质谱仪同位素质谱分析法的特点
同位素质谱分析法的特点是测试速度快，结果，样品用量少（微克量级）。能测定元素的同位素比值。广泛用于核科学，地质年代测定，同位素稀释质谱分析，同位素示踪分析。......阅读全文
质谱仪同位素质谱分析法的特点
同位素质谱分析法的特点是测试速度快，结果，样品用量少（微克量级）。能测定元素的同位素比值。广泛用于核科学，地质年代测定，同位素稀释质谱分析，同位素示踪分析。
同位素质谱仪的特点
灵敏度——DELTA同位素比质谱仪系列具有前所未有的高灵敏度 可扩展性——最完善、最全面的外围样品前处理设备：元素分析仪、气相色谱仪、液相色谱仪、多用途样品制备装置、痕量气体分析仪、专门氢装置、专门碳酸盐装置，满足不同行业不同用户的需要。 多功能性——最多可配置10个检测器---最灵活多样的
主要特点/同位素质谱仪
灵敏度——DELTA同位素比质谱仪系列具有前所未有的高灵敏度可扩展性——最完善、最全面的外围样品前处理设备：元素分析仪、气相色谱仪、液相色谱仪、多用途样品制备装置、痕量气体分析仪、专门氢装置、专门碳酸盐装置，满足不同行业不同用户的需要。 多功能性——最多可配置10个检测器---最灵活多样的接收器排列
同位素质谱仪主要特点
灵敏度——DELTA同位素比质谱仪系列具有前所未有的高灵敏度 可扩展性——最完善、最全面的外围样品前处理设备：元素分析仪、气相色谱仪、液相色谱仪、多用途样品制备装置、痕量气体分析仪、专门氢装置、专门碳酸盐装置，满足不同行业不同用户的需要。 多功能性——最多可配置10个检测器---最灵活多样的
同位素质谱仪的功能特点介绍
灵敏度——DELTA同位素比质谱仪系列具有的高灵敏度。可扩展性——完善、全面的外围样品前处理设备：元素分析仪、气相色谱仪、液相色谱仪、多用途样品制备装置、痕量气体分析仪、专门氢装置、专门碳酸盐装置，满足不同行业不同用户的需要。多功能性——多可配置10个检测器---灵活多样的接收器排列——更宽的质量范
同位素质谱仪的主要特点
主要特点： 1、功能多样性： a、质量范围更加的宽； b、在线氢分析能够现场升级； c、多能够对10个检测器进行配置； d、接收器排列灵活多样。 2、可靠坚固： a、所有离子光学组成都有固定排列的单片分析器，集成信号扩大器和数字转换器； b、所有的离子光学组成都是固定的，安装或维护时
同位素质谱仪
同位素质谱仪，化学分析仪器，有独特的分析平台与固定结合离子光学组件，配置灵活，可适用于不同领域的使用要求。
质谱分析法术语同位素质谱
同位素质谱（isotope mass spectrum）按元素的同位素质量排序的质谱。
同位素质谱仪简介
同位素质谱仪，化学分析仪器，有独特的分析平台与固定结合离子光学组件，配置灵活，可适用于不同领域的使用要求。 新一代DELTA V系列同位素质谱仪基于单片电路分析框架，并不仅仅是对以往机型的重新设计，且体积更小。独特的分析平台与固定结合离子光学组件，对实现前所未有的分析能力，效率和可靠性迈出了一
稳定同位素质谱仪分类
稳定同位素质谱仪按工作原理分为静态仪器和动态仪器。被流动相载入色谱柱内，由于样品溶液中的各组分在两相中具有不同的分配系数，在两相中作相对运动时,经过反复多次的吸附-解吸的分配过程，各组分在移动速度上产生较大的差别，被分离成单个组分依次从柱内流出，通过检测器时，样品浓度被转换成电信号传送到记录仪。
多接收同位素质谱仪
