WIKI资讯
WIKI资讯
元素分析仪能分析金属元素。测量范围：（因该仪器可检测的元素较多，现以钢铁中的C、S、Mn、P、Si、Cr、Ni、Mo、Re、电脑多元素一体化分析仪器Mg、Fe、Cu、Al、V、W、Ti等常见元素为例）碳：0.001—10.00% 、 硫: 0.0005—0.5000% 、锰0.10～15.00%、 硅0.10～5.00%、 磷0.005～0.80%、铬0.01～25.0%、 钼0.101～6.00%、镁0.010～0.100%、镍0.010～30.0%、 稀土0.01～0.100%等。如改变测试条件，该范围可相应扩大。......阅读全文
LIBS中文含义：激光诱导击穿光谱(Laser Induced Breakdown Spectroscopy)，简称LIBS。1962年美国Brech发表的一篇LIBS论文标志LIBS的诞生，至今已经有53年的发展历史。LIBS技术由于不需要样品准备、无损、快速、原位、多元素分析功能，被称为是“未来
电感耦合等离子体发射光谱仪又称为ICP光谱仪、ICP原子发射光谱仪，以电感耦合高频等离子体为激发光源，利用每种元素的原子或离子发射特征光谱来判断物质的组成，进行元素的定性与定量分析。 可以看到，ICP光谱仪主要由进样系统、电感耦合等离子体光源(IC
X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25 年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁 分析
X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁
一零一、以前点火都是一下就点着了,最近两天点火怎么能明显看到在线圈里有和闪电一样的火丝,持续时间也有6-8S,才能着火 1. 距管有水或者氩气很潮湿 我以前距管没晾干就点出现过这现象. 2. 我遇见了这样的问题，老是几次都点不着，换了气后又可以了 3. 如果排除了氩气纯度的问题,很大的可能会是功率藕
元素分析是研究有机化合物中元素组成的化学分析方法。分为定性、定量两种。前者用于鉴定有机化合物中含有哪些元素； 后者用于测定有机化合物中这些元素的百分含量。例如，被测物质在特殊仪器中燃烧后，可定量地测定成二氧化碳形态的碳、成水形态的氢、成单体形态或氮氧化物形态的氮和成 二氧化硫形态的硫等。介绍利用化学
1.什么是XRF?XRF:X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence) 人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。 一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（
更快的速度，性价比最高——最新iCAP 7000系列ICP-OES赛默飞全球痕量元素分析市场部总监 Holley Adrian先生 赛默飞全球痕量元素分析市场部总监Holley Adrian先生在报告中重点介绍了赛默飞在痕量元素分析方面的分析仪器与
材料的逆向分析是现行材料研发中的重要的手段，也是实现材料研发中的最经济、最有效的的研发手段。如何实现材料的逆向分析，从认识材料的分析仪器着手。 成分分析简介 成分分析技术主要用于对未知物、未知成分等进行分析，通过成分分析技术可以快速确定目标样品中的各种组成成分是什么，帮助您对样品进行定性定量
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱
成分分析： 成分分析按照分析对象和要求可以分为 微量样品分析 和 痕量成分分析 两种类型。 按照分析的目的不同，又分为体相元素成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。 体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP、质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方
石油是一种由碳氢化合物为主要成分的复杂的混合物，但石油产品中的微量元素也在石化生产和使用过程中扮演着重要的角色，例如原油中的As会在石油炼制过程中对催化剂产生不良影响，Ni、V和Pb等元素可以作为原油的指纹信息，对于原油的形成以及石油泄漏的追责方面提供有力的参考，汽油中的Mn、Si、S等元素会对发动
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。
随着中国汽车工业的迅猛发展，汽车产量和保有量年年上升。根据国家相关法律法规规定，为了保障人民的财产安全，汽车到了一定的使用年限必须报废，我国2016年汽车产量为2000多万辆，由此可见报废汽车对带来的环境与资源压力日益严重。为了减少报废汽车对生态环境的破坏，保护人体健康安全，提高整个汽车产业链的
2011年10月12~15日期间，第十四届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA）在北京展览馆隆重召开。今年，德国耶拿分析仪器股份公司中国代表处迎来了自己的十周年庆，并第六次参加BCEIA。耶拿中国团队始终坚持推广创新技术，公司多项国际领先的技术成果已为国内原子
荧光分析法是指利用某些物质被紫外光照射后处于激发态，激发态分子经历一个碰撞及发射的去激发过程所发生的能反映出该物质特性的荧光，可以进行定性或定量分析的方法。由于有些物质本身不发射荧光（或荧光很弱），这就需要把不发射荧光的物质转化成能发射荧光的物质。例如用某些试剂（如荧光染料），使其与不发射荧光的
