TEM是什么意思
TEM英文缩写有：TEM专业英语考试、透射电子显微镜的意思。一、TEM专业英语考试：为检测本科英语专业教学大纲执行情况而进行的本科教学考试，主要有英语专业四、八级统测(Test for English Major简称TEM)。各自都有相应的报考要求。凡未通过基础阶段（TEM4）统测的考生，也可参加高年级阶段（TEM8）的统测。二、透射电子显微镜：透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。......阅读全文
TEM－Specimen－Preparation：Preparative－Techniques－for－the－TEM
For routine transmission electron microscopy (TEM), it is generally accepted that specimens should be thin, dry and contain molecules which diffract e
TEM样品
1. 样品一般应为厚度小于100nm的固体。2. 感兴趣的区域与其它区域有反差。3. 样品在高真空中能保持稳定。4. 不含有水分或其它易挥发物，含有水分或其他易挥发物的试样应先烘干除去。5. 对磁性试样要预先去磁，以免观察时电子束受到磁场的影响。TEM样品常放置在直径为3mm的200目样品网上，在样
TEM原理
原 理透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致，都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品，光束透过样品后进入物镜，由物镜会聚成像，之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛，而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图
TEM物镜
物镜（object lens） 处于样品室下面，紧贴样品台，是电镜中的第1个成像元件，在物镜上产生哪怕是极微小的误差，都会经过多级高倍率放大而明显地暴露出来，所以这是电镜的一个最重要部件，决定了一台电镜的分辨本领，可看作是电镜的心脏。 （1）特点 物镜是一块强磁透镜，焦距
TEM照相室
照相室 在观察中电子束长时间轰击生物医学样品标本，必会使样品污染或损伤。所以对有诊断分析价值的区域，若想长久地观察分析和反复使用电镜成像结果，应该尽快把它保留下来，将因为电子束轰击生物医学样品造成的污染或损伤降低到最小。此外，荧光屏上的粉质颗粒的解像力还不够高，尚不能充分反映出电镜成像
TEM原－理
原 理透射电镜和光学显微镜的各透镜及光路图基本一致，都是光源经过聚光镜会聚之后照到样品，光束透过样品后进入物镜，由物镜会聚成像，之后物镜所成的一次放大像在光镜中再由物镜二次放大后进入观察者的眼睛，而在电镜中则是由中间镜和投影镜再进行两次接力放大后最终在荧光屏上形成投影供观察者观察。电镜物镜成像光路图
TEM系统组件
TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成：l 电子枪：发射电子。由阴极，栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速和加压的作用。l 聚光镜：将电子束聚集得到平行光源。l 样品杆：装载需观察的样品。l 物镜：聚焦成像，一次放大。l 中间镜：
TEM工作程序
工作程序（1）开启主机电源开关，待荧光屏显示操作数据后再进行下一步。（2）逐级加高压致所需电压，每加一级高压，必须等高压表中指示针停止摆动才能加下一级。如指示针移出量程，必须从zui低移级加起。（4） 根据说明书要求进行合轴操作，使仪器处于zui佳操作状态。（4）根据说明书的操作要求进行观察、
TEM球差
球差不完美透镜导致的直接结果就是引入了让显微学者最头疼的球差。电子的聚焦是靠洛伦兹力来实现的，在洛伦兹力的作用下，电子以旋进的方式聚焦。在TEM里有一条光轴，就和光学显微镜中的光轴一样，偏离光轴时，透镜对光的聚焦能力和靠近光轴的聚焦能力是不同的。当然了，原则上是希望穿过透镜的光都能聚焦到焦点上。这点
TEM系统组件
TEM系统由以下几部分组成： l 电子枪：发射电子。由阴极，栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速和加压的作用。 l 聚光镜：将电子束聚集得到平行光源。 l 样品杆：装载需观察的样品。 l 物镜：聚焦成像，一次放大。 l
TEM－Visualization－of－Microtubules
LEVEL IIMaterialsCoated grid for TEM0.1 M ammonium acetate5% ethanol saturated uranyl acetateTransmission electron microscopeProcedureAt the conclusio
TEM样品制备
由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。
TEM成像原理
样品放进样品室时最终是怎样成像的呢?成像原理：电子束最先通过聚光镜,聚光镜无放大作用,而有聚积电子束调节亮度的作用,经聚光镜的调节将电子束的直径调节在约2μm左右。这样细的电子束透过样品时，电子与样品中的原子发生碰撞，从而产生电子散射。（不同的结构成分对电子有着不同的散射程度，结构致密的，特别是被重
TEM系统组件
TEM系统组件TEM系统由以下几部分组成：l 电子枪：发射电子。由阴极，栅极和阳极组成。阴极管发射的电子通过栅极上的小孔形成射线束，经阳极电压加速后射向聚光镜，起到对电子束加速和加压的作用。l 聚光镜：将电子束聚集得到平行光源。l 样品杆：装载需观察的样品。l 物镜：聚焦成像，一次放大。l 中间镜：
TEM样品制备
