γ射线料位计概述

γ射线料位计也叫γ射线物位计、γ射线液位计,是利用物料对γ射线的阻挡作用进行物位测量的仪表。除了γ射线料位计,还有中子物位计等用其他类型的射线进行物位测量的仪表,都属于同位素物位计。同位素物位计也叫放射性同位素料(物)位计、核料位计、放射性料(物)位计、射线料(物)位计、辐射式料位计、射线式料位计、核辐射物位计、射线液位计等,也与γ射线密度计、中子物位计、射线测厚仪等仪表,在口语中被统称为射线仪表、放射性仪表、辐射式仪表、核仪表、同位素仪表等。 (注:由于中子等其他类型的射线,应用广泛程度远小于γ射线,所以有时候γ射线料位计在口语中也被粗略地用如下名词完全对等替代:射线料位计、射线物位计、射线液位计、放射性料位计、放射性液位计等,而对中子物位计特定称为“中子物位计”、“中子料位计”、“中子液位计”)......阅读全文

常见料位计的优缺点

  超声波物位计  优点:非接触。  局限:粉尘影响/凹凸面影响/噪音非接触式;  雷达料位计  优点:非接触。  局限:介电常数有要求/粉尘影响/凹凸面影响;  推荐:采用高发射频率的,四线制的雷达  导波雷达物位计  优点:对某个点的测量。  局限:介电常数有要求/挂料/拉力影响;  激光物位计

雷达料位计的安装要求

  1、在安装雷达料位计时,应避开振动、高压清洗及横向负载安装,以免仪表受损。  2、雷达料位计在安装时应尽可能避开进料口,以免下落的物料干扰测量回波影响测量。  3、安装雷达料位计时,应尽量避免将仪表在有强涡流处安装。若现场有搅拌或很强的化学反应等,最好采用导波管或旁通管进行测量。  4、为免回波

雷达料位计的应用范围

  雷达料位计适用于酸碱储罐、浆料储罐、固体颗粒、小型储油罐。各类导电、非导电介质、腐蚀性介质。如煤仓、灰仓、油罐、酸罐等

常见料位计的优缺点

  常见料位计的优缺点如下:  超声波物位计  优点:非接触。  局限:粉尘影响/凹凸面影响/噪音非接触式;  雷达料位计  优点:非接触。  局限:介电常数有要求/粉尘影响/凹凸面影响;  推荐:采用高发射频率的,四线制的雷达  导波雷达物位计  优点:对某个点的测量。  局限:介电常数有要求/挂

导波雷达料位计的特点

  NIVELCO 导波雷达料位计是依据时域反射原理( T D R T i m eDomain Reflectometry)为基础的雷达料位计,时域反射原理首先是用于通讯电缆的故障检测,今天我们将导波雷达料位计成功应用于工业测量领域.  导波雷达料位计是依据时域反射原理(TDR)为基础的雷达料位计,

概述x射线的基本特征

  1 穿透性:X线波长很短,具有很强的穿透力,能穿透一般可见光不能穿透的各种不同密度的物质,并在穿透过程中受到一定程度的吸收即衰减。X线的穿透力与X线管电压密切相关,电压愈高,所产生的X线的波长愈短,穿透力也愈强;反之,电压低,所产生的X线波长愈长,其穿透力也弱。另一方面,X线的穿透力还与被照体的

自动X射线检测仪概述

  X射线具有很强的穿透性,是最早用于各种检测场合的一种仪器。X射线透视图可显示焊点厚度、形状及质量的密度分布。这些指标能充分地反映出SMT贴片加工生产焊点的焊接质量,包括开路、短路、孔洞、内部气泡以及锡量不足,并能做到定量分析。  X射线由一个微焦点X射线管产生,穿过管壳内的一个铍窗,投射到试验样

X射线晶体衍射学的概述

  X射线望远镜光学系统一般采用沃尔特Ⅰ型──抛物面焦点与双曲面的后焦点重合的同轴光学系统。其焦平面通过双曲面的前焦点。按照制作工艺来划分,X射线望远镜的研制已经历三代。第一代镜面是铝制的,效率为1%,1963年用这种望远镜拍摄到分辨率为几角分的照片,可看出太阳上存在着X射线发射区。第二代镜面是在光

