激光测厚仪的主要技术指标
1、可测范围：0～500mm 2、最高精度：0.5μm 3、测量速度：最高9400Hz 4、测量距离：10～200mm 5、被测体水平方向运动速度最高560m/min......阅读全文
楼板测厚仪的主要特点
主要特点 误差小于2mm，一次国际性突破。认准国家ZL： 1.双面无损检测，楼板不需要任何处理，不需要耦合剂； 2.测试速度快，平均每三分钟可测3-5个点； 3.测试精度高，仪器数字提示、引导对准探头； 4.厚度直接显示，无须分析换算，结果可存储、可打印 。
测厚仪的主要类型有哪些
测厚仪的主要类型有哪些测厚仪用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波
涂层测厚仪的主要特点
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可
涂层测厚仪的主要特点
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）； 具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL)； 设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV） 可进行零点校准和二点校
激光扫描细胞仪的技术指标
可检测由标准488nm氩离子激光器激发的绿色(530-nm), 橙色 (580-nm),和红色 (610-nm) 荧光；由488nm或633nm氦氖激光器激发的远红(670-nm) 和近紫外 (750-nm)荧光。仪器检测为高分辨放大模式，一个典型的细胞图像包含有上百个像素。激光聚焦光束（通常为空冷
激光扫描细胞仪的技术指标
技术指标 可检测由标准488nm氩离子激光器激发的绿色(530-nm), 橙色 (580-nm),和红色 (610-nm) 荧光；由488nm或633nm氦氖激光器激发的远红(670-nm) 和近紫外 (750-nm)荧光。仪器检测为高分辨放大模式，一个典型的细胞图像包含有上百个像素。激光聚焦
激光粉尘仪的技术指标简述
主要技术指标 检测灵敏度：低灵敏度 0.01mg/m3 ； 高灵敏度 0.001 mg/m3 ； 测定范围： 低灵敏度 0.01～100 mg/m3 ； 高灵敏度 0.001～10 mg/m3 ； 测定时间：采样标准时间为1分钟，设有0.1、1、2、5、10分钟及调时档（任意设定采样时
X射线荧光测厚仪的原理和技术指标
原理 当原子受到原级X射线或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层空位，并同时放出次级X射线，即X射线荧光。X射线荧光的波长对不同元素是特征的，因此可以根据元素X射线荧光特征波长对元素做定性分析，根据元素释放出来的荧光强度，来进行定量分析如
测厚仪主要分为哪些类型
用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声
质谱仪的主要技术指标三
灵敏度同位素质谱仪的灵敏度通常用原子/离子的转换效率来定义，即用接收器接收到的离子数去除以进入离子源的样品原子总数之比的百分数。灵敏度取决于离子源的电离效率和离子在离子源、分析器的传输效率和接收器的接收效率。
黄疸仪的主要技术指标
·测量方式：光反射式。 ·显示方式：大屏幕液晶显示。 ·测量单位切换功能：可分别设置μmol/L、mg/dL、无单位(经皮胆红素)。 ·平均测量功能：可设置2~5次平均测量方式。 ·电池电压检测功能：电压不足时提示电池需充电。 ·充电时间短、使用时间长（一次充足电后可检测800次以上）
质谱仪的主要技术指标四
丰度灵敏度丰度灵敏度是质谱仪器的一个重要性能指标其定义为:质量为M的离子峰AM与它在质量数［M＋1］位置，或质量数［M-1］位置的离子拖尾峰Am＋1、Am-1之比的倒数，即AM＋1/AM和AM-1/AM丰度灵敏度反映仪器聚焦性能、分辨率，也与测量时的真空度状态相关。 拖尾峰主要由强峰离子与管道缝隙或
质谱仪的主要技术指标五
精密度和准确度精密度（或称精度）定义为在规定条件下所获得的独立测量结果之间的一致程度。单次进样测量结果的标准偏差称为内精度；重复进样测量结果的标准偏差称为外精度。内精度主要反映仪器性能，外精度由仪器性能和施加的测量条件决定。外精度通常大于内精度。 准确度指测量结果与被测量真值或约定真值间的一致程度。
红外热像仪的主要技术指标
1. 视场 视场是光学系统视场角的简称。它表示能够在光学系统像平面视场光阑内成像的空间范围，当目标位于以光轴为轴线，顶角为视场角的圆锥内的(任一点在一定距离内)时候可以被光学系统发现，即成像于光学系统像平面的视场光阑内。物体能在热像仪中成像的物空间的最大张角叫做视场。 2. 光谱响应
质谱仪的主要技术指标二
分辨本领分辨本领又称分辨率（resolution ratio）定义为质谱仪可分辨相邻两个质谱峰的能力，广义以R＝M△M来度量M为可分辨两个质谱峰的质量平均值：△M为可分辨的两个质谱峰的质量差。实际上，可分辨的两个质谱峰允许有一定重叠，使用时应注明重叠程度。通常用两峰间的峰谷高度为峰高的5％或10％测
激光自动测厚仪的测试原理及特性
