激光测厚仪技术参数
* 检测范围 0--600mm * 钢板温度 0--1200°C * 钢板速度 0--25m/s * 采样时间 优于1ms * 测量精度 动态优于±0.03% * 安装方式 根据要求定制......阅读全文
激光测厚仪技术参数
* 检测范围 0--600mm * 钢板温度 0--1200°C * 钢板速度 0--25m/s * 采样时间 优于1ms * 测量精度 动态优于±0.03% * 安装方式 根据要求定制
覆层测厚仪技术参数
测量原理： 磁感应和电涡流 探头连接方式： 分体式导线连接（可更换） 测试量程： 0-1250um(F1、N1）探头，F10量程可到10000um 分辨率： 0.1um (F1、N1）探头 测试精度： ±[3%H+1] H为被测涂层厚度 显示方式： 高对比度液晶显示，高亮度背光 单位
什么是激光测厚仪
激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。
油漆测厚仪的技术参数
测量原理： 磁感应和电涡流 探头连接方式： 分体式导线连接（可更换） 测试量程： 0-1250um(F1、N1）探头，F10量程可到10000um 分辨率： 0.1um (F1、N1）探头 测试精度： ±[3%H+1] H为被测涂层厚度 显示方式： 高对比度液晶显示，高亮度背光 单位
激光测厚仪的测量原理
使用两个激光传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度
激光测厚仪操作画面
所有显示画面均为中文菜单，系统四个画面：测量（运行）画面、测厚仪标定画面、参数设置和诊断画面、历史数据查看画面。 1 测量（运行）画面： 实时显示在测量点的钢板的厚度值。实时显示钢板的上下偏差（公差值由操作工设定或二级通讯）。 显示钢板厚度随长度方向上的变化曲线。 显示本板的钢号、班次、
激光测厚仪的原理简述
激光测厚仪是基于三角测距原理，使用集成式的三角测距传感器测量出从安装支架到物体表面的距离，进而根据支架的固定距离计算得出物体的厚度。 激光束在被测物体表面上形成一个很小的光斑,成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏面上,产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时,其表面上光斑相对成像
激光测厚仪设备的特点
* 精度高、无辐射、安全性能好。 * 测量范围大（0—750mm）。 * 响应快速、不受被测目标材质影响。 * 实时厚度曲线显示、绘制，历史厚度曲线储存。 * 全数字系统，使用方便，易操作，维护简单。 * 炉号、钢号、坯号、班号、检测时间与MIS系统连接自动生成日报、班报。 * 高强
简介金属测厚仪的技术参数
可测量元素：原子序数22(Ti)～83(Bi) X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 管电压： 50kV 管电流： 1.5mA Be 窗 滤波器：一次滤波器：Mo 二次滤波器：Co (自动切换) 检测器：比例计数管 准直器：方型：0.025×0.2mm 0.2×0.025
数显测厚仪的技术参数
技术参数 1.显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光； 2.测量范围：0.75～300mm(钢中)，公制与英制可选择； 5.示值精度： ±(1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度 6.测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒； 7.存储容量：可存储20组(每组最多9
漆膜测厚仪技术参数都有哪些？
漆膜测厚仪低电压提示，采用了磁感应测厚方法。漆膜测厚仪快速无损精密的进行测量。漆膜测厚仪操作过程有蜂鸣声提示。 参数.jpg 漆膜测厚仪参数： 千分表精度：1μm。 测量范围：0-1000μm。 执行标准：ISO2808-74 GB/T134522-92
激光测厚仪器的功能特点
多点测量；可连接生产线自动控制系统，实现闭环控制；测厚量程量身定制,最高精度0.5um；高速在线测量，最高测量值/秒；机械定位牢固准确，无损伤非接触测量；高效率，节省人力物力，提高生产品质；适用各种材料测量；可按要求显示图形曲线及设定偏差报警；
激光测厚仪安全操作方法
引言在各种板材的生产过程中，目前国内厂家普遍采用人工测量和控制板材的厚度。用人工方法测量和控制存在着测量精度差、成材率低等缺点，并且工人劳动强度大、工作环境恶劣、测盘速度慢，使生产效率受到影响；因此板材生 产中的实时在线厚度测量和控制是国内钢铁企业亟待解决的问题之一。激光测厚仪是用于板材生产线在
激光测厚仪器的结构组成
一般有上下两个对射的激光位移传感器组成。通过将两个传感器之间的距离减去两个传感器的测量值，得到被测物体的厚度。两个激光传感器一般是固定在稳定的C形架上，确保传感器之间的间距稳定。
激光测厚仪的测厚原理
两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内，根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度。 激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上，产生探测其敏感面
