晶粒尺寸对冰的“位错蠕变”影响研究获进展
冰川与冰盖中冰的流动被认为是由位错蠕变这一变形机制所控制。位错蠕变是一种应变率与应力的n次方成正比，与晶粒尺寸无关的变形机制。以往研究认为n的经验值为3，而更多的实验室数据发现n的值应为4。n值上的差异可能是不同的实验方式或数据采集方式所致。如图1，在peak stress（小形变量）采集的力学数据反映了材料在均匀、各向同性的显微结构下的流变学性质；而在flow stress（大形变量）采集的力学数据则反映了材料在各向异性的显微结构下的流变学性质。 n值上的差异导致冰川流动的模拟和预测结果的差异，为了理解并弥合这一差异，中国科学院地质与地球物理研究所地球与行星物理院重点实验室副研究员綦超联合宾夕法尼亚大学教授Goldsby，对一系列冰样品开展了低温有围压的轴向压缩变形实验，并分析了实验的力学数据，不同数据采集方式下，计算冰的位错蠕变的应力指数n。 研究发现，在peak stress下获得的n值为3.6，与此前小形变量实验......阅读全文
XRD数据计算晶粒尺寸
Scherrer公式计算晶粒尺寸（） Scherrer公式计算晶粒尺寸（XRD数据计算晶粒尺寸） 根据X射线衍射理论，在晶粒尺寸小于100nm时，随晶粒尺寸的变小衍射峰宽化变得显著，考虑样品的吸收效应及结构对衍射线型的影响，样品晶粒尺寸可以用Debye-Scherrer公式计算。
晶粒尺寸及形状的分析EBSD
晶粒尺寸及形状的分析传统的晶粒尺寸测量依赖于显微组织图象中晶界的观察。自从EBSD出现以来，并非所有晶界都能被常规浸蚀方法显现这一事实已变得很清楚，特别是那些被称为“特殊”的晶界，如孪晶和小角晶界。因为其复杂性，严重孪晶显微组织的晶粒尺寸测量就变得十分困难。由于晶粒主要被定义为均匀结晶学取向的单元，
如何用imageJ求TEM图像中的晶粒尺寸分布
用imageJ求TEM图像中的晶粒尺寸分布的方法：用ImageJ打开一幅图，然后选Straight Lines，在bar上量一下，然后在菜单中的Analyze中选Set Scale，在Known Distance 填上bar所代表的长度。然后就可以量了，用Straight Lines量距离，然后按住
X射线衍射分析对晶粒尺寸和点阵畸变的测定
若多晶材料的 晶粒无畸变、足够大，理论上其粉末衍射花样的谱线应特别锋利，但在实际实验中，这种谱线无法看到。这是因为仪器因素和物理因素等的综合影响，使纯衍射谱线增宽了。纯谱线的形状和宽度由试样的平均晶粒尺寸、尺寸分布以及 晶体点阵中的主要缺陷决定，故对线形作适当分析，原则上可以得到上述影响因素的性
晶粒尺寸对冰的“位错蠕变”影响研究获进展
冰川与冰盖中冰的流动被认为是由位错蠕变这一变形机制所控制。位错蠕变是一种应变率与应力的n次方成正比，与晶粒尺寸无关的变形机制。以往研究认为n的经验值为3，而更多的实验室数据发现n的值应为4。n值上的差异可能是不同的实验方式或数据采集方式所致。如图1，在peak stress（小形变量）采集的力学数据
晶粒尺寸对冰的“位错蠕变”影响研究获进展
冰川与冰盖中冰的流动被认为是由位错蠕变这一变形机制所控制。位错蠕变是一种应变率与应力的n次方成正比，与晶粒尺寸无关的变形机制。以往研究认为n的经验值为3，而更多的实验室数据发现n的值应为4。n值上的差异可能是不同的实验方式或数据采集方式所致。如图1，在peak stress（小形变量）采集的力学
纳米金属机械稳定性的反常晶粒尺寸效应发现
纳米金属的晶界在机械变形作用下容易发生晶界迁移并伴随晶粒长大，使得纳米材料发生软化，这种现象在拉伸、压缩、压痕等变形条件下均有大量实验和相关计算模拟结果的报道。 近日，中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家研究中心卢柯院士、李秀艳研究员发现，对于塑性变形制备的纳米晶Cu、Ag、Ni样品，准静态拉
金属所发现纳米金属机械稳定性的反常晶粒尺寸效应