二次离子质谱（secondary ion mass spectroscopy），是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器，它是通过高能量的一次离子束轰击样品表面，使样品表面的分析吸收能量而从表面发生溅射产生二次粒子,通过质量分析器收集、分析这些二次离子，就可以得到关于样品表面信息的图谱。中文名 二次离子
手持式光谱仪的应用非常广泛，涉及：电力、石化、考古、金属加工、压力容器、废旧物资回收、航空航天、地质勘探、矿山测绘、开采、矿石分选、矿产贸易、金属冶炼、环境监测、土壤监测、玩具、服装、鞋帽、电子产品等众多领域。手持式光谱仪是一种基于XRF光谱分析技术的光谱分析仪器，当能量高于原子内层电子结合能的高能
X荧光光谱仪的优势和劣势优势:a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测
现代微束分析技术的进步，一方面，显著提高了分析精度，它甚至可以达到采用化学法分离和纯化处理后的测量精度; 另一方面，显著提升了空间分辨能力，其分析束斑的大小从微米级进入亚微米或纳米级. 在离子探针方面，最新型号Cameca IMS- 1280HR以高分析精度为特色，而Cameca NanoSIMS
X射线X射线(Xray)是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现，故又称伦琴射线。其特性通常用能量(keV)或波长(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射线是原子内层电子在高速运动电子的冲击下产生跃迁而发射的光辐射，其波长很短约介于0.001~2
产品介绍 全反射X荧光（TXRF）分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术，使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪（EDXRF）本底降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏度，避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应；同时TXRF技术又继承了ED
产品介绍 全反射X荧光（TXRF）分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术，使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪（EDXRF）本底降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏度，避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应；同时TXRF技术又继承了ED
全反射X荧光（TXRF）分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术，使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪（EDXRF）本底降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏度，避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应；同时TXRF技术又继承了EDXRF方法的优越
X射线荧光光谱仪就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 X射线荧光光谱法进行定量分析的依据是元素的荧光X射线强度I1与试样中该元素的含量Wi成正比： Ii=IsWi（10.2）
X荧光光谱仪是目前常用的分析仪器之一，下面来了解下关于X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱仪样品制备 进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的计数率也
X荧光光谱仪是目前zui常用的分析仪器之一，下面来了解下关于X荧光光谱仪测试方法： 1、X荧光光谱仪样品制备 进行x射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。无论什么样品，样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误差；化学组成相同，热处理过程不同的样品，得到的
原子吸收光谱分析仪器具有灵敏度高，可达到10-9 ~ 10-17 克/升；重复性和选择性好、操作比较简便、快速、结果准确、可靠等优点；检测时样品用量少，在几—几十微升之间，测量范围广，几乎能用来分析所有的金属元素和类金属元素元件。原子吸收光谱分析仪器可应用于冶金、化工、地质、农业
X荧光光谱仪是一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式。X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12～92的所有元素，选择性高，分析微量组分时受基体的影响小，在地质、采矿和冶金等部门应用很广。X荧光光谱仪的原理：元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，
ICP-OES（或称ICP-AES），全称是电感耦合等离子体发射光谱仪，迄今为止，在溶液态的元素分析领域，ICP-OES是被广大用户称赞最多的仪器。为什么这么说？因为它具有几大优点：（1）可以定量分析元素周期表中>73种元素，适用于广泛的标准；（2）通量很高，一分钟内可同时分析样品中的多元