简介库仑镀层测厚仪的技术参数
参数测量范围：0.05～75μm可以测量70种以上的镀层/基体组合可以测量平面、曲面上的镀层可以测量小零件、导线、线状零件预置10种金属的测量参数：Cr铬、Ni镊、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn锡、Pb铅、Cd镉、Au金用户可另设8种金属的测量参数测量面积：0.25/4/8mm2存储：200
金属测厚仪技术参数及工作原理
金属测厚仪技术参数及工作原理图 可测量元素：原子序数22（Ti）～83（Bi） X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球（Mo靶） 管电压： 50kV管电流： 1.5mA Be 窗 滤波器：一次滤波器：Mo 二次滤波器：Co （自动切换） 照射方式：上方垂直照射方式 检测器：比
数显磁性测厚仪的技术参数
数显磁性测厚仪测定磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度。专用于铁磁性材料表面上非磁性涂镀层厚度的测定。 数显磁性测厚仪参数： 测量范围： O-200μm。 执行标准： GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74。 测量精度：±（ 0
防水卷材测厚仪的技术参数介绍
用于蛋白质 Lowry 法检测的设置 若要在 “ 蛋白质 Lowry 法检测 ” 屏幕中显示蛋白质 Lowry 法设置，点击 > 蛋白质 Lowry 法设置。 线性：通过所有检测的标准品，绘制线性小二乘线 （需要参考品检测和至少一个标准品）。 曲线类型 指定用于从浓度值创建
手持式测厚仪主要技术参数
1.显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光； 2.测量范围：0.75～300mm(钢中)，公制与英制可选择； 3.声速范围：1000～9999 m/s： 4.分 辨 率：0.1mm 5.示值精度： ±(1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度 6.测量周期：单点测量时4次/秒
涂层测厚仪技术参数与工作原理
仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，可满足多种测量的需要。涂层测厚仪适用范围 涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体（ 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 ）上非磁性覆盖层的厚度（如铝、铬、
激光测厚仪器的应用领域
激光测厚应用范围很广，可应用于卡片、纸张、木板、钢板、传输带、橡胶片、电池极片等材料的厚度检测，已经在轻工、汽车、机械、钢铁、橡胶等行业得到了广泛的应用。
解读多种类型的激光测厚仪
钢板厚度检测，采用自动化的测量设备，能实现实时检测板材厚度的目的，为钢板测量带来便利，钢板分为热轧、冷轧，本文介绍了可应用于钢板厚度热轧和冷轧的几种测厚仪。1、激光测厚仪激光测厚仪由上、下两个对射的激光测头组成，其基本测量原理如图1“测量原理图”所示。图中激光测头1和激光测头2以固定间距A相对布置，
激光测厚仪在生产中的应用
传统的涂布生产环节，极片厚度检测主要采用人工方式进行，导致厚度检测的实时性和精确性都不能得到保障，极片常常会发生厚度异常的情况。在最新的研究中，激光在线测厚设备的应用可以发挥较好的效果，其可以与涂布机建立信号连接的方式，测厚仪可以及时的提供极片厚度信息，涂布机可以及时接收到信息，结合极片的厚度，
激光测厚仪的主要技术指标
1、可测范围：0～500mm 2、最高精度：0.5μm 3、测量速度：最高9400Hz 4、测量距离：10～200mm 5、被测体水平方向运动速度最高560m/min
O型激光测厚仪使用方法
沿整个带材横向的厚度瞬时测量已经取代了单点厚度测量，O型激光测厚仪是应用于塑料薄膜、造纸、无纺布、合成皮革等领域的在线质量检测和控制系统。激光测厚仪整套系统主要包括O型扫描架、操作员站、APC控制系统和测厚仪支架、冷水机等组成。扫描架的主要部件有厚度传感器、扫描架本体、PLC、导轨和滑块等。
激光测厚仪检测钢板厚度是否均匀
钢板按厚度分，薄钢板＜4毫米（可到0．2毫米），中厚钢板4～60毫米，特厚钢板60～115毫米。薄板的宽度为500～1500毫米；厚的宽度为600～3000毫米。钢板的厚度要保证均匀性，因此需要对其点数检测的非常多，才能确保每部分的尺寸是否符合标准，人工检测费时费力，并且对比较宽的钢板测量也
激光诱导激光光谱系统技术参数
技术参数系统性能参数可测元素原子序数Z≥1浓度范围≥10ppm，取决于元素种类样品性状固体或压片粉末最大样品尺寸30*30*20mm（x*y*z）最大样品重量2kg平移台行程范围60*60*60mm（x*y*z）光斑尺寸≤50um，激光波长1064nm激光器波长Nd:YAG 1064nm/532nm
激光测距仪技术参数
激光测距仪技术参数：操作温度：-10℃~+50℃探测频率：1/6~1/3HZ激光类型：半导体激光器观查视野:6.5°
激光测距仪技术参数
激光测距仪技术参数：操作温度：-10℃~+50℃探测频率：1/6~1/3HZ激光类型：半导体激光器观查视野:6.5°