电子探针X射线显微分析仪简介
电子探针X射线显微分析仪，简称电子探针。是指以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线，并根据X射线的波长和强度，对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理仪器。电子探针分析的原理是以电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从而产生特征X射线。不同的元素有不同的X射线特征波长和能量。通过鉴别其特征波长或特征能量就可以确定所分析的元素。电子探针有三种基本工作方式：一是点分析，用于选定点的全谱定性分析或定量分析；二是线分析，用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化；三是面分析，用于观察元素在选定微区内浓度分布。......阅读全文
电子探针X射线显微分析仪简介
电子探针X射线显微分析仪，简称电子探针。是指以聚焦的高速电子来激发出试样表面组成元素的特征X射线，并根据X射线的波长和强度，对微区成分进行定性或定量分析的一种材料物理仪器。电子探针分析的原理是以电子束轰击试样表面，击出表面组成元素的原子内层电子，使原子电离，此时外层电子迅速填补空位而释放能量，从
电子探针X射线显微分析仪概述
电子探针可以对试样中微小区域微米的化学组成进行定性或定量分析，除做微区成分分析外，还能观察和研究微观形貌、晶体结构等。电子探针技术具有操作迅速简便、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点，在冶金、地质、土壤、生物、医学、考古以及其他领域中得到日益广泛应用，是土壤和矿物测
电子探针X射线显微分析仪概述
电子探针X射线显微分析仪(Electron probe X-raymicroanalyser , EPMA )的简称为电子探针 。在众多样品化学成分分析的仪器中，电子探针分析技术(EPMA)是一种应用较早、且至今仍具有独特魅力的多元素分析技术。 二战以来，世界经济和社会的迅猛发展极大的促进了科
电子探针X射线显微分析仪的特征X射线和吸收电子
特征X射线 高能电子入射到样品时，样品中元素的原子内壳层(如K、L壳层) 处于激发态原子较外层电子将迅速跃迁到有空位的内壳层，以填补空位降低原子系统的总能量，并以特征X射线释放出多余的能量。 吸收电子 入射电子与样品相互作用后，能量耗尽的电子称吸收电子。吸收电子的信号强度与背散射电子的信号
电子探针X射线显微分析仪的阴极发光介绍
阴极发光是指晶体物质在高能电子的照射下，发射出可见光红外或紫外光的现像。阴极发光现象和发光能力、波长等均与材料基体物质种类和含量有关。阴极发光效应对样品中少量元素分布非常敏感，可以作为电子探针微区分析的一个补充，根据发光颜色或分光后检测波长即可进行元素分析。从阴极发光的强度差异还可以判断一些矿物
关于电子探针X射线显微分析仪的结构特点介绍
电子探针X射线显微分析仪(简称电子探针)利用约1Pm的细焦电子束，在样品表层微区内激发元素的特征X射线，根据特征X射线的波长和强度，进行微区化学成分定性或定量分析。电子探针的光学系统、真空系统等部分与扫描电镜基本相同，通常也配有二次电子和背散射电子信号检测器，同时兼有组织形貌和微区成分分析两方
关于电子探针X射线显微分析仪的俄歇电子介绍
入射电子与样品相互作用后，元素原子内层轨道的电子轰击出来成为自由电子或二次电子，而留下空位，从而原子不稳定。则外层高能电子填充空位，释放出能量，释放的能量一方 面以辐射特征X射线的方式释放，另一方面释放的能量被该原子吸收，从而从另一轨道上轰击出电子，该电子为俄歇电子。俄歇电子发生的几率随原子序
简介电子探针X射线微区分析的实验条件
(1) 样品 样品表面要求平整，必须进行抛光；样品应具有良好的导电性，对于不导电的样品，表面需喷镀一层不含分析元素的薄膜。实验时要准确调整样品的高度，使样品分析表面位于分光谱仪聚焦圆的圆周上。 (2) 加速电压 电子探针电子枪的加速电压一般为3～50kV，分析过程中加速电压的选择应考虑待分
X射线显微镜的简介
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出
电子探针X射线显微分析仪的透射电子相关内容
当电子束入射到薄的样品上，如果样品厚度比入射电子的有效穿透深度小得多，会有一定的入射电子穿透样品，这部分电子称为透射电子。电子的穿透能力与加速电压有关，加速电压高则入射电子能量大，穿透能力强。透射电子数目与样品厚度成反比，与原子序数成正比。用途:可通过电子能量损失的方法。测定样品成分；可观察样品
电子探针X射线显微分析仪背散射电子及背散射电子像
背散射电子是指入射电子与样品相互作用(弹性和非 弹性散射)之后，再次逸出样品表面的高能电子，其能量接近于入射电子能量(E。)。背散射电子能量大于50eV，小于等于入射电子能量。背射电子的产额随样品的原子序数增大而增加，所以背散射电子信号的强度与样品的化学组成有关，即与组成样品的各元素平均原子序
电子探针分析的X射线能谱法
本文介绍了使用硅(锂)检测器进行定量电子探针分析的一种方法,这种方法使用了背景模拟技术及其它技术中的电荷收集不完全和电子噪声的校正。轻元素分析的改进对硅酸盐样品是特别有利的,使之尽可能采用纯金属作分析标样。这种方法已被用于各种地球化学样品的分析中(包括用JG—1和JB—1岩石做成的玻璃)。与湿式化学
X射线显微分析
中文名称X射线显微分析英文名称X-ray microanalysis定 义应用X射线显微分析器探测细胞或组织的微小区域内元素成分的技术。应用学科细胞生物学（一级学科），细胞生物学技术（二级学科）
X射线衍射简介