多接收同位素质谱仪是一种用于化学、地球科学领域的分析仪器，于2009年4月8日启用。 技术指标 1． 高分辨率双聚焦质谱仪（35 厘米半径的电场和25 厘米半径磁场） 2． 配备去溶剂化雾化器（DSN-100），可提高测定灵敏度 3． 计算机操控离子束和聚焦光学系统；12通道法拉第接收器；三
什么是同位素质谱仪
同位素质谱仪;isotopemassspectrometer用于同位素分析的质谱仪器。固体同位素分析质谱计，亦称热离子发射同位素质谱计，主要分析对象是：锂、硼、镁、钾、钙、铷、锶、钐、钕、铅、铀和钚，用于核工业、核地质学研究，环境保护和同位素医学。气体同位素分析质谱计主要分析对象是H/D、130C/
什么是同位素质谱仪
用于同位素分析的质谱仪器。固体同位素分析质谱计，亦称热离子发射同位素质谱计，主要分析对象是：锂、硼、镁、钾、钙、铷、锶、钐、钕、铅、铀和钚，用于核工业、核地质学研究，环境保护和同位素医学。气体同位素分析质谱计主要分析对象是H/D、130C/12C、15N/14N、18O/17O/16O、34S/32
仪器简介/同位素质谱仪
新一代DELTA V系列同位素质谱仪基于单片电路分析框架，并不仅仅是对以往机型的重新设计，且体积更小。独特的分析平台与固定结合离子光学组件，对实现前所未有的分析能力，效率和可靠性迈出了一大步。它配置灵活，可适用于不同领域的使用要求。
同位素质谱仪的组成介绍
同位素质谱仪是由记录仪、检测器、质量分析器、离子源以及样品入口五个独立的系统组成。 1、记录仪：对检测器的信号进行接收并且放大和记录，如此就使质谱图获得。同位素质谱仪的记录仪既能够为简单的带状记录纸，也能够为比较复杂的电脑系统。不管是怎样的情形。数据均应当被准确的记录，并且在之后有所需要的时候被调
聚焦同位素质谱－2019无机及同位素质谱会分会
分析测试百科网讯 2019年9月21日，2019中国质谱学会无机及同位素质谱学术会议在贵阳召开。（相关报道：2019无机及同位素质谱会召开 庆祝中国质谱学会成立40周年）本次会议设置了多个分会场，分析测试百科网作为合作媒体报道了同位素质谱分会场。中国科学院生态环境研究中心 刘倩 中国科学院生态
什么是稳定同位素质谱仪？
稳定同位素质谱仪通过对被测样品离子的质荷比的测定来进行分析的一种分析仪器。被分析的样品首先要进行离子化，然后利用不同离子在电场或磁场运动行为的不同，把离子按质荷比（m/z）分开而得到质谱，通过样品的质谱和相关信息，可以得到样品的定性、定量结果。
同位素质谱仪技术参数
1. 质量数范围： 1~80 dalton 2. 分辨率： m/Δm=110 (10% valley ) 3. 放大器输出范围： 0-50V 4.元素分析仪： 外精度 13C: (50ug) 0.15‰ 15N: (50ug) 0.15‰ 18O: (0.5ul H2O) 0.2‰
稳定性同位素质谱仪
稳定性同位素质谱仪，是指一种专门测定C、H、O、N和S等稳定性同位素比值的质谱仪器（IRMS）。在轻元素的稳定性同位素分析时均以气体形式进行质谱测定，因此首先要将被分析的样品转化为气体。在离子源中气体分子被电离成带正电荷的离子，并经电场和磁场的作用将离子按照它们的质荷比分开，然后根据不同离子束流的强
稳定性同位素质谱仪
稳定性同位素质谱仪，是指一种专门测定C、H、O、N和S等稳定性同位素比值的质谱仪器（IRMS）。在轻元素的稳定性同位素分析时均以气体形式进行质谱测定，因此首先要将被分析的样品转化为气体。在离子源中气体分子被电离成带正电荷的离子，并经电场和磁场的作用将离子按照它们的质荷比分开，然后根据不同离子束流的强
