ICPMS可能的干扰来源有哪些
样品基体，等离子气体， 溶液都是干扰来源。要消除干扰，先要辨别是哪种干扰？一般都是通过tunning，碰撞/反应池模式来去除。......阅读全文
ICPMS可能的干扰来源有哪些
样品基体，等离子气体， 溶液都是干扰来源。要消除干扰，先要辨别是哪种干扰？一般都是通过tunning，碰撞/反应池模式来去除。
ICPMS可能的干扰来源有哪些
样品基体，等离子气体， 溶液都是干扰来源。要消除干扰，先要辨别是哪种干扰？一般都是通过tunning，碰撞/反应池模式来去除。
ICPMS的干扰——电离干扰
电离干扰 电离干扰是由于试样中含有高浓度的第I族和第II族元素而产生的，采用基体匹配、稀释试样、标准加入法、同位素稀释法、萃取或用色谱分离等措施来解决是有效的。
ICPMS－的干扰——质谱干扰
质谱干扰 ICP-MS中质谱的干扰（同量异位素干扰）是预知的，而且其数量少于300个，分辨率为0.8amu的质谱仪不能将它们分辨开，例如58Ni 对58Fe、 40Ar对40Ca、 40Ar16O对56Fe或40Ar-Ar对80Se的干扰（质谱叠加）。元素校正方程式（与ICP-AES中干扰谱线校正相
ICPMS的干扰——基体酸干扰
基体酸干扰 必须指出，HCl 、HClO4、H3PO4和H2SO4将引起相当大的质谱干扰。Cl+ 、P+ 、S+离子将与其他基体元素Ar+ 、O+ 、H+结合生成多原子，例如35Cl 40Ar对75As 、35Cl 16O对51V的叠加干扰。因此在ICP-MS的许多分析中避免使用HCl 、HClO4
质谱干扰来源
质谱干扰1）多原子离子干扰多原子离子干扰是最常见的质谱干扰类型。这些离子，顾名思义是由两个或更多的原子结合而成的短寿命的复合离子，其干扰来源为：等离子体/雾化所使用的气体、溶剂/样品的基体组分、样品中其他元素离子或者是来自周围环境氧气/氮气。例如：氩气等离子体中，氩气离子及氩气离子与其他离子形成的复
ICPMS的干扰——双电荷离子干扰
双电荷离子干扰双电荷离子产生的质谱干扰是单电荷离子M/Z的一半，例如138Ba2+对69Ga+，或208Pb2+对104Ru+。这类干扰是比较少的，而且可以在进行分析前将系统最佳化而有效地消除。
ICPMS的干扰——基体效应
基体效应 试液与标准溶液粘度的差别将改变各个溶液产生气溶胶的效率，采用基体匹配法或内标法可有效地消除。
ICPMS,ICPAES,GFAAS干扰问题
ICP-MS的干扰1． 质谱干扰ICP-MS中质谱的干扰（同量异位素干扰）是预知的，而且其数量少于300个，分辩率为0.8amu的质谱仪不能将它们分辩开，例如58Ni 对58Fe、 40Ar对40Ca、 40Ar16O对56Fe或40Ar-Ar对80Se的干扰（质谱叠加）。元素校正方程式（与ICP-
ICPMS的干扰——空间电荷效应
空间电荷效应 空间电荷效应主要发生在截取锥的后面，在此处的净电荷密度明显的偏离了零。高的离子密度导致离子束中的离子之间的相互作用，形成重离子存在时首先损失掉轻离子，例如Pb+对Li+3。基体匹配或仔细在被测物质的质量范围内选用内标有助于补尝这个影响，但这在实际应用是有困难的。同位素稀释法虽有效，但费
电子电位差计的干扰来源
电子电位差计的干扰，来源于仪表的内部和外部。 1.内部的干扰主要是电子放大器中的震动变流器、输入变压器、电源变压器等部件造成的， 2.外部的干扰主要是工业生产中大量使用电阻炉、感应炉等电器加热炉，而作为仪表变送器使用的热电偶，又与这些产生强电磁场的设备极为靠近。 3.此外，有时在仪表附近还
风速仪的干扰来源分析解读
风速仪的干扰来源有很多种，通常我们所说的干扰是电气的干扰，但是在广义上热噪声、温度效应、化学效应、振动等都可能给测量带来影响，产生干扰。在测量过程中，如果不能排除这些干扰的影响，仪表就不能够正常的工作。根据仪表输入端干扰的作用方式，可分为串模干扰和共模干扰。串模干扰是指叠加在被测信号上的干扰；
