X射线荧光光谱仪是一种快速无损的分析仪器

X射线荧光光谱仪是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试分析仪器,已广泛应用于材料科学、生物医学、地质研究、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦查等诸多领域。它大一个特点就是对样品进行定性、定量分析时不用制样,可选择整个或取样品部分残片颗粒,也可以将样品研磨成粉末等来进行X射线荧光分析,对测试分析样品大小要求较低,在一定范围内样品可大可小,因此对于一般的考古完整器都能直接进行分析,极大地避免了在对较大的珍贵古陶瓷等文物进行科学分析研究的同时对其产生的破坏。 X射线荧光光谱仪主要优点为: 1.无损检测,对分析样品的形状、大小和材料没有特殊要求,被测样品在测量前后,无论其化学成分、质量、形状等都保持不变,且随着技术的改进,有些类型的能量色散X射线荧光光谱仪已经具备了超大的真空样品室,可满足大样品的无损分析。 2.分析速度快,可以预筛选大量的样品。一般情况下,检测一个样品中的诸元素只需几分钟。 3.精度高,准确度好,探测极......阅读全文

X射线荧光光谱仪是一种快速无损的分析仪器

 X射线荧光光谱仪是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试分析仪器,已广泛应用于材料科学、生物医学、地质研究、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦查等诸多领域。它大一个特点就是对样品进行定性、定量分析时不用制样,可选择整个或取样品部分残片颗粒,也可以将样品研磨成粉末等来进行X射线荧光分析,对测试分

什么是X射线荧光光谱仪

X射线是一种电磁辐射,其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限,一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。对分析化学家来说,感兴趣的波段是0.01-24nm,0.01nm左右是超铀元素的K系谱线,24nm则是轻元素Li的K系谱线。1923年赫维西(Hevesy,G.Von)提

波长色散荧光光谱仪是X射线荧光分析仪的一种吗

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。能

概述X射线荧光光谱仪X射线的产生

  根据经典电磁理论,运动的带电粒子的运动速度发生改变时会向外辐射电磁波。实验室中常用的X射线源便是利用这一原理产生的:利用被高压加速的电子轰击金属靶,电子被金属靶所减速,便向外辐射X射线。这些X射线中既包含了连续谱线,也包括了特征谱线。  1、连续谱线  连续光谱是由高能的带电粒子撞击金属靶面时受

X射线荧光光谱仪X射线吸收的介绍

  当X射线穿过物质时,一方面受散射作用偏离原来的传播方向,另一方面还会经受光电吸收。光电吸收效应会产生X射线荧光和俄歇吸收,散射则包含了弹性和非弹性散射作用过程。  当一单色X射线穿过均匀物体时,其初始强度将由I0衰减至出射强度Ix,X射线的衰减符合指数衰减定律:  式中,μ为质量衰减系数;ρ为样

X射线荧光光谱仪X射线的衍射介绍

  相干散射与干涉现象相互作用的结果可产生X射线的衍射。X射线衍射与晶格排列密切相关,可用于研究物质的结构。  其中一种用已知波长λ的X射线来照射晶体样品,测量衍射线的角度与强度,从而推断样品的结构,这就是X射线衍射结构分析(XRD)。  另一种是让样品中发射出来的特征X射线照射晶面间距d已知的晶体

X射线荧光光谱仪X射线散射的介绍

  除光电吸收外,入射光子还可与原子碰撞,在各个方向上发生散射。散射作用分为两种,即相干散射和非相干散射。  相干散射:当X射线照射到样品上时,X射线便与样品中的原子相互作用,带电的电子和原子核就跟随着X射线电磁波的周期变化的电磁场而振动。因原子核的质量比电子大得多,原子核的振动可忽略不计,主要是原

什么是单波长X射线荧光光谱仪

通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪(ED XRF)和波长色散X射线荧光光谱仪(WD XRF),其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测(ED XRF)或是经分光晶体分光后探测器探测(WD XRF)为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前

什么是单波长X射线荧光光谱仪

通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪(ED XRF)和波长色散X射线荧光光谱仪(WD XRF),其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测(ED XRF)或是经分光晶体分光后探测器探测(WD XRF)为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前