X射线粉末衍射仪概述

  X射线对于晶体的衍射强度是由晶体晶胞中原子的元素种类、数目及其排列方式决定的。  X射线衍射仪是利用X射线衍射法对物质进行非破坏性分析的仪器,由X射线发生器、测角仪、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。  “X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶

SDL85A-闪烁料位计提高了工作的可靠性

  闪烁料位计SDL-85A是利用γ射线通过介质后被吸收减弱的程度不同,对各种形态物料进行非接触无损检测式仪表,它具有安装简单、指示可靠、仪器本身坚固耐用并易于实现生产过程自动控制,适用于高温、高压、密闭容器、强腐蚀等条件下物料位置的测定及远距离自动测量和控制,具有同类型检测仪器不可比拟的优点。  

概述荧光X射线测厚仪的应用范围

  -测厚范围可测定厚度范围:取决于您的具体应用。请告诉牛津仪器您的具体应用,我们将列表可测定的厚度范围-基本分析功能无标样检量线测厚,可采用一点或多点标准样品自动进行基本参数方法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)可检测元素范围

X射线荧光光谱仪概述

  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水

概述X射线衍射分析的应力测试

  X 射线测定 应力以衍射花样特征的变化作为应变的量度。宏观 应力均匀分布在物体中较大范围内,产生的均匀应变表现为该范围内方向相同的各 晶粒中同名 晶面间距变化相同,导致衍 射线向某方向位移,这就是X 射线测量宏观应力的基础;微观应力在各晶粒间甚至一个晶粒内各部分间彼此不同,产生的不均匀应变表现为

雷达料位计的相关原理介绍

  雷达料位计这种产品在这些实际生产的过程当中,本身也都有更多的特色,他们能够应用于各种不同的导管建设;    而且在这些导电或者是非导电的介质上同样也会有所不同,如今来看很多人对于雷达料位计的基本原理或者是技术应用非常感兴趣。    雷达料位计有哪些基本原理?    雷达料位计是一种特殊形式

超声波料位计的应用

  超声波料位计适合测量各类粉状、块状固体介质的料位高度。如饲料、水泥、煤、砂子、石块等固体在内的绝大多数的物位。变送器通过智能的微处理器可以输出  4-20mA的标准信号,继电器输出还可以支持HART通信协议。由于超声波物位测量技术基于非接触的超声波原理,所以它适合于那些无法用物理方式接触的液体及

雷达料位计安装有何讲究

  安装雷达物位计时要避免传感器和罐壁的接触,应该和管壁保持一定距离。因为雷达物位计是通过发出高频微波脉冲沿着探测组件传播测量的,这些脉冲波遇到被测介质介电常数就会发生变化,引起反射。因此,要是安装的物位计离管壁过近就可能得到的是管壁的介电常数,直接导致了被测参数的不准确 。  雷达物位计的正确安装

重锤料位计的相关选型介绍

  重锤料位计是一种传统的液位计。它是利用力学平衡原理设计制作的。    它是由料位检测装置、高精度位移传动系统、恒力装置、显示装置、变送器装置以及其他外设构成。当被测物上升时探头发出卷钢线信号。    电机工作上卷,当被测物不上升时. 探头给电机发出停止命令。当被测物下降时垂锤探头,给电机发出

雷达料位计的技术优势

  雷达料位计对液体、颗粒及浆料连续物位测量。测量不受介质变化、温度变化、惰性气体及蒸汽、粉尘、泡沫等的影响。雷达料位计的精度为5mm,量程60米,耐250度高温、40公斤高压,雷达料位计适用于爆炸危险区域。

阻旋料位计原理及特点

  阻旋料位计简称“阻旋开关”“旋阻开关”“阻移开关”“料位器”、“料位计”、“料位开关”、“物位开关”、“料位仪”、“料位传感器”等,主要用于各种物料(如粉状、颗粒状或块状)料仓极限料位的自动检测与控制,不同型号的料位器可满足不同工况的要求,在冶金、粮食、面粉,建材,水泥、电力、煤炭、化工、铸造、

导波雷达料位计的测量原理

  导波雷达料位计是依据时域反射原理(TDR)为基础的雷达料位计,雷达料位计的电磁脉冲以光速沿钢缆或探棒传播,当遇到被测介质表面时,雷达料位计的部分脉冲被反射形成回波并沿相同路经返回到脉冲发射装置,发射装置与被测介质表面的距离同脉冲在其间的传播时间成正比,经计算得出液位高度。

