单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理
由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集由硅元素激发出的波长为0.713nm的KαX射线荧光，并被一合适的探测器测量，然后用校准方程将其转换成被测样品中的硅含量。......阅读全文
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理
由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集由硅元素激发出的波长为0.713nm的KαX射线荧光，并被
单波长X荧光硅含量分析仪的工作原理和用途
单波长X荧光硅含量分析仪工作原理： 由低功率X射线管发射出的多波长X荧光，经个双曲面弯晶光学元件捕获聚焦，并将具有合适波长可以激发硅元素K层电子的单色X射线照射在装入样品盒中的被测样品上形成小光斑。单色初级束流激发样品并发射次级特性荧光X射线，通过第二个双曲面弯晶光学元件仅收集
单波长X荧光硅含量分析仪的主要用途
石油炼制过程中，有时会加入一些含有硅化合物的实际，或在燃油炼制完成后将一些废溶剂掺入到汽油造成汽油中含有硅元素。汽油中，即使硅含量很低，但仍然会造成像氧气传感器失效，以及发动机故障。长期使用劣质燃油，胶质和无法完全燃烧的物质会在气门、进气道、燃烧室内堆积，慢慢形成坚硬的积炭。这类物质会对汽油有吸附作
单波长X荧光硅含量分析仪与传统仪器的性能比较
石油炼制过程中，有时会加入一些含有硅化合物的实际，或在燃油炼制完成后将一些废溶剂掺入到汽油造成汽油中含有硅元素。汽油中，即使硅含量很低，但仍然会造成像氧气传感器失效，以及发动机故障。长期使用劣质燃油，胶质和无法完全燃烧的物质会在气门、进气道、燃烧室内堆积，慢慢形成坚硬的积炭。这类物质会对汽油有吸附作
单波长X荧光氯分析仪的分析原理
随着原油的重质化和劣质化，原油中的氯含量呈不断增加的趋势，其腐蚀强度与硫腐蚀均已受到足够重视。原油中氯的存在形式分为有机氯和无机氯两种，其中有机氯主要以低分子氯代烃的形式存在，它们溶解于原油之中，而无机氯则以无机盐的形式存在，一般溶解在原油乳化水中或者以悬浮固体的形式存在于原油中。 在炼油加工过程
单波长X荧光硫含量分析仪的应用介绍
在石油加工过程中，各种含硫化合物受高温影响均能分解产生H2S，H2S与水共存时，对金属设备造成严重腐蚀，如常减压装置中，高温重油部位的腐蚀主要集中在常压塔底。如果石油中既含硫又含盐，则对金属设备的腐蚀就更为严重。 石油产品中的硫化物，在使用及储存过程中同样会腐蚀金属；同时含硫燃料燃烧产生的二氧化硫
便携式单波长X荧光硫含量分析仪的特点和参数
便携式单波长X荧光硫含量分析仪的产品特点： 采用MWDXRF单波长色散X荧光技术，超低背景； 检测下限(LOD)可达0.7ppm； 简易样品制备及仪器操作过程，检测速度快； 无需样品损耗或转化，无需消耗气体及高温操作； 超低维护量，较少的校准频率； 体积小巧，可放置于任何实验室，即插即用； 分析
X荧光分析仪工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填
单波长X荧光氯分析仪与传统仪器相比的优点
原油及其炼制而成的石油产品中通常含有氯化物（包括有机氯和无机氯），氯元素可造成炼油生产装置腐蚀、氯化铵盐堵塞、催化剂中毒、发动机腐蚀及环境污染问题等。在汽油炼制及化工生产过程中，若进料中含有微量氯，对催化剂消耗以及产品质量有重大影响，故需对生产中的成品、半成品进行氯含量分析，为质量控制提供科学依据。
X荧光硫分析仪的工作原理
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这
单波长色散X荧光总硫分析仪的使用注意事项
1、在使用单点校准措施时，要应当选择与试样成分非常接近的标准品完成校准。 2、使用者应定期观察裂化管出入口端及往后的气路中有没有积炭问题，若裂化管中有积炭堆积，可利用在高温必要条件下充入O2点燃消除，若管道中有积炭，则立即换掉新管道。 3、进样全过程中严格把控进样快慢，以防石英管积炭，破坏膜干燥
单波长色散型X荧光光谱仪原理及优缺点
单波长色散X射线荧光光谱仪应该称作单波长激发—波长色散X射线荧光光谱仪。 单波长色散型X荧光光谱仪原理： 用全聚焦型双曲面弯晶将微焦斑X线管(可看作点光源)发射的原级X射线的某个波长(通常选取出射谱中的特征X射线)的X射线单色化并聚焦于样品测试表面，激发样品中元素的荧光X射线。由
X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空
X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空
