X荧光中干扰谱线的来源及消除方法
在X射线光谱分析中,由于谱线之前互相干扰比较少,并且减少这种干扰的方法较多,在多数情况下谱线干扰现象不是影响分析结果的主要因素。但是在某些情况如稀土化合物中稀土元素的测定中,谱线重叠现象仍然是严重的。这种干扰,轻则影响强度的确定,增加分析线强度测量的统计误差,降低分析元素的测定灵敏度;重则是某些分析元素特别是微量元素无法准确测定。因此克服干扰谱线对于改善测定结果的准确度是十分必要的。 一、干扰谱线的来源XRF分为波长色散和能量色散两大分支,由于激发、色散和检测方法不同,他们对谱线干扰的处理办法有所不同。这里主要讨论应用普通X光管激发的波长色散法中的谱线干扰问题。对于利用各种激发源的能散法,只作简单比较。为区别两种方法的谱线干扰,分为称它们为波长干扰和能谱干扰。 1)波长干扰所谓波长干扰,指的是分析线或各种参比线,受到x射线管、样品和光路中发射出来的波长相近谱线的干扰,这些波长相近的谱线,一般包括相干和不相干散......阅读全文
X荧光中干扰谱线的来源及消除方法
在X射线光谱分析中,由于谱线之前互相干扰比较少,并且减少这种干扰的方法较多,在多数情况下谱线干扰现象不是影响分析结果的主要因素。但是在某些情况如稀土化合物中稀土元素的测定中,谱线重叠现象仍然是严重的。这种干扰,轻则影响强度的确定,增加分析线强度测量的统计误差,降低分析元素的测定灵敏度;重则是某些分析
概述波长色散X射线光谱分析仪谱线干扰的消除
在X射线光谱法中，如上所述，谱线干扰的来源基本上可分为两方面，即发生于仪器和样品本身。属于样品中固有的干扰线除采用化学分离方法去除干扰元素外，有的也可以利用仪器方法来克服，或者进行数学上的校正，现在，对以上两种来源的干扰线，如何从仪器上克服和进行数学上的校正，分别讨论如下： 1）激发源 对
概述波长色散X射线光谱分析仪干扰谱线的来源
XRF分为波长色散和能量色散两大分支，由于激发、色散和检测方法不同，他们对谱线干扰的处理办法有所不同。这里主要讨论应用普通X光管激发的波长色散X射线光谱分析仪法中的谱线干扰问题。对于利用各种激发源的能散法，只作简单比较。为区别两种方法的谱线干扰，分为称它们为波长干扰和能谱干扰。
X荧光能谱分析仪中谱线处理方法的研究
本文主要讨论了能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)中对谱数据进行处理的方法。文中使用基于离散Meyer(dmey)小波方法对谱线平滑,对信号进行3层分解,保留低频部分,去除高频部分。利用剥峰的方法估计本底,在前人所做工作的基础上做了一些改变,使得运算速度更快。接着对处理好的谱定性分析(寻峰),根据
干扰效应及消除方法
原子吸收光谱法的主要干扰有物理干扰、化学干扰、电离干扰、光谱干扰和背景干扰等。5.3.2.1 物理干扰物理干扰是指试液与标准溶液物理性质之间有差异而产生的干扰。如黏度、表面张力或溶液的密度等的变化，影响样品的雾化或气溶胶到达火焰等引起原子吸收强度的变化而引起的干扰。为了消除物理干扰可采用配制与被测试
AAS干扰及消除方法
原子吸收光谱法的主要干扰有物理干扰、化学干扰、电离干扰、光谱干扰和背景干扰等。一、物理干扰 物理干扰是指试液与标准溶液 物理性质有差异而产生的干扰。如粘度、表面张力或溶液的密度等的变化，影响样品的雾化和气溶胶到达火焰传送等引起原子吸收强度的变化而引起的干扰。 消除办法：配制与被测试样组
COD实验中的干扰及消除
COD实验中的干扰及消除氯离子是主要的干扰成分，水样中含有氯离子会使测定结果偏高，出厂标配的C1试剂可以掩蔽1000mg/L以下的氯离子干扰，大于1000mg/L的氯离子含量，可稀释后再测定；在600nm±20nm 处测试时，Mn(Ⅲ)、Mn（Ⅵ）或Mn（Ⅶ）形成红色物质，会引起正偏差，其500mg
质谱干扰来源
质谱干扰1）多原子离子干扰多原子离子干扰是最常见的质谱干扰类型。这些离子，顾名思义是由两个或更多的原子结合而成的短寿命的复合离子，其干扰来源为：等离子体/雾化所使用的气体、溶剂/样品的基体组分、样品中其他元素离子或者是来自周围环境氧气/氮气。例如：氩气等离子体中，氩气离子及氩气离子与其他离子形成的复
