X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。量子力学知识告诉我们，X 射线具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的普朗克公式：E=hc/λ。显然，无论是测定能量，还是波长，都可以实现对相应元素的分析，其效果是完全一样的 原装进口电制冷探......阅读全文
X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空
X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空
X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空
X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空
X荧光分析仪工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填
X荧光硫分析仪的工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这
全反射X射线荧光分析仪原理及特点
全反射X荧光光谱仪原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是“传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以zui大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体
X荧光硫分析仪用途及原理
X荧光硫分析仪主要用途及原理： 1.测量原油、石油、重油、柴油、煤油、汽油、石脑油的总硫质量百分比含量; 2.测量煤化工产品,例如初级苯中总硫含量; 3.其它液体或固体细粉末样品中总硫或硫化物含量的测量。
X荧光分析仪的应用及技术原理
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。 一、XRF在物质成分分析上的应用 XRF应用主要取决于仪器技术和理论方法的发展。X射线荧光分析仪器有三种主要类型：实验室用
数字荧光示波器的特点及工作原理
特点 DPO在示波器技术上有了新的突破，能够实时显示、存储和分析复杂信号，利用三维信息（振幅、时间性及多层次辉度，用不同的辉度显示幅度分量出现的频率）充分展现信号的特征，尤其采用的数字荧光技术，通过多层次辉度或彩色能够显示长时间内信号的变化情史。 DSO的自动测量和波形存储作用曾令许多工程师
X荧光镀层测厚仪的工作原理
一、X荧光镀层测厚仪的工作原理 若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。 下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光
X荧光分析仪的特点简介
仪器机电一体微机化设计,大屏幕24bit色LCD,操作人机对话,简洁美观； 检测品种广,检测量程宽,分析速度快,标准样品用量少； 采用荧光强度比率分析方法, 温度、气压自动修正,碳氢比(C/H)亦可修正； 仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数； 采用一次性样品杯,可避免交叉污
X荧光分析仪的特点介绍
原装进口电制冷探测器，可以快速分析从11Na到92U之间的全部元素，精度高、测量时间短，它可以广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域 特点： 1、同时分析元素周期表中由钠（Na）到铀（U）之间的全部元素； 2、可检测固体﹑液体﹑粉末，不需要复杂的制样过程； 3、分析测
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理
由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集由硅元素激发出的波长为0.713nm的KαX射线荧光，并被
X射线测厚仪工作原理及主要特点
X射线测厚仪原理是根据X射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。 X射线源辐射强度的大小，与
TOC分析仪工作原理及特点
本仪器采用紫外氧化的原理，将样品中的有机物氧化为二氧化碳，二氧化碳的测试采用的是直接电导率法，通过测试经过氧化反应的样品的总碳含量和未经过氧化反应的样品总无机碳的含量差值来测定总有机碳含量，即：总有机碳（TOC）=总碳（TC）-总无机碳（TIC）。TOC分析仪产品特点1.仪器采用便携设计，使用轻便，
水质分析仪的工作原理及特点
水质分析仪的工作原理 污水处理厂使用的分析仪有两种：pH计和溶氧分析仪。 1、pH计的工作原理 水的pH值随着所溶解的物质的多少而定，因此pH值能灵敏地指示出水质的变化情况。pH值的变化对生物的繁殖和生存有很大影响，同时还严重影响活性污泥生化作用，即影响处理效果，污水的pH值一般控制在6.5
X荧光光谱仪工作原理
荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。X荧光光谱仪的工作原理： X荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射
X荧光光谱仪工作原理
X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或
X荧光光谱仪的工作原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态.这个过程称为驰过程.驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层的电
X荧光光谱仪的工作原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态. 这个过程称为驰过程.驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层的
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理和用途
单波长X荧光硅含量分析仪工作原理： 由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集
X荧光硫元素分析仪使用特点
环境污染已引起世界各国政府和公众的密切关注,要求保护生态环境和大气环境的呼声日渐涨。造成大气层破坏和污染的主要祸是CO2 和SO2的排放。CO2、SO2源自动力燃料的燃烧,车船飞机中使用汽油、柴油、重油等含硫量越低将会大大减少对大气的污染。欧洲和我国都制定了一系列含硫标准,对生产和排放加以限制。SO
X荧光钙铁元素分析仪特点
1 微机组成为一体的台式仪器、结构紧凑、外形美观。2 大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。3分析时间短：30秒钟给出CaO、Fe2O3百分含量。4X荧光钙铁元素分析仪分析时，不破环样品，样品可重复检测。5不用任何化学试剂，无三废排放，不含放射源，低耗电，符合、节能、辐射要求。6 数据存
X荧光硫元素分析仪的仪器特点
1.仪器机电一体微机化设计,8寸电容触摸屏（1027*768）显示,无需键盘，操作界面简洁美观;2.检测品种广,检测量程宽,分析速度快,标准样品耗量少;3.采用荧光强度比率分析方法, 温度、气压自动修正,碳氢比(C/H)亦可修正;4.仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数;5.采用一次性M
X荧光硅铝分析仪的性能特点
1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合节能要求。 6、数据存储量大，含量结果、仪器
简述X射线荧光分析仪的产品特点
1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从
X光荧光分析的特点及应用
特点 1.分析速度快，通常每个元素分析测量时间在2～lOOs之内即可完成。 2.非破坏性，X射线荧光分析对样品是非破坏性测定，使得其在一些特殊测试如考古、文物等贵重物品的测试中独显优势 3.分析样品范围广，可以对元素周期表上的多种元素进行分析，并可直接测试各种形态的样品。 4.分析样品浓
喷雾粒度分析仪工作原理及特点
喷雾粒度分析仪工作原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。 喷雾粒度分析仪产品特点: 1.专门为喷雾的粒度测量而设计，可根据应用现场情况改变仪器结构。 2.多种不同焦距的傅立叶透镜可互换，以实现不同测试量程的转换。 3.光源采用2mW 0.6328um He
氟离子分析仪的特点及工作原理
氟离子分析仪的特点及工作原理 氟离子分析仪是采用离子选择电极法，专门用于测量氟离子的在线监测仪、实验室检测仪。适合于含有氟离子的场合，检测氟离子的数值。通常所谓离子选择电极，是指带有敏感膜的、能对离子或分子态物质有选择性响应的电极，使用此类电极的分析法属于电化学分析中的电位分析法。离子选择