X-射线荧光光谱仪

用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。图

X射线荧光光谱仪X射线光管结构

  常规X射线光管主要采用端窗和侧窗两种设计。普通X射线光管一般由真空玻璃管、阴极灯丝、阳极靶、铍窗以及聚焦栅极组成,并利用高压电缆与高压发生器相接,同时高功率光管还需要配有冷却系统。侧窗和端窗X射线光管结构如图6和图7所示。  当电流流经X射线光管灯丝线圈时,引起阴极灯丝发热发光,并向四周发射电子

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪特点对比

X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。

波长色散X射线荧光光谱仪快速定量元素分析

低原子序数性能、Mapping分析和多点分析 提供的性能和灵活性用来分析复杂样品,结合了较为先进的Mapping分析包来检测均质性和夹杂物,ZSX Primus中具有一个30μm的X射线管(工业中薄端窗的X射线管),用于特殊轻元素(低原子序数)检出限。ZSX Primus简单地提供了其他分析方法无法

直读光谱仪和X射线荧光分析仪器有什么不同

直读光谱仪和X射线荧光均属于发射光谱,不是你所说的吸收光谱,用小车推的属于便携式移动光谱仪,是直读光谱仪的一种。直读光谱仪主要分为立式、台式、移动三种,分析稳定性和精度依次下降。X射线荧光主要分为波长、能量与便携式三种,分析精度也是按照刚才的顺序依次下降,功能依次是元素含量分析、元素半定量定性分析、

什么是全反射X射线荧光光谱仪技术?

  全反射现象由Compton于1923年发现,1971年Yoneda等首次提出利用全反射现象来激发被测元素的特征谱线。这是一种超衡量检测XRF技术。   XRF于1981年在德国问世,实质上是EDXRF的拓展,与常规EDXRF所具有的关键区别就在于其反射系统:TXRF通常有一级、二级或三级反射系统

什么是波长色散型X射线荧光光谱仪

波长色散X射线荧光光谱仪是利用原级X射线或其他光子源激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)。从而进行物质成分分析的仪器。X射线荧光光谱仪又称XRF光谱仪,有色散型和非色散型两种。它的优点是不破坏样品,分析速度快,适用于测定原子序数4以上的所有化学元素,分析精度高,样品制备简单。 X射线或其

X射线荧光光谱仪是鉴定翡翠真伪的利器

  X射线荧光光谱仪是鉴定翡翠真伪的重要利器之一。翡翠的成分复杂,同时存在多种微量元素,通过使用X射线荧光光谱仪,可以快速准确地分析翡翠中的元素成分,并确定其中某些关键元素的含量,从而判断翡翠是否真假、是否经过处理等。X射线荧光光谱仪具有高精度、高稳定性和高检测速度等优点,可在不破坏翡翠样品的情况下

X射线荧光光谱仪X射线防护系统的故障分析

  为了防止X射线泄漏,高压发生器只有在射线防护系统正常的情况下才能启动。射线防护系统正常与否,主要检查以下二部分:  1、面板的位置是否正常。X射线荧光光谱仪是一个封闭系统,面板是最外层的射线防护装置,如果有一块面板不到位,仪器就有射线泄漏的可能。因此,每块面板上都有位置接触传感器,面板没有完全合

X射线荧光光谱仪中的X射线原理科普

  X射线荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。x射线具有很高的穿透本领,能透过许多对可见光不透明的物质,如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光,使照相底片感光以及空气电离等效应。X射线初用于医学成像诊断和X射线结晶学。X射线也是游离辐射等这一类对人体有危害的

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器,而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。

X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别

x射线荧光和x射线衍射的区别在于前者是对材料进行成份分析的仪器,而后者则主要是对材料进行微观结构分析以便确定其物理性状的设备。

X射线荧光光谱仪简介

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水

X射线荧光光谱仪结构

该系统由X射线发生器、光谱仪主体部分、电气部分及系统控制器、计算机部分组成。3.1 X射线发生器 X射线发生器由高压变压器及管流管压控制单元、X射线管、热交换器。 3.1.1高压变压器及管流管压控制单元 产生高稳定的高压加到X射线管上用以产生X射线。这里利用高电压加速的高速电子轰击X射线管金属靶面产