电子探针分析方法
利用电子探针分析方法可以探知材料样品的化学组成以及各元素的重量百分数。分析前要根据试验目的制备样品，样品表面要清洁。用波谱仪分析样品时要求样品平整，否则会降低测得的X射线强度。 1 点分析用于测定样品上某个指定点的化学成分。下图是用能谱仪得到的某钢定点分析结果。能谱仪中的多道分析器可使样品中所有元素的特征X射线信号同时检测和显示。不像波谱仪那样要做全部谱扫描，甚至还要更换分光晶体。2 线分析用于测定某种元素沿给定直线分布的情况。方法是将X射线谱仪（波谱仪或能谱仪）固定在所要测量的某元素特征X射线信号（波长或能量）的位置上，把电子束沿着指定的方向做直线轨迹扫描，便可得到该元素沿直线特征X射线强度的变化，从而反映了该元素沿直线的浓度分布情况。改变谱仪的位置，便可得到另一元素的X射线强度分布。下图为50CrNiMo钢中夹杂Al2O3的线分析像。可见，在Al2O3夹杂存在的地方，Al的X射线峰较强。3 面分析用于测定某种元素的面分布情况......阅读全文
一文了解EPMA制样要求
国际标准分类中，epma 制样涉及到分析化学、词汇、陶瓷。在中国标准分类中，epma 制样涉及到基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、化学、特种陶瓷。国家质检总局，关于epma 制样的标准GB/T 21636-2008 微束分析.电子探针显微分析(EPMA)术语国际标准
一文了解EPMA制样要求
本专题涉及epma 制样的标准有12条。（链接） 国际标准分类中，epma 制样涉及到分析化学、词汇、陶瓷。 在中国标准分类中，epma 制样涉及到基础标准与通用方法、基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、化学、特种陶瓷。 国家质检总局，关于epma 制样的标准 GB/T 21
岛津应对超轻元素分析的科研利器
导读电子探针作为显微形貌观察和微区成分分析一体化的分析仪器，具有不损坏样品、分析方式多样（点、线、面及状态分析）、简单快速、准确度高等特点，被广泛应用在材料学、地质学等研究领域。超轻元素是指原子序数小于10的元素（Be、B、C、N、O、F），一直是电子探针分析中的难点和重点。目前，超轻元素分析测试，
电子探针X射线显微分析仪的透射电子相关内容
当电子束入射到薄的样品上，如果样品厚度比入射电子的有效穿透深度小得多，会有一定的入射电子穿透样品，这部分电子称为透射电子。电子的穿透能力与加速电压有关，加速电压高则入射电子能量大，穿透能力强。透射电子数目与样品厚度成反比，与原子序数成正比。用途:可通过电子能量损失的方法。测定样品成分；可观察样品
微区X射线光谱分析仪的分析应用
电子探针全称电子探针X 射线显微分析仪，又称微区X射线光谱分析仪，是一种利用电子束作用样品后产生的特征X射线进行微区成分分析的仪器，英文简称为EPMA。 可用来分析薄片中矿物微区的化学组成，分析对象是固体物质表面细小颗粒或微小区域，最小范围直径为1μm。除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，
电子探针X射线显微分析仪背散射电子及背散射电子像
背散射电子是指入射电子与样品相互作用(弹性和非 弹性散射)之后，再次逸出样品表面的高能电子，其能量接近于入射电子能量(E。)。背散射电子能量大于50eV，小于等于入射电子能量。背射电子的产额随样品的原子序数增大而增加，所以背散射电子信号的强度与样品的化学组成有关，即与组成样品的各元素平均原子序
电子光学系统的结构及功能特点
该系统为电子探针分析提供具有足够高的入射能量，足够大的束流和在样品表面轰击殿处束斑直径近可能小的电子束，作为X射线的激发源。为此，一般也采用钨丝热发射电子枪和2-3个聚光镜的结构。 为了提高X射线的信号强度，电子探针必须采用较扫描电镜更高的入射电子束流（在10-9-10-7A范围），常用的加速电压为
扫描电子显微镜观察生物试样叙述