近日，中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家研究中心卢柯院士、李秀艳研究员发现纳米金属机械稳定性的反常晶粒尺寸效应。相关成果3月29日于《物理评论快报》（Physical Review Letters）在线发表。 纳米金属的晶界在机械变形作用下容易发生晶界迁移并伴随晶粒长大，使得纳米材料发生软
金属所发现纳米金属机械稳定性的反常晶粒尺寸效应
纳米金属的晶界在机械变形作用下容易发生晶界迁移并伴随晶粒长大，使得纳米材料发生软化，这种现象在拉伸、压缩、压痕等变形条件下均有大量实验和相关计算模拟结果的报道。机械驱动晶界迁移不仅破坏材料的性能，也给利用塑性变形法制备纳米晶带来巨大困难。尽管目前对于机械驱动晶界迁移的根本机制还存在争议，但相关模
探测受压力的材料中的纳米尺寸晶粒的旋转的技术
一项研究发现，随着超精细的材料在高压下变形，纳米尺寸的晶粒出现了旋转，这一发现对于理解结构材料的强度和寿命以及地球内部的矿物形成具有意义。尽管粗晶粒的材料的变形已经得到了广泛的研究，科研人员一直在很大程度上不能克服观测超精细材料纳米尺寸晶粒在压力下变形的实验挑战。 利用金刚石压砧径
一文搞定晶粒度分析！
金属晶粒的尺寸(或晶粒度)对其在室温及高温下的机械性质有决定性的影响，晶粒尺寸的细化也被作为钢的热处理中最重要的强化途径之一。因此，在金属性能分析中，晶粒尺寸的估算显得十分重要。那么根据一张金相照片我们能从中得到哪些信息呢？一、晶粒度概述 晶粒度表示晶粒大小的尺度。金属的晶粒大小对金属的许多性
尺寸误差与尺寸公差有何区别
尺寸误差与尺寸公差是完全不同的两个概念.误差是加工好的零件实际尺寸与规定的尺寸（一个是最大极限尺寸,另一个是最小极限尺寸）的差别；而公差是零件规定尺寸的差值（最大极限尺寸-最小极限尺寸）,其表示精度的高低（公差值越小,精度越高,反之亦然）.例如有一基本尺寸为100毫米,上偏差为+0.02毫米（最大极
尺寸误差与尺寸公差有何区别
尺寸误差与尺寸公差是完全不同的两个概念.误差是加工好的零件实际尺寸与规定的尺寸（一个是最大极限尺寸,另一个是最小极限尺寸）的差别；而公差是零件规定尺寸的差值（最大极限尺寸-最小极限尺寸）,其表示精度的高低（公差值越小,精度越高,反之亦然）.例如有一基本尺寸为100毫米,上偏差为+0.02毫米（最大极
样品的尺寸
在实验过程中,样品必须通过传递杆,穿过超高真空隔离阀,送到样品分析室,所以样品的尺寸必须符合一定规范,以利于真空系统的快速进样。块状样品和薄膜样品,长宽最好小于10 mm,高度小于5mm。体积较大的样品,必须通过适当方法制备成大小合适的样品。在制备过程中,必须考虑处理过程可能对表面成分和化学状态所产
金相显微镜奥氏体晶粒度的概念
奥氏体晶粒大小是用晶粒度来度量的。可用晶粒直径、单位面积中的晶粒数等方法来表示晶粒大小。晶粒度的评定一般采用比较法，即金相试样在放大100倍的显微镜下，与标准的图谱相比。YB27-77将钢的奥氏体晶粒度分为8级，1级zui粗，8级zui细(见P208图）。0级以下为超粗晶粒，8级以上超细晶粒。奥氏体
金相显微镜奥氏体晶粒度的概念
奥氏体晶粒大小是用晶粒度来度量的。可用晶粒直径、单位面积中的晶粒数等方法来表示晶粒大小。晶粒度的评定一般采用比较法，即金相试样在放大100倍的显微镜下，与标准的图谱相比。YB27-77将钢的奥氏体晶粒度分为8级，1级zui粗，8级zui细(见P208图）。0级以下为超粗晶粒，8级以上超细晶粒。奥氏体
拉曼峰变宽，晶粒是变大还是变小
拉曼峰变宽，代表原子间无序性增大，原子间距增大，与晶粒大小无直接关系。但是非要说的话，应该是变大。
通过几何失配应变设计和合成纳米晶粒｜Science
与晶界相关的拓扑缺陷(GB缺陷)对纳米晶材料的电学、光学、磁性、力学和化学性质的影响是众所周知的。然而，通过实验来阐明这种影响是困难的，因为晶粒通常表现出大范围的尺寸，形状和随机的相对取向。加州大学伯克利分校A. Paul Alivisatos联合韩国首尔国立大学Taeghwan Hyeon教授
Science｜通过几何失配应变设计和合成纳米晶粒
与晶界相关的拓扑缺陷(GB缺陷)对纳米晶材料的电学、光学、磁性、力学和化学性质的影响是众所周知的。然而，通过实验来阐明这种影响是困难的，因为晶粒通常表现出大范围的尺寸，形状和随机的相对取向。加州大学伯克利分校A. Paul Alivisatos联合韩国首尔国立大学Taeghwan Hyeon教授
