固体表面分析仪的测量原理
在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。ZETA电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的ZETA电位。流动电势的大小由液相的流动压差P决定。ZETA电位即可定义为固体表面的固定层电荷与 离子移动层之间的电势，相应的流动电势系数为dU/dP。......阅读全文
固体表面分析仪的测量原理
在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。ZETA电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的ZETA电位。流动电势的大小由液相的流动压差P决定。ZET
固体表面分析仪的测量原理
在电化学双电流层的模型中，电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。ZETA电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离，由此得出实验的ZETA电位。流动电势的大小由液相的流动压差P决定。ZET
固体表面分析仪的简介
固体表面分析仪是科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），仪器给出了ZETA电位这样一个重要的信息。固体表面分析仪是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术处理
固体表面分析仪概述
固体表面分析仪是科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压（电势），仪器给出了ZETA电位这样一个重要的信息。固体表面分析仪是一种界面特性，这对于理解固体材料在很多工艺技术
固体表面分析仪的技术参数
测量范围：流动电压-2,000-+2,000mV 流动电流：-200-+200uA 测量单元电阻：5-20M 测量压力：-1000-+1000mbar PH值：PH2-PH12 电导率：1-1000ms/m 温度：20-30℃ 流速：最大500mL/min 样品尺寸： 夹片测量
固体表面分析仪的技术参数
测量范围：流动电压-2,000-+2,000mV 流动电流：-200-+200uA 测量单元电阻：5-20M 测量压力：-1000-+1000mbar PH值：PH2-PH12 电导率：1-1000ms/m 温度：20-30℃ 流速：最大500mL/min 样品尺寸： 夹片测量
固体表面分析仪简介和应用
固体表面分析仪是科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性，设计新型、特定性质的材料，如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。它拓展丰富了表界面分析知识，对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用 产品应用 可测试金属分散度、活性金属面积、晶体尺寸，利用脉冲化学吸附定量酸性强度及碱性强
电子天平测量固体密度的原理
首先我们来简单了解使用电子天平进行测量固体密度的原理： 1.物体的密度为其质量与体积的比值。 2.密度测量是依据阿基米德原理来实现的。该原理说明：浸入液体中的每一个固体失去的重量等于它所排开的液体的重量。 3.固体密度测量通常是使用一种已知密度液体（例如：水或乙醇）作为辅助液体，通
电子天平固体密度测量的原理
在日常实验室进行物质测量和分析时，经常会使用电子天平和密度测试组件进行固体密度的测量。利用科恩KERN电子天平EMB200-3V可测量密度大于辅助液体密度的固体，密度小于辅助液体密度的固体，液体密度，多孔材料（如：渗油，轴承材料）的密度。今天向大家简单介绍使用科恩KERN电子天平进行固体密度测
电子天平测量固体密度的原理
首先我们来简单了解使用电子天平进行测量固体密度的原理： 1.物体的密度为其质量与体积的比值。 2.密度测量是依据阿基米德原理来实现的。该原理说明：浸入液体中的每一个固体失去的重量等于它所排开的液体的重量。 3.固体密度测量通常是使用一种已知密度液体（例如：水或乙醇）作为辅助液体，通