cod测定中cl干扰消除方法
汞盐法 汞盐法是国家标准方法测定COD时采用的消除Cl-干扰的方法，通常硫酸汞掩蔽剂的加入量按HgSO4和Cl-质量比为10：1为宜。对Cl-的质量浓度小于2000mg／L的水样，该方法效果很显著，但当废水中Cl-的质量浓度超过2000mg／L，甚至高达10000—20000mg／l而COD低时，
污水COD测定的干扰及消除方法
对污水COD测定的干扰及消除方法综述摘要:在长期的COD监测实践中发现Cl-很大程度上影响着测定的准确性，如何消除Cl-的干扰，提高COD测定的重复性和准确度，同时减轻二次污染，是广大环境监测者非常关注并且着重研究的问题。本文综合分析了Cl-对COD测定的影响原因，并介绍了COD测试中多种消除Cl-
COD测定中氯离子干扰消除方法
在国家标准方法(铬法)测定COD的过程中，水样中存在的Cl-极易被氧化剂氧化；从而消耗氧化剂的量导致测量结果偏高，而且还与Ag2SO4反应生成AgCl沉淀使催化剂中毒，因此Cl-成为废水COD测定的主要干扰物，尤其是对于高氯低COD的废水，采用国家标准方法所测数据几乎不具有参考价值。长期以来广大环保
ICP光谱仪分析中谱线重叠干扰的判别及分析线选择
ICP光谱仪目前已成为最常规的分析仪器之一，应用ICP发射光谱仪进行元素分析的人也越来越多，它的应用领域也越来越广，因此从事ICP发射光谱分析的人也随之不断增多。ICP光谱仪分析谱线是非常多的，很多朋友不知道在分析时选用哪条谱线，这里简要的说一下。在分析技术中，我们都会注意到它的干扰问题，因为干扰效
COD测定中消除CI干扰的方法
对水样进行稀释是简单有效的方法之一，国标中也提到对Cl-含量超过1000mg/L 水样进行稀释，但对于高氯低COD的水样稀释倍数过高会影响测定精度。目前，消除Cl-的干扰方法有很多，主要有汞盐法、银盐沉淀法、标准曲线校正法、氯气校正法、密闭消解法、低浓度氧化剂法、KI-KMnO4氧化法、铋吸收剂
COD测定中氯离子干扰的消除方法
在国家标准方法(铬法)测定COD的过程中，水样中存在的Cl-极易被氧化剂氧化；从而消耗氧化剂的量导致测量结果偏高，而且还与Ag2SO4反应生成AgCl沉淀使催化剂中毒，因此Cl-成为废水COD测定的主要干扰物，尤其是对于高氯低COD的废水，采用国家标准方法所测数据几乎不具有参考价值。长期以来广大环保
COD测定中Cl的干扰与消除方法
COD（化学需氧量）是水质监测中必不可少的项目，其含义指在一定条件下用强氧化剂处理水样时所消耗氧化剂的量，以氧的mg/L来表示，化学需氧量反映了水中受还原性物质污染的程度。在检测分析过程中，水中还原性物质通常有Cl-、NO2-、Fe2+、S2-、NH3或NH4+等，这些离子的存在会影响COD测定结
重铬酸钾法中Cl干扰及消除
Cl-干扰及消除当水样中Cl-质量浓度>1000mg/L时,Cl-被重铬酸钾氧化而产生正干扰。反应方程式如下：(Cr2O7)2-+6Cl-+14H+→2Cr3++3Cl2+7H2O消除方法：加入硫酸汞,使硫酸汞和Cl-生成难离解的可溶性的氯化汞络合物,大大降低了Cl-和重铬酸根离子之间的反应能力,可
谱线干扰的概念和定义
待测元素分析线上有其他元素谱线重叠或部分重叠,导致分析结果产生误差,或该分析线无法用于光谱分析。有三种情况:分析线与干扰线波长基本相同,谱线完全重叠;分析线与干扰线波长相近,谱线部分重叠;分析线落在带状光谱上。采用色散率及分辨率高的摄谱仪,可减小或消除谱线干扰。
分析中干扰物质如何消除
所谓干扰，泛指在分析测试过程中由非故意原因导致测定结果失真的现象。更具体的说干扰就是由于性质与待测成分相近的共存物质在分析测试中表现出相似的反应性能。消除干扰主要靠哪些技术？消除干扰的小妙招！ 由于化学干扰的复杂性，目前尚无一种通用的消除这种干扰的方法，怎么办？当然要针对特定的样品，待测元
ICP光谱仪分析中基体干扰的机理及消除方法
ICP光源由于ICP温度高和电子数密度高的原因，基体效应较小。但是，对于基体成分复杂的样品，当基体含量与待测元素浓度相差很大时，将会产生各种干扰效应，使ICP光谱仪分析检测限提高，选择性变差。所谓基体效应主要指共存组分对分析元素信号的影响，只有当基体与待测组分共存时才表现出来，不具有加和性。基体效应