超声波料位计的原理

物位测量过程中,超声波信号由超声波探头发出,经液体或固体物料表面反射后折回,由同一个探头接收,测量超声波的整个运行时间 ,从而实现物位的测量。声波传输距离 与声速 和声传输时间 的关系可用公式表L:超声波探头距所测料面距离。单位:m;v:经温度补偿后的声速值。单位:m/s;t:测量范围内声波的运行时

阻旋式料位计的安装

  安装要求 阻旋式料位计的安装应使叶片所处的位置避开进料口的下部和料仓死料区,为防止使用中物料的砸击,应在检测叶片的上方安装防护板。  如采用加长轴垂直安装,则应安装保护套筒或使叶片和软轴所处位置不至受到物料的直接砸击。多位测量时应适当拉开距离,避免发生软轴的相互缠绕。  为避免室外环境雨水的渗入

阻旋式料位计的应用

  阻旋式料位计广泛应用于现代工业生产过程和仓储部门。  可对敞开式容器内的粉状及颗粒状物料进行料位上、下限监测和控制,具有:技术先进、  结构合理、性能可靠、安装简便、性价比高等优点,是替代进口的首选产品。  阻旋式料位计为了适应各种物料不同比重需要,设计了调节检测灵敏度的五档装置。  阻旋式料位

雷达料位计的优缺点简介

  雷达料位计利用回波测距原理,其喇叭状或杆式天线向被测物料面发射微波,微波传播到不同相对介电率的物料表面时被反射,并被天线接收。发射波和接收波的时间差与物料面和天线的间距成正比,测出传播时间即可得知距离。  优点:由于微波是电磁波,以光速传播且不受介质特性影响,故在一些有温度、压力、蒸汽等场合,超

简述雷达料位计的产品特点

  NIVELCO 导波雷达料位计是测量料位的最佳方法;导波雷达料位计测量不受罐体形状的影响;也不受介电常数、温度、压力与密度的影响;导波雷达料位计的测量长度可以灵活变更,无须标定;测量结果具有高精度、可重复性、高分辩率;NIVELCO导波雷达料位计的测量范围可达24米,适用的介质温度范围-50℃∽

高频雷达料位计的工作原理

  高频雷达料位计的测量频率一般为24G、25G或者26G,由于雷达波以光速运行,其运行时间可以通过电子部件被转换成物位信号,当脉冲遇到物料表面时反射回来则会被仪表接收,并将该距离信号转化为物位信号,从而测量出料位高度。  在工作原理上,Rada-22高频脉冲雷达料位计与其他雷达料位计的工作原理基本

超声波料位计的简介

  物位测量过程中,超声波信号由超声波探头发出,经液体或固体物料表面反射后折回,由同一个探头接收,测量超声波的整个运行时间 ,从而实现物位的测量。  超声波料位计是测量一个超声波脉冲从发出到返回整个过程所需的时间。超声波料位计垂直安装在物体的表面,它向物面发出一个超声波脉冲,经过一段时间,超声波料位

西门子雷达料位计7ML54400GB000AA2产品概述

  西门子雷达料位计7ML5440-0GB00-0AA2产品概述   简介   SITRANS LR560 是两线制, 78 GHz 连续调频(FmCW),连续监测固体容器,   量程为100m的雷达物位变送器。即插即用的性能是所有固体测量的理想选择,   包括恶劣的粉尘和+200 °

X射线荧光光谱分析概述

X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence,XRF)是固体物质成分分析的常规检测手段,也是一种重要的表面/表层分析方法。由于整体技术和分光晶体研制发展所限,早期的X射线荧光光谱仪检测范围较窄,灵敏度较差。随着测角仪、计数器、光谱室温度稳定等新技术的进步,使现代X射线荧光光谱仪的测量精密

X射线荧光光谱仪的概述

  自1895年伦琴发现X射线以来,X射线及相关技术的研究和应用取得了丰硕成果。其中,1910年特征X射线光谱的发现,为X射线光谱学的建立奠定了基础;20世纪50年代商用X射线发射与荧光光谱仪的问世,使得X射线光谱学技术进入了实用阶段;60年代能量色散型X射线光谱仪的出现,促进了X射线光谱学仪器的迅