进行从高倍到低倍的连续观察。放大倍数的可变范围很宽,且不用经常对焦。扫描电子显微镜的放大倍数范围很宽(从5到20万倍连续可调) ,且一次聚焦好后即可从高倍到低倍,从低倍到高倍连续观察,不用重新聚焦,这对进行事故分析特别方便。 观察生物试样。因电子照射而发生试样的损伤和污染程度很小。同其他方式的
奥林巴斯生物显微镜——扫描电镜的组成
奥林巴斯生物显微镜从原理上讲，奥林巴斯生物显微镜的扫描电镜的照明系统与透射电镜中的相似。但不同的是扫描电镜有一些独特地要求，例如经聚光镜作用后到达样品处的电子束应是直径很细的电子探针；电子束能作扫描运动；末级聚光镜的结构应便于信号的收集等。奥林巴斯生物显微镜的扫描电镜电子枪的高压不及透射电镜中那样高
能量色散和波长色散X荧光光谱仪的区别
扫描电镜束流小，电子探针能谱分析结果比扫描电镜能谱精确一个数量级，电子探针元素面扫描可以用能谱，也可以用波谱，一般对轻元素（C以下），波谱较准确，相对来说波谱扫描时间较长，一般定性及半定量基本用能谱。
Si(Li)X射线能谱仪
Si(Li)x射线能谱仪于一九六八午首次应川在电子探针,成为一种x射线微分析的工具。此后,在能量分辨率、计数率和数据分析等方面作了许多改进,目前已经成为电子探针和扫描电镜的一种受欢迎的附件,甚至在透射电子显微镜上也得到应用。
扫描电镜电子枪的高压不及透射电镜
奥林巴斯生物显微镜扫描电镜电子枪的高压不及透射电镜中那样高，通常设定在1—50kv。电子枪的阴极可以是热钨丝型的，但近年来已更多采用IjB6阴极，部分电镜上采用场发射枪，甚至肖特基热场发射枪。以热钨丝阴极为例，在前述加速电压下电子发射所形成的光源zui小交叉截面区直径为10一50ym。为了保证较好的
生物显微镜的扫描电镜电子枪
生物显微镜的扫描电镜电子枪的高压不及透射电镜中那样高，通常设定在1—50kv。电子枪的阴极可以是热钨丝型的，但近年来已更多采用IjB6阴极，部分电镜上采用场发射枪，甚至肖特基热场发射枪。以热钨丝阴极为例，在前述加速电压下电子发射所形成的光源zui小交叉截面区直径为10一50ym。为了保证较好的分辨率
关于“X射线能谱定量分析通则”国家标准制订的几个问题
Si(Li)探测器类的 X 射线能谱仪已广泛地应用于电子探针和扫描电镜的分析领域,据不完全统计, 我国大约有500多台 X 射线能谱仪与电子探针或扫描电镜(包括透视电子显微镜)联用,已成为最为主要的微区元素分析的工具,发挥了重要的作用。但也存在着分析结果上的明显缺陷,严重地影响定量分析的质量,并导致
xrf和epma两种成分分析方法有何区别
xrf和epma两种成分分析方法有何区别基本原理电子显微探针是指用聚焦很细的电子束照射要检测的样品表面，用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长和强度。由于电子束照射面积很小，因而相应的X射线特征谱线将反映出该微小区域内的元素种类及其含量。 利用特征X射线波长来确定元素的叫做波谱仪(WDS）
EPMA和EMPA区别
一.电子显微探针分析 EMPA--Electron microprobe analysis基本原理 电子显微探针是指用聚焦很细的电子束照射要检测的样品表面，用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长和强度。由于电子束照射面积很小，因而相应的X射线特征谱线将反映出该微小区域内的元素种类及其含量。
行从高倍到低倍的连续观察
⑥在大视场、低放大倍数下观察样品，用扫描电子显微镜观察试样的视场大。在扫描电子显微镜中，能同时观察试样的视场范围F由下式来确定：F=L/M 式中F——视场范围； M——观察时的放大倍数； L——显象管的荧光屏尺寸。 若扫描电镜采用30cm（12英寸）的显象管，放大倍数15倍时，其视场范围可达
关于分析电子显微镜的基本信息介绍
分析电子显微镜是由透射电子显微镜、扫描电子显微镜和电子探针组合而成的多功能的新型仪器。 是由透射电子显微镜、扫描电子显微镜和电子探针组合而成的多功能的新型仪器。其功能有：可获得透射电子图像、扫描透射电子图像、二次电子图像、背散射电子图像和X射线图像，可用X射线能谱和电子能谱进行微-微区成分分析
束斑直径和工作距离
