荧光X射线测厚仪的主要规格

1、X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸 2、滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备有相应的一次X射线滤光片系统二次X射线滤光片:3个位置程控交换,Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选位置传感器保护装置,防止样品碰创探测器窗口 3、准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器,程序交换控制多种规格尺寸准直器任选:-圆形,如4、6、8、12、20mil等-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 4、测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时,最小测量斑点尺寸为:0.078x0.055mm(使用0.025x0.05mm准直器)在12.7mm聚焦距离时,最大测量斑点尺寸为......阅读全文

荧光X射线测厚仪的主要规格

  1、X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管,Be窗标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选X射线管功率可编程控制装备有安全防射线光闸  2、滤光片程控交换系统根据靶材,标准装备

X射线荧光光谱测厚仪的主要优势介绍

  1、X光测厚仪有优化的配置,性价比极高。  2、提供的控制参数。  3、测量中不会造成对金属镀层的表面划伤和其他缺陷。  4、X光测厚仪,稳定,高速的无接触测量。  5、备件充足,售后服务快速细致。

简述荧光X射线测厚仪的功能

  1、样品观察系统高分辨、彩色、实时CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。激光辅助光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能  2、计算机系统配置IBM计算机:1.6G奔腾IV处理器,256M内存,1.44M软驱,40G硬盘,CD-ROM,鼠标,键盘,17寸彩显

X荧光射线镀层测厚仪技术原理

X荧光射线镀层测厚仪原理    XRAY测厚仪原理是根据XRAY穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号

概述荧光X射线测厚仪的应用范围

  -测厚范围可测定厚度范围:取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用,我们将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围

简述x射线荧光光谱测厚仪特色

  1.可测量0.01um-300um的镀层。  2.可做各种镀层(多层、合金、多层鎳)的精密测量。  3.除平板形外,还可测量圆形、棒形(细线)等各种形状。  4.可制作非破坏性膜厚仪的标准板。  5.该电镀膜厚检测仪可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。  6.可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的

X射线荧光测厚仪金属表面处理

   使用未经加工的金属会很快出现许多问题。可能会腐蚀,没有光泽,而如果做成的部件需要保持运动状态则会马上受到磨损乃至损坏。    要解决这些问题,我们会在金属上应用各种金属镀层,以确保其良好外观和长期使用寿命。    通常金银铬铜镍锡锌常被用作镀厚层,它们适用于金属也适用于非金属。

X射线测厚仪与γ射线测厚仪比较

 X射线测厚仪与γ射线测厚仪比较  (1)物理特性  X射线束能缩减为很小的一点,其结构几何形状不受限制,而γ射线则不能做到,因此光子强度会急骤减少以致噪音大幅度增加。  (2)信号/噪音比  X射线测厚仪:X射线的高光子输出,能带来比γ射线在相同时间常数下约好10倍的噪音系数。  (3)反应时间 

荧光X射线测厚仪的基本信息介绍

  荧光X射线测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。  基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLinkFP应用软件包,实现了对cmi900/950主机的全面自动化控制,分析中不需要

X射线荧光测厚仪的原理和技术指标

  原理  当原子受到原级X射线或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位,原子内层电子重新配位,较外层的电子跃迁到内层空位,并同时放出次级X射线,即X射线荧光。X射线荧光的波长对不同元素是特征的,因此可以根据元素X射线荧光特征波长对元素做定性分析,根据元素释放出来的荧光强度,来进行定量分析如

X射线测厚仪工作原理及主要特点

 X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。   X射线源辐射强度的大小,与

x射线测厚仪概念

X射线测厚仪工作原理、结构特性:   X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度.    适用范围:生产铝板、铜板

X射线镀层测厚仪

提供X-ray测厚仪的操作及方法,从而了解PCB板化学镀层(金、镍、锡、银)的厚度情况。2.0  范围:适用于本公司品质部物理实验室X-ray测厚仪。3.0  X-ray测厚仪操作要求及规范3.1测试环境:温度22±3℃,湿度60±15%。3.2开机:打开测试主机、电脑、显示器,打印机电源。3.3进

x射线测厚仪的简介

  X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。

X射线荧光分析仪的主要分类

根据分光方式的不同,X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类,也X射线荧光分析就是通常所说的能谱仪和波谱仪,缩写为EDXRF和WDXRF。通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析,相应的仪器称之为能谱仪,通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波

x射线荧光光谱测厚仪的技术指标介绍

  1、同时可以分析30种以上元素,五层镀层。  2、分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)  3、任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。  4、多变量非线性回收程序 适应范围为15℃至30℃。  5、电源: 交流220V±5V, 建