同位素质谱仪和离子探针
同位素质谱仪 同位素质谱分析法的特点是测试速度快，结果精确，样品用量少（微克量级）。能精确测定元素的同位素比值。广泛用于核科学，地质年代测定，同位素稀释质谱分析，同位素示踪分析。 离子探针 离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m
同位素质谱仪的技术参数
1. 质量数范围： 1~80 dalton 2. 分辨率： m/Δm=110 (10% valley ) 3. 放大器输出范围： 0-50V 4.元素分析仪： 外精度 13C: (50ug) 0.15‰ 15N: (50ug) 0.15‰ 18O: (0.5ul H2O) 0.2‰
同位素质谱仪的组成系统介绍
同位素质谱仪是由记录仪、检测器、质量分析器、离子源以及样品入口五个独立的系统组成。 1、记录仪：对检测器的信号进行接收并且放大和记录，如此就使质谱图获得。同位素质谱仪的记录仪既能够为简单的带状记录纸，也能够为比较复杂的电脑系统。不管是怎样的情形。数据均应当被准确的记录，并且在之后有所需要的时候被调
同位素质谱分析法的特点和应用领域
同位素质谱分析法的特点是测试速度快，结果，样品用量少（微克量级）。能测定元素的同位素比值。广泛用于核科学，地质年代测定，同位素稀释质谱分析，同位素示踪分析。
详细介绍同位素质谱仪额组成
同位素质谱仪是由记录仪、检测器、质量分析器、离子源以及样品入口五个独立的系统组成。 1、记录仪：对检测器的信号进行接收并且放大和记录，如此就使质谱图获得。同位素质谱仪的记录仪既能够为简单的带状记录纸，也能够为比较复杂的电脑系统。不管是怎样的情形。数据均应当被准确的记录，并且在之后有所需要的时候被调
稳定性同位素质谱仪简介
稳定性同位素质谱仪，是指一种专门测定C、H、O、N和S等稳定性同位素比值的质谱仪器（IRMS）。在轻元素的稳定性同位素分析时均以气体形式进行质谱测定，因此首先要将被分析的样品转化为气体。在离子源中气体分子被电离成带正电荷的离子，并经电场和磁场的作用将离子按照它们的质荷比分开，然后根据不同离子束流
稳定同位素质谱仪技术优势
稳定同位素质谱仪技术优势体体现在以下几个方面： 一、质谱部分： 1、 100V超宽动态范围信号放大器，有利于高C:N， C:S =5000:1样品测定； 2. 同类设备zui优的氢同位素测定，zui小的H3+系数
稳定同位素质谱仪技术优势
稳定同位素质谱仪技术优势体体现在以下几个方面： 一、质谱部分： 1、 100V超宽动态范围信号放大器，有利于高C:N， C:S =5000:1样品测定； 2. 同类设备最优的氢同位素测定，最小的H3+系数
稀有气体同位素质谱仪
仪器名称稀有气体同位素质谱仪，主要用途常规K-Ar,Ar-Ar测年及惰性气体He等的分析。适用于地质年代测定、地质及火山事件确定，以及海水、有机物及岩体中惰性气体He等的分析。主要研究方向：构造年代学、地质事件精细定年、Ar-Ar微区分析、惰性气体分析。主要应用于科研、教学以及一定量的生产单位样品的
固体源同位素质谱计
主要用途： 1.测定金属，碱金属及稀土元素的同位素组成 2.在同位素地质年代学研究中可测定同位素组成及含量，以研究地质演化历史 3.测定元素原子量 4.测定核子反应产物的同位素组成 仪器类别： 03030704 /仪器仪表 /成份分析仪器 指标信息： 1.分辨率：>500(10%峰谷定义）