如何从XRD数据中计算出晶粒的大小
jade 计算的是全谱的粒径大小，如果你的样品做的比较好 测出来的各个峰对应的粒径大小差别不大 如果样品不太好 直接在仪器上计算出来的是最强峰对应的粒径大小 就看你想要哪个数据了
金相显微镜对于图像晶粒度的预处理
金相分析是对金属进行研究和性能测试的重要手段，在显微镜下观察，绝大多数的金属材料是由许多细小的晶粒组成。传统的材料学理论认为，晶粒细小材料的常规力学性能如拉伸强度、韧性、塑性等均相对较好；晶粒的尺寸还会影响金属的疲劳强度。因此，在金属性能分析中，晶粒尺寸（即晶粒度）的估算显得十分重要。 金属是由许
大晶粒钙钛矿薄膜助力智能眼镜系统构建
人类获取的信息70%以上来源于视觉，眼睛是生物采集的关键感知器官之一。其中，眼动追踪传感器在无干扰、隐蔽监测人类视觉行为方面展现出潜力。目前，多数眼动追踪设备依赖复杂的传感系统，图像处理过程繁琐且设备体积较大；而基于隐形眼镜的侵入式方案具备一定便携性但测量精度有限，并可能引发异物引入的不适感。因此，
影像可以测哪些尺寸
尺寸测量仪很明显就是测尺寸的，二次元影像测量仪主要测的数据是长和宽二维的数据，而三次元影像测量仪所测的主要是长、宽和高三维数据，当然还有一些别的其他的参数，根据所要测量影像的大小及精度自行把握。
什么是光学安装尺寸？
中文名称光学安装尺寸英文名称optical fitting dimension定 义作为显微镜透镜计算和显微镜设计基础的机械距离或光学距离。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜一般名词（三级学科）
光学安装尺寸的定义
中文名称光学安装尺寸英文名称optical fitting dimension定 义作为显微镜透镜计算和显微镜设计基础的机械距离或光学距离。应用学科机械工程（一级学科），光学仪器（二级学科），显微镜-显微镜一般名词（三级学科）
CAD如何测量图形尺寸
cad测量尺寸的话，方法有很多种啊。看你怎么测量。标注测量的话，也分很多的种类：一、线性标注线性标注可以水平、垂直或对齐放置。可根据放置文字时光标的移动方式，使用 DIM 命令创建对齐标注、水平标注或垂直标注。二、半径标注径向标注可测量圆弧和圆的半径或直径，具有可选的中心线或中心标记。下图中显示了多
徕卡金相显微镜对于图像晶粒度的预处理
金相分析是对金属进行研究和性能测试的重要手段，在徕卡显微镜下观察，绝大多数的金属材料是由许多细小的晶粒组成。传统的材料学理论认为，晶粒细小材料的常规力学性能如拉伸强度、韧性、塑性等均相对较好；晶粒的尺寸还会影响金属的疲劳强度。因此，在金属性能分析中，晶粒尺寸(即晶粒度)的估算显得十分重要。 金
徕卡金相显微镜对于图像晶粒度的预处理
金相分析是对金属进行研究和性能测试的重要手段，在徕卡显微镜下观察，绝大多数的金属材料是由许多细小的晶粒组成。传统的材料学理论认为，晶粒细小材料的常规力学性能如拉伸强度、韧性、塑性等均相对较好；晶粒的尺寸还会影响金属的疲劳强度。因此，在金属性能分析中，晶粒尺寸(即晶粒度)的估算显得十分重要。金属是由许
张广平团队揭示孪晶辅助纳米晶粒生长机制
近日，中科院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室研究员张广平带领团队，通过对纳米尺度金属薄膜疲劳加载下晶粒长大行为的原子尺度研究，揭示了“孪生辅助纳米晶粒长大”的全新物理机制，相关论文在线发表于《自然—通讯》上。 尽管金属中的晶界具有阻碍位错运动、强化材料的重要作用，但当材料的晶粒尺寸
高应变率作用下高导无氧铜晶粒细化
通过Leica EM TIC3X 对样品进行离子束切割，样品EBSD mapping解析率得到明显提升，可达80%-90%以上，并且结果稳定可重复，更好地表征了晶粒的变形，以及大小角晶界的转变。实验样品高应变率作用下高导无氧铜（OFHC）实验目的通过电子背散射衍射技术（EBSD）对在高应变率、高温和