束斑直径和工作距离 在SEM 中束斑直径决定图像的分辨率。束斑的直径越小图像的分辨率越高。一般来讲束斑直径的大小是由电子光学系统来控制，并同末级透镜的质量有关。如果考虑末级透镜所产生的各种相差，则实际照射到试样上的束斑直径d为[3]d2=d02+ds2+dc2+df2 (1)式中，d0高斯斑直
荧光法测种子活力的优缺点
荧光法测种子活力的优缺点：1、优点：在白菜、萝卜等十字花科植物种子上，效果很好。2、缺点：对于衰老死亡后会减弱荧光或失去荧光的种子不适用，对于后一种情况应采用直接观察法。荧光分析法的特点：荧光分析是一种先进的分析方法，它比电子探针法、质谱法、光谱法、极谱法等都应用的较广泛和普及，这同荧光分析具有很多
荧光分析的特点
荧光分析是一种先进的分析方法，它比电子探针法、质谱法、光谱法、极谱法等都应用的较广泛和普及，这同荧光分析具有很多优点分不开的。荧光分析所用的设备较简单，如目测荧光仪和荧光光度计构造非常简单完全可以自己制造。比起质谱仪、极谱仪和电子探针仪来它在造价上要便宜很多倍，而且荧光分析的最大特点是：分析灵敏
荧光分析的特点介绍
荧光分析是一种先进的分析方法，它比电子探针法、质谱法、光谱法、极谱法等都应用的较广泛和普及，这同荧光分析具有很多优点分不开的。荧光分析所用的设备较简单，如目测荧光仪和荧光光度计构造非常简单完全可以自己制造。比起质谱仪、极谱仪和电子探针仪来它在造价上要便宜很多倍，而且荧光分析的最大特点是：分析灵敏
荧光分析法的技术特点
荧光分析是一种先进的分析方法，它比电子探针法、质谱法、光谱法、极谱法等都应用的较广泛和普及，这同荧光分析具有很多优点分不开的。荧光分析所用的设备较简单，如目测荧光仪和荧光光度计构造非常简单完全可以自己制造。比起质谱仪、极谱仪和电子探针仪来它在造价上要便宜很多倍，而且荧光分析的最大特点是：分析灵敏度高
关于荧光分析法的特点介绍
荧光分析是一种先进的分析方法，它比电子探针法、质谱法、光谱法、极谱法等都应用的较广泛和普及，这同荧光分析具有很多优点分不开的。荧光分析所用的设备较简单，如目测荧光仪和荧光光度计构造非常简单完全可以自己制造。比起质谱仪、极谱仪和电子探针仪来它在造价上要便宜很多倍，而且荧光分析的最大特点是：分析灵敏
荧光分析法的特点介绍
荧光分析是一种先进的分析方法,它比电子探针法、质谱法、光谱法、极谱法等都应用的较广泛和普及,这同荧光分析具有很多优点分不开的。荧光分析所用的设备较简单,如目测荧光仪和荧光光度计构造非常简单完全可以自己制造。比起质谱仪、极谱仪和电子探针仪来它在造价上要便宜很多倍,而且荧光分析的最大特点是:分析灵敏度高
荧光分析法的特点
荧光分析是一种先进的分析方法，它比电子探针法、质谱法、光谱法、极谱法等都应用的较广泛和普及，这同荧光分析具有很多优点分不开的。荧光分析所用的设备较简单，如目测荧光仪和荧光光度计构造非常简单完全可以自己制造。比起质谱仪、极谱仪和电子探针仪来它在造价上要便宜很多倍，而且荧光分析的最大特点是：分析灵敏度高
关于离子探针的基本信息介绍
离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测
如何使用金相法鉴定夹杂物
鉴定夹杂物的方法有金相法、X射线或电子衍射法、扫描电镜和电子探针等技术。X射线或电子衍射法可用于确定夹杂物的类型，先用电解法把夹杂物分离出来，再进行结构分析。zui常用的是金相法，其优点是简单、直观，应用不同的放大倍数及各种照明技术就可基本确定夹杂物的类型，以及它们的数zui、大小、形状及分布特征。
sem的二次电子像的成像原理
你说的是SEM电镜吧，这主要是它的成像原理导致的其可以反映样品表面或者断面的形貌信息。SEM的工作原理为：从电子枪阴极发出的直径20(m～30(m的电子束，受到阴阳极之间加速电压的作用，射向镜筒，经过聚光镜及物镜的会聚作用，缩小成直径约几毫微米的电子探针。在物镜上部的扫描线圈的作用下，电子探针在样品
离子探针产品介绍、特点和应用领域
离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。可以探测电子探针显微分析方法检测极限