样品制备由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。▽超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料▽材料薄膜制备过程示意
TEM样品室
样品室（specimen room ） 样品室处在聚光镜之下，内有载放样品的样品台。样品台必须能做水平面上X、Y方向的移动，以选择、移动观察视野，相对应地配备了2个操纵杆或者旋转手轮，这是一个精密的调节机构，每一个操纵杆旋转10圈时，样品台才能沿着某个方向移动3mm左右。现代高档电镜可
TEM样品制备
样品制备由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。 ▽ 超细颗粒制备方法示意图来源：公开资料 ▽ 材料薄膜制备
TEM基本操作
A.聚光镜对中：一般的透射电镜拍摄需要插入一级聚光镜光阑，刚插入时电子束可能不在荧光屏中心，如图四（a）；这时需要先会聚电子束于一点，调节电子束平移至中心，再散开光斑，调节光阑旋钮使之仍在中心，反复几次后，电子束与荧光屏能同心收缩，如图四（b）。B.合轴：在电镜高压稳定之后，应该进行系统的合轴调整，
TEM成像原理
基本原理在光学显微镜下a无f法看清小s于b0。0μm的细微结构，这些结构称为2亚显微结构（submicroscopic structures）或超微结构（ultramicroscopic structures；ultrastructures）。要想看清这些结构，就必须选择波长0更短的光源，以6提高显
TEM照明系统
照明系统（illuminating system）照明系统主要由电子枪、聚光镜两部分组成。电子枪有热发射、冷发射和场发射三种 。最普通的电子枪是热发射型电子枪，即一根发叉形钨丝，通电流加热后，发射出电子束成为电镜的光源。 聚光镜的作用是将电子枪发射出的电子束会聚在试样平面上。改变聚光镜电
tem是什么
tem是指透射电子显微镜。透射电子显微镜，简称TEM，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。目前TEM的分辨力可达0.2nm。电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，所不同的是前
TEM真空系统
真空系统 电镜的真空系统由机械泵、油扩散泵、真空管道、阀门及检测系统组成。在电子显微镜中，电子由电子枪发出经过样品，打到荧光屏上。电子束的穿透力很弱，只有在高真空的情况下才能达到一定的行程。整个路程中，应该没有空气分子的碰撞，这就要求必须将电子束通道、既镜筒抽成高真空。镜筒高真空的好坏，直接影响到电
TEM基本操作
A.聚光镜对中：一般的透射电镜拍摄需要插入一级聚光镜光阑，刚插入时电子束可能不在荧光屏中心，如图二（a）；这时需要先会聚电子束于一点，调节电子束平移至中心，再散开光斑，调节光阑旋钮使之仍在中心，反复几次后，电子束与荧光屏能同心收缩，B.合轴：在电镜高压稳定之后，应该进行系统的合轴调整，一般情况下在a
TEM图像类别
（1）明暗场衬度图像 明场成像（Bright field image）:在物镜的背焦面上，让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。 暗场成像（Dark field image）:将入射束方向倾斜2θ角度，使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。 （2）高分辨
TEM观察室
观察室 透射电镜的最终成像结果，显现在观察室内的荧光屏上，观察室处于投影镜下，空间较大，开有1～3个铅玻璃窗，可供操作者从外部观察分析用。对铅玻璃的要求是既有良好的透光特性，又能阻断X线散射和其他有害射线的逸出，还要能可靠地耐受极高的压力差以隔离真空。 由于电子束的成像波
TEM样品的要求
根据透射电镜的成像原理可知，电子束需要穿透试样才能成像，这就要求被观察的样品对于入射电子束是“透明的”。电子束对薄膜样品的穿透能力和加速电压有关。当电子束的加速电压为200kV时，就可以穿透厚度为500nm的铁膜，如果加速电压增至l000kV，则可以穿透厚度大致为1500nm的铁膜。从图像分析的角度
什么是TEM测定
TEM = Transmission Electron Microscope 透射电子显微镜，简称：透射电镜。透射电镜是研究材料的重要仪器之一，在纳米技术的基础研究及开发应用中也不例外。但是用透射电镜研究材料微观结构时，试样必须是透射电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。单体的纳米颗粒或纳米纤维一般是
TEM的相衬技术
相衬技术 晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究，这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源的时候，观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏幕上的电子的数量，对相衬图像的识别更加复杂。然而，这种成像方法的优势在于可以提供有关
电子能量损失TEM
电子能量损失 通过使用采用电子能量损失光谱学这种先进技术的光谱仪，适当的电子可以根据他们的电压被分离出来。这些设备允许选择具有特定能量的电子，由于电子带有的电荷相同，特定能量也就意味着特定的电压。这样，这些特定能量的电子可以与样品发生特定的影响。例如，样品中不同的元素可以导致射出样品的
TEM操作程序
操作程序1)开机准备(1) 合上总电源闸刀，开启电子交流稳压器，电压指示应为220V。开启循环水，温度指示应为15-20℃。(2) 开启主机真空开关。(3) 约20分钟后，待高真空指示灯及照相室指示灯亮。2)工作程序(1)开启主机电源开关，待荧光屏显示操作数据后再进行下一步。(2)逐级加高压致所需电