X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空
X荧光分析仪的工作原理及特点
荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空
X荧光硅铝分析仪的性能特点
1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合节能要求。 6、数据存储量大，含量结果、仪器
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
什么是单波长X射线荧光光谱仪
通常的X射线荧光光谱仪分为能量色散X射线荧光光谱仪（ED XRF）和波长色散X射线荧光光谱仪（WD XRF），其以X射线管出射谱照射样品后产生的元素荧光射线是以能量色散型探测器直接探测（ED XRF）或是经分光晶体分光后探测器探测（WD XRF）为主要区别。单波长X射线荧光光谱仪是在X射线照射样品前
X荧光硅铝分析仪的技术指标
技术指标 1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100% 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08% 3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通过标定工作曲线选定。
X荧光硅铝分析仪的主要特点
主要特点 1、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。 2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用为方便。 3、分析时间短，1分钟即能测出SiO2%、Al2O3%。 4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。 5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。 6、数据存
X荧光硅铝分析仪的技术指标
X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4
碳硅分析仪工作原理
碳硅分析仪通过铸铁冶炼过程中，铁水温度下降曲线分析铁水中碳和硅元素的含量，系统采用ARM处理器和高精度A/D转换器作为温度处理单元，温度曲线采集精度高，稳定性好，抗干扰能力强。系统的图形显示功能强大，温度变化曲线显示直观清晰，温度点的计算采用多种方式，温度平台的捕捉能力强。系统还具有数据库的管理
X荧光镀层测厚仪的工作原理
一、X荧光镀层测厚仪的工作原理 若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。 下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光
X荧光硅铝分析仪的主要用途
X荧光硅铝分析仪是采用X射线激发样品，检测所生产的二次特征X射线，即可以获得硅铝定性和定量分析结果。产品广泛应用于冶金、采矿、建材等工业中。用于水泥厂中，主要测量生料、熟料、石灰石、粘土等物料中的SiO2、Al2O3的百分含量。由于它的分析速度快（1分钟），因此可实时监控生产过程中SiO2、Al2O
单波长色散X射线荧光光谱仪技术指标
符合ASTM 7039，GB/T 11140和SH/T 0842标准要求，硫重复性0.8 ppm (2ppm), 1.8 ppm (10ppm), 12.4 ppm (500ppm)； 检测范围0.15ppm至3000ppm， 样品杯容积4mL,分析时间30至300秒；即插即用，样品准备快速，无
炉前快速碳硅分析仪的工作原理
炉前快速碳硅分析仪是如何工作的? 1、现场准备工作： 仪表交流电源的供电必须满足仪表技术数据要求；仪表使用电源不可与大功率的动力电源连接。仪表通电自检通过完成；仪表与仪表支架连线良好准确；支架放上测量样杯时仪表指示绿灯亮；完成上述一切说明仪表测量准备工作已完成，可以进行测量。
X荧光光谱仪工作原理
X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或
X荧光光谱仪工作原理
荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。X荧光光谱仪的工作原理： X荧光光谱仪主要由激发源（X射线管）和探测系统构成。其原理就是：X射
X荧光光谱仪的工作原理
当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态. 这个过程称为驰过程.驰豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁.当较外层的