到92U均可测定；荧光X射线谱线简单，相互干扰少，样品不必分离，分析方
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
X射线荧光光谱仪可以测哪些元素
一般从钠（11）~铀（92）之间的元素都可以测试（元素周期表上11~19号元素）
X射线荧光光谱仪X射线防护系统的故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合
X射线荧光分析方法的简介
X射线荧光分析方法是一种现代光学分析方法。X射线照射物质时，除发生散射现象和吸收现象外，还能产生次级X射线，即荧光X射线。荧光X射线的波长只取决于物质中原子的种类。因此，根据荧光X射线的波长就可确定物质的元素组分；再根据该荧光X射线的强度，还可定量分析所属元素的含量。20世纪50年代开始发展，6
X荧光光谱仪对有害元素的测量
在人们的日常生活中，许多材料都含有浓度不等的重金属元素，例如铅、铬、汞等。这些元家对人体有毒有害，其含量如超出允许范围，会损害人的健康，包括人的行为能力和智力水平。 X荧光光谱仪由于具有分析快速、制样简单，准确度高、对环境无污染等优点，现已广泛应用于各个领域，成为理化检验不可或缺的设备。 D
X荧光光谱仪对有害元素的测量
在人们的日常生活中，许多材料都含有浓度不等的重金属元素，例如铅、铬、汞等。这些元家对人体有毒有害，其含量如超出允许范围，会损害人的健康，包括人的行为能力和智力水平。 X荧光光谱仪由于具有分析快速、制样简单，准确度高、对环境无污染等优点，现已广泛应用于各个领域，成为理化检验不可或缺的设备。
X荧光光谱仪对有害元素的测量
在人们的日常生活中，许多材料都含有浓度不等的重金属元素，例如铅、铬、汞等。这些元家对人体有毒有害，其含量如超出允许范围，会损害人的健康，包括人的行为能力和智力水平。 X荧光光谱仪由于具有分析快速、制样简单，准确度高、对环境无污染等优点，现已广泛应用于各个领域，成为理化检验不可或缺的设备。 D
X荧光光谱仪对有害元素的测量
在人们的日常生活中，许多材料都含有浓度不等的重金属元素，例如铅、铬、汞等。这些元家对人体有毒有害，其含量如超出允许范围，会损害人的健康，包括人的行为能力和智力水平。 X荧光光谱仪由于具有分析快速、制样简单，准确度高、对环境无污染等优点，现已广泛应用于各个领域，成为理化检验不可或缺的设备。 D
X射线荧光光谱仪原理分析
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集
X射线荧光光谱仪X射线防护系统故障分析
为了防止X射线泄漏，高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否，主要检查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统，面板是最外层的射线防护装置，如果有一块面板不到位，仪器就有射线泄漏的可能。因此，每块面板上都有位置接触传感器，面板没有完全合上
XRF熔融制样测定硅酸盐岩石样品中的主次成分
硅酸盐类矿物是主要的造岩矿物，是火成岩、沉积岩、变质岩的主要组分，是工业生产的重要原材料。在地质工作和工业生产中，为了了解岩石内部组分的含量变化，元素在地壳内的迁移情况和变化规律、元素的集中和分散、岩浆的来源及可能出现的矿物，为解决矿体岩相分带、阐明岩石的成因、岩石矿物定名的确定和工业生产的合理有效
X射线荧光光谱仪中X射线的由来和性质分析
X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所
X射线荧光光谱仪无标样分析方法
对于以固体进样为主的X射线荧光分析技术，要获得一套高质量的固体标准样品有一定难度，限制了X射线荧光分析的应用范围。 而X射线荧光光谱无标样分析技术是20世纪90年代推出的新技术，其目的是不用标准样品也可以分析各种样品。它的基本思路是：由仪器制造商测量标准样品，储存强度和工作曲线，然后将这些数据
X射线荧光光谱仪检测金属元素的介绍
当使用X射线光照样品时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，就可以进行定性和定量分析，为此使用的仪器为X射线荧光光谱仪（以下简称XRF）。 实验室如何利用XRF这种较为成熟的分析技术检测固体样品中的金属元素？微源实
基于X射线荧光的指纹元素成像
中国科学院高能物理研究所王萌研究员 中国科学院高能物理研究所王萌研究员发表主题为“基于X射线荧光的指纹元素成像”的精彩报告。指纹中化学元素可为科学研究和应用提供丰富信息。应用同步辐射X射线荧光仪可分析指纹元素，生成元素成像图。课题组分析了在不同基底上的防晒霜指纹，得到了钛和锌的指纹成像图以及元素比
X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍
当X射线穿过物质时，一方面受散射作用偏离原来的传播方向，另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收，散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。 当一单色X射线穿过均匀物体时，其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix，X射线的衰减符合指数衰减定律： 式中，μ为质量衰减系数；ρ为样
X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍
相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关，可用于研究物质的结构。 其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品，测量衍射线的角度与强度，从而推断样品的结构，这就是X射线衍射结构分析（XRD）。 另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体