局部放电检测试验干扰的来源
广义的局放干扰是指除了与局放信号一起通过电流传感器进入局部放电检测仪及监测系统的干扰以外，还包括影响监测系统本身的干扰，诸如接地、屏蔽、以及电路处理不当所造成的干扰等。现场局部放电检测干扰特指前者，它可分为连续的周期型干扰、脉冲型干扰和白噪声。周期型干扰包括系统高次谐波、载波通讯以及无线电通讯等。脉
X荧光中干扰谱线的来源及消除方法
在X射线光谱分析中,由于谱线之前互相干扰比较少,并且减少这种干扰的方法较多,在多数情况下谱线干扰现象不是影响分析结果的主要因素。但是在某些情况如稀土化合物中稀土元素的测定中,谱线重叠现象仍然是严重的。这种干扰,轻则影响强度的确定,增加分析线强度测量的统计误差,降低分析元素的测定灵敏度;重则是某些分析
单颗粒ICPMS应用：通用池技术消除铁纳米颗粒质谱干扰
随着纳米颗粒在工业上的广泛应用，采用单颗粒模式电感耦合等离子体质谱法（SP-ICP-MS）分析金属纳米颗粒成为最有前途的技术之一。由于其高灵敏度、易用性和分析速度快等特点，ICP-MS是一种理想的技术，用于检测纳米颗粒的特性：无机成分、浓度、尺寸大小、粒度分布和聚集等。除了金和银纳米颗粒以外，零价铁
ICPMS/MS使用MS/MS功能，消除痕量元素分析中的质谱干扰...
作者：Ed McCurdy，安捷伦 ICP-MS 市场专家Glenn Woods，安捷伦 ICP-MS 应用专家Noriyuki Yamada，安捷伦 ICP-MS 研发专家 安捷伦科技在 2012 年 1 月隆重推出世界上首款电感耦合等离子体串联质谱仪 8800 ICP-MS/MS。本文作为后续跟
ICPMS测食品样品砷、铅、隔、铜、硒各类元素互相干扰吗？
1. 砷\硒要用CCT(或DRC);2. 如果样品中Cu的含量比较高,可以考虑Cu65测量.As应该考虑ArCl75的干扰,用CCT(或DRC).另外在样品消化过程中Se容易跑;3. As75要注意ArCl的干扰,如果CL很高的话用数学校正法比较困难;4. Se82灵敏度较低, As75有干扰, 7
概述波长色散X射线光谱分析仪干扰谱线的来源
XRF分为波长色散和能量色散两大分支，由于激发、色散和检测方法不同，他们对谱线干扰的处理办法有所不同。这里主要讨论应用普通X光管激发的波长色散X射线光谱分析仪法中的谱线干扰问题。对于利用各种激发源的能散法，只作简单比较。为区别两种方法的谱线干扰，分为称它们为波长干扰和能谱干扰。
有关传感器的干扰源、干扰种类及干扰现象
有关传感器的干扰源、干扰种类及干扰现象 一、干扰问题的产生模拟传感器的应用非常广泛，不论是在工业、农业、国防建设，还是在日常生活、教育事业以及科学研究等领域，处处可见模拟传感器的身影。但在模拟传感器的设计和使用中，都有一个如何使其测量精度达到zui高的问题。 而众多的干扰一直影响着传感器的测量精度，
ICPMS
如果我们想利用头发研究环境中Pb随时间的变化，可以选择什么分析仪器或者方法？（If we want to investigate the variation of Pb in the living environment, what instrument or method can you use
GFAAS干扰
1． 光谱干扰 使用氘灯背景校正的GFAAS有少许光谱干扰，但使用Zeeman 背景校正的GFAAS能去除这些干扰。 2． 背景干扰 在原子化过程中，针对不同的基体，应仔细设定灰化步聚的条件以减少背景信号。采用基体改进剂有助于增加可以容许的灰化温度。在很多GFAAS应用中，与氘灯扣背景相比，Zeem
ICPMS在测定土壤中的应用