X荧光光谱仪分析中的干扰分析
1、在X荧光光谱仪分析中，某些元素间可能有全部或者部分谱线重叠。基本参数方程要求使用没有受到谱线重叠影响的净强度。在这些方程中包含某些经验的修正。 2、在X射线光谱仪分析中，在某些元素间可能存在元素间干扰或者基体效应。来弥补这些效应的经验方式就是制备一系列校正标样的曲线，浓度范围涵盖要分析的范围。此
X射线荧光光谱按分离特征谱线的方法分为哪几种
X射线荧光光谱按 分 离 特 征 谱 线 的 方 法 分 为 波 长 色 散 型（WD－XRF）和 能 量 色 散 型（ED－XRF）两种。
X射线能谱分析中谱线重叠问题
扫描电子显微镜上配接Si(Li)探测器X射线能谱仪,进行地质样品分析时,由于它的峰,背比值较低和谱线分辨率不如X射线波谱仪,尽管探测效率很高,仍然存在谱线的干扰或重叠现象。谱线的干扰或重叠现象主要划分为三个类型:相邻或相近元素同一线系(K、L、M)的谱线之间重叠;原子序数较低的K线系谱线与原子序数较
X荧光光谱仪分析中的误差来源
X射线荧光光谱仪是通过X射线管产生的X射线作为激光源，激发光源激发样品产生X荧光射线。根据荧光X射线的波长和强度来确定样品的化学组成。作为一种质量检测手段，X荧光光谱仪在我国各行各业应用越来越广泛。研究X荧光光谱仪在分析过程中的误差，提高仪器的分析准确度成为重要的课题。 X射线荧光分析过程中产生误差
ICP光谱仪分析中的物理干扰及消除
等离子体光谱法（ICP-OES）近年在实验室应用越来越广泛，对等离子体分析法的研究也越来越多，对等离子体光谱法的干扰也越来越多，本文简单介绍一下ICP光谱仪分析中的物干扰。 溶液物理性质不同导致的干扰效应称为物理干扰，又称为物性干扰，主要是由分析样品的溶液黏度、表面张力以及密度差异引起谱线强度的变化
原子吸收分析法中消除化学干扰的方法
化学干扰是原子吸收光谱分析法中的主要干扰来源。鉴于化学干扰是一个复杂的过程,前人提出的一些方法未必都适合所面临分析任务的要求,有时还需根据自己特定的分析对象,设计干扰试验和研究消除干扰的方法。1.化学分离 用化学方法将分析元素与干扰组分分离,仅能消除干扰,也使分析元素得到富集,灵敏度得到提高。常用
原子吸收分析法中物理干扰的消除方法
由于物理干扰是非选择性干扰,其消除的方法有一定的通用性。主要方法有:(1)用与分析试样组成相似的标准系列溶液制作校正曲线,这是最常用的方法。在有些情况下,并不完全清楚分析试样的组成难于进行试样组成的匹配。(2)当配制与分析试样组成相似的标准溶液有困难时,可用标准加入法。标准加入法可以消除物理干扰,提
原子吸收光谱法中可能遇到的主要干扰及消除方法
(1)物理干扰 即样品在转移、蒸发和原子化过程中，由于溶剂或溶质的物理化学性质改变而引起的干扰。通常采用：①配制与待测液组成相似的标准溶液；②采用标准加入法进行定量分析等方法进行消除。(2)化学干扰 即在溶液中或原子化过程中，待测元素与其他组分发生化学反应而使其原子化程度升高或降低而引起的干扰。消除
定性分析消除干扰的方法
消除干扰的方法有：①用各种分离方法将干扰物质除去；②用隐蔽法(见隐蔽和解蔽)将干扰物质隐蔽起来，例如 F-的干扰常用加硼酸根使其变为很稳定的BF嬄而起隐蔽作用；在用H2S检验Cd2+时,如果有Cu2+存在,在CdS沉淀时，也会产生CuS，如果加入KCN产生稳定的【Cu(CN)3】2-，使Cu2+隐蔽
实验误差来源和消除方法
一、误差的来源 一个客观存在的具有一定数值的被测成分的物理量，称为真实值，测定值与真实值之差称为误差。根据产生误差的原因，通常分为两类，即系统误差和偶然误差。 系统误差是由固定原因造成的误差，在测定的过程中按一定规律重复出现，有一定的方同性，即测定值总是偏高或总是偏低，这种误差的大小是
原子吸收光谱仪干扰及消除方法
干扰及消除方法 干扰分为：化学干扰、物理干扰、电离干扰、光谱干扰、背景干扰 化学干扰消除办法：改变火焰温度、加入释放剂、加入保护络合剂、加入缓冲剂 背景干扰的消除办法：双波长法、氘灯校正法、自吸收法、塞曼效应法 原子吸收光谱法的优点与不足。 (1) 检出限低，灵敏度高。火焰原子吸收法的