XRD数据计算晶粒尺寸
Scherrer公式计算晶粒尺寸（） Scherrer公式计算晶粒尺寸（XRD数据计算晶粒尺寸） 根据X射线衍射理论，在晶粒尺寸小于100nm时，随晶粒尺寸的变小衍射峰宽化变得显著，考虑样品的吸收效应及结构对衍射线型的影响，样品晶粒尺寸可以用Debye-Scherrer公式计算。 Scherrer公式：Dhkl=kλ/βcosθ 其中，Dhkl为沿垂直于晶面（hkl）方向的晶粒直径，k为Scherrer常数（通常为0.89）， λ为入射X射线波长（Cuka 波长为0.15406nm，Cuka1 波长为0.15418nm。），θ为布拉格衍射角（°），β为衍射峰的半高峰宽（rad）。 但是在实际操作中如何从一张普通的XRD图谱中获得上述的参数来计算晶粒尺寸还存在以下问题： 1) 首先，用XRD计算晶粒尺寸必须扣除仪器宽化和应力宽化影响。如何扣除仪器宽化和应力宽化影响？在什么情况下，可以简化这一步......阅读全文
XRD数据计算晶粒尺寸
Scherrer公式计算晶粒尺寸（） Scherrer公式计算晶粒尺寸（XRD数据计算晶粒尺寸） 根据X射线衍射理论，在晶粒尺寸小于100nm时，随晶粒尺寸的变小衍射峰宽化变得显著，考虑样品的吸收效应及结构对衍射线型的影响，样品晶粒尺寸可以用Debye-Scherrer公式计算。
如何从XRD数据中计算出晶粒的大小
jade 计算的是全谱的粒径大小，如果你的样品做的比较好 测出来的各个峰对应的粒径大小差别不大 如果样品不太好 直接在仪器上计算出来的是最强峰对应的粒径大小 就看你想要哪个数据了
晶粒尺寸及形状的分析EBSD
晶粒尺寸及形状的分析传统的晶粒尺寸测量依赖于显微组织图象中晶界的观察。自从EBSD出现以来，并非所有晶界都能被常规浸蚀方法显现这一事实已变得很清楚，特别是那些被称为“特殊”的晶界，如孪晶和小角晶界。因为其复杂性，严重孪晶显微组织的晶粒尺寸测量就变得十分困难。由于晶粒主要被定义为均匀结晶学取向的单元，
如何用imageJ求TEM图像中的晶粒尺寸分布
用imageJ求TEM图像中的晶粒尺寸分布的方法：用ImageJ打开一幅图，然后选Straight Lines，在bar上量一下，然后在菜单中的Analyze中选Set Scale，在Known Distance 填上bar所代表的长度。然后就可以量了，用Straight Lines量距离，然后按住
X射线衍射分析对晶粒尺寸和点阵畸变的测定
若多晶材料的 晶粒无畸变、足够大，理论上其粉末衍射花样的谱线应特别锋利，但在实际实验中，这种谱线无法看到。这是因为仪器因素和物理因素等的综合影响，使纯衍射谱线增宽了。纯谱线的形状和宽度由试样的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及 晶体点阵中的主要缺陷决定，故对线形作适当分析，原则上可以得到上述影响因素的性
纳米金属机械稳定性的反常晶粒尺寸效应发现
纳米金属的晶界在机械变形作用下容易发生晶界迁移并伴随晶粒长大，使得纳米材料发生软化，这种现象在拉伸、压缩、压痕等变形条件下均有大量实验和相关计算模拟结果的报道。 近日，中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家研究中心卢柯院士、李秀艳研究员发现，对于塑性变形制备的纳米晶Cu、Ag、Ni样品，准静态拉
晶粒尺寸对冰的“位错蠕变”影响研究获进展
冰川与冰盖中冰的流动被认为是由位错蠕变这一变形机制所控制。位错蠕变是一种应变率与应力的n次方成正比，与晶粒尺寸无关的变形机制。以往研究认为n的经验值为3，而更多的实验室数据发现n的值应为4。n值上的差异可能是不同的实验方式或数据采集方式所致。如图1，在peak stress（小形变量）采集的力学
晶粒尺寸对冰的“位错蠕变”影响研究获进展
冰川与冰盖中冰的流动被认为是由位错蠕变这一变形机制所控制。位错蠕变是一种应变率与应力的n次方成正比，与晶粒尺寸无关的变形机制。以往研究认为n的经验值为3，而更多的实验室数据发现n的值应为4。n值上的差异可能是不同的实验方式或数据采集方式所致。如图1，在peak stress（小形变量）采集的力学数据
XRD穿透深度如何计算
