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可以测导电原子力C-AFM，电流图可以反映电导率......阅读全文
可以测导电原子力C-AFM，电流图可以反映电导率
可以测导电原子力C-AFM，电流图可以反映电导率
静电力EFM是从轻敲模式AFM发展而来的细分成像模式，可以对样品表面的电场分布进行扫描。它采用两次扫描的方法，第一次扫描（主扫描， Main Scan）采用轻敲模式获得表面形貌，第二次扫描（Interleave扫描，Interleave Scan）将探针抬起一定高度，并给探针施加一个偏压，利用第一次
静电力EFM是从轻敲模式AFM发展而来的细分成像模式，可以对样品表面的电场分布进行扫描。它采用两次扫描的方法，第一次扫描（主扫描， Main Scan）采用轻敲模式获得表面形貌，第二次扫描（Interleave扫描，Interleave Scan）将探针抬起一定高度，并给探针施加一个偏压
导电性能测试仪，是测量碳素材料导电性能的专用仪器。该仪器采用高精度稳流源供电，电流 、电压自动显示，并且稳定，准确，直观，方便。灵活的测试试样平台适用于不同直径和不同长度的试样的测试。该仪器可用来按ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005和YS/T 64-1993标准方法测试
导电性原子力显微镜(C-AFM)导电式原子力显微镜是外加一组电流放大器于显微镜,然后利用导电探针接触模式扫描样品,在取得高度讯号的同时,若是样品表面有电流产生,探针也会取得此电流讯号,因此我们可以利用Conductive AFM的扫描,同时得到扫描区域得高度形貌图及电流分布图像, 更可进一步的于特定
电涂料的导电性能主要与填料的导电性、含量、颗粒大小以及聚合物与填料颗粒的相容性等因素有关,炭黑颗粒越细,网状链堆积越紧密,比表面积就越大;单位质量颗粒多,就越有利于在基质中形成链式导电结构。在其它条件一定时,炭黑颗粒在聚合物中的分散状况将决定导电涂料的导电性能。炭黑颗粒达到纳米级时,比表面积很大,在
本报讯据物理学家组织网6月2日报道，美国科学家设计出了一种新的打印过程，不仅比传统方法更迅捷，而且适用于多种有机材料，得到的有机半导体薄膜的性能也要优异10倍。研究人员在最新一期的《自然·材料学》杂志上表示，最新进展有望引领有机电子设备领域的新变革。 有机电子设备可以广泛应用于多个领
《自然》杂志1月18日（北京时间）发表了美国密歇根大学开发的一种新方法，诱导电子在有机材料富勒烯中“穿行”，距离远远超过此前认为的极限。这项研究提升了有机材料应用于太阳能电池和半导体制造的潜力，或将改变相关行业游戏规则。 与当今广泛应用的无机太阳能电池不同，有机物可以制成便宜的柔性碳基材料，如