简述x射线测厚仪射线管的更换

  射线管损坏或使用一定年限老化后 ,测厚仪厂家通常建议将射线源返厂更换射线管 ,费用很高 ,周期也较长。实际上 ,只要细心操作 ,完全可以现场更换射线管。更换射线管应着重注意 :  1)紧固射线管的安装螺丝时用力要适度 ,既要安装牢固 ,更要防止紧固过度导致管子破裂。  2)高压线的焊接要求较高

X射线金属镀层测厚仪

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开

x射线测厚仪的定期检查

  1)电缆和管路。注意查看电缆是否有破损 ,特别要注意查看C型架尾部的电缆和管路悬挂是否牢固,防止脱落被挤压损坏,导致不应有的损失。  2)C 型架的行走情况。观察 C 型架行走是否平稳 ,是否有卡阻和步进现象。行走不平稳本身不是大问题 ,但有隐患 :有可能引起接插件、标样片、快门松动 ,影响校准

X射线测厚仪的日常维护

X射线测厚仪的每日维护X射线测厚仪的日常维护 ,除了需要遵循一般电气设备的常规维护方法(例如 :电气连接情况、主要电源电压的检查、各个开关的操作是否有效),这里主要讨论针对测厚仪的维护。  X射线测厚仪的每天检查  1)循环水。循环水恒温设备主要给射线源提供相对恒定的温度环境。射线源的温度波动将直接

X射线测厚仪的每日维护

  X射线测厚仪的日常维护 ,除了需要遵循一般电气设备的常规维护方法(例如 :电气连接情况、主要电源电压的检查、各个开关的操作是否有效),这里主要讨论针对测厚仪的维护。  X射线测厚仪的每天检查  1)循环水。循环水恒温设备主要给射线源提供相对恒定的温度环境。射线源的温度波动将直接导致射线能量的变化

X射线测厚仪的工作原理

X射线测厚仪的工作原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的,即测量被测钢板所吸收的X射线量,根据该X射线的能量值,确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号,经过前置放大器放大,再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。

X射线测厚仪的日常维护

X射线测厚仪的日常维护 ,除了需要遵循一般电气设备的常规维护方法(例如 :电气连接情况、主要电源电压的检查、各个开关的操作是否有效),这里主要讨论针对测厚仪的维护。  X射线测厚仪的每天检查  1)循环水。循环水恒温设备主要给射线源提供相对恒定的温度环境。射线源的温度波动将直接导致射线能量的变化 ,

X射线测厚仪的基本结构

、放射源基本结构    放射源主要由X射线管、阴极丝、变压器、高压倍压电路组成。X射线管是密封真空的,它的阴极是钨丝,阳极是钨制成的目标靶。当阴极通电时,阴极钨丝由于发热而产生热电子,热电子在高压作用下产生动能,并以很高的加速度射向阳极目标靶形成管电流。当热电子撞到阳极靶时.它的动能就转换成热和X射

X射线荧光(XRF):理解特征X射线

  什么是XRF?   X射线荧光定义:由高能X射线或伽马射线轰击激发材料所发出次级(或荧光)X射线。这种现象广泛应用于元素分析。  XRF如何工作?   当高能光子(X射线或伽马射线)被原子吸收,内层电子被激发出来,变成“光电子”,形成空穴,原子处于激发态。外层电子向内层跃迁,发射出能量等于两级能

牛津仪器推出新款X射线荧光镀层测厚仪XStrata920

  牛津仪器推出最新款快速可靠的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪X-Strata920,其稳定性和可靠性大大提升,加上圆滑的新设计,使其成为性价比极高的分析工具。   稳定性和可靠性提升   性能增强   符合安全标准   圆滑的新设计符合人体工程学   操作简单易学   牛津

质子激发X射线荧光分析的X-射线谱

  在质子X 射线荧光分析中所测得的X 射线谱是由连续本底谱和特征X 射线谱合成的叠加谱。样品中一般含有多种元素,各元素都发射一组特征X 射线谱,能量相同或相近的谱峰叠加在一起,直观辨认谱峰相当困难,需要通过复杂的数学处理来分解X 射线谱。解谱包括本底的扣除、谱的平滑处理、找峰和定峰位、求峰的半高宽

X射线测厚仪测厚原理

X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。下面大成精密技术人员给大家说说X射线测厚仪的基本原理和应用:一、应用领

铜镀银X射线无损测厚仪

铜镀银X射线无损测厚仪,荧光X-射线微小面积镀层厚度测量仪的特征◆可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度◆可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。◆薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于

X射线金属电镀层测厚仪

目的:提供X-ray测厚仪的操作及方法,从而了解镀层(金、镍、锡、银)的厚度情况。2.0  范围:适用于本公司品质部物理实验室X-ray测厚仪。3.0  X-ray测厚仪操作要求及规范3.1测试环境:温度22±3℃,湿度60±15%。3.2开机:打开测试主机、电脑、显示器,打印机电源。3.3进入Wi