激光自动测厚仪是专门为板材生产线研制的在线式全自动测厚仪。它具有测量精度高、测量速度快、测量点多、能够及时反映生产急需的厚度控制信息、保留生产过程数据待查、无辐射危害等特点。可有效地改善测控环境，提高生产效率、提高成材率和产品质量。 自动测厚仪采用光学三角法测厚，它是利用激光源发出光束照射到被测物体
lb膜主要技术指标
表面张力测量范围: 0mN/m-150mN/m分辨率: 0.05 mN/m检测方式: 吊片法(WILHELMY TYPE)液槽方式: LANGMUIR液槽材质: 全四氟材料液槽面积 : 200mmx80mm(型号:JML04C1)
O型激光测厚仪使用方法
沿整个带材横向的厚度瞬时测量已经取代了单点厚度测量，O型激光测厚仪是应用于塑料薄膜、造纸、无纺布、合成皮革等领域的在线质量检测和控制系统。激光测厚仪整套系统主要包括O型扫描架、操作员站、APC控制系统和测厚仪支架、冷水机等组成。扫描架的主要部件有厚度传感器、扫描架本体、PLC、导轨和滑块等。
激光测厚仪检测钢板厚度是否均匀
钢板按厚度分，薄钢板＜4毫米（可到0．2毫米），中厚钢板4～60毫米，特厚钢板60～115毫米。薄板的宽度为500～1500毫米；厚的宽度为600～3000毫米。钢板的厚度要保证均匀性，因此需要对其点数检测的非常多，才能确保每部分的尺寸是否符合标准，人工检测费时费力，并且对比较宽的钢板测量也
涂层测厚仪和超声波测厚仪主要区别
共同点： 涂层测厚仪和超声波测厚仪都属于无损检测仪器，即在非破坏材料的情况下对材料厚度进行厚度测量的仪器，涂层测厚仪和超声波测厚仪都能够通过探头从材料的单面对材料进行接触式测量厚度。从而避免了卡尺、千分尺、量规等需要从双面卡住测量厚度的弊端，发挥了无损检测的优势，从而广泛应用于板材制造，管道防腐，
荧光X射线测厚仪的主要规格
1、X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸 2、滤光片程控交换系统根据靶材，标准装备
气溶胶激光剖面仪的技术指标
气溶胶激光剖面仪是一种用于地球科学、生物学、农学、林学领域的大气探测仪器，于2017年1月1日启用。 技术指标 激光波长532nm，脉冲重复频率2500Hz，脉冲能量3.5-4μJ，望远镜类型Galilean，焦距长度500 mm，望远镜直径80 mm，距离分辨率5, 15 m, 30 m,
简述干法激光粒度仪的技术指标
干法激光粒度仪是一种用于药学领域的分析仪器，于2017年1月19日启用。 主机、测定池等基本要求：仪器设备必须为原装进口产品。 技术参数要求： 1. 符合ISO 13320国际激光粒度仪制造标准。 2. 粒度测试范围：0.25-875微米。 3. 光源：He-Ne气体激光光源，波长632
马尔文激光粒度仪的技术指标
马尔文激光粒度仪是一种用于地球科学、环境科学技术及资源科学技术领域的物理性能测试仪器，于2006年10月30日启用。 技术指标 1.测量范围0.02-2000微米 2.扫描速度：1000次/秒，可以在30秒内完成全部操作。 3.标准操作规程(SOP) ，每个分散器均采用自动软件配置，确保
激光粉尘检测仪的技术指标
1、具有计量器具许可证，具有防伪标示。 配置40mm滤膜在线采样器； 2、 具有可更换粒子切割器PM10、PM5、PM2.5及TSP供选择； 3、 直读粉尘质量浓度（mg/m3）,1分钟出结果； 4、 大屏幕液晶显示器,汉字菜单提示； 5、 检测灵敏度：LD—5C（L） 0.01mg/m
楼板测厚仪的技术指标和工作环境要求
技术指标 1.厚度测量范围 ：40mm～800mm； 2.示值最大误差 ：40 ～ 600mm ±1mm； 3.601～800mm ±2mm； 4.数据存储容量 ：3.2万组测点 。 工作环境要求 1.环境温度：-10℃～+40℃ 相对湿度：
手持式超声波测厚仪的技术指标
工作原理脉冲～回波方式测量范围0.8～300mm（标准模式）取决于所用探头、所测材料、表面状况单位和显示分辨率毫米-0.01，0.1英寸-0.001，0.01探头零点校准一点校准（用于常规的厚度测量）两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度） V路径修正自动V声程修正，补偿双晶探头的非
x射线荧光光谱测厚仪的技术指标介绍
1、同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 2、分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 3、任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。 4、多变量非线性回收程序 适应范围为15℃至30℃。 5、电源: 交流220V±5V, 建
超声波测厚仪SW7的技术指标
· 内置9种材料的声速，并可编辑，方便用户使用； · 多种实用测量模式：标准测量模式，扫查模式，差值测量模式，平均值测量模式，极值报警模式，高温测量模式（配高温探头）； · 8键盘按钮人性化设计，简单方便快速进行：零点校准，单点和两点校准声速，以及方向键自由调整数值； · 人性化数据保存模
数显薄膜测厚仪的产品用途和技术指标
产品用途 数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。 技术指标 1.测量范围：（0-25）mm 2.分辨率：0.001mm 3.电源：氧化银电池SR44 4.工作温度：0℃～+40℃ 5.储运温