电感祸合等离子体质谱法是一种相对成熟的技术，所以是非常值得推广与应用的一种方法，随着技术不断地进步，当前在无机分析领域仍然是研究的热点，该文主要是对ICP-MS技术的特点进行阐述，并对其发展前景提出一些个人见解。 1 ICP-MS概述 电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）的优势主要包括高
ICP用氦气会把检测器弄坏吗
电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）是一种用于检测和定量人体体液中微量和超微量元素的重要手段，常用来测定血液和血浆等复杂基质中的多种元素，但背景中的等离子体氩(40Ar)与样品基质中的碳(12C)重组而成的40Ar12C会对铬(52Cr)的信号产生干扰。本文使用氢气作反应气，以降低干扰，使铬(52C
ICP用氦气会把检测器弄坏吗
电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）是一种用于检测和定量人体体液中微量和超微量元素的重要手段，常用来测定血液和血浆等复杂基质中的多种元素，但背景中的等离子体氩(40Ar)与样品基质中的碳(12C)重组而成的40Ar12C会对铬(52Cr)的信号产生干扰。本文使用氢气作反应气，以降低干扰，使铬(52C
ICP用氦气会把检测器弄坏吗
电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）是一种用于检测和定量人体体液中微量和超微量元素的重要手段，常用来测定血液和血浆等复杂基质中的多种元素，但背景中的等离子体氩(40Ar)与样品基质中的碳(12C)重组而成的40Ar12C会对铬(52Cr)的信号产生干扰。本文使用氢气作反应气，以降低干扰，使铬(52C
ICP用氦气会把检测器弄坏吗
电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）是一种用于检测和定量人体体液中微量和超微量元素的重要手段，常用来测定血液和血浆等复杂基质中的多种元素，但背景中的等离子体氩(40Ar)与样品基质中的碳(12C)重组而成的40Ar12C会对铬(52Cr)的信号产生干扰。本文使用氢气作反应气，以降低干扰，使铬(52C
ICPMS主要结构解析
1.样品引入系统ICP要求所有样品以气体、蒸汽和细雾滴的气溶胶或固体小颗粒的形式进入中心通道气流中。针对于不同样品性状，有多种引入方式。（1）流动注射进样特点：样品用量少，对溶液TDS和粘度要求不高，设备简单灵活；（2）电热蒸发直接进样特点：进样量少，传输率高（＞60%），可预先去除溶剂，可预先去除
安捷伦荣获ANTOP－2021“智能化ICPMS大奖”
分析测试百科网讯 记录分析测试行业前行的每一步，2021年第二期ANTOP奖正式起航。在历经网友投票和专家评审后，安捷伦7850 ICP-MS 质谱仪正式获得2021年第二期ANTOP“智能化ICP-MS大奖”。奖项名称：智能化ICP-MS大奖奖项主体：Agilent 7850 ICP-MS 质
ICPMS－简介
ICP-MS全称电感耦合等离子体质谱（Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry），可分析几乎地球上所有元素（Li-U）ICP-MS技术是80年代发展起来的新的分析测试技术。它以将ICP的高温（8000K）电离特性与四极杆质谱计的灵敏快速扫描的优点相结合
ICP光源的电离干扰、化学干扰和基体干扰相对较小的原因
试样引入ICP光源的主要方式有：雾化进样（包括气动雾化和超声雾化进样）、电热蒸发进样、激光或电弧和火花熔融进样，对于特定元素还可以采用氢化物发生法进样。其中，以气动雾化方式最为常用。原因包括（1）样品在ICP光源中的原子化与激发是在惰性气体Ar的氛围进行的，因此不容易氧化电离；（2）样品的原子化与激