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1、EBSD测定的织构可以用多种形式表达出来，如极图、反极图、ODF等（见图5）。同X-ray衍射测织构相比，EBSD具有能测微区织构、选区织构并将晶粒形貌与晶粒取向直接对应起来的优点。另外，X射线测织构是通过测定衍射强度后反推出晶粒取向情况，计算精确度受选用的计算模型、各种参数设置的影响，一般测出的织构与实际情况偏差15%以上。而EBSD通过测定各晶粒的绝对取向后进行统计来测定织构，可以认为EBSD是目前测定织构最准确的手段。当然与X-ray比，EBSD存在制样麻烦等缺点。2、用EBSD同时测定两个相的晶体学取向时，可以确定两个相之间的晶体学关系。为了确定两相间的晶体学关系，一般需要测定30处以上两相各自的晶体学取向。并将所有测定结果同时投影在同一极射赤面投影图上进行统计，才能确立两相间的晶体学关系[3]。与透射电镜和X-ray 相比，采用EBSD测定两相间晶体学取向关系具有显著的优越性。用于EBSD测试的样品表面平整、均匀，......阅读全文
了解菊池线对电镜工作者来说简直太重要啦，虽然我们得到的TEM像上看不出来跟菊池线有什么关系，但在获得这张TEM像的时候，必须借助菊池线的帮助！拍TEM像的首要事情就是要转正带轴，使菊池极与透射斑点重合，这样才能确保入射电子与晶面平行。另外，在对样品进行系列倾转获得不同带轴的电子衍射花样时，了解菊
菊池衍射谱的特点1.hkl 菊池线对与中心斑点到 hkl 衍射斑点的连线正交，而菊池线对的间距与两个斑点之间的距离也相等；2.菊池线一般是明暗配对的直线，在正片上距离透射斑近者为暗线，远者为亮线；3.菊池线对的中心线则相当于反射晶面与底片的交线；两条中心线的交点即为两个对应平面所属的晶带轴与荧光屏的
菊池衍射谱的特点1.hkl 菊池线对与中心斑点到 hkl 衍射斑点的连线正交，而菊池线对的间距与两个斑点之间的距离也相等；2.菊池线一般是明暗配对的直线，在正片上距离透射斑近者为暗线，远者为亮线；3.菊池线对的中心线则相当于反射晶面与底片的交线；两条中心线的交点即为两个对应平面所属的晶带轴与荧光屏的
作者：埃辛诺斯链接：https://www.zhihu.com/question/38596552/answer/130380383来源：知乎著作权归作者所有。商业转载请联系作者获得授权，非商业转载请注明出处。我们必须要先讨论衍射, 即使这玩意你觉得很抽象. 透射电镜成像和衍射条件息息相关, 典型的
电子背散射衍射(简称EBSD)技术是基于扫描电镜中电子束在倾斜样品表面激发出的衍射菊池带的分析确定晶体结构、取向及相关信息的方法花样（或图像）质量IQ、花样衬度BC与置信指数CI
一种金属或合金的性能取决于其本身的两个属性：一个是它的化学成分，另一个是它内部的组织结构。所以，对金属材料的成分和组织结构进行精确表征是金属材料研究的基本要求，也是实现性能控制的前提。材料分析的内容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、热性能分析、电性能分析等。本文就金属材料的形貌分析、物相分析
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ?TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开，且晶粒晶界明显；穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开，晶粒晶界都较
扫描电子显微镜中电子背散射衍射技术已广泛地成为金属学家、陶瓷学家和地质学家分析显微结构及织构的强有力的工具。EBSD系统中自动花样分析技术的发展，加上显微镜电子束和样品台的自动控制使得试样表面的线或面扫描能够迅速自动地完成，从采集到的数据可绘制取向成像图OIM、极图和反极图，还可计算取向（差）分
结构原理 透射电镜的总体工作原理是：由电子枪发射出来的电子束，在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜，通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑，照射在样品室内的样品上；透过样品后的电子束携带有样品内部的
电子束穿过样品时会携带有样品的信息，TEM的成像设备使用这些信息来成像。投射透镜将处于正确位置的电子波分布投射在观察系统上。观察到的图像强度，I，在假定成像设备质量很高的情况下，近似的与电子波函数的时间平均幅度成正比。若将从样品射出的电子波函数表示为Ψ，则 不同的成像方法试图通过修改样品射出的