1912年，劳厄等人根据理论预见，证实了晶体材料中相距几十到几百皮米（pm）的原子是周期性排列的；这个周期排列的原子结构可以成为X射线衍射的“衍射光栅”；X射线具有波动特性， 是波长为几十到几百皮米的电磁波，并具有衍射的能力。 这一实验成为X射线衍射学的第一个里程碑。当一束单色X射线入射到晶体时，
电子探针X射线微区分析的工作原理
电子探针（Electron Probe Microanalysis-EPMA）的主要功能是进行微区成分分析。它是在电子光学和X射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。 其原理是：用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征X射线，分析特征X射线的波长（或能量）可知元素种类；分析
电子探针X射线微区分析仪的工作原理是怎样的呢？
电子探针X射线微区分析仪简称电子探针。利用髙能电子束与物质相互作用时产生的特征X射线来分析试样微区化学组成的一种显微仪器。其工作原理为：聚焦得很细的电子束照射在试样某微区，使该微区原子受激产生特征X射线，通过已知晶面间距的分光晶体对不同波长的X射线分光，来测量它的波长与强度，从而对微
关于电子探针X射线微区分析的线分析
使入射电子束在样品表面沿选定的直线扫描，谱仪固定接收某一元素的特征X射线信号，其强度在这一直线上的变化曲线可以反映被测元素在此直线上的浓度分布，线分析法较适合于分析各类界面附近的成分分布和元素扩散。 实验时，首先在样品上选定的区域拍照一张背散射电子像(或二次电子像)，再把线分析的位置和线分析
X射线显微镜原理
X 射线显微镜是X 射线成像术的一种，也是显微成像技术，即将微观的、肉眼无法分辨看出的结构、图形放大成像以便观察研究的器械。X 射线成像的衬度原理、设备的构造与主要组成部件( 如X射线源、探测器等)，但主要是从宏观物体的成像( 如人体器管的医学成像、机械制品的缺陷探伤、机场车站的安全检查等) 出
X射线分析的简介
利用 X射线与物质间的交互作用来分析物质的结构、组织和成分的一种材料物理试验。 X射线是德国人W C 伦琴于 1895年发现的。它是一种肉眼不可见的射线，但能使感光材料感光和荧光物质发光；具有较强的穿透物质的本领；能使气体电离；与可见光一样，它是沿直线传播的，在电磁场中不发生偏转。由于当时对其
软X射线的简介
波长小于0.1埃的称超硬X射线，在0.1～1埃范围内的称硬X射线，1～10埃范围内的称软X射线(X射线波长略大于0.5nm的被称作软X射线)。
X射线管的简介
利用高速电子撞击金属靶面产生 X射线的真空电子器件。按照产生电子的方式,X射线管可分为充气管和真空管两类。 充气X射线管是早期的X射线管。1895年，W.C.伦琴在进行克鲁克斯管实验时发现了 X射线。克鲁克斯管就是最早的充气X射线管。这种管接通高压后,管内气体电离，在正离子轰击下，电子从阴极逸
X射线摄谱仪的简介
中文名称X射线摄谱仪英文名称X-ray spectrograph定 义配有照相或其他记录装置，能同时取得一定波长范围Ｘ射线光谱的X射线光谱仪。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
脉冲X射线机简介
一种大电流、高能量的电子加速器.它能够提供极强且短的X射线脉冲，以供炸药和炸药驱动金属系统的闪光射线照相研究. 脉冲X射线机：该装置主要由电子光学系统（包括注入器、透镜、脉冲发生器、电子枪等）、射频高压电源和机械系统等部分组成.由于它一方面能像普通的闪光X射线照相或阴影射线照相，另一方面又能使
X射线谱仪简介
X射线谱仪设计有20路探测器，是此次载荷中探测器路数最多的系统，为有效预防多路探测器之间相互干扰，在硬/软件设计中还专门设计了“隔离”探测器单元功能及对太阳监测器计数率的调阈指令，以提高探测器在轨长期工作的可靠性。 X射线谱仪指向月面，由16路硬X射线半导体探测器阵列，4路高分辨软X射线半导体
X射线分光装置简介
中文名称X射线分光装置英文名称X-ray spectroscope apparatus定 义用以使X射线产生波长色散的装置。应用学科机械工程（一级学科），分析仪器（二级学科），能谱和射线分析仪器-能谱和射线分析仪器仪器和附件（三级学科）
X射线衍射技术简介
物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但是X射线衍射是最有效的、应用最广泛的手段，而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手
x射线测厚仪的简介
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度。
关于X射线的简介
X射线，是一种频率极高，波长极短、能量很大的电磁波。 X射线的频率和能量仅次于伽马射线，频率范围30PHz~300EHz，对应波长为0.01nm~10nm [12] ，能量为124eV~1.24MeV。X射线具有穿透性，但人体组织间有密度和厚度的差异，当X射线透过人体不同组织时，被吸收的程度不
X射线管原理简介
X 射线管包含有阳极和阴极两个电极，分别用于用于接受电子轰击的靶材和发射电子的灯丝。两级均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。X 射线管供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。当钨丝通过足够的电流使其产生电子云，且有足够的电压（千伏等级）加在阳极和阴极间，使得
电子探针X射线微区分析能谱仪分析特点
具有以下优点（与波谱仪相比） 能谱仪探测X射线的效率高。 在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 结构简单，稳定性和重现性都很好（因为无机械传动），不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。