这个计算不了，只能说各仪器差不多，基本都是测二维的数据。今年来帕纳科的仪器倒是好像有做电池测试XRD的，可以做深度，正负极都能同时看充放电过程中的物相变化。
金属所发现纳米金属机械稳定性的反常晶粒尺寸效应
纳米金属的晶界在机械变形作用下容易发生晶界迁移并伴随晶粒长大，使得纳米材料发生软化，这种现象在拉伸、压缩、压痕等变形条件下均有大量实验和相关计算模拟结果的报道。机械驱动晶界迁移不仅破坏材料的性能，也给利用塑性变形法制备纳米晶带来巨大困难。尽管目前对于机械驱动晶界迁移的根本机制还存在争议，但相关模
金属所发现纳米金属机械稳定性的反常晶粒尺寸效应
近日，中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家研究中心卢柯院士、李秀艳研究员发现纳米金属机械稳定性的反常晶粒尺寸效应。相关成果3月29日于《物理评论快报》（Physical Review Letters）在线发表。 纳米金属的晶界在机械变形作用下容易发生晶界迁移并伴随晶粒长大，使得纳米材料发生软
怎样通过XRD图谱判断被测物质具有某种结晶结构
角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ,满足衍射条件,则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射.但在实际应用中,我们只需用仪器
XRD测试结晶性
角度θ为布拉格角或称为bai掠射角。关于XRD的测量原理比du较复杂，zhi要知道晶体学和X射线知识。简单dao的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时，若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ，满足衍射条件，则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射。
XRD、TEM、AFM表征粒径的方式及异同
晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下纳米粒子是由多个完美排列的晶粒组成的）的晶相和大小，虽然也可通过更强的场发射透镜（HRTEM）得到，但是机器昂贵、操作复杂，所以实验室一般使用X射线粉末衍射仪。 XRD、TEM、AFM在表征粒径大小方面各有优势，我们将分别从原理和应用来
探测受压力的材料中的纳米尺寸晶粒的旋转的技术
一项研究发现，随着超精细的材料在高压下变形，纳米尺寸的晶粒出现了旋转，这一发现对于理解结构材料的强度和寿命以及地球内部的矿物形成具有意义。尽管粗晶粒的材料的变形已经得到了广泛的研究，科研人员一直在很大程度上不能克服观测超精细材料纳米尺寸晶粒在压力下变形的实验挑战。 利用金刚石压砧径
如何计算XRD的相对强度
我简单的回答你的问题 X射线图谱可以测没一个面的晶粒大小 也可以测平均晶粒尺寸pengjuan(站内联系TA)这个算的不是很准的，只能作参考。 λ不用介绍了，是你做的XRD仪的波长； θ是最强峰的衍射角，要注意图谱中一般给出的是2θ，还要注意单位是弧度还是度； B是半峰宽，比较麻烦，按标准的算法，应
实验室光学仪器X射线衍射仪晶粒大小计算
一、关于XRD图谱 1)衍射线宽化的原因 用衍射仪测定衍射峰的宽化包括仪器宽化、试样本身引起的宽化。试样引起的宽化又包括晶块尺寸大小的影响、不均匀应变(微观应变)和堆积层错(在衍射峰的高角一侧引起长的尾巴)。后二个因素是由于试样晶体结构的不完整所造成的。2)半高宽、样品宽化和仪器宽化样品的衍射峰加宽
一文看懂XRD基本原理
XRD全称X射线衍射（X-RayDiffraction）,利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等，下面就让咱们来简要的了解下XRD的原理
一文看懂XRD基本原理
XRD全称X射线衍射（X-RayDiffraction）,利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等，下面就让咱们来简要的了解下XRD的原理及应用和分析方
XRD图谱怎么分析物质结构
首先简单说下原理——角度θ为布拉格角或称为掠射角。关于XRD的测量原理比较复杂，要知道晶体学和X射线知识。简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时，若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入射线夹角为θ，满足衍射条件，则在衍射角2θ（衍射线与入射X射线的延长线的夹角）处产生衍射。但在实际应
用XRD谱图中的半峰宽计算晶格畸变数据可信吗
个人以为，xrd只能半定量分析，是不太准确。
XRD和TEM在样品物象上表征的区别
样品物象的表征包括形貌、粒度和晶相三个方面。物相分析一般使用 X－射线粉末衍射仪（XRD）和电子显微镜。形貌和粒度可通过扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）直接观测到粒子的大小和形状。但由于电镜只能观测局部区域，可能产生较大的统计误差。晶粒（注意粒子的大小和晶粒的大小不是一个概念，在多数情况下
XRD可以用于定量分析哪些内容？
A. 样品的平均晶粒尺寸，基本原理：当 X 射线入射到小晶体时，其衍射线条将变得弥散而宽化，晶体的晶粒越小， x 射线衍射谱带的宽化程度就越大。因此晶粒尺寸与XRD谱图半峰宽之间存在一定的关系, 即谢乐公式（Scherrerequation），下期会详细分析其原理与注意事项。对于对于负载型催化剂表面
XRD常见问题详解，超实用！！
[一般问题] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？ X 射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对 X 射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。
XRD常见问题详解，超实用！！
[一般问题] 做 XRD 有什么用途啊，能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团？ X 射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对 X 射线产生的相干散射表现为衍射现象，即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象，这是晶态物质特有的现象。 绝大多数固态物质都是晶态或微
X射线衍射仪使用中的常见问题故障排除
一、XRD有什么用途？ XRD（X 射线衍射）是目前研究晶体结构(如原子或离子及其基团的种类和位置分布，晶胞形状和大小等)最有力的方法。XRD 特别适用于晶态物质的物相分析。晶态物质组成元素或基团如不相同或其结构有差异，它们的衍射谱图在衍射峰数目、角度位置、相对强度次序以至衍射峰的形状上就
薄膜测试xrd怎么计算x射线入射的深度
谢勒公式D=kλ/FWHM cosθ计算D：晶粒尺寸（不叫离子尺寸的）k：0.89λ：XRD测试的x射线的波长，一般分kα1和kα2，具体用那种需要问测试老师。FWHM:半高宽θ：衍射角具体方法：选定最强的衍射峰，测量其衍射角和半高宽（可用jade读取），然后带入公式计算即可。
科研领域常用10大分析软件介绍
工欲善其事，必先利其器，这里小编给各位小伙伴们带来了材料领域常用的十大表征分析软件整理，简要介绍了各软件的应用领域及特点，文后还有免费软件资源福利，希望能为大家带来帮助。 1.DI Jade 软件介绍： MDIJade是业内最专业的XRD分析软件，它非常稳定，而且可以说能
晶格常数变大xrd峰怎么变
晶格常数变大间距增大会右移，但如果整体结构有一些破坏，峰强度会降低。峰宽主要是粒径有关。晶面间距与XRD中峰位置有关，一般情况下是不变的，一般为几个埃，可以查阅下文献，热膨胀，晶体中含有少量缺陷会使得晶面间距变大，衍射峰向低衍射角偏移。峰宽，与晶面间距没有直接联系，反映的是晶粒尺寸的大小，晶粒尺寸大
BCA检测数据计算
原理简介BCA(bicinchoninic acid)法蛋白浓度定量试剂盒是在世界上常用的蛋白浓度检测方法之一BCA法基础上改进而成。众所周知，二价铜离子在碱性的条件下，可以被蛋白质还原成一价铜离子（biuret reaction），一价铜离子和独特的BCA